JPH0553270U - 多層配線基板 - Google Patents

多層配線基板

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JPH0553270U
JPH0553270U JP10265291U JP10265291U JPH0553270U JP H0553270 U JPH0553270 U JP H0553270U JP 10265291 U JP10265291 U JP 10265291U JP 10265291 U JP10265291 U JP 10265291U JP H0553270 U JPH0553270 U JP H0553270U
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JP
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wiring
signal
mesh
signal wiring
wiring board
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JP10265291U
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Inventor
康英 大貫
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電源或いは接地等の配線と信号配線との相互
位置関係とを一位的に規定した構造とすることにより、
配線の微細化或いは信号の高速化によって生じる伝送特
性の向上を図る。 【構成】 セラミックから成るアルミナ基板11と、該
基板11上に絶縁体と導体とを交互に形成し、電源或い
は接地層と電気信号を伝播させる信号配線層とを有する
多層配線基板において、電源或いは接地層を網目状構造
とし、該網目の中心に上下の信号配線24,27を連結
する第1のビアポスト22を配置し、該網目の配列の方
向と、信号配線24,27の配線方向とが成す角度を0
°若しくは45°の整数倍となし、該網目の配列の方向
と信号配線24,27の配線方向とが成す角度が45°
の0倍及び偶数倍の方向に配線する信号配線の幅に対
し、45°の奇数倍の方向に配線する信号配線の幅を定
数倍とする。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、多層配線基板に係り、特にメッシュグランド(網目状接地)を持つ 多層配線基板の構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、このような分野の技術としては、例えば、日経エレクトロニクス「Cu ポリイミドやSiパッケージなどLSI実装の新しい手法を探る」1984年8 月27日号,p.145〜159に記載されるものがあった。 図3はかかる従来の多層配線基板の製造工程断面図である。
【0003】 まず、図3(a)に示すように、セラミック基板1に電源や接地等の配線2を 形成しておき、その上にポリイミドを塗布して加熱し、膜厚10〜20μm程度 の厚い絶縁膜3を形成する。 次いで、図3(b)に示すように、この絶縁膜3にフォトレジストを塗布し、 マスク露光、現像、エッチング工程を経てビア・ホール4を形成する。
【0004】 次に、図3(c)に示すように、蒸着、スパッタリングなどの方法で薄膜の信 号配線5を形成する。 次に、図3(d)に示すように、信号配線2上に、再び、ポリイミドを塗布し 、厚く平坦な保護膜6を形成する。 以上の工程を繰り返し、多層配線基板を得る。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記構造の多層配線基板では、絶縁膜の誘電率、厚さ、更に、 信号配線等の導体の幅及び厚みによって、特性インピーダンス等の伝送特性が変 化する。これに加えて、電源や接地等の配線と信号配線との相互位置関係によっ て、すなわち、各々の信号配線毎に異なった伝送特性を生じる欠点がある。この 位置関係によって生じる伝送特性上の変化の影響は、基板構造が微細化及び取扱 う電気信号が高速化するのにしたがって、次第に大きくなり、無視できなくなっ て来る。
【0006】 本考案は、以上述べた伝送特性上の配線毎のばらつきを除去するため、電源或 いは接地等の配線と信号配線との相互位置関係とを一位的に規定した構造とする ことにより、配線の微細化或いは信号の高速化によって生じる伝送特性の悪化を 除去し、優れた多層配線基板を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本考案は、上記目的を達成するために、セラミックから成る基板と、該基板上 に絶縁体と導体とを交互に形成し、電源或いは接地層と電気信号を伝播させる信 号配線層とを有する多層配線基板において、電源或いは接地層を網目状構造とし 、該網目の中心に上下の信号配線を連結するビアポストを配置し、前記網目の配 列の方向と信号配線の配線方向とが成す角度を0°若しくは45°の整数倍とな し、前記網目の配列の方向と信号配線の配線方向とが成す角度が45°の0倍及 び偶数倍の方向に配線する信号配線の幅に対し、45°の奇数倍の方向に配線す る信号配線の幅を定数倍とするようにしたものである。
【0008】
【作用】
本考案によれば、上記したように、多層配線基板において、メッシュグランド (網目状接地)を設け、網目の中心にその上下の信号配線を連結するビアポスト を配置し、ここを基点として、信号配線を網目の配列と一定の角度を持った方向 に信号配線の配置をする。
【0009】 したがって、全ての配線とメッシュグランドとの間に生じる信号配線の特性イ ンピーダンスを配線の長さ方向に一定の周期を持ったものとすることができる。 また、その平均は方向によって変わらないものとすることができる。これによ って、構造の微細化、及び伝播速度が高速化された場合においても、伝送特性を 一定にすることができる。
【0010】
【実施例】
以下、本考案の実施例について図を参照しながら説明する。 図1は本考案の実施例を示す多層配線基板の平面図、図2は図1のA−A線断 面図である。 この実施例では研磨によって平坦化した表面を持ち、更に基板と外部接続する ための入出力のための導体ポストを持つセラミック基板(96%ーアルミナ)上 に銅−ポリイミド薄膜多層基板を製造する場合について説明を行なう。以下、図 1の構造図を使って製造方法を順を追って説明することによって、本考案の多層 基板の構造を明らかにする。
【0011】 これらの図に示すように、アルミナ基板11上に、まず、(1)銅薄膜をスパ ッタリング法を用いて、厚さ1000Å推積させる。以下、この銅薄膜をカレン トフィルムと呼ぶ。 次に、(2)この上に、フォトレジストを塗布し、半硬化させた後(この膜厚 を10μmとする)、第1ビアポスト22のパターンを有するフォトマスクを使 用して、レジストパターン形成を行い、レジストにビアホールを開ける。
【0012】 次いで、(3)カレントフィルムを陰極として、銅の電解メッキを行い、第1 ビアポスト22の下の部分22Aを形成する。この時のビアポストの高さを10 μmとする。 次に、(4)レジスト全体を除去する。 更に、(5)カレントフィルムもエッチングにより除去する。
【0013】 次に、(6)ポリイミドを平坦に塗布した後、硬化させる。この時ポリイミド 硬化後の厚さはビアポスト22Aの高さと同一の10μmとする。 次に、(7)ビアポストの上に僅かに存在するポリイミドを研磨によって除去 する。このようにしてビアポスト22Aの高さ(10μm)と同一の膜厚を有す るポリイミドから成る第1中間絶縁膜12が形成される。この際、アルミナ基板 11内の導体ポスト21と、上記第1ビアポスト22とは相互に接続する位置に 配置する。また、実施例では導体ポスト21の直径を50μm、第1ビアポスト 22の直径を16μmとした。
【0014】 次に、この上に、(8)再びカレントフィルムを推積させる。 次に、(9)フォトレジストを厚さ5μm塗布し、半硬化後、第1メッシュグ ランド23のパターンを有するフォトマスクを使用して、レジストパターン形成 を行なう。 次に、上記と同様に、(10)銅メッキを行い、5μmの厚みで、第1メッシ ュグランド23を形成する。
【0015】 次に、(11)レジスト全体を除去する。 次に、(12)再び、フォトレジストを厚さ15μm塗布し、半硬化後、第1 ビアポスト22のレジストパターン形成を行う。 次に、(13)第1ビアポストの上の部分22Bの銅メッキ(15μm)を行 う。ここで、(14)レジスト全体を除去し、(15)カレントフィルムも除去 する。
【0016】 次に、(16)ポリイミドを塗布し、硬化後厚みを15μmとし、第2中間絶 縁膜13を形成する。 更に、(17)ビアポスト上のポリイミドは研磨によって除去する。 次に、(8)〜(17)の工程を繰り返し、中間信号配線24、第2ビアポス トの下部25A及び、第3中間絶縁膜14を形成する。この時、レジストパター ン形成には、中間信号配線24及び第2ビアポスト25のパターンのフォトマス クをそれぞれ使用する。
【0017】 更に、この上に、(8)〜(17)の工程を繰り返すことで、第2ビアポスト 25の上部25B、第2メッシュグランド26及び第4中間絶縁膜15を形成す る。更に、この上に上記と同様に、カレントフィルム形成、レジストパターン形 成、及び銅メッキによって、上部信号配線27を形成する。これに全体に、保護 膜16として、15μmのポリイミド形成後、外部との接続のため保護膜ビアホ ール28のポリイミドエッチングを行う。
【0018】 以上が本考案の実施例を示す製造工程である。 上記に示された多層基板構造及びパターン形成によって、メッシュグランドの 網目の中心にビアポストを持つ配線構造が形成可能となる。 使用する絶縁体(ポリイミド)の誘電率を一定として、中間絶縁層の厚膜、導 体(銅)の厚さを一定とすることに加えて、電源或いは接地層をメッシュグラン ド構造とし、これに以下のような規定、すなわち、信号配線の方向と、網目の配 列方向とが成す角度を45°の整数倍(0°,45°,90°・・・)とする規 定を設け、更に、0°及び45°の偶数倍(0°,90°,180°)について は、信号配線の幅に、45°の奇数倍(45°,135°・・・)の信号配線の 幅に一定の定数を掛けた幅とする。
【0019】 これにより、信号配線とメッシュグランドの網目との相互距離が、信号配線の 長さ方向に関して、一定の周期を持ったものとして規定されることになる。 なお、本考案は上記実施例に限定されるものではなく、本考案の趣旨に基づい て種々の変形が可能であり、これらを本考案の範囲から排除するものではない。
【0020】
【考案の効果】
以上、詳細に説明したように、本考案によれば、全ての配線とメッシュグラン ドとの間に生じる信号配線の特性インピーダンスを、配線の長さ方向に一定の周 期を持ったものとすることができる。また、その平均は方向によって変わらない ものとすることができる。
【0021】 これによって、構造の微細化、及び伝播速度が高速化された場合においても、 伝送特性が一定で、かつ優れたものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の実施例を示す多層配線基板の平面図で
ある。
【図2】図1のA−A線断面図である。
【図3】従来の多層配線基板の製造工程断面図である。
【符号の説明】
11 アルミナ基板 12 第1中間絶縁膜 13 第2中間絶縁膜 14 第3中間絶縁膜 15 第4中間絶縁膜 16 保護膜 21 導体ポスト 22 第1ビアポスト 23 第1メッシュグランド 24 中間信号配線 25 第2ビアポスト 26 第2メッシュグランド 27 上部信号配線 28 保護膜ビアホール

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミックから成る基板と、該基板上に
    絶縁体と導体とを交互に形成し、電源或いは接地層と電
    気信号を伝播させる信号配線層とを有する多層配線基板
    において、 (a)網目状に配置される電源又は接地層と、 (b)該網目の中心に上下の信号配線を連結するように
    配置されるビアポストとを設け、 (c)前記網目の配列の方向と、信号配線の配線方向と
    が成す角度を0°若しくは45°の整数倍となし、 (d)前記網目の配列の方向と信号配線の配線方向とが
    成す角度が45°の0倍及び偶数倍の方向に配線する信
    号配線の幅に対し、45°の奇数倍の方向に配線する信
    号配線の幅を定数倍とすることを特徴とする多層配線基
    板。
JP10265291U 1991-12-13 1991-12-13 多層配線基板 Withdrawn JPH0553270U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006310858A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Toshiba Corp 半導体パッケージとともに用いられる改良されたパッケージ基板のための方法およびシステム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006310858A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Toshiba Corp 半導体パッケージとともに用いられる改良されたパッケージ基板のための方法およびシステム
JP4675818B2 (ja) * 2005-04-26 2011-04-27 株式会社東芝 パッケージ基板

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