JPH0560986A - 光ビーム検出機構およびこれを用いた検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ビームの出力変動に関わらずに適性なタイ
ミングにて同期信号を発生することができ、また、装置
や半導体レーザ素子の経時変化に起因する光ビームの焦
点外れ、主走査位置外れ等をも検出することのできる光
ビーム検出機構を実現すること。 【構成】 被走査体を光ビームにて走査する光ビーム走
査装置にて、光ビームが位置決めの基準点となる所定位
置を走査したときにこのことを検出して所定の信号を発
生する光ビーム検出機構において、前記光ビームの走査
方向に前記基準点を中心として均等配置された３個のフ
ォトセンサを具備し、 前記３個のフォトセンサのうち
の少なくとも１個は前記光ビームの走査方向に関して対
称配置された分割センサである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は画像等の記録、読み取り
を行うために被走査体を光ビームにて走査する光ビーム
走査装置に関し、特に、光ビーム走査を精度よく行うた
めに光ビームが位置決めの基準点となる所定位置を走査
したときにこのことを検出して所定の信号を発生する光
ビーム検出機構に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７は光ビーム走査装置が組み込まれた
レーザプリンタの従来例の構成を示す概略図である。

【０００３】画像記録等に使われるレーザプリンタにお
ける光走査は以下のようにして行われる。

【０００４】半導体レーザ７０１より出力されるレーザ
光は、コリメータレンズ７０２、シリンドリカルレンズ
７０３等を通って一定の速度で回転する回転多面鏡７０
４に入射し、その各面で反射されることにより、一定の
角度内を偏向走査するものとなる。この後、ビームの形
成と等速走査を行うために設けられたｆθレンズ群７０
５、光路折り曲げミラー７０８等の光学系を通って感光
体７０９を光走査する。

【０００５】上記のような光走査やプリント動作等は不
図示の制御装置によって行われるものである。

【０００６】制御装置は外部より入力される画像信号に
基づくｏｎ−ｏｆｆ信号によって半導体レーザ７０１を
駆動するもので、該画像信号に応じてレーザ光が点滅す
る。また、ドラム状の感光体７０９は、主走査毎に主走
査方向と直交する方向に回転して送られるもので、これ
らの半導体レーザ７０１の駆動や感光体７０９の送りに
より画像、文字等の光記録が終了する。

【０００７】このときの各主走査毎に画像信号に基づい
て行われるレーザ記録の位置精度は形成画像に悪影響を
与えないために極めて高精度に保ち、主走査毎の位置精
度にバラツキを生じさせないものとする必要がある。こ
のため、この種のレーザプリンタ等においては、図示す
るようなサブミラー７０６によって折り返された光を受
光してレーザ光が所定の位置に来た事を検出する光ビー
ム受光部７０７を具備する光ビーム検出機構が設けられ
ている。該光ビーム検出機構は光ビーム受光部７０７の
検出信号を基に記録開始の位置を決めるための同期信号
を発生するもので、制御装置はこの同期信号のタイミン
グに合わせて画像信号を出力させ、いつも同じ書き出し
位置を保つものとしている。

【０００８】光ビーム受光部７０７には回転多面鏡各面
の面精度、面倒れや途中の光学系も含めてのゴミ汚れ等
により、いつも一定の強度のレーザが当るとは限らな
い。このため、受光部の出力がある一定の閾値を超えた
ときに同期信号が出力されるような設定とすると、主走
査毎に光量のバラツキが生じて光ビーム検出機構が受け
る出力レベルが変動した場合には、同期信号が発生する
タイミングがずれてしまう。

【０００９】上記のような不具合を防止するために、二
つの受光部（第１受光部、第２受光部）を主走査線上に
近接して並べて配置し、第１受光部と第２受光部の出力
信号比を演算回路により求め、該出力信号比が所定の値
となったときに同期信号を出力する方法が提案されてい
る。

【００１０】また、半導体レーザは、その出力特性が温
度変化に影響されやすく、光量の変動が大きいものであ
るため、半導体レーザ素子を、ぺルチェ素子等である一
定の温度に保つように工夫して出力変動を押えることが
提案されている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光ビー
ム検出機構のうち、受光部が一つしか設けられないもの
においては、光ビームの出力変動により同期信号の発生
タイミングがずれることがあるという問題点がある。

【００１２】また、受光部を二つ設けたものにおいて
は、受光部に当る光ビームの出力変動を打ち消して同期
信号を得るものであるため、上記のような問題点は生じ
ないものの、温度変化や、経時変化等による装置全体の
精度に起因する光ビームの焦点外れ、主走査位置外れ等
は検出することができないという問題点がある。

【００１３】一方、半導体レーザ素子をぺルチェ素子等
によりある一定の温度に保つようにして出力変動を押え
た場合には同期信号の発生タイミングがずれることはな
いが、半導体レーザ素子の出力特性は経時変化によって
も変化するものであり、波長変動が発生して当初の設定
と違った波長にて出力されることがある。波長が変動す
ると、一般に色収差を十分に補正していないレーザ走査
光学系等では焦点外れが生じてしまう。このような焦点
外れに関しては、上記のいずれの光ビーム検出機構も対
応できるものではなかった。

【００１４】上述したようなよう々な不具合は記録が完
了してから気づく事が多く、時間的、経費的な無駄が多
く発生していた。

【００１５】本発明は上述したような従来の技術が有す
る問題点に鑑みてなされたものであって、光ビームの出
力変動に関わらずに適性なタイミングにて同期信号を発
生することができ、また、装置や半導体レーザ素子の経
時変化に起因する光ビームの焦点外れ、主走査位置外れ
等をも検出することのできる光ビーム検出機構を実現す
ることを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の光ビーム検出機
構は、被走査体を光ビームにて走査する光ビーム走査装
置にて、光ビームが位置決めの基準点となる所定位置を
走査したときにこのことを検出して所定の信号を発生す
る光ビーム検出機構において、前記光ビームの走査方向
に前記基準点を中心として均等配置された３個のフォト
センサを具備し、前記３個のフォトセンサのうちの少な
くとも１個は前記光ビームの走査方向に関して対称配置
された分割センサが用いられる。

【００１７】また、本発明の光ビーム検出方法は、光ビ
ームの走査方向に対称な分割センサの各出力の差が、予
め設定された第１の所定値を超えたときに光ビームの走
査位置がずれたことを示す主走査位置変位信号を出力す
る。

【００１８】この場合、光ビームの走査方向に対称な分
割センサの各出力の和が、予め設定された第２の所定値
を超えたときに光ビームの強度が十分なものであること
を示すレーザ強度信号を出力してもよく、また、両側に
位置する２個のフォトセンサの各出力が等しく、両側に
位置する２個のフォトセンサの各出力の和と中央に設け
られたフォトセンサの出力との比が予め設定された第３
の所定値を超えたときに光ビームの焦点がずれているこ
とを示す焦点外れ信号を出力してもよい。

【００１９】さらに、両側に位置する２個のフォトセン
サの各出力が等しく、中央に設けられたフォトセンサの
出力が予め設定された第４の所定値を超えたときに光ビ
ームが位置決めの基準点となる所定位置を走査したこと
を示す同期信号を出力してもよい。

【００２０】

【作用】上記構成の光ビーム検出機構においては、各々
のフォトセンサより独立した出力信号が得られるので、
光ビームの走査線方向に並んで配置された３個のフォト
センサの中央に位置する出力と、その両側に位置するフ
ォトセンサの比を取ることにより光ビームの焦点外れが
検知される。さらに、両側に位置する２個のフォトセン
サの各出力が等しいときの中央に配置されたフォトセン
サの出力値から同期信号を発生させることが可能とな
る。また、光ビームの走査方向に対称な分割センサの各
出力の比から光ビームの走査位置のずれを検出でき、そ
の和を得ることによりレーザビームの強度信号が得られ
る。

【００２１】上記の各信号は、光ビームの出力変動を考
慮して発生するので、被走査体上の画像への悪影響や読
み取りエラー等を未然に防止される。

【００２２】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００２３】図１は本発明の第１の実施例の光ビーム検
出機構を備えたフラットベッド型のレーザプリンタの構
成を示す図である。

【００２４】図中の半導体レーザ１０１、コリメータレ
ンズ１０２、シリンドリカルレンズ１０３、回転多面鏡
１０４、ｆθレンズ群１０５、サブミラー１０６、光路
折り曲げミラー１０８およびこれらの各動作を制御する
制御装置（不図示）のそれぞれは、図７に示した半導体
レーザ７０１、コリメータレンズ７０２、シリンドリカ
ルレンズ７０３、回転多面鏡７０４、ｆθレンズ群７０
５、サブミラー７０６、光路折り曲げミラー７０８およ
び制御装置と同ようのものであるため、説明は省略す
る。

【００２５】図７に示した従来例においては、ドラム状
の感光体を回転させることにより副走査方向への走査が
行われていたが、本実施例においては、板状の感光体１
０９を直進テーブルに乗せて移動させることにより副走
査が行われ、光記録がなされる。光記録を行う光ビーム
は記録に先立って、感光体と共役な位置に配された光ビ
ーム検出機構の一つである光ビーム受光部１０７に達す
る。該光ビーム受光部１０７には分割構造のフォトダイ
オードが用いられている。

【００２６】図２（Ａ）は光ビーム受光部１０７の形状
を示す図であり、図２（Ｂ）はその受光特性を示す図で
ある。

【００２７】光ビーム受光部１０７は図示されるように
６個のフォトダイオードＰ₁〜Ｐ₆から構成されており、
矢印で示される主走査ラインの中心を挟んで３個ずつが
対称かつ平行に隣接配置されたもので、３個の分割セン
サ（フォトセンサ）が光ビームの走査方向に関して対称
配置された構成となっている。

【００２８】主走査方向に関する光ビーム受光部１０７
のトータルの幅は、検知の立上がり、立下がりを鋭敏に
するために小さなものとされ、おおよそレーザビームの
中心強度の１／ｅ₂で定義される直径程度とされてい
る。各フォトダイオードＰ₁〜Ｐ ₆の検出信号は、光ビー
ム検出機構を構成する処理回路群（不図示）に入力され
る。処理回路群に入力された各検出信号を増幅器を通っ
て増幅された後に電気的信号処理を行う演算回路に入力
される。該演算回路においては、記録の基になる基準点
を光ビームが通過したことを示す同期信号の他に、光ビ
ームの強度が十分なものであることを示すレーザ強度信
号、焦点がずれたことを示す焦点外れ信号、光ビームの
走査位置がずれたことを示す主走査位置変位信号等を必
要に応じて発信する構成とされている。

【００２９】この結果、被走査体上の画像への悪影響や
読み取りエラー等を未然に防止することができ、時間
的、経済的な無駄を削減することが可能となる。

【００３０】このように配置された受光部を、レーザ走
査系に用いられるビームでは一般的なガウス分布に近似
した強度分布のビームが通過するときの各フォトダイオ
ードＰ₁〜Ｐ₆の走査時間と出力との関係について図２〜
図４を参照して述べる。

【００３１】図２（Ａ）に示すようにビームの通過位置
が主走査線上、言葉を変えると、受光部の中心を通過す
る場合には、主走査ラインの中心に対称なフォトダイオ
ードの出力は等しいものとなり、図２（Ｂ）に示すよう
に各組ごとに時間差が生じたものとなる〔図２（Ｂ）は
フォトダイオードの出力特性が全て同じと仮定したもの
である。以下同様〕。

【００３２】また、図３（Ａ）のように、主走査線が本
来の位置より変位した場合には、主走査ラインの中心に
対称なフォトダイオードの出力に差が生じ、図３（Ｂ）
に示すように変わる。さらに図４（Ａ）に示す様な焦点
位置外れが発生した場合には、各フォトダイオードの出
力は立上り特性が図４（Ｂ）に示すように緩やかなもの
となる。

【００３３】本実施例において発生する各種信号につい
て説明する。

【００３４】図２〜図４のいずれにおいても、同期信号
の発生タイミングは、光ビームの中心がフォトダイオー
ドＰ₂とＰ₅に有り、フォトダイオードＰ₁，Ｐ₄の各出力
の立下がりとフォトダイオードＰ₃とＰ₆の各出力の立上
りが交じり合う時点が基準とされる。光ビームはガウス
分布に近似した強度分布であるため、焦点位置が正常で
ある場合には、フォトダイオードＰ₂とＰ₅の合成出力は
前記フォトダイオードＰ₁とＰ₄の合成出力やフォトダイ
オードＰ₃とＰ₆の合成出力に比べて所定の割合で高いも
のとなる。

【００３５】同期信号は、上記の発生タイミングであ
り、フォトダイオードＰ₂とＰ₅の合成出力とフォトダイ
オードＰ₁とＰ₄の合成出力（もしくはフォトダイオード
Ｐ₃とＰ₆の合成出力）との比が予め定められた所定値以
上のものであるときに発せられる。もしこの出力レベル
比が予め定められた所定値より低いものである場合に
は、図４に示すような焦点位置外れが発生したために、
ガウス分布が広がって出力ピークが低くなっているもの
と判定され、焦点外れ（ピンボケ）信号を発信するとと
もに、同期信号の発生を取り消す（取り消し回路は図示
していない）。

【００３６】上述したように主走査位置が本来の位置か
らどちらかに変位すると、図３（Ｂ）に示すように主走
査ラインの中心に対称なフォトダイオードの出力に差が
生じる。本実施例では主走査ラインの中心に対称なフォ
トダイオードＰ₁とＰ₄との出力差を取り、予め設定した
所定値と比較することにより、主走査位置の変位を検知
するものとした。この場合、図からも読み取れるように
フォトダイオードＰ₂とＰ₅、フォトダイオードＰ₃とＰ₆
との差、またはフォトダイオードＰ₁、Ｐ₂、Ｐ₃の和と
フォトダイオードＰ₄、Ｐ₅、Ｐ₆の和との差を取っても
同様である。

【００３７】次に、本実施例に用いられる演算回路につ
いて図５を参照して説明する。

【００３８】図５は各フォトダイオードの出力から上記
のような信号処理を行う演算回路の構成を示すブロック
図である。

【００３９】フォトダイオードＰ₁〜Ｐ₆に対しては増幅
器５０１₁〜５０１₆がそれぞれ個別に設けられており、
各フォトダイオードＰ₁〜Ｐ₆の出力は、各増幅器５０１
₁〜５０１₆によって増幅された後に信号処理される。

【００４０】増幅器５０１₁，５０１₄の各出力は減算器
５０２₁，加算器５０３₁にそれぞれ入力されている。減
算器５０２₁の減算結果を示す出力は、比較器５０４₁に
入力されて予め定められた所定値Ｎ₁と比較される。比
較器５０４₁は該比較結果に応じて主走査位置がずれた
ことを示す主走査位置変位信号Ｓ₁を出力する。

【００４１】加算器５０３₁の加算結果を示す出力は、
比較器５０４₂に入力されて予め定められた所定値Ｎ₂と
比較される。比較器５０４₂は該比較結果に応じてレー
ザ光の強度が所定値以上のものであることを示すレーザ
強度信号Ｓ₂を出力する。

【００４２】増幅器５０１₂と増幅器５０１₅の各出力は
加算器５０３₂に入力されて加算された後に加算器５０
３₂の出力はサンプルホールド回路５０５₁および比較器
５０４₃に入力される。増幅器５０１₃と増幅器５０１₆
の各出力は加算器５０３₃に入力されて加算された後に
加算器５０３₄および減算器５０２₂に入力される。加算
器５０３₄および減算器５０２₂には加算器５０３₃によ
る加算入力の他に加算器５０３₁による加算入力がそれ
ぞれ入力されている。加算器５０３₂の加算結果を示す
信号はサンプルホールド回路５０５₁と比較器５０４₃と
に出力され、加算器５０３₄の加算結果を示す信号はサ
ンプルホールド回路５０５₂に出力されている。 減算
器５０２₂は加算器５０３₁，５０３₃の各加算出力を入
力するもので、これらの各入力値が等しくなったときに
出力ホールド信号Ｓ₅をサンプルホールド回路５０５₁，
５０５₂および比較器５０４₃へ出力する。各サンプルホ
ールド回路５０５₁，５０５₂の出力は割算器５０６に入
力され、これらの比が比較器５０４₄へ出力される。比
較器５０４₄は該入力と予め定められた所定値Ｎ₃とを比
較し、該比較結果に応じて焦点外れ信号Ｓ₃を出力す
る。

【００４３】比較器５０４₃は加算器５０３₂の加算出力
と予め定められた所定値Ｎ₄とを入力して比較するもの
で、該比較結果に応じて同期信号Ｓ₄を出力する。

【００４４】次に、演算回路の動作について説明する。

【００４５】フォトダイオードＰ₁，Ｐ₄の各出力は増幅
器５０１₁，５０１₄にてそれぞれ増幅された後に減算器
５０２₁および加算器５０３₁にそれぞれ入力されて演算
が開始される。

【００４６】減算器５０２₁においては、これらの入力
の差を比較器５０４₁に出力する。比較器５０４₁は該差
入力の他に予め設定された第１の所定値Ｎ₁を入力する
もので、差入力の値と予め設定された第１の所定値Ｎ₁
と比較し、差入力の値が第１の所定値Ｎ₁を超えたとき
に走査位置変位信号Ｓ₁を発する。

【００４７】加算器５０３₁においてはこれらの各入力
を加算して比較器５０４₂へ出力する。比較器５０４₂は
該加算入力の他に予め設定された第２の所定値Ｎ₂を入
力するもので、加算入力と第２の所定値Ｎ₂とを比較
し、これらの各入力値がほぼ等しいものであるときにレ
ーザ強度信号Ｓ₂を出力する。予め設定された第２の所
定値Ｎ₂は、各フォトダイオードＰ₁，Ｐ₄の出力値がピ
ークとなったときの加算入力値に等しくなるように設定
されているので、レーザ強度信号Ｓ₂が出力された後の
加算入力値は序々に低下する。

【００４８】続いて、レーザビームが達するフォトダイ
オードＰ₂とＰ₅の出力は、増幅器５０１₂，５０１₅によ
って増幅された後に加算器５０３₂に入力されて加算さ
れる。このときの加算出力値は走査時間とともに増加
し、その後減少するものとなる。 続いて、レーザビー
ムが達するフォトダイオードＰ₃とＰ₆の出力は、増幅器
５０１₃，５０１₆による増幅後、加算器５０２₃に入力
されて加算される。このときの加算出力値も走査時間と
ともに増加し、その後減少するものとなる。

【００４９】加算器５０３₁と加算器５０３₃の各加算出
力は減算器５０２₂に入力され、また、加算器５０３₄に
入力される。減算器５０２₂ではこれらの各入力の差が
０となったときに出力ホールド信号Ｓ₅をサンプルホー
ルド回路５０５₁，５０５₂および比較器５０４₃にそれ
ぞれ出力する。

【００５０】出力ホールド信号Ｓ₅が出力されたときの
各回路の動作について説明する。

【００５１】サンプルホールド回路５０５₁では入力さ
れる加算器５０３₂の加算出力値（フォトダイオード
Ｐ₂，Ｐ₅の加算値）をホールドし、割算器５０６へ出力
する。サンプルホールド回路５０５₂では入力される加
算器５０３₄の加算出力値（加算器５０３₁，５０３₃の
各出力加算値）をホールドし、割算器５０６へ出力す
る。比較器５０４₃ではサンプルホールド回路５０５₁と
同じ入力である加算器５０３₂の加算出力値を予め設定
された第４の所定値Ｎ₄と比較し、差入力の値が第３の
所定値Ｎ₃を超えたときに同期信号Ｓ₄を発する。

【００５２】割算器５０６では入力された各サンプルホ
ールド回路５０５₁，５０５₂の各ホールド値の比を演算
して比較器５０４₄へ出力する。比較器５０４₄では入力
された演算結果を予め設定された第３の所定値Ｎ₃と比
較し、差入力の値が第４の所定値Ｎ₄を超えたときに焦
点外れ信号Ｓ₃を発する。

【００５３】上述した実施例においては、光ビーム受光
部としてフォトダイオードが６個（分割センサが３個）
設けられるものとして説明したが、本発明は光ビームの
走査方向に３個のフォトセンサが基準点を中心として均
等配置され、該３個のフォトセンサのうちの少なくとも
１個が前記光ビームの走査方向に関して対称配置された
分割センサであればよく、図６（Ａ）、図６（Ｂ）に示
す第２、第３の実施例のように５個、または４個のフォ
トダイオードを近接配置してもよい。

【００５４】図６（Ａ）に示した第２の実施例において
は、第１の実施例でのフォトダイオードＰ₁，Ｐ₄は
Ｐ₁₁，Ｐ₁₄に、中央のフォトダイオードＰ₂，Ｐ₅はフォ
トダイオードＰ₁₂に、さらにフォトダイオードＰ₃，Ｐ₆
はフォトダイオードＰ₁₃，Ｐ₁₅に各比較器内の設定値を
変えるだけで置き換えることができる。

【００５５】図６（Ｂ）に示した第３の実施例において
は、第１の実施例でのフォトダイオードＰ₁、Ｐ₄はＰ₂₁
に、中央のフォトダイオードＰ₂、Ｐ₅はフォトダイオー
ドＰ ₂₂，Ｐ₂₄に、さらにフォトダイオードＰ₃とＰ₆はフ
ォトダイオードＰ₂₃に各比較器内の設定値を変えるだけ
で置き換えることができる。

【００５６】

【発明の効果】本発明は以上説明したように構成するこ
とにより、以下に記載するような効果を奏する。

【００５７】請求光１に記載のものにおいては、請求項
２乃至請求項５に記載の方法を用いることにより、光ビ
ームの出力変動に関わらずに適性なタイミングにて同期
信号を発生することができ、また、装置や半導体レーザ
素子の経時変化に起因する光ビームの強度変動、焦点外
れ、主走査位置外れ等をも検出することができる効果が
ある。

【００５８】この結果、被走査体上の画像への悪影響や
読み取りエラー等を未然に防止することができ、時間
的、経済的な無駄を削減することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を備えたレーザプリンタ
の構成を示す図である。

【図２】（Ａ）は図１中の光ビーム受光部１０７の形状
を示す図、（Ｂ）はその受光特性を示す図である。

【図３】（Ａ）は主走査位置が本来の位置より変位した
場合の図１中の光ビーム受光部１０７の受光状態を示す
図、（Ｂ）はその受光特性を示す図である。

【図４】（Ａ）は焦点位置外れが発生した場合の図１中
の光ビーム受光部１０７の受光状態を示す図、（Ｂ）は
その受光特性を示す図である。

【図５】第１の実施例に用いられる演算回路の構成を示
すブロック図である。

【図６】（Ａ）および（Ｂ）のそれぞれは、本発明の第
２および第３の実施例で用いられる光ビーム受光部の構
成を示す図である。

【図７】レーザプリンタの従来例の構成を示す図であ
る。

【符号の説明】

１０１ 半導体レーザ １０２ コリメータレンズ １０３ シリンドリカルレンズ １０４ 回転多面鏡 １０５ ｆθレンズ群 １０６ サブミラー １０７ 光ビーム受光部 １０８ 光路折曲げミラー １０９ 感光体 ５０１₁〜５０１₆ 増幅器 ５０２₁，５０２₂ 減算器 ５０３₁〜５０３₄ 加算器 ５０４₁〜５０４₄ 比較器 ５０５₁，５０５₂ サンプルホールド回路 ５０６ 割算器 Ｐ₁〜Ｐ₆，Ｐ₁₁〜Ｐ₁₅，Ｐ₂₁〜Ｐ₂₄ フォトダイオー
ド Ｓ₁ 主走査位置変位信号 Ｓ₂ レーザ強度信号 Ｓ₃ 焦点外れ信号 Ｓ₄ 同期信号 Ｓ₅ 出力ホールド信号

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被走査体を光ビームにて走査する光ビー
   ム走査装置にて、光ビームが位置決めの基準点となる所
   定位置を走査したときにこのことを検出して所定の信号
   を発生する光ビーム検出機構において、 前記光ビームの走査方向に前記基準点を中心として均等
   配置された３個のフォトセンサを具備し、 前記３個のフォトセンサのうちの少なくとも１個は前記
   光ビームの走査方向に関して対称配置された分割センサ
   であることを特徴とする光ビーム検出機構。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光ビーム検出機構を用い
   た検出方法であって、 光ビームの走査方向に対称な分割センサの各出力の差
   が、予め設定された第１の所定値を超えたときに光ビー
   ムの走査位置がずれたことを示す主走査位置変位信号を
   出力することを特徴とする光ビーム検出方法。
3. 【請求項３】 請求項１記載の光ビーム検出機構を用い
   た検出方法であって、 光ビームの走査方向に対称な分割センサの各出力の和
   が、予め設定された第２の所定値を超えたときに光ビー
   ムの強度が十分なものであることを示すレーザ強度信号
   を出力することを特徴とする光ビーム検出方法。
4. 【請求項４】 請求項１記載の光ビーム検出機構を用い
   た検出方法であって、 両側に位置する２個のフォトセンサの各出力が等しく、
   両側に位置する２個のフォトセンサの各出力の和と中央
   に設けられたフォトセンサの出力との比が予め設定され
   た第３の所定値を超えたときに光ビームの焦点がずれて
   いることを示す焦点外れ信号を出力することを特徴とす
   る光ビーム検出方法。
5. 【請求項５】 請求項１記載の光ビーム検出機構を用い
   た検出方法であって、 両側に位置する２個のフォトセンサの各出力が等しく、
   中央に設けられたフォトセンサの出力が予め設定された
   第４の所定値を超えたときに光ビームが位置決めの基準
   点となる所定位置を走査したことを示す同期信号を出力
   することを特徴とする光ビーム検出方法。