JPH05507167A - コイン検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 コイン検査方法及び装置 本発明は、コイン検査方法及び装置に関する。

本明細書において、用語「コイン」は、本物のコイン、　トークン、偽物のコイ ン、及びコインで動作する機器を動作させようとする際に用いられ得るその他の 物を包含する。

コインが、インダクターで発生した発振磁界に入る通路にそれを進ませかつコイ ンと磁界間の相互作用の度合いを測定することによる検査を受け、その結果生じ た測定量が、コインの１またはそれ以上の特性に依存すると共に、１またはそれ 以上の金種の受納可能なコインから得られる測定量に相当する１つの基準値また は１組の基１１ｉ値の各々と比較されるコイン検査装置は周知である。

各検査がそれぞれ異なるコイン特性に応答する１以上のこのような検査を実施し 、全ての検査結果が１つの受納可能な金種のコインにふされしい場合にのみ、検 査されたコインを受納可能と判断することが、最も普通である。このような装置 の例はＧＢ−Ａ−２０９３６２０に開示されている。

しばしば実施されるある特殊な検査は、コインがインダクターから引き出された 信号の振幅にもたらす最大の影響を確認することである。これは、コインが通過 するに従ってインダクターにより達せられる振幅のピーク値を測定するか、また は、そのピーク振幅とコインがインダクター付近にない時の振幅との両方を測定 し、回路網におけるドリフトと構成要素パラメーターの変化１こよって影響を受 けないほどの値を得るようにそれらの２つの振幅の（例＾ば、差または比のいず れかの）関数を取るかすることにより簡単に行なうことができる。振幅に基づい たこれらの検査は、コインが、渦巻電流がその中に誘導されているインダクター に十分に接近した時、コインによりインダクター回路に導入される実効抵抗（ま たは損失）の指示を与える。

ＥＰ−Ｂｌ−００６２４１１には、　１つの特徴として、コイル付近に静止して いるコインによって影響を受けた場合のコイルの実効抵抗または損失が、発振同 調回路の帰還ル−プの内外へ繰り返し位相変化を切り換え、回路における位相変 化を伴う発振周波数と伴わない発振周波数を測定し、実効抵抗の指示として２つ の測定された周波数間の差をとることにより測定されるコイン検査方法力５開示 されている０周波数測定は、同じ回路を使用して異なる時間に同じコインに対し て行なわれなければならなしＡことが、その方法に固有である。このことが実行 できるように、ＥＰ−Ｂｌ−００６２４１１は、検査装置におけるコインの逍１ 達が検出された後、コインが検査コイルの２つの半分の間に位置する所の、コイ ン走路における停止場所の反対側の固定した安定位置にコインを静止させるため に、１／３秒の遅延が与＾られるべきであると提案している。コインがその固定 位置にある時、位相変化は、少なくとも３．７５ｍ５以上の時間の間、　発振回 路の内外に繰り返し切換えられ、これは、周波数測定が行なわれ、次にコインが 検査装置のなかを通過し続けるのを停止により解除されるまでの間、何回も行な われる。

原理的に、これは抵抗または損失を測定する有効な方法であるが、実際上、コイ ンを静止に保つ必要があることが、コイン検査装置の最も実際的な応用において 要求される、連続するコインを１個ずつ素早く検査することに対しては、その方 法及び装置を不適当なものにしてしまう。

本発明は、上記従来技術の開示に反して、コインが同調回路のインダクターを実 際に通過している間に、実効抵抗または損失を測定するための同様な方法を実行 することが可能になることの実現化を含む。

特に、本発明は、インダクターを含む発振同調回路を使用し、該同調回路の下記 ３つのパラメーター、すなわち ａ）回路における実効抵抗 ｂ）回路における信号の位相 Ｃ）回路の発振周波数 が相互依存しているコイン検査方法であって、コインがインダクター付近にある 時上記位相に変化を与える過程と、その結果生じる周波数変化から、コインによ って影響を受けた、同調回路における実効抵抗による値を引き出す過程と、引き 出した値をコイン受納可能性チェックに使用する過程とからなるコイン検査方法 において、上記位相変化及びその結果生じる周波数変化の間に、コインをインダ クターを通り越して移動せしめる過程を含むことを特徴とするコイン検査方法を 提供する。

コインの速度に関して、位相変化を伴う周波数の測定と位相変化を伴わない周波 数の測定の間の時間間隔が十分に短くされた場合、２つの測定の間に生じるコイ ン位置の変化は、実効抵抗測定におけるエラ、−を受け入れ難い不正確さにする に足るほど大きくはさせない。

しかしながら、本発明の別の特徴にしたがって、コインによって影響を受けた場 合の同調回路における実効抵抗に依存する上記引き出し値は、２つの周波数測定 間に生じる移動コインの位置の変化の影響に関して補償される。このようにして 、測定の正確さを改善することができ、またはもつと早いコイン速度を遺応する ことができ、またはもつと遅い位相変化の切換え速度を使用することができる。

これは、特に、コイン確認に使用される測定量が、発振周波数が変化している時 、特にコインの運動によりそれが早く変化している時に取られる場合である。

好ましくは、本方法は、上記位相変化を繰り返し挿入、除去する過程と、挿入さ れた位相変化を伴う及び伴わない上記周波数を繰り返し測定する過程と、補償さ れた周波数値を引き出すために、位相変化を伴って測定された周波数値かまたは 位相変化を伴わずに測定されたそれらのいずれかの間に内挿する過程と、上記抵 抗依存値を引き出す際に補償された周波数値を使用する過程とからなる。

本発明がもつと明確に理解されるようにするために。

例として、２つの実施態様を付随する概略図に関して説明する。

第１図は、本発明の第１の実施態様を略図的に示す。

第２図は、同調回路における周波数、位相及び実効抵抗間の関係を示す。

第３図は、第１図の実施態様をコイン運動に関する補償を適用できるように変え る方法を示す。

第１図において、パイ型同講回路２は、単一コイル４の形態のインダクターと、 ２個のコンデンサ６及び７と、抵抗８を含む、抵抗８は、通常独立した構成要素 ではなく、主にコイル４の固有抵抗からなる、同調回路における実効抵抗に相当 するとみなされるべきである。

コイル４を通り過ぎた付近に点＃ａｉｏで示されたコインを動かすための手段が 備えられ、この手段は、コインがコイルを通り過ぎてエツジ上を動くコイン通路 １２として、略図的に示される。誘導検査コイル付近に、移動するコインを進め るための実際的な配置は１例久ばＧＢ−Ａ−２０９３６２０に示されており、そ の開示は本明細書中に引例として取り入れられている。コイン１０がコイル４を 通り過ぎて移動する時、同調回路における総合実効抵抗は増加し、コインがコイ ルに関して中心に来た時ピークに達し、それからアイドリンクレベルまで減少す る。

この例においては、装置はこの実効抵抗のピーク値に応答する。

同調回路２は、自走発振器を形成するように帰還路を与えられる。帰還路は、一 般に１４で示され、同調回路の１地点に生じる電圧を伝える線１６と、切換回路 １８と、帰還路にゲインを与える反転増幅器２ｏを含む。

２４で略図的に示される位相遅延回路は、切換回路１８の状態により、交互に帰 還路内に切り換えられるかまたはバイパスされるかする０位相遅延回路２４が帰 還路内に切り換えられていない時は、帰還路の位相シフトは１８０°になり、次 にパイ型同調回路を横切る位相シフトは同様に１８００になる。この状態におい て１発振器はその共振周波数で発振する。

ここで、第２図を参照すると都合が良い、第２図は。

比較的低い値Ｒ１から比較的高い値Ｒ５までの、同調回路における総合実効抵抗 の５つの異なる値に対する、発振周波数と帰還路に右ける位相シフト量（φ）の 間の関係を示す、一般的な言い方をすると、実効抵抗が変えられるパイ型同調回 路のために、どんな特別な時でも回路における実効抵抗の大きさは、ある既知の 値から別の値まで（または既知の量だけ）帰還路の位相シフト量を変えると共に 、その結果生じる周波数の変化を測定することにより確認することができる１位 相シフト変化と周波数変化の間の関係は、実際上第２図に示される曲線のうちの １つの勾配に相当し、結果として、どの曲線で回路が動作しているか、したがっ て回路の現在の実効抵抗はいくらかを示す０例えば、位相シフトが、示されるよ うに量φ１（約３０°である）だけ１８０°からシフトし、周波数がΔｆＮＣだ け変化した場合、実効抵抗は低い値Ｒ１になる。しかし、周波数がもっと大きな 量Δｆｃだけ変化した場合は、実効抵抗はもっと大きな値Ｒ４になる。

この技術は、第１図に略図的に示される回路網によってコインを検査するために 実行されるが、その説明は今終わろうとしている。

発振器の周波数は線２６を介して周波数検知回路２８へ供給される。制御回路３ ０は、発振器の帰還路の内外に位相遅延回路２４を切り換えるように、線３２に より切換回路１８を繰り返し動作させる。また、同じ線３２を介して、それは切 換回路１８と同期してスイッチ３４を動作させ、その結果、検知回路２８で検知 された周波数値は、記憶器３６（これは、位相濯延が発振器回路にない場合の周 波数値になる。）と、記憶器３８（これは、位相遅延が発振器回路に導入された 場合の周波数値になる。）に記憶される。第１図及び以下の説明は、種々の周波 数及び周波数差に使用される次の表記法表を参照することによって、もっと良く 理解することができる。すなわち、 ｆＯ＝位相シフトを伴わない周波数 ｆφ　：位相シフトを伴う周波数 Δｆ　＝ｆφ−ｆＯ ΔｆＮＣ＝コイン不在時のΔｆ ΔｆＣ＝コイン存在時のΔｆのピーク値ｆＯｃ　＝コイン存在時のｆＯのピーク 値ｆＯＮｃ＝コイン不在時のｆＯの値 減算器４０は、ｆφからｆＯを引いてΔｆを展開し、スイッチ４２の通常状態に おいて、このΔｆの値は記憶器４４に渡される。この通常状態は、同調回路にお ける実効抵抗が低い（言ってみれば、第２図の低い値Ｒ１）場合のコインがコイ ル４付近にない間、有効になっており、この時４４に記憶される周波数差値は（ 第２図に示される）ΔｆＮＣになり、この値は、測定が行われた時点の同調回路 自身の固有実効抵抗を示す。

コインｌＯがコイル４付近に到達し始めるにつれて、周波数検知回路２８の出力 ｆＯは変化し始める。制御回路３０の部分４６は、線４８からこの変化の始まり を検出し、それに応じて線５０を介してスイッチ４２の状態を変え、ΔｆＮＣの 新しいアイドリンク値を記憶器４４に保持せしめる。

コイン１０が近づき、コイル４に関して中心の位置に達すると、そこで周波数ｆ Ｏは低いピーク値に達するまで下がる０回路部分４６は、このピーク発生を検出 するように適応され、それに応じて、コインが中心に位置した時生じるΔｆの値 を記憶器５２へ向けるようにスイッチ４２を切り換える。これは、例えば第２図 に示されるような値ΔｆＣとなり、それは、インダクターをコインが通り過ぎる 間に起こる、挿入された位相変化φ１から生じる周波数シフトの最大値になる。

この周波数シフトは、同調回路における総合実効抵抗が、回路における固有の実 効抵抗プラスコイル４の中心に現在位置している特定のコインによって回路に導 入される実効抵抗からなる比較的高い値Ｒ４になることを示す０次に、コイン自 身により導入される実効抵抗を示す値は、ΔｆＣからΔｆＮＣを引く減算器５４ によって引き出される。

その結果生じる１号は、比較段５６で基準回路５８からの基準値と比較される。

この基準値は、受納可能なコインから得られることが期待される実効抵抗値を示 す。

この基準値は、範囲を限定する２つの限界値、または許容誤差が比較前に加えら れた１つの値のいずれかとして記憶され得る。比較が受納可能であることを示し た場合、信号がＡＮＤ回路６０に供給される。

実際上、　１またはそれ以上の他の検査がコインに対して行われ、同一ゲインの コインに対する、基準値に一致する各々の検査値に関して、後続の入力がＡＮＤ 回路６０に供給される。全ての入力、すなわち各々の検査に対する入力があり、 検査されるコインが所定の金種のコインに関するそれぞれの基準値に一致する完 全な１組の値を発生したことを示した場合、ＡＮＤ回路６０は、例えば周知の方 法で受納／排除ゲートを動作させることによりコインを受納せしめるために、そ の出力に受納信号を発生する。

また、コインにより同調回路２へ導入されるインダクタンス量を示し、したがっ てコインの異なる１特性または複数特性の組み合わせに依存する、抵抗検査より 外の特別なさらなる検査を実行するための設備が第１図に含まれている。ｆＯ（ すなわち、挿入されるどんな位相シフトも伴わない発振゛周波数）の値は、線６ ４を介してスイッチ６２へ供給される。スイッチ６２は、スイッチ４２と同じよ うに、制御回路３０の到達検知兼ピーク検出部分４６によって動作する。結果と して、位相遅延を伴わない、　“コイン不在”またはアイドリンクの周波数は記 憶器６６に記憶されるようになり、また、コインがインダクターを通過する時に 位相遅延を伴わずに達せられた、　。コイン存在”ビーク低周波数は、記憶器６ ８に記憶されるようになる。これらの周波数は、それぞれ、同調回路自身の総合 インダクタンスと、コインの追加的影響を伴う総合インダクタンスを示す、それ らは５　コインによって引き起こされたインダクタンス変化を示す値を与えるた めに、減算器７０で減算され、この値は、上述の比較回路５６でなされた比較と 同じように、基準回路７４に記憶された受納コインに関する基準値と、比較器７ ２で比較される。比較器７２の出力は、ＡＮＤゲート６０の別の入力を形成し、 その結果、実効抵抗と同調回路２に導入するインダクタンスとが共に、同じ金種 の受納可能なコインにふされしくなった時だけ、コインを受納することができる 。

第１図の実施態様は、スイッチと機能的ブロックに関して、上記に説明され、図 解されたが、点線の枠７６内に示された全ての構成要素は、適当にプログラムさ れたマイクロプロセッサ一手段で提供することができる。そのプログラミングは 、熟練したプログラマ−の技に含まれ、上述のように達せられるべき機能を与え られる。

第３図は、位相シフトが回路内にある時及びない時取られた連続する周波数測定 量は、本質的にこの２つの周波数測定が異なる時間に行われかつコインが動いて いるために、それぞれ２つの異なる位置にある時のコインに関連があるという事 実を補償する、第１図の装置の変形に関する。

第３図は、適当な計算設備（図示しない）と協力する、第１図における一方のス イッチ３４と他方の減算器５４及び７０との間にある構成要素と事実上代えられ る記憶アレイ８０を示す、連続するｆＯ値はアレイのＡ欄に載せられ、その値は 、ＡＩ　−、−Ａ３２として示される。連続するｆφ値はアレイのＢ欄に載せら れ、その値は、Ｂ１．、、Ｂ３２として示される。もちろん、動いているコイン と共に、可能になった場合は望ましいであろう両方の同時測定はできないので、 ｆφ測定量は、ｆ０測定量の間にタイミングを合わせて挿入される。

これを補償するために、ｆφの補償された値（ｆ′　φ）が計算され、Ｃ欄に入 れられる。最初の補償値Ｃ１は実値Ｂ、及びＢ２の平均になり、補償値Ｃ２は実 値Ｂ２及びＢ３の平均になり、以下同じである。この内挿プロセスによって、ｆ ′　φに間する１組の値は、適正な近似のために、ｆＯが測定されると同時にそ れらを測定することが可能な場合、対応するｆφ値になる、Ｃ欄に展開される。

補償されたΔｆ値は、例えばＡ２−Ｃ，、以下同じように、Ａ欄のｆＯ値とＣ欄 のｆ′　φから計算することができる。結果として、アレイのＡ及びＤ欄は、位 相シフトを伴わない補償された周波数と、コインがインダクターを通過するに従 って位相シフトにより引き起こされる補償された周波数シフトとの履歴をそれぞ れ含むであろう。

コインがインダクターの磁界に入り始める時間は、例えば所定の予定短時間に予 定量以上に変化するｆＯを定期的にチェックすることにより、色々な既知の方法 で検出することができる。このような検出は、それより上では値がコイルのみに 関連し、それより下では値がその磁界内へ入りそして結局その磁界外へ移動する コインにより段々に影響を受けた場合のコイルに関連する、点線８２で示された 、アレイにおける位置を限定するために使用することができる。

コインのみのためのＲのピーク値は、線８２より下で生じるΔｆのピーク値から 線８２より上で生じるΔｆの値を引くことにより計算することができる。もつと も、好ましくは、正確さを加λるために、最大値のあたりに生じるいくつかのΔ ｆの平均がピークを表わすためにとられ、コインが到達する前に生じるいくつか のΔｆの平均がアイドリンク値を表わすためにとられるであろう。

コインのみのためのＬのピーク値は、アレイのＡ欄からのｆＯ値を使用するほか は同様の方法で計算することができる。

かけがえとして、　（もしいやしくも）コインにより影響を受けた場合のコイル に関するＲ及びＬの値は、Ａ及びＤ欄において生じるｆｏとΔｆ値の各組に関し て計算することができ、計算されたＲ及びＬ値はアレイのＥ及びＦ欄に入れられ る０次に、Ｅ及びＦ欄は、コイルと、コインが到達する前からコインがコイルを 離れた後までのコインの影響とに関するＲ及びＬの履歴を含む、これらの値はも ちろん、コインの到達前及び離脱後の時間の間だけのコインに関連がある。

これは、コインのみに関するＲ及びＬのためのピーク値だけでなく、もし望むな ら、減算によって、それぞれＥ及びＦ欄から引き出されるべき非ピーク値を可能 にする。

どのように値が引き出されようとも、それらは第１図に間して説明されるような 基準値と比較することができる。

インダクターは、単一コイルとして示されているが、コイン通路を横切って向か い合わされかつ並列、順直列または逆直列に接続された１対のコイルのような、 他の形態でも良い。

上記説明において、基準は、発振周波数がピーク値にある時測定を行なうように なされていた。しかしながら、周波数は時々だけ測定されるので、多くの場合に 、測定された値は、実際に達せられるか、または発振周波数が位相シフトの導入 または除去により変えられなかった場合、すなわち当てにされた測定量が周波数 が変化している間に取られる場合に達せられたであろう、正確な最極値周波数値 を含まないことが可能であり、かつ実際にありそうである。また、周波数がコイ ンの移動により変化している間取られる測定量を計画的に使用することは知られ ている。それは、特に内挿による補償技術が、正確さの最大の改善を達成できる というこれらの事情にある。

実際の極値または生じるであろう極値を適切に表わすべきピーク測定のために、 位相シフトを伴う１０個の測定量と位相シフトを伴わない１０個の測定量を含ん で、最小の受納可能なコインのセンサーの通過中に測定されることが少なくとも １０個のＲ値のために望ましいと考えられる。目下、受納されるべき世界のコイ ンのうちの最小のものは、直径１５ｍｍのオランダの１０セントコインであり、 この場合、約１０回のＲ測定がコイン進行の１５ｍｍごとに行われる必要があり 、その結果、同じサンプリング率がもっと大きな直径のコインに適用された時１ ０回以上のこのような測定が行われることになるであろう、これは、コインが自 由に動く通路が水平に対して１０＠と２０°の間、好ましくは１３°と１５°の 間の角度で傾けられており、かつ位相シフトが伴うようにまたは伴わないように 切り換えられている間の時間が、それぞれ約１．６ｍｓ、好ましくは約０．８ｍ ｓより長くない場合、達成することができることがわかった。

比較的高い及び比較的低い周波数を使用して行われる測定は、表皮効果により、 コイン内の異なる深さのコイン材料に関する情報を与えることが知られている０ 本発明は、同調回路の実効抵抗を、振幅測定技術を使用して実際に可能であるよ りも高い周波数で測定することができる。したがって、本発明は、実効抵抗測定 をより選択的に行なうことができる。

振幅測定に基づ〈従来技術において、それは、コインの接近によって回路に導入 された実効抵抗を確認する目的であったが、振幅は、実効抵抗以外のパラメータ ーにおける変化に対して感度が良く、かつエラー源になる可能性があることが知 られていた。したがって、関連したパラメーターにおける変化を最小にするかま たは補償するために特別な設計工程を講することが望ましく、このことはコスト と複雑さを増した１本発明で使用された周波数シフ≧七引き起こした位相変化は 、同調回路における実効抵抗以外のパラメーターにおける変化に対して感度が悪 く、したがって、　“コイン存在”測定量から“コイン不在“測定量を引くこと によって、前述の従来技術で必要とされたようなコイン停止及び解除メカニズム のコストを含む、高価な工程を追加することなく、コイン自身により導入された 実効抵抗のもつと正確なｉ認をすることができる。

さらに、振幅は、発振器がスイッチを入れられた後安定させるための時間を取る のに対して、周波数は、事実上即座に安定値に安定させられたものになり、その 結果、本発明は、スイッチングの望ましくない遅い速度に訴えることなく、電力 を節約し、または干渉を避け、またはその両方を行うための時間で、マルチセン サー装置におけるセンサーをスイッチオンオフすることを容易にする。

要　約　書 コインが同真回路（２）のインダクタ（４）を通過している際、コインの近接に よって同調回路（２）にもたらされる抵抗値が同調回路に関連した帰還路（１８ −２４）における位相シフトの量を変更し同真回路（２）の抵抗値に依存する発 振周波中の変化を測定することで決定される。

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Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．インダクターを含む発振同調回路を使用し、該同調回路の下記３つのパラメ ーターが、すなわちａ）回路における実効抵抗 ｂ）回路における信号の位相 ｃ）回路の発振周波数 であるコイン検査方法であって、コインがインダクター付近にある時上記位相に 変化を与える過程と、その結果生じる周波数変化から、コインによって影響を受 けた、同調回路における実効抵抗による値を引き出す過程と、引き出した値をコ イン受納可能性チェックに使用する過程とからなるコイン検査方法において、上 記位相変化及びその結果生じる周波数変化の間に、コインをインダクターを通り 越して移動させる過程を含むことを特徴とするコイン検査方法。 ２．発振器は帰還路を有する自走発振器であり、該帰還路に生じる位相シフトを 変化させる過程を含む請求の範囲第１項記載の方法。 ３．上記インダクター付近にコイン不在時及び同様にある時上記変化を挿入する 過程と、周波数における“コイン存在”及び“コイン不在”変化の両方の関数と して上記値を引き出す過程とを含む請求の範囲第１項または第２項記載の方法。 ４周波数における“コイン存在”及び“コイン不在”変化の間の差として上記値 を引き出す過程を含む請求の範囲第２項記載の方法。 ５．上記位相が両方の場合に同じである時上記インダクター付近にコイン不在時 及び同様にある時周波数の関数であるインダクタンス依存値を引き出す過程を含 む請求の範囲第１乃至４項のいずれかに記載の方法。 ６．上記挿入された位相変化を伴う及び伴わない上記周波数を測定する過程と、 該２つの周波数測定間に生じる移動コインの位置の変化の影響に関して、引き出 された値を補償する過程を含む請求の範囲第１乃至５項のいずれかに記載の方法 。 ７．上記位相変化を繰り返し挿入、除去する過程と、挿入された位相変化を伴う 及び伴わない上記周波数を繰り返し測定する過程と．補償された周波数値を展開 するために、位相変化を伴って測定された周波数値かまたは位相変化を伴わずに 測定された周波数値のいずれかの間に内挿する過程と、上記周波数変化に達する 際に補償された周波数値を使用する過程とを含む請求の範囲第６項記載の方法。 ８．インダクター及び発振を生ぜしめる手段を含む同調回路であって、該同調回 路の下記３つのパラメーターが、すなわち ａ）回路における実効抵抗 ｂ）回路における信号の位相 ｃ）回路の発振周波数 である同調回路と、 同調回路における実効抵抗に影響を及ぼすように、上記インダクター付近にコイ ンを位置決めするための手段と、 上記位相に変化を挿入するための手段と、上記周波数における結果的に生じる変 化から、コインにより影響を受けた場合の同調回路における実効抵抗に依存する 値を引き出すための手段と、引き出した値をコイン受納可能性チェックに使用す るための手段とからなるコイン検査装置において、コインを位置決めするための 手段が、上記位相変化が挿入されている間、コインをインダクターを自由に通過 させるように配置されたコイン通路であることを特徴とするコイン検査装置。 ９．同調回路を発振させるための上記手段はゲイン素子を含む帰還路であり、そ れにより同調回路で自走発振器を形成する請求の範囲第８項記載の装置。 １０．帰還路に位相変化手段を含む請求の範囲第９項記載の装置。 １１．上記インダクター付近にコイン不在時及び同様にある時変化挿入手段を作 用させるための手段を含み、上記引き出し手段は、周波数における“コイン存在 ”及び“コイン不在”変化の関数である値を引き出すように動作可能であるいず れかの先行する請求の範囲第８項〜第１０項の１に記数の装置。 １２．上記引き出し手段は、周波数における“コイン存在”及び“コイン不在” 変化の間の差を取る請求の範囲第１１項記数の装置。 １３．上記周波数を検知するための手段ヒ、検知された周波数から、コインに影 響を受けた場合の同調回路における実効抵抗に依存する値を引き出すための手段 と、引き出したインダクタンス依存値をコイン受納可能性チェックに使用するた めの手段とを含むいずれかの先行する請求の範囲第８項〜第１２項の１に記載の 装置。 １４．上記位相が両方の場合に同じである時上記インダクター付近にコイン不在 時及び同様にある時検知された周波数を検出するための手段を含み、上インダク タンス依存値を引き出すための手段は、“コイン存在”及び“コイン不在”周波 数の関数としてその値を引き出す請求の範囲第１３項記載の装置。 １５．挿入された位相変化を伴う及び伴わない上記周波数を測定するための手段 と、該２回の周波数測定間に生じる移動コインの位置の変化の影響に関して、引 き出された値を補償するための手段とを含む請求の範囲第８項〜第１４項の１に 記載の装置。 １６．上記位相変化挿入手段は、上記位相変化を繰り返し挿入、除去するように 動作可能であり、上記周波数測定手段は、挿入された位相変化を伴なって及び伴 わずに繰り返し上記周波数を測定するように動作可能であり．上記補償手段は、 測定された値間に内挿することによって、位相変化を伴って測定された周波数値 または位相変化を伴なわずに測定された周波数値のいずれかから補償された周波 数値を展開し、上記引き出し手段は、補償された周波数値を使用して達せられた 周波数変化から、上記抵抗依存値を引き出すように適応される請求の範囲第１５ 項記載の装置。