JPH0560382B2

JPH0560382B2 -

Info

Publication number: JPH0560382B2
Application number: JP60280937A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Nishimura; Yasushi Myazaki
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 1985-12-16
Filing date: 1985-12-16
Publication date: 1993-09-02
Also published as: JPS62139630A

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の利用分野〕本発明は、Ｘ線管を搭載するフレームの連続回
転可能なＸ線CT装置に関する。〔発明の背景〕Ｘ線CT装置は、放射線医学領域における診断
装置として今や不可欠となつている。ところが、
従来の第３世代Ｘ線CT装置では、連続したスラ
イスを撮影する場合、１スキヤン終了までは、ベ
ツドを移動させずにＸ線を曝射し、１スキヤン終
了毎にベツドを移動しながら撮影を行うため、ス
キヤン間休止時間を０にすることができず、必ず
デツドタイムがあり撮影に相当な時間を必要とす
る。医療診断装置において撮影時間の短縮は、患
者拘束時間の短縮につながり、装置利用者側から
みた場合、患者スループツトの向上という経済的
効果をももたらすため重要である。［発明が解決しようとする課題］患者の拘束時間を少なくし、患者スループツト
をはかる従来例に、被検体を移動させながらＸ線
源を回転させて計測を行うスパイラルスキヤン法
がある。この従来例には、「デイジタル画像処理
の医用機器への応用と問題点」（技研報センタ主
催のセミナー「医用画像のデイジタル信号処理技
術とその臨床応用への問題点」での発表論文。昭
和56年10月26日。堀場勇夫著。II42〜II44ペー
ジ）と特開昭59−111738号とがある。前者は、ス
パイラルスキヤンCT装置の原理を示す文献であ
り、Ｘ線を被検体の周りに回転させること、この
回転と共に被検体を体軸方向に移動させること、
及び再構成させることの３つの特徴を持つ。後者
はこのスパイラルスキヤンで収集したデータの再
構成の具体例を種々開示したものである。上記２つの従来例でのスパイラルスキヤンにお
ける被検体の移動は、片方向であり、この片方向
のスキヤンで得たデータから再構成を行う。しか
し、片方向ではスキヤンデータが粗くなり、再構
成精度に欠けることがある。本発明の目的は、スパイラルスキヤンでの被検
体の移動を片方向のみでなく、往復移動させて高
密度計測を可能にするＸ線CT装置を提供するも
のである。［課題を解決するための手段］本発明は、Ｘ線を発生するＸ線源と、Ｘ線と対
向して設けられ被検体を透過してきたＸ線を検出
するＸ線検出器と、被検体を乗せて往路と復路と
の両者それぞれに連続移動可能な患者ベツドと、
検出したデータを収集するデータ収集手段と、該
データから画像再構成する画像再構成手段とを、
少なくとも有し、該Ｘ線源を被検体の周りに往路
と復路とのそれぞれで連続的に回転移動させ、各
回転移動中に前記患者ベツドを被検体の体軸方向
に連続的に移動させ、該被検体の移動中に被検体
にＸ線を曝射しら旋スキヤンを行わせることとし
たＸ線CT装置において、前記往路と復路とでは、
Ｘ線源の軌跡が互いに相手の間を通るようにスキ
ヤンし、前記往路と復路とでそれぞれ収集したデ
ータ相互間で補間処理を行つて任意のスライス位
置での投影データを求め、該投影データより任意
スライス位置の断層像を画像再構成することとし
た。更に本発明は、Ｘ線検出器をオフセツトデイテ
クタ形とした。［作用］本発明によれば、往路と復路とではＸ線源の軌
跡が互いに相手の間を通るように走査するため、
往路と復路との投影データとは互いに他を補完し
あう関係となり、高分解能処理が可能になる。更
にこの走査のもとでオフセツトデイテクタ形のＸ
線検出器を使用することで更に高分解能を達成す
る。〔発明の実施例〕第１図は、本発明の実施例であり、Ｒ−Ｒ方式
による医療用の第３世代Ｘ線CT装置の概略を示
している。Ｘ線CT装置は、Ｘ線管装置１、Ｘ線
検出器２、高電圧発生器３、患者ベツド４並びに
画像処理装置５を有し、スリツプ・リングなどを
用いた給電手段によつて高電圧をＸ線管に供給で
き、かつ、Ｘ線検出器列から得られた計測データ
を多数のアナログ・デイジタル変換器によつてデ
イジタル信号に変換後、フオト・カツプラーなど
によつて、Ｘ線管を搭載したフレーム（スキヤ
ナ）から信号を授受でき、スキヤナは高速連続回
転によつて連続スキヤンが可能であり、患者ベツ
ドをスキヤナ回転面に垂直な方向のどちらへも一
定速度で移動可能であり、Ｘ線の曝射と患者ベツ
ドの移動とＸ線管装置の回転の同期がとれるよう
になつている。同期の取り方には、メカニカル方式と、エンコ
ード方式とが考えられるが、いずれの方式でも実
現は可能である。メカニカル方式では、フレーム
を回転させる駆動系からの回転運動を歯車系によ
つてボール螺子を回転させれば回転面に対する垂
直な運動は容易に実現可能である。これによつて
患者ベツドを回転面に垂直に移動可能で、しかも
回転速度と移動速度は完全に連動して、同期運動
が実現できる。また、エンコード方式とは、回転
板に取付けた一定角度毎に白黒のパターンが反転
するように施したエンコーダを360゜に亘つて配置
しておき、静止しているガントリに固定したフオ
トセンサによつて、回転するエンコーダがフオト
センサを横切ることにより、回転運動の角速度を
検知し、この速度情報を患者ベツドを移動させる
DCサーボモータ等に伝達することにより同期を
取ることができる。なお、以下では、エンコード
方式に基づいて説明する。また、スキヤナ部は、Ｓ−Ｒ方式による第４世
代、即ち、多数のＸ線検出器を360゜に亘つて配置
し、Ｘ線管のみを回転させる方式のものでも本発
明が適用可能であることは明らかである。従来の方式のＸ線CT装置は、１スライス面
（普通360゜回転による）撮影が終るごとに、患者
ベツドの移動をスライス厚単位（２、３、５、10
mm）で移動させ、か撮影中は、患者ベツドを移動
させないものであつた。したがつて、通常スキヤ
ナは360゜回転すればよく、連続回転は不可能であ
つた。本発明の特徴は、スキヤナが連続回転可能
で、しかも患者ベツドが一定速度で移動可能なメ
カニズムをもつ点にある。本発明の片方向（往路）移動時の断層像撮影手
順を第２図によつて説明する。まず、被検体であ
る患者を乗せたベツドを、ガントリ開口部に挿入
し、位置決め投光器などによつて撮影位置決めを
行う。この位置決め後、患者ベツドを撮影開始の
基準となる最初の断層面からある距離ａだけ手前
に引きもどしておく。距離ａは、面Ｂが曝射領域
に入るまでに、患者ベツドの移動速度が一定にな
るだけの余裕をもつように設定しておく。このように患者ベツドの位置決めを設定した
後、スキヤナを回転させ撮影を開始する。スキヤ
ナが回転し始め、一定の回転速度に達すると、患
者ベツドを移動させ、面Ｂより手前でその移動速
度が定常状態になる。被検体の曝射面が面Ｂを通
過するのに同期してＸ線の曝射（基本的にＸ線の
曝射は、パルス状でも、連続Ｘ線でも良い）を開
始する。患者ベツドが、曝射開始面Ｂから距離ｂ
だけ過ぎた最終断層面B′まで達するとＸ線の曝
射を停止し、患者ベツドを減速させ面A′で停止
させる。すなわち、距離ｂは、Ｘ線曝射を行うス
ライス厚方向の全距離である。患者ベツドをスキヤナ走査中に移動させること
は、第３図に示すように静止した被検体３２から
見ると、Ｘ線管の軌跡３１はら旋状となり、これ
をら旋状走査（スパイラル・スキヤンニング）と
呼ぶことができる。第４図は、被検体の体軸方向
に対して垂直な曝射断面の患者ベツドの移動開始
から終了までのＸ線管の軌跡と断層面Ａ，Ｂ，
B′，A′を鳥瞰図的に図示したものである。なお、
撮影断層領域の距離ｂには、患者ベツドが移動す
る方向での補間、すなわち、スライス方向の補間
演算によつて投影データを求めるため、計測し始
めた直後及び終了前の直前のそれぞれ１スライス
分が、単に補間演算のためだけのデータとして扱
われる部分が含まれることに注意する必要があ
る。もし、そのように距離ｂを設定せず、画像再
構成領域として距離ｂを考えるならば、計測し始
めた直後及び終了前の直前のそれぞれ１スライス
分余分にデータを計測できるように、あらかじめ
距離ａを長くとつておく必要がある。第５図は、スキヤナの回転速度、患者ベツドの
移動速度、並びにＸ線曝射のタイミングと断層面
Ａ，Ｂ，B′，A′とのタイミングの関係を示した
ものである。スキヤナの回転走査面が面Ａにある
ときにスキヤナの回転を開始し、その回転速度が
一定になつてから、患者ベツドを移動させる。そ
の移動速度が一定になつたところでＸ線の曝射を
開始する。このＸ線の曝射の開始が断層面Ｂに一
致するように患者ベツドの移動加速度を設定して
おく必要がある。Ｘ線の曝射は、断層面B′が通
過するまで続けられ、この面B′が通過後曝射を
停止する。それとともに患者ベツドの移動は最初
と逆の加速度を加えることにより停止させる。患
者ベツドの停止後、スキヤナの回転も停める。次に、画像再構成演算のための準備として、Ｘ
線管のスパイラル軌跡と投影角との関係を第６図
に示す。いま、被検体の体軸方向をＺ軸とし、Ｚ
軸に垂直な面Ｓをとり、Ｚ軸と互いに直交する２
軸を、Ｘ、Ｙ軸とする（第６・Ａ図）。第６・Ａ
図は、Ｘ線管のスパイラル軌跡をＸ軸と垂直なＹ
軸の方向からみた鳥瞰図となつている。Ｚ軸に垂
直な任意の断層面とＸ線管のスパイラル軌跡と
は、一点Ｑで交差するだけである。これを第６・
Ｂ図の断層面で表示すると、Ｘ軸を投影角の基準
にとつたとき、投影角βの一点として表される。
第６・Ｂ図では、回転中心とＸ線管の焦点との距
離をＤでしめしてある。断層像を再構成するには、その断層面における
投影データを求めなければならない。スパイラ
ル・スキヤンニングの特徴は、撮影開始後に設定
可能な断層面から撮影終了以前の設定可能な断層
面までの任意の断層面の再構成画像を得ることが
本質的に可能である。そこで、第７図から任意の断層面Ｓの投影デー
タを求めることを考える。第７図において、Ｘ線
管装置の被検体に対する上からの軌跡の投影７１
を第７・Ａ図に、投影角及びビユー番号との関係
を第７・Ｂ図に示す。いま、任意の位置にある仮
想断層面Ｓにおける投影データを求めることを考
える。求める投影データをＰ（ｉ、ｊ）とし、スパイ
ラル・スキヤンニングによつて得られた元の投影
データをP_O（ｉ、ｊ）とする。ただし、ｉはチヤ
ンネル番号、ｊはビユー番号である。任意の断層
面Ｓより前に位置する投影角βを持つ投影データ
をP_O（ｉ、ｊ）と表わしたとき、断層面Ｓより後
に位置する投影角β＋360゜の投影データは、P_O
（ｉ、ｊ＋NP）と表される。ここで、NPは、１
スライス分に対応するビユー数である。したがつ
て、断層面Ｓにおける投影データＰ（ｉ、ｊ）は、
線形補間によつて、第１式によつて得られる。Ｐ（ｉ、ｊ）＝｛P_O（ｉ、ｊ） ×ｎ＋P_O（ｉ、ｊ＋NP）×ｍ｝／（ｍ＋ｎ）
……(1) ｉ＝１〜CN CN：全チヤンネル数ｊ＝１〜NP NP：全ビユー数（360度）ここで、ｍ、ｎは、チヤンネル番号に関しては
独立で、ビユー番号ｊに従つて変化する補間係数
であり、普通以下のような第２式で表される。ｍ＝（ｊ−j_O）／NP ｎ＝１−ｍ (2) ただし、j_O≦ｊ≦j_O＋NP、またj_Oは、求めよう
としている断層面のビユー番号である。同様にし
て、ｊ＝j′の場合についても第７図に示した通り
である。また、第７図においてＫは、１＜Ｋなる
正整数である。このようにして得られた投影データから、断層
像を得るには、フイルタード・バツクプロジエク
シヨン法などによつて、ボケ補正フイルタ処理及
び逆投影演算を行ない、再構成することができ
る。画像再構成法には、(1)直角座標系で表現される
２次元画像メモリ空間上に直接扇状の計測ビーム
の軌跡と同様の方法によつてボケ補正フイルタ処
理を行ない、逆投影演算を施すダイレクト・バツ
クプロジエクシヨン法、(2)扇状のＸ線計測ビーム
によつて得られた投影データ群から並べ換え演算
により平行ビーム投影データを作成し、この並べ
換え後のデータをボケ補正フイルタ処理を行な
い、逆投影演算を行うアレンジ法がある。ここでは、前者のダイレクト法による画像再構
成法について述べる。第１式によつて得られた投
影データＰ（ｉ、ｊ）は、Ｘ線管からみた隣接し
た２個のＸ線検出器のそれぞれの中心のなす角度
をαp、一定角度毎に投影データを計測する際の
角度サンプル間隔をβpとすると、第３式によつ
て新たにα、βを定義することができる。 α＝αp×ｉ β＝βp×ｊ (3) αp、βpが十分小さければ、α、βは、連続量
としてみなすことができる。そこで、以下、Ｐ
（ｉ、ｊ）をＰ（α、β）として扱うこととする。まず、投影データＰ（α、β）に対して第４式
に従つたボケ補正フイルタ処理を行う。Ｑ（α、β）＝∫C（α′）Ｈ（α′）Ｐ（α −α′、β）dα′ (4) ここで、Ｃ（α）は、扇状ビームを用いた計測
による幾何学系にもとづいた不等間隔サンプリン
グの補正項であり、近似的に第５式で表わすこと
ができる。Ｃ（α）＝cos（α） (5) また、Ｈ（α）は、ボケ補正のためのフイルタ
関数である。このフイルタ関数にはShepp＆
Loganのフイルタに類似のものが使われている。ダイレクト法による逆投影演算では、ビームの
位置算出にあたつて、Ｘ線源位置Ｓと再構成画像
上の座標（ｘ、ｙ）とを与え、あるビユー角度に
おけるＸ線位置と画像上の任意の座標（ｘ、ｙ）
のなす角度αは、第６式及び第７式によつて与え
られる。 α＝β＋γ (6) γ＝tan^-1（ｙ−Ｄ sinβ −−−−−−−−−− ｘ−Ｄ cosβ） (7) また、扇状ビームがＸ線源から遠ざかるに従つ
て広がることを考慮した重みL²は、第８式によ
つてえられる。 L²＝（ｘ−Dcosβ）²＋（ｙ−Dsinβ）² (8) このようにして得られたα、Ｌを用いて、全て
の画像上の座標点について、求めようとするスラ
イス面での計測開始角度β₀からβ₀＋360度の角度
範囲に亘つて次の第９式に従う累積加算を行うこ
とにより断層像が再構成される。ｆ（ｘ、ｙ）＝〓₌〓₀₊₂〓〓〓⁼〓₀１／L²Ｑ（α、β）dβ (9) ここで、１／Ｌは、すでに述べたように、計測
に用いたＸ線ビームがＸ線源から検出器に向つて
広がる効果（partial fan−bem effect）を補正
するための重みである。以上の逆投影演算プロセ
スを纏めると、第８図に示すごとくなる。ところで、投影データＰ（α、β）は、ビユー
角度方向にも検出器チヤンネル方向にもそれぞれ
サンプル間隔αp、βpで量子化されているので、
ｉを検出器チヤンネル番号、ｊをビユー番号とし
たとき、任意の角度βは、第10式で与えられる。 β＝β0＋βp×ｊ＝β(j) (10) ただし、ｊ＝０、１……NP−１ NP＝2π／βp とする。このとき、第９式は、ｊについての離散
表現として、第11式で与えられる。ｆ（ｘ、ｙ）＝βp_NP-1 〓^j=0 １／L²Ｑ（α、β(j)） (11) また、検出器チヤンネル角度αについても、任
意の画像上の座標点（ｘ、ｙ）に関して第６式及
び第７式で求めたαが、必ずしも検出器の中心を
通るとは限らないので、例えば近傍４点の２次補
間を用いれば、再構成画像は、第12式によつて求
められる。ｆ（ｘ、ｙ）＝αpβp_NP-1 〓^j=0 １／L² ₂ 〓^n=-1 gn（δ）Ｑ｛α（ｉ＋ｎ）、β(j)｝ ……(12) ここで、gn（δ）は、補間関数を表わし、δ、
ｉはそれぞれｉ＝〔α／αp〕 (13) δ＝α−αp×ｉ (14) である。ただし、〔〕は、ガウス信号である。以上の処理を全ての画像上の座標点について行
えば逆投影演算は完了する。全逆投影演算回数
は、全画素数×ビユー数であり、第６、７、８、
12、13式及び第14式を同数回演算すれば完了す
る。次に、システムの動作を第８図によつて説明す
る。スパイラル、スキヤンニングを行うシステム
が、投影データ収集中に画像再構成を実施するこ
とは可能である。すでに述べたように、スライス
方向に補間演算を施さねばならないので、スキヤ
ナ１周分の投影データを常に余分に保持できるよ
うにバツフアを２面（360°分に相当する投影デー
タを収納する２次元メモリを１面と数える）分用
意しておけばよい。すなわち、補間演算実施のた
めに、スキヤナ１周分の投影データが収集される
まで、画像再構成演算は実施できないが、１周分
収集し終ると、次の面のバツフアに収集した投影
データを書き込むのと並行して、現在収集中の投
影データと前の面のバツフアのデータとの間で補
間演算を行ない、画像再構成する。１面分の投影
データが収集し終ると、画像再構成演算も終了
し、１断層面の画像が作成されたことになる。次
に、前の面のバツフアは解放して良いので、そこ
に新たに投影データを書き込むのと同時に他の面
との投影データとで補間演算を行ない画像再構成
できる。このように一連の操作を順次実施すれ
ば、スキヤナ１周毎に再構成画像が作成される。
これらの画像は通常表示用メモリに貯えられるの
で、表示用メモリも２面用意しておけば、次の画
像を再構成する間にすでに作成した画像はDMA
転送によつて、デイスクに書き込んでしまえば、
再度読出すことが可能である。ただし、本方法で
は、再構成される断層面が、スキヤナ１周期分の
スライス毎に限定されてしまう点に欠点がある。
スパイラル・スキヤンニングの長所は、任意の断
層面の再構成画像が得られる点にあるので、以下
では、投影データ収集モードと画像再構成モード
とを持つシステムに限定して説明する。投影データ収集モードでは、システムは１スキ
ヤン分（360°、スキヤナ１周分）の投影データを
保持するバツフアをスキヤン終了毎に切替えて使
う。まず、断層撮影を始めると、収集した投影デ
ータを順次チヤンネル番号順、ビユー番号順に２
次元バツフア８１に書き込んでいく。１スキヤン
終了すると、投影データの書き込みは、もう１面
の２次元バツフア８２に切り替える。その間に書
き込みが終了した２次元バツフア８１は、他のバ
ツフアに投影データを書き込み中に、DMA転送
によつて、デイスクに書き込む。さらに１スキヤ
ンが終了すると、またバツフアを切り替える。す
なわち、収集した投影データは２次元バツフア８
１に書き込み、もう１面の２次元バツフアの内容
は、DMA転送によつてデイスクに書き込む。こ
のようにして、投影データ書き込みのバツフアを
切り替えることにより、全スキヤン終了時には、
デイスク内にバツフアー８１，８２に順次割当て
られた１スキヤン分の投影データが、チヤンネル
番号順、ビユー番号順に入り、かつそれらがスキ
ヤン番号順に入つている。投影データ収集のモードが終了すると、次は、
画像再構成モードに入る。このとき、再構成した
い断層面をまず決定する。デイスク内には、全ス
キヤンの投影データが順に並んで収納されている
ので、指定した断層面に対応したビユー角度の前
後±2πの投影データ、即ち２スキヤン分のデー
タを２面の２次元バツフア８１，８２内に読み込
む。スライス面選択による補間処理回路８３で
は、バツフア８１，８２の同じアドレスの投影デ
ータを取込み、第１、２式に従い、補間演算によ
つて投影データを作成していく。作成された投影
データは、順次ボケ補正フイルタ処理回路８４に
よつて、フイルタ係数回路８５に応じたボケ補正
が施され、逆投影演算回路８５によつて逆投影さ
れ画像８７が作成される。次に、本発明の往復動を行う実施例を説明す
る。第２図のように、患者ベツドを一方向だけ移
動させるのではなく、第９図に示すごとく面
B′から面Ｂまで逆方向にも移動し、走査を行う
場合について考える。この際、逆方向移動のＸ線
管の軌跡３３が、順方向のＸ線管の軌跡３１の間
にくるように走査を行うと、被検体３２は第１０
図に示すごとくら旋状に走査される。この、「間
にくるような」軌跡とは、後述する第１３図Ｂに
示す如き軌跡である。即ち、第１３図で、実線が
順方向軌跡であり、点線が逆方向軌跡であり、１
周期を例えば360°（これは1NPの大きさに相当）
とし、実線と点線とで示すように互いに相手の間
にくるような軌跡となつている。従つて、順方向
スキヤンのＸ線管の軌跡３１と逆方向スキヤンの
Ｘ線管の軌跡３３は、ちようど互いに両者がスラ
イス方向の間を通るような状態で計測される。第１１図は患者ベツドの順方向移動と逆方向移
動を実施する際の、スキヤナ回転速度、患者ベツ
ド移動速度とＸ線曝射のタイミングを示したもの
である。この例では、スキヤナは、患者ベツドの
移動の順・逆に関係なく、一定方向の回転を行つ
た例である。この場合の、順方向移動でのら旋ス
キヤンでのＸ線管の軌跡Ａと逆方向移動でのら旋
スキヤンでのＸ線管の軌跡Ｂとは、互いにクロス
する関係となる。これは、数学的に明らかであ
る。一方、先に述べた順方向移動の軌跡３１と逆
方向移動の軌跡３２との例で示した、間にくるよ
うなスキヤンとは、上記クロスの関係の逆となる
ことであり、順方向と逆方向とでＸ線スキヤナの
回転方向が逆になることを意味する。この間にく
るような軌跡のタイムチヤートを図１５に示す。
図１５で、順方向に対して、逆方向時には、スキ
ヤナが逆回転を行うことがわかる。これによつ
て、順と逆との軌跡３１と３３とが互いに間にく
るようになる。第１１図及び第１５図において、まず、スキヤ
ナを回転させ、その回転速度が一定になつたとこ
ろで患者ベツドを順方向に移動させ、その移動速
度が一定になり、面Ｂを通過したところでＸ線の
曝射を開始する。面Ｂから面B′までの走査が完
了すると、Ｘ線の曝射を休止し、患者ベツドも停
止させる。次に患者ベツド（又はベツドとスキヤ
ナ）を逆方向に回転移動させ、かつ、面B′の手
前でスキヤナの回転速度及び患者ベツドの移動速
度が一定になるようにし、面B′を通過時からＸ
線曝射を開始する。この際、面B′での順方向ス
キヤンニングのＸ線管の位置と逆方向スキヤンニ
ングの位置が、ちようど180°対向した位置になる
ように、あらかじめ患者ベツドの移動をＸ線管の
回転と同期をとつておく必要がある。このように
して、患者ベツドの逆方向移動が面Ｂを通過する
とＸ線曝射を停止し、患者ベツドの移動並びにス
キヤナの回転を停止する。この際重要なことは、同期の取り方である。患
者ベツドの移動速度、並びに加速・減速の加速度
は、あらかじめ把握することができるので、問題
は、順方向スキヤンが終了し、逆方向スキヤンを
開始するまでの時間（t4−t5）である。というの
は、被検体である患者の体重によつて患者ベツド
の加速度が開始しうるが、一定速度に達するまで
の時間は（t2−t1）によつて捕捉される。次に停
止のための逆加速度を加えた時間（t4−t3）も計
測できる。したがつて、逆方向に患者ベツドが一
定速度で移動可能になる時間（t6−t5）も予測可
能である。つまり、t6−t5＝t2−t1なる関係が成
り立つとしてよい。目的とすることは、時刻t6で
面B′が曝射されるときにＸ線管の位置が、順方
向時と180°対向した位置にあればよい。そのため
には、t6−t3は、回転の角速度をωとしたとき、
第15式の関係を満たしておればよいことが明らか
である。（2L＋１）π＝ω（t6−t3） (15) ただし、Ｌは正整数である。以上のことから、患者ベツド停止時間t5−t4
は、第16式で決定される。 t5−t4＝（t6−t3）−（t4−t3）−（t6−t5）＝（2L＋
１）π／ω−（t4−t3）−（t2−t1）……(16) ここで、t4−t3、t2−t1は、すでに計測ずみの
値である。このように走査した場合、投影データは患者ベ
ツドが順方向に移動している時の投影データと、
逆方向に移動している時の投影データとは、Ｘ線
管の位置がそれぞれ180°対向した位置にあり、互
いに他を補いあう関係にある。したがつて、Ｘ線
管と回転中心とを結んだ線に対して、Ｘ線検出器
列の中央が検出器幅の1/4だけずれた関係を持つ
た、いわゆる、オフセツト・デイテクタによつて
計測した場合、順方向移動時の投影データと、逆
方向移動の投影データとは、互いに他を補完しあ
う関係にある。即ち、任意の投影角度における順
方向移動時の投影データと、逆方向移動時の投影
データとは、大雑把に言つて、それぞれのＸ線ビ
ームは、お互いに1/2の重なり合いを持つので、
これを利用すれば高分解能処理が可能となる。また、前記片方向（往路）スキヤンでは、任意
の断層面でも補間による誤差は同じ条件であつた
が、本発明の往復動のスキヤンの実施例では、任
意の断層面に対して、ベツド移動方向、即ちスラ
イス方向について、明らかに補間精度が２倍だけ
向上するだけでなく、チヤンネル方向にも精度が
向上することになるので、すぐれた空間分解能が
得られる。したがつて、本発明の往復動のスキヤ
ンの実施例は、スパイラル・スキヤンニング方式
における高分解能処理と呼ぶことができる。次に、この高分解能方式による画像再構成演算
のための準備として、Ｘ線管スパイラル軌跡と投
影角との関係を第１２図に示す。第６図と同様
に、被検体の体軸方向をＺ軸とし、Ｚ軸に垂直な
面Ｓをとり、Ｚ軸と互いに直交する２軸を、Ｘ、
Ｙ軸とする（第１２・Ａ図）。第１２・Ａ図は、
Ｘ線管のスパイラル軌跡をＸ軸と垂直なＹ軸の方
向からみた鳥瞰図となつている。また軌跡３１は
順方向スキヤンの際のＸ線管の軌跡、軌跡３２は
逆方向スキヤンの際の軌跡を示す。Ｚ軸に垂直な
任意の断層面Ｓとこれらのスパイラル軌跡とは、
それぞれ点Ｑ，Q′でのみ交差するだけである。
これを第１２・Ｂ図の断層面で表示すると、Ｘ軸
を投影角の基準にとつたとき、点Ｑは投影角βの
一転、点Q′は投影角β＋πの一点として表され
る。即ち、点Ｑと点Q′は互いに180°隔てた投影角
を持つので、オフセツト・デイテクタによる検出
器を用いれば、高分解能処理を施すことができる
ことは明らかである。第１２・Ｂ図でも、回転中
心とＸ線管の焦点との距離をＤでしめしてある。スパイラル・スキヤンニングでは、すでに述べ
た通り、撮影開始後に設定可能な断層面から撮影
終了以前の認定可能な断層面までの任意の断層面
の再構成画像を得ることが本質的に可能である。
したがつて、断層像を再構成するには、その断層
面における投影データを求めなければならない。そこで、任意の断層面Ｓの投影データを求める
ことを考える。第１３図において、Ｘ線管装置の
被検体に対する上からの順方向の軌跡の投影７
１、逆方向の軌跡の投影７２を第１３・Ａ図に、
投影角及びビユー番号との関係を第１３・Ｂ図に
示す。いま、任意の位置にある仮想断層面Ｓにお
ける投影データを求めることを考える。求める投影データをＰ（ｉ、ｊ）とし、スパイ
ラル・スキヤンニングによつて得られた順方向の
投影データをP1（ｉ，ｊ）とし、逆方向の投影デ
ータをP2（ｉ、ｊ）とする。ただし、ｉはチヤン
ネル番号、ｊはビユー番号である。第１３・Ａ図
に示すように、任意の断層面Ｓより後に位置す
る、投影角βを持つ投影データP1（ｉ、ｊ）と表
わしたとき、断層面Ｓより前に位置する投影角β
−180°の投影データは、P2（ｉ、ｊ−NP／２）
と表される。ここで、NPは、１スライス分に対
応するビユー数であるので、NP／２は、逆方向
スキヤンの投影データ上にあることを示す。した
がつて、断層面Ｓにおける投影データＰ（ｉ、ｊ）
は、線形補間によつて、第17式によつて得られ
る。Ｐ（ｉ、ｊ）＝｛P1（ｉ、ｊ）×ｎ＋P2（ｉ、ｊ−NP／
２）×ｍ｝／（ｍ＋ｎ）……(17) ｉ＝１〜CN CN：全チヤンネル数ｊ＝１〜NP／２ NP：全ビユー数（360度）ここで、ｍ、ｎは、チヤンネル番号に関しては
独立で、ビユー番号ｊに従つて変化する補間係数
であり、普通以下のような第18式で表される。ｍ＝（ｊ−j_O）／NP／２ｎ＝１−ｍ (18) ただし、j_O≦ｉ≦j_O＋NP／２、またj_Oは、求め
ようとしている断層面のビユー番号である。同様
にして、ｊ＝j′の場合についても第１３図に示し
た通りである。また、第１３図においてＫは、１
＜Ｋなる正整数である。この処理を、オフセツト・デイテクタを用いた
投影データに対して、ｊに関する区間j_O≦ｊ≦j_O
＋NP／２に亘て行うと、断層面Ｓにおける高分
解能画像のための投影データが得られる。このようにして得られた投影データから、断層
像を得るには、すでに実施例１で述べたフイルタ
ード・バツクプロジエクシヨン法などによつて、
ボケ補正フイルタ処理及び逆投影演算を行ない、
再構成すればよい。最後に、片方向スキヤンに限定しての構成を第
１４図に示す。往復動でも同じような構成であ
る。具体的なハードウエア構成を第１４図に基づ
いて説明する。投影データ収集のモードで得られ
た投影データは、前述のごとく、チヤンネル番号
順、ビユー番号順に入り、かつそれらがスキヤン
番号順に入つているので、第１、２式に基づいた
補間処理を実施するために、目的とするスライス
面を選択し、それに応じた１スキヤン・データを
２面分、２次元バツフア８１，８２にDMA転送
によつて取り込む。これらの２面バツフアの内容
は、スライス方向の補間処理に適した順序でバツ
フア内に貯えられているので、２面のバツフアの
同じアドレスのデータを読出せば、第１式にすぐ
に適用できる。これを補間処理回路９０によつて
行ない、その結果を１次元バツフア９１に転送す
る。この、２次元バツフア８１から１次元バツフ
ア９１を補間処理部１０９と呼ぶ。以後、通常の画像再構成演算の処理を行えばよ
い。１次元バツフア９１の内容をFFT演算器９
２によつてフーリエ変換し、周波数領域に置き換
え、その結果を１次元バツフア９３に書き込む。
この内容と、予めボケ補正のためのフイルタ関数
と第５式との積を作成した結果を書き込んだフイ
ルタ係数テーブル・メモリ９５との乗算を、乗算
器９４によつて実施し、得られた１次元データを
１次元バツフア９６に書き込む。この１次元デー
タは、周波数領域での計算結果であるので、これ
を逆FFT演算器９７によつて、実空間領域に変
換し、その結果を１次元バツフア９８に送り込
む。FFT演算器９２から逆FFT演算器９７まで
をフイルタ処理部１１０と呼ぶ。この１次元バツフア９８の内容を、Ｘ線ビーム
の径路と検出器の中心との偏差に応じた近傍４点
の補間を４点補間回路９９によつて行ない、結果
を１次元バツフア１００に書き込む。一方、カウ
ンタ１０１からの指令により、２次元画像上の座
標（ｘ、ｙ）に対応したL²を、第８式にもとづ
いてL²計算器１０２によつて計算し、１次元バ
ツフア１００の内容を、このＬで割算器１０４を
使つて割る。その結果は、すでに２次元バツフア
１０６に貯えてある内容と加算器１０５により、
ビーム計算器１０３の指令にもとづいて加算す
る。この手順をすべての投影角に対して行えば、
最終的に求める断層像が得られる。これをビデオ
Ｄ／Ａ変換器１０７を通じてCRT１０８にデイ
スプレイすれば、断層像が可視化される。１次元
バツフア９８から２次元バツフア１０６までを逆
投影処理部１１１と呼ぶ。［発明の効果］本発明によれば、往路と復路とでのＸ線の軌跡
が互いに相手の間を通るようにスキヤンするため
往復動スキヤンによる故に、以下の効果がある。【表】

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の概要を示す図、第２図は、
断層像撮影手順を示す図、第３図は、静止した被
検体から見たときのＸ線管のら旋状軌跡を示す
図、第４図は、被検体の体軸方向に対して垂直な
曝射断面の患者ベツドの移動開始から終了までの
Ｘ線管の軌跡と断層面を鳥瞰図的に図示した図、
第５図は、スキヤナの回転速度、患者ベツドの移
動速度、並びにＸ線曝射のタイミングと断層面と
のタイミングの関係を示した図、第６図は、Ｘ線
管のスパイラル軌跡と投影角との関係を示した
図、第７図は、Ｘ線管装置の被検体に対する上か
らの軌跡の投影、及び、投影角及びビユー番号と
の関係を示す図、第８図は、逆投影演算プロセス
を示す図、第９図は、往復走査による断層像撮像
手順を示す図、第１０図は、静止した被検体から
見たときの往復走査によるＸ線管のら旋状軌跡を
示す図、第１１図は、往復走査の際のスキヤナの
回転速度、患者ベツドの移動速度、並びにＸ線曝
射のタイミングと断層面とのタイミングの関係を
示した図、第１２図は、往復走査の際のＸ線管の
スパイラル軌跡と投影角との関係を示した図、第
１３図は、往復走査の際のＸ線管装置の被検体に
対する上からの軌跡の投影、及び、投影角及びビ
ユー番号との関係を示す図、第１４図は、具体的
なハードウエア構成を示す図、第１５図は本発明
の実施例のタイムチヤートを示す図である。１……Ｘ線管装置、２……Ｘ線検出器、３……
高電圧発生器、４……患者ベツド、５……画像処
理装置、３１……順方向スキヤンのＸ線管の軌
跡、３２……被検体、３３……逆方向スキヤンの
Ｘ線管の軌跡、７１……Ｘ線管装置の被検体に対
する上から順方向軌跡の投影、７２……Ｘ線管装
置の被検体に対する上からの逆方向軌跡の投影、
８１，８２……２次元バツフアメモリ、８３……
スライス面選択による補間処理回路、８４……ボ
ケ補正フイルタ処理回路、８５……フイルタ係数
回路、８６……逆投影演算回路、８７……断層面
像、９０……補間処理回路、９１……１次元バツ
フア、９２……FFT演算器、９３……１次元バ
ツフア、９４……乗算器、９５……フイルタ係数
テーブル・メモリ、９６……１次元バツフア、９
７……逆FFT演算器、９８……１次元バツフア、
９９……４点補間回路、１００……１次元バツフ
ア、１０１……カウンタ、１０２……L²計算器、
１０３……ビーム計算器、１０４……割算器、１
０５……加算器、１０６……２次元バツフア、１
０７……ビデオＤ／Ａ変換器、１０８……CRT、
１０９……補間処理部、１１０……フイルタ処理
部、１１１……逆投影処理部。

Claims

【特許請求の範囲】１Ｘ線を発生するＸ線源と、Ｘ線と対向して設
けられ被検体を透過してきたＸ線を検出するＸ線
検出器と、被検体を乗せて往路と復路との両者そ
れぞれに連続移動可能な患者ベツドと、検出した
データを収集するデータ収集手段と、該データか
ら画像再構成する画像再構成手段とを、少なくと
も有し、該Ｘ線源を被検体の周りに往路と復路と
のそれぞれで連続的に回転移動させ、各回転移動
中に前記患者ベツドを被検体の体軸方向に連続的
に移動させ、該被検体の移動中に被検体にＸ線を
曝射しら旋スキヤンを行わせることとしたＸ線
CT装置において、前記往路と復路とでは、Ｘ線
源の軌跡が互いに相手の間を通るようにスキヤン
し、前記往路と復路とでそれぞれ収集したデータ
相互間で補間処理を行つて任意のスライス位置で
の投影データを求め、該投影データより任意スラ
イス位置の断層像を画像再構成することを特徴と
するＸ線CT装置。２Ｘ線を発生するＸ線源と、Ｘ線と対向して設
けられ被検体を透過してきたＸ線を検出するＸ線
検出器と、被検体を乗せて往路と復路との両者そ
れぞれに連続移動可能な患者ベツドと、検出した
データを収集するデータ収集手段と、該データか
ら画像再構成する画像再構成手段とを、少なくと
も有し、該Ｘ線源を被検体の周りに往路と復路と
のそれぞれで連続的に回転移動させ、各回転移動
中に前記患者ベツドを被検体の体軸方向に連続的
に移動させ、該被検体の移動中に被検体にＸ線を
曝射しら旋スキヤンを行わせることとしたＸ線
CT装置において、前記往路と復路とでは、Ｘ線
源の軌跡が互いに相手の間を通るようにスキヤン
し、上記Ｘ線検出器はオフセツトデイテクタ形の
構成とし、前記往路と復路とで、オフセツトデイ
テクタ形の上記Ｘ線検出器で、それぞれ収集した
データ相互間で補間処理を行つて任意のスライス
位置での投影データを求め、該投影データより任
意スライス位置の断層像を画像再構成することを
特徴とするＸ線CT装置。