JP2972332B2 - コイン確認器 - Google Patents
コイン確認器Info
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- JP2972332B2 JP2972332B2 JP2511376A JP51137690A JP2972332B2 JP 2972332 B2 JP2972332 B2 JP 2972332B2 JP 2511376 A JP2511376 A JP 2511376A JP 51137690 A JP51137690 A JP 51137690A JP 2972332 B2 JP2972332 B2 JP 2972332B2
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- JP
- Japan
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- coin
- thickness
- inductor
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- sensor
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Acyclic And Carbocyclic Compounds In Medicinal Compositions (AREA)
- Graft Or Block Polymers (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Noodles (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、コイン確認器に関し、特にこの確認器用の
コイン厚さセンサーに関する。
コイン厚さセンサーに関する。
電磁フィールドにコインをさらし該コインの影響を確
認すること、例えばセンサーの振幅及び／または周波数
の変化を測定することによりコインを検査するコインセ
ンサーを有するコイン確認器を提供することは周知であ
る。いくつかのセンサーは、主としてコイン厚さに依存
する結果を生じるように使用される。また、このセンサ
ー出力は他のファクターに影響を受けるが、これは異な
るタイプのコインを識別するためのコインの能力に影響
を及ぼさず、またそれゆえ他のそのような影響は本明細
書の目的にとって無視されるだろう。
認すること、例えばセンサーの振幅及び／または周波数
の変化を測定することによりコインを検査するコインセ
ンサーを有するコイン確認器を提供することは周知であ
る。いくつかのセンサーは、主としてコイン厚さに依存
する結果を生じるように使用される。また、このセンサ
ー出力は他のファクターに影響を受けるが、これは異な
るタイプのコインを識別するためのコインの能力に影響
を及ぼさず、またそれゆえ他のそのような影響は本明細
書の目的にとって無視されるだろう。
厚さセンサーは、比較的高い周波数で駆動されかつコ
イン通路の一側面に配置されるコイルから成ることがあ
る。コインが通過する時、コインは斜面に沿って動いて
行く。この斜面は、コインがセンサーを通過する際の基
準面にコイン表面が寄りかかりがちになるほど傾斜して
いる。コイルは通路の他の側面に配置され、そのフィー
ルドは、コイルに最も近いコイン表面の位置に依存し、
次にコイン厚さに依存する範囲に影響を与える。しかし
ながら、斜面の傾斜にもかかわらず、コインの飛行はか
なり不安定になりがちであり、その結果コイルに関連し
たコイン位置において起こり得る変化に起因する誤りに
遭遇する。
イン通路の一側面に配置されるコイルから成ることがあ
る。コインが通過する時、コインは斜面に沿って動いて
行く。この斜面は、コインがセンサーを通過する際の基
準面にコイン表面が寄りかかりがちになるほど傾斜して
いる。コイルは通路の他の側面に配置され、そのフィー
ルドは、コイルに最も近いコイン表面の位置に依存し、
次にコイン厚さに依存する範囲に影響を与える。しかし
ながら、斜面の傾斜にもかかわらず、コインの飛行はか
なり不安定になりがちであり、その結果コイルに関連し
たコイン位置において起こり得る変化に起因する誤りに
遭遇する。
上記の問題を緩和するために、いくつかの厚さセンサ
ーは、直列または並列に相互接続された２つのコイルで
形成される。その一方のコイルは基準面の間近にあり、
他方のコイルは通路の向い側の側面にある。特別に厚い
コインに対して、基準面から離れているコインにより引
き起こされる一方のコイルのフィールドにおけるコイン
の影響のいかなる減少も、他方のコイルのフィールド上
におけるコインの影響の増加により実質的に補正され
る。しかしながら、これはいわゆる「バランスポイン
ト」に近い変化に対して有効なだけであり、それゆえ上
記の改善は、コイン厚さのかなり狭い範囲及び基準面に
関連するコイン位置の狭い範囲に対してのみ適用される
傾向がある。
ーは、直列または並列に相互接続された２つのコイルで
形成される。その一方のコイルは基準面の間近にあり、
他方のコイルは通路の向い側の側面にある。特別に厚い
コインに対して、基準面から離れているコインにより引
き起こされる一方のコイルのフィールドにおけるコイン
の影響のいかなる減少も、他方のコイルのフィールド上
におけるコインの影響の増加により実質的に補正され
る。しかしながら、これはいわゆる「バランスポイン
ト」に近い変化に対して有効なだけであり、それゆえ上
記の改善は、コイン厚さのかなり狭い範囲及び基準面に
関連するコイン位置の狭い範囲に対してのみ適用される
傾向がある。
例えばコインの運動エネルギーを吸収する緩衝器を使
用して、コイン飛行を安定化する試みが行われてきた
が、上記の問題は未だに残っている。さらに、コイン確
認器の大きさを縮小することがより望ましくなってきて
おり、コイン飛行がセンサーに到達する前に安定し得る
間隔を小さくするという点で、コイン飛行の不安定性を
増加させる傾向がある。
用して、コイン飛行を安定化する試みが行われてきた
が、上記の問題は未だに残っている。さらに、コイン確
認器の大きさを縮小することがより望ましくなってきて
おり、コイン飛行がセンサーに到達する前に安定し得る
間隔を小さくするという点で、コイン飛行の不安定性を
増加させる傾向がある。
本発明によって、コイン通路のそれぞれの側面に配置
されたインダクタンスを使用してコインの厚さを検査す
る方法であって、それぞれのインダクタンスにより検出
されたものとしてフィールドにおけるコインの影響を各
々表わす別々の値を発生する過程と、前記値の少なくと
も１つを処理する過程と、コイン位置に実質的に無関係
な厚さ指示量を得るために処理されたものとして前記値
を結合する過程とから成る方法が提供される。
されたインダクタンスを使用してコインの厚さを検査す
る方法であって、それぞれのインダクタンスにより検出
されたものとしてフィールドにおけるコインの影響を各
々表わす別々の値を発生する過程と、前記値の少なくと
も１つを処理する過程と、コイン位置に実質的に無関係
な厚さ指示量を得るために処理されたものとして前記値
を結合する過程とから成る方法が提供される。
それぞれのインダクタンスにより検出された前記影響
の量を分離することにより、各インダクタンスからのコ
インの移動を考慮に入れることができ、よってこの移動
に無関係な量を提供することができる。
の量を分離することにより、各インダクタンスからのコ
インの移動を考慮に入れることができ、よってこの移動
に無関係な量を提供することができる。
むしろ、前記処理過程は、両方の値が、実質的に同一
な比例定数を伴ってインダクタンス間のコインの位置の
変化に比例して実質的に変化する程のものとされる。
な比例定数を伴ってインダクタンス間のコインの位置の
変化に比例して実質的に変化する程のものとされる。
コイン位置に関連するインダクタンスまたはセンサー
からの出力値のいずれもが非直線性であるとしても、こ
れは処理過程により実質的に排除され得る。また、セン
サー出力値の変化と位置変化との間の比率がセンサー間
で異なっていても、これは一方または両方のセンサー出
力値の適切な縮尺により補正され得る。処理過程は、起
こり得るセンサー出力値に相関する予め決められた処理
済値を記憶した索引テーブルを使用することにより達成
され得る。かけがえとして、処理過程は、センサー出力
値に作用するように適切なアルゴリズムを使用すること
により達成し得、どの場合でも、１つのアルゴリズムを
使用して同時に処理過程及び組み合わせ過程を実行する
ことが可能である。
からの出力値のいずれもが非直線性であるとしても、こ
れは処理過程により実質的に排除され得る。また、セン
サー出力値の変化と位置変化との間の比率がセンサー間
で異なっていても、これは一方または両方のセンサー出
力値の適切な縮尺により補正され得る。処理過程は、起
こり得るセンサー出力値に相関する予め決められた処理
済値を記憶した索引テーブルを使用することにより達成
され得る。かけがえとして、処理過程は、センサー出力
値に作用するように適切なアルゴリズムを使用すること
により達成し得、どの場合でも、１つのアルゴリズムを
使用して同時に処理過程及び組み合わせ過程を実行する
ことが可能である。
センサー出力値は、コインの影響がピークになった時
にセンサーで発生した信号から引き出されるのが普通で
ある。このような技術は、本発明において、各センサー
出力値を別々に引き出すことのために使用し得る。しか
しながら、たとえこれが先行技術の装置よりコイン位置
によって影響されない厚さ測定をまだ可能にしたとして
も、コインがセンサーを通過する時間の間に変化するコ
イン位置に起因して、またはコインが通過する際に傾斜
した位置に置かれた状態で動いて行くコインの可能性に
起因して、誤りが引き起こされるかも知れない。これら
の状態のいずれにおいても、各センサー出力値は、コイ
ンがセンサーを通過している間の間隔において最も近接
したコイン位置を表わすだろう。したがって、結合値は
高すぎる厚さ量を生じるだろう。
にセンサーで発生した信号から引き出されるのが普通で
ある。このような技術は、本発明において、各センサー
出力値を別々に引き出すことのために使用し得る。しか
しながら、たとえこれが先行技術の装置よりコイン位置
によって影響されない厚さ測定をまだ可能にしたとして
も、コインがセンサーを通過する時間の間に変化するコ
イン位置に起因して、またはコインが通過する際に傾斜
した位置に置かれた状態で動いて行くコインの可能性に
起因して、誤りが引き起こされるかも知れない。これら
の状態のいずれにおいても、各センサー出力値は、コイ
ンがセンサーを通過している間の間隔において最も近接
したコイン位置を表わすだろう。したがって、結合値は
高すぎる厚さ量を生じるだろう。
本発明はもう１つの態様は、この測定誤差の源の影響
を排除もしくは軽減するために意図される。このもう１
つの態様によって、両センサー出力値は実質的に同時に
センサーにおけるコインの影響を表わす。この時間は、
結合した出力値がピークになる期間の間に生じる。例え
ば、連続するセンサー出力値は処理されかつ結合され
得、そして連続する結合値は厚さ指示量として使用され
得る。かけがえとして、必要とされる処理量を減らすた
めに、厚さ量は、センサーの内の１つの反応がピークに
なった時に生じる両センサー出力値から引き出され得、
またはかけがえとして、センサーがコインの到達により
反応し始めた後の予め決められた時間に生じる両センサ
ー出力値から引き出され得る。
を排除もしくは軽減するために意図される。このもう１
つの態様によって、両センサー出力値は実質的に同時に
センサーにおけるコインの影響を表わす。この時間は、
結合した出力値がピークになる期間の間に生じる。例え
ば、連続するセンサー出力値は処理されかつ結合され
得、そして連続する結合値は厚さ指示量として使用され
得る。かけがえとして、必要とされる処理量を減らすた
めに、厚さ量は、センサーの内の１つの反応がピークに
なった時に生じる両センサー出力値から引き出され得、
またはかけがえとして、センサーがコインの到達により
反応し始めた後の予め決められた時間に生じる両センサ
ー出力値から引き出され得る。
また本発明はコインを確認する装置に及び、該装置は
本発明による方法を使用する。
本発明による方法を使用する。
本発明を具体化する装置は、以下の付随する図に関連
してここに例として説明される。
してここに例として説明される。
第１図は、本発明によるコイン確認器のコイン通路を
略図で示すものである。
略図で示すものである。
第２図は、コイン確認器の回路の関連部品の概略線図
である。
である。
第３図は、グラフ（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）から成り、
厚さ量をコイン位置に無関係にすることで本発明により
達成される有利な結果を示すものである。
厚さ量をコイン位置に無関係にすることで本発明により
達成される有利な結果を示すものである。
第４図は、グラフ（Ａ）乃至（Ｆ）から成り、厚さ量
におけるコイン位置での変化の影響を例示すると共に、
これが軽減できる方法を示すものである。
におけるコイン位置での変化の影響を例示すると共に、
これが軽減できる方法を示すものである。
第１図に関して、コイン通路２は、第１の平面におい
て水平に傾斜した斜面４を含み、そのため６として示さ
れるコインは、矢印Ａの方向に斜面を下って滑るかまた
は転がる。また、斜面は垂直面に水平に傾斜しており、
そのためコインはその表面を通路の一方の側壁８に接触
させて動く傾向がある。したがって、側壁８は基準面と
して作用する。
て水平に傾斜した斜面４を含み、そのため６として示さ
れるコインは、矢印Ａの方向に斜面を下って滑るかまた
は転がる。また、斜面は垂直面に水平に傾斜しており、
そのためコインはその表面を通路の一方の側壁８に接触
させて動く傾向がある。したがって、側壁８は基準面と
して作用する。
また確認器は、コイル10及び12で形成された一組のイ
ンダクタンスセンサーを有している。コイル10は、側壁
８で形成された基準面に近接して真後ろに配置される。
コイルは側壁にかけられた膜（図示しない）で覆われて
いる。これは、膜厚に等しい予め決められた間隔で基準
面からコイルを分離する。
ンダクタンスセンサーを有している。コイル10は、側壁
８で形成された基準面に近接して真後ろに配置される。
コイルは側壁にかけられた膜（図示しない）で覆われて
いる。これは、膜厚に等しい予め決められた間隔で基準
面からコイルを分離する。
コイル12は、側壁８に対抗した側壁14の内側表面から
それぞれの膜で間隔を保たれた、通路の他方の側面に同
様に配置されている。したがって、両コイルは、側壁に
関連して精密に配置され、またそれによって、コインに
より選ばれ得るコイン通路を横切る位置の可能範囲に関
連して精密に配置される。
それぞれの膜で間隔を保たれた、通路の他方の側面に同
様に配置されている。したがって、両コイルは、側壁に
関連して精密に配置され、またそれによって、コインに
より選ばれ得るコイン通路を横切る位置の可能範囲に関
連して精密に配置される。
この一般的なタイプの構造はそれ自身知られている。
ひとつの例が欧州特許明細書No.EP−Ａ−O 146251に記
載されており、その中でコイルは直列に接続されてい
る。しかしながら、本実施態様において、コイルは相互
接続されておらず、分離した出力を有している。
ひとつの例が欧州特許明細書No.EP−Ａ−O 146251に記
載されており、その中でコイルは直列に接続されてい
る。しかしながら、本実施態様において、コイルは相互
接続されておらず、分離した出力を有している。
第２図に示すように、各コイル10及び12は、各発振器
16または18に接続されている。
16または18に接続されている。
確認器は、入出力線路O1乃至O11を有するマイクロプ
ロセッサー20（例えばMotorola 6805系から選択され
る）と、タイマー／カウンター入力端子T1を有してい
る。
ロセッサー20（例えばMotorola 6805系から選択され
る）と、タイマー／カウンター入力端子T1を有してい
る。
発信器16及び18は、それぞれマイクロプロセッサー出
力端子O1及びO2により制御されるスイッチ22及び24によ
りおのおのオン・オフされ得る。オン状態の時、各発振
器は、比較的高い周波数例えば1.0MHzで作動する。この
周波数がむしろ高いので、フィールドはコインを実質的
に貫通せず、またそれゆえコインの影響はそれらの材料
構成に実質的に影響されない。センサー周波数で信号を
伝える出力（またはそれから縮尺された変形）は、それ
ぞれ線路26及び28に現われる。これらの線路におけるパ
ルスは、それぞれ閉鎖ゲート30及び32により端子T1に伝
えられ得る。閉鎖ゲート30及び32は、それぞれ入出力線
路O3及びO4に現われる信号で制御される。
力端子O1及びO2により制御されるスイッチ22及び24によ
りおのおのオン・オフされ得る。オン状態の時、各発振
器は、比較的高い周波数例えば1.0MHzで作動する。この
周波数がむしろ高いので、フィールドはコインを実質的
に貫通せず、またそれゆえコインの影響はそれらの材料
構成に実質的に影響されない。センサー周波数で信号を
伝える出力（またはそれから縮尺された変形）は、それ
ぞれ線路26及び28に現われる。これらの線路におけるパ
ルスは、それぞれ閉鎖ゲート30及び32により端子T1に伝
えられ得る。閉鎖ゲート30及び32は、それぞれ入出力線
路O3及びO4に現われる信号で制御される。
マイクロプロセッサーは、発振器16及び18の両方をオ
ンにし、そして端子T1に現われるセンサー出力パルスが
センサー周波数の大きさを提供するためにマイクロプロ
セッサーの内部カウンターでカウントされる予め決めら
れた時間の間、各々のゲート30または32を閉じることが
認識されるだろう。
ンにし、そして端子T1に現われるセンサー出力パルスが
センサー周波数の大きさを提供するためにマイクロプロ
セッサーの内部カウンターでカウントされる予め決めら
れた時間の間、各々のゲート30または32を閉じることが
認識されるだろう。
コインがないときは、マイクロプロセッサーは、短期
間で発振器16を繰り返してオンにし、出力周波数を調べ
る。もし連続する周波数の表示度数がある一定量で変化
するなら、コインがコイル10で発生されるフィールドに
入り始めたことが確かめられる。こんなふうに、コイン
到達は検出されると共に、それ自体知られている仕方
で、確認器回路網の色々な他の部品に給電するために利
用される。その時から、マイクロプロセッサー20は、各
センサーから連続する表示度数を取り出すように交互に
発振器16及び18を繰り返し動作及び不動作にさせる。セ
ンサー表示度数は、規則的な間隔で取り出されるか、ま
たは２つ一組になって各組の表示度数の間より大きい連
続する組間の間隔で取り出される。
間で発振器16を繰り返してオンにし、出力周波数を調べ
る。もし連続する周波数の表示度数がある一定量で変化
するなら、コインがコイル10で発生されるフィールドに
入り始めたことが確かめられる。こんなふうに、コイン
到達は検出されると共に、それ自体知られている仕方
で、確認器回路網の色々な他の部品に給電するために利
用される。その時から、マイクロプロセッサー20は、各
センサーから連続する表示度数を取り出すように交互に
発振器16及び18を繰り返し動作及び不動作にさせる。セ
ンサー表示度数は、規則的な間隔で取り出されるか、ま
たは２つ一組になって各組の表示度数の間より大きい連
続する組間の間隔で取り出される。
コイン６がセンサー10及び12を通り過ぎた後、１つま
たはいくらかの量がアイドル値すなわちコインがない時
の周波数の大きさを確証するために各センサーから取り
出されることを除いて、マイクロプロセッサーは発振器
18を動かすことを止める。厚さ測定の差引きに使用され
るセンサー値は、コイン通過中の反応周波数とアイドル
周波数との間の関係（例えば前記周波数間の差または比
率）から引き出される。それ自体知られているこの技術
は、回路構成要素の値のドリフト、温度変化等の影響を
小さくする。
たはいくらかの量がアイドル値すなわちコインがない時
の周波数の大きさを確証するために各センサーから取り
出されることを除いて、マイクロプロセッサーは発振器
18を動かすことを止める。厚さ測定の差引きに使用され
るセンサー値は、コイン通過中の反応周波数とアイドル
周波数との間の関係（例えば前記周波数間の差または比
率）から引き出される。それ自体知られているこの技術
は、回路構成要素の値のドリフト、温度変化等の影響を
小さくする。
望むなら、アイドル値は、コインがセンサー10及び12
の領域から完全に通り過ぎた後測定されることを保証す
るために、もうひとつのセンサー（図示しない）がコイ
ンの存在を検出している時に取り出される。
の領域から完全に通り過ぎた後測定されることを保証す
るために、もうひとつのセンサー（図示しない）がコイ
ンの存在を検出している時に取り出される。
記述された特別な装置において、アイドル周波数はコ
インがセンサーを通り過ぎた後測定されるので、コイン
が通過している間に行われる実際の厚さ検出動作は、上
記のコイン通過に続いて検出されるアイドルレベルに基
づいている。明らかに、これは、コインがセンサーに到
達する前にアイドル値をモニターすること、例えば非常
に短い期間の間発振器を交互にオンにすることにより避
けられる。
インがセンサーを通り過ぎた後測定されるので、コイン
が通過している間に行われる実際の厚さ検出動作は、上
記のコイン通過に続いて検出されるアイドルレベルに基
づいている。明らかに、これは、コインがセンサーに到
達する前にアイドル値をモニターすること、例えば非常
に短い期間の間発振器を交互にオンにすることにより避
けられる。
連続してセンサーを動作させることにより、同時的よ
りむしろ、センサー出力間のクロストークがなくなるこ
とが保証され、そして電力消費が減少する。しかしなが
ら、それはこの技術を採用するために必須ではない。ク
ロストークは、高いＱのコイルを使用するか、発振器の
周波数を互いに異ならしめるか、またはその他の手段に
より避けることができる。加えて、いくつかの形態にお
いてコイン自身の存在はフィールドから実質的に隔離さ
れるので、コイルは、少なくともコインが存在する間同
時に駆動され得る。
りむしろ、センサー出力間のクロストークがなくなるこ
とが保証され、そして電力消費が減少する。しかしなが
ら、それはこの技術を採用するために必須ではない。ク
ロストークは、高いＱのコイルを使用するか、発振器の
周波数を互いに異ならしめるか、またはその他の手段に
より避けることができる。加えて、いくつかの形態にお
いてコイン自身の存在はフィールドから実質的に隔離さ
れるので、コイルは、少なくともコインが存在する間同
時に駆動され得る。
第３図（Ａ）は、所定の厚さのコインに対する典型的
なセンサー出力を示している。水平の軸線は、通路の幅
を横切るコイン位置を表わしている。垂直の軸線は、コ
インがセンサーを通過する時のセンサー出力周波数とア
イドル周波数間の差の最大値を任意の縮尺で表わしたも
のである。線Ｉは、センサー10の出力を表わし、線IIは
センサー12の出力を表わしている。破線は、コイルが直
列または並列に接続されている場合の結合出力を（異な
る縮尺で）表わしたものである。結合出力がコイン位置
に実質的に依存して変化することが認められるであろ
う。
なセンサー出力を示している。水平の軸線は、通路の幅
を横切るコイン位置を表わしている。垂直の軸線は、コ
インがセンサーを通過する時のセンサー出力周波数とア
イドル周波数間の差の最大値を任意の縮尺で表わしたも
のである。線Ｉは、センサー10の出力を表わし、線IIは
センサー12の出力を表わしている。破線は、コイルが直
列または並列に接続されている場合の結合出力を（異な
る縮尺で）表わしたものである。結合出力がコイン位置
に実質的に依存して変化することが認められるであろ
う。
第３図（Ｂ）は同様なものであるが、この場合センサ
ーは、反応が直線的反応から実質的に変化しないように
注意深く設計されている。それぞれの反応のわずかな非
直線性に起因して結合出力にいくらか不正確であるが、
それぞれの反応曲線の勾配が異なっている事に起因して
もっと大きく不正確になっている。適度に直線的かまた
は適度に対称的な反応曲線を得ることは、コイルを注意
深く設計しかつ配置することにより可能かも知れない
が、全ての起こり得るコイン位置及び厚さに対してこれ
らの結果を両方とも達成することは、立証できなかっ
た。
ーは、反応が直線的反応から実質的に変化しないように
注意深く設計されている。それぞれの反応のわずかな非
直線性に起因して結合出力にいくらか不正確であるが、
それぞれの反応曲線の勾配が異なっている事に起因して
もっと大きく不正確になっている。適度に直線的かまた
は適度に対称的な反応曲線を得ることは、コイルを注意
深く設計しかつ配置することにより可能かも知れない
が、全ての起こり得るコイン位置及び厚さに対してこれ
らの結果を両方とも達成することは、立証できなかっ
た。
本発明において、マイクロプロセッサー20は、各セン
サーからそれぞれ周波数変化量を受け取り、上記問題を
回避するようにそれを処理する。特に、マイクロプロセ
ッサーは、各々の値が各センサー出力値に一致している
一組の処理済値を記憶しているリードオンリーメモリー
（図示しない）を有している。センサー出力値は、処理
済値を取り出すべくテーブル内のアドレスを決定するた
めに使用される。第３図（Ｃ）は、処理済値Ｉ′及びI
I′がコイン位置と共に変化する状態を示している。反
応曲線は直線的かつ対称的になり、その結果処理済値が
マイクロプロセッサー20で結合された時得られる反応
は、第３図（Ｃ）の破線のようになり、コイン位置に実
質的に無関係になることが認められるであろう。
サーからそれぞれ周波数変化量を受け取り、上記問題を
回避するようにそれを処理する。特に、マイクロプロセ
ッサーは、各々の値が各センサー出力値に一致している
一組の処理済値を記憶しているリードオンリーメモリー
（図示しない）を有している。センサー出力値は、処理
済値を取り出すべくテーブル内のアドレスを決定するた
めに使用される。第３図（Ｃ）は、処理済値Ｉ′及びI
I′がコイン位置と共に変化する状態を示している。反
応曲線は直線的かつ対称的になり、その結果処理済値が
マイクロプロセッサー20で結合された時得られる反応
は、第３図（Ｃ）の破線のようになり、コイン位置に実
質的に無関係になることが認められるであろう。
索引テーブルに記憶されている値は、実験的に選んで
決められており、また可能な許容誤差変化を考慮しそれ
により各メカニズムを有効に調整するように各確認器毎
に引き出すことができる。もし両方のセンサー反応曲線
が第３図（Ａ）のように実質的に非直線的であるなら、
それらが直線的になるように処理することが両方の組の
センサー出力値にとって望ましい。しかしながら、もし
センサー出力反応が第３図（Ｂ）に示すように実質的に
直線的であるなら、一方のセンサー出力を他方のセンサ
ー出力に一致するように尺度を合わせるために前記一方
のセンサー出力のみを処理することが必要である。いず
れにしても、上述の事は、第３図（Ｃ）に示すように実
質的に同一勾配または同一比例定数を伴う実質的に直線
的な反応曲線において結果として生じる。
決められており、また可能な許容誤差変化を考慮しそれ
により各メカニズムを有効に調整するように各確認器毎
に引き出すことができる。もし両方のセンサー反応曲線
が第３図（Ａ）のように実質的に非直線的であるなら、
それらが直線的になるように処理することが両方の組の
センサー出力値にとって望ましい。しかしながら、もし
センサー出力反応が第３図（Ｂ）に示すように実質的に
直線的であるなら、一方のセンサー出力を他方のセンサ
ー出力に一致するように尺度を合わせるために前記一方
のセンサー出力のみを処理することが必要である。いず
れにしても、上述の事は、第３図（Ｃ）に示すように実
質的に同一勾配または同一比例定数を伴う実質的に直線
的な反応曲線において結果として生じる。
本装置の使用において、マイクロプロセッサー20は、
索引テーブルを使用して各センサー出力値を処理済値に
変換し、検出した厚さを表わす結合値を生じるようにそ
れぞれのセンサーからの一組の出力値を結合する。コイ
ンがセンサー間の範囲に入ってきた時、この値は最大値
まで増加し、次にコインがセンサーを通過する時この最
大レベルを持続し、そしてコインがセンサーを通り過ぎ
るとアイドルレベルまで減少する。上記最大レベルが厚
さ量として得られる。
索引テーブルを使用して各センサー出力値を処理済値に
変換し、検出した厚さを表わす結合値を生じるようにそ
れぞれのセンサーからの一組の出力値を結合する。コイ
ンがセンサー間の範囲に入ってきた時、この値は最大値
まで増加し、次にコインがセンサーを通過する時この最
大レベルを持続し、そしてコインがセンサーを通り過ぎ
るとアイドルレベルまで減少する。上記最大レベルが厚
さ量として得られる。
第４図は、本実施態様が、コインがセンサーを通過す
る時不確定なコイン位置から結果として生じる問題のみ
ならず、コインがセンサーを通過している期間の間その
位置が変化することにより引き起こされる問題もまた、
回避する方法について示している。第４図のグラフ
（Ａ）乃至（Ｆ）は、任意の縮尺でセンサー出力を表わ
す垂直軸線と、時間を表わす水平軸線とを有している。
コインは、時間t1まで立ち上がる期間にセンサー間の範
囲に入り、t1とt2間の期間にセンサーに十分オーバーラ
ップし、そしてt2の後センサーから離れ始める。
る時不確定なコイン位置から結果として生じる問題のみ
ならず、コインがセンサーを通過している期間の間その
位置が変化することにより引き起こされる問題もまた、
回避する方法について示している。第４図のグラフ
（Ａ）乃至（Ｆ）は、任意の縮尺でセンサー出力を表わ
す垂直軸線と、時間を表わす水平軸線とを有している。
コインは、時間t1まで立ち上がる期間にセンサー間の範
囲に入り、t1とt2間の期間にセンサーに十分オーバーラ
ップし、そしてt2の後センサーから離れ始める。
第４図は、コインが、センサー間の範囲に入る時セン
サー12に比較的接近しているが、その範囲から離れる時
までコイル間の実質的に中間にある状態を示している。
例えば、センサー10の出力を表わす第４図（Ａ）におい
て、t1からT2までの期間の間にセンサー出力は量ｄだけ
増加することが認められるであろう。同様に、センサー
12の出力を表わす第４図（Ｂ）において、この出力はt1
からT2までの期間に量Ｄだけ減少する。コイン位置にお
ける変化を生じさせる反応曲線の非直線性は、最も遠い
コイルより大きく最も近いコイルに影響を及ぼすため
に、Ｄはｄより大きい。したがって、これらの処理済値
が結合されるようになったとすれば、その結果は、コイ
ルが直列または並列に接続された先行技術の装置で得ら
れる結果と類似する第４図（Ｃ）に示すようになるであ
ろう。第４図（Ｃ）において、結合出力はt1及びT2の期
間の間に量ｖだけ変化することが認められるであろう。
これはＤまたはｄのいずれよりも小さいけれども、まだ
意味のある相違である。この相違は、コインの側面位置
の不確定性に起因する測定の不確定性を表わしている。
サー12に比較的接近しているが、その範囲から離れる時
までコイル間の実質的に中間にある状態を示している。
例えば、センサー10の出力を表わす第４図（Ａ）におい
て、t1からT2までの期間の間にセンサー出力は量ｄだけ
増加することが認められるであろう。同様に、センサー
12の出力を表わす第４図（Ｂ）において、この出力はt1
からT2までの期間に量Ｄだけ減少する。コイン位置にお
ける変化を生じさせる反応曲線の非直線性は、最も遠い
コイルより大きく最も近いコイルに影響を及ぼすため
に、Ｄはｄより大きい。したがって、これらの処理済値
が結合されるようになったとすれば、その結果は、コイ
ルが直列または並列に接続された先行技術の装置で得ら
れる結果と類似する第４図（Ｃ）に示すようになるであ
ろう。第４図（Ｃ）において、結合出力はt1及びT2の期
間の間に量ｖだけ変化することが認められるであろう。
これはＤまたはｄのいずれよりも小さいけれども、まだ
意味のある相違である。この相違は、コインの側面位置
の不確定性に起因する測定の不確定性を表わしている。
第４図（Ｄ）及び第４図（Ｅ）は、それぞれセンサー
10及び12の処理済出力を表わしている。これらの処理済
出力は直線的なので、センサー10の処理済出力における
t1からT2までの期間の変化量ｄ′は、センサー12の処理
済出力における変化量Ｄ′に等しくかつ正反対になって
いる。したがって、出力が結合される時、厚さの正確な
量を供給する第４図（Ｆ）に示すような水平ピークレベ
ルは得られる。これらは、その量がコイン位置もしくは
その位置における変化のいずれにも影響を受けないこと
を示している。
10及び12の処理済出力を表わしている。これらの処理済
出力は直線的なので、センサー10の処理済出力における
t1からT2までの期間の変化量ｄ′は、センサー12の処理
済出力における変化量Ｄ′に等しくかつ正反対になって
いる。したがって、出力が結合される時、厚さの正確な
量を供給する第４図（Ｆ）に示すような水平ピークレベ
ルは得られる。これらは、その量がコイン位置もしくは
その位置における変化のいずれにも影響を受けないこと
を示している。
コインが斜面４に沿って傾斜した方向に動いて行く時
はいつでも同様の影響が生じる。
はいつでも同様の影響が生じる。
上述のように、第４図（Ｆ）に示す結合値のピークを
引き出す代わりに、１つの時間点のみで処理過程及び結
合過程を実行することが可能であり、その時間点は、セ
ンサー10及び12の内の１つの処理前出力におけるピーク
によるか、またはコインの到達が感じられた後予め決め
られた時間のいずれかで決められる。結合した処理済値
が実質的に同一の時間におけるセンサー出力を表わすこ
とが好適である理由が、第４図から認識されるであろ
う。特に、各センサーが個々にピーク検出されるなら、
時間T2におけるセンサー12の出力は、時間t1におけるセ
ンサー12の出力と結合されるであろう。しかしながら、
コインはこの間隔の間動いていたであろうし、その結果
厚さの間違った表示度数が生じるであろう。しかしなが
ら、この間隔の間のコイン位置における変化が非常に小
さくなりそうな程十分にコイン飛行が安定化されるな
ら、この状態は許容され得る。
引き出す代わりに、１つの時間点のみで処理過程及び結
合過程を実行することが可能であり、その時間点は、セ
ンサー10及び12の内の１つの処理前出力におけるピーク
によるか、またはコインの到達が感じられた後予め決め
られた時間のいずれかで決められる。結合した処理済値
が実質的に同一の時間におけるセンサー出力を表わすこ
とが好適である理由が、第４図から認識されるであろ
う。特に、各センサーが個々にピーク検出されるなら、
時間T2におけるセンサー12の出力は、時間t1におけるセ
ンサー12の出力と結合されるであろう。しかしながら、
コインはこの間隔の間動いていたであろうし、その結果
厚さの間違った表示度数が生じるであろう。しかしなが
ら、この間隔の間のコイン位置における変化が非常に小
さくなりそうな程十分にコイン飛行が安定化されるな
ら、この状態は許容され得る。
上記の実施態様は、発振器の周波数変化を検出するこ
とにより測定量を引き出している。しかしながら、この
測定量は、かけがえとして、絶対周波数値、振幅、振
幅、変化、位相変化等に基づいても良い。
とにより測定量を引き出している。しかしながら、この
測定量は、かけがえとして、絶対周波数値、振幅、振
幅、変化、位相変化等に基づいても良い。
用語「コイン」は、ここでは本物のコインのみなら
ず、本物でないコイン、または代用硬貨、または確認器
で収容できるその他のアイテムもカバーするものとして
使用された。
ず、本物でないコイン、または代用硬貨、または確認器
で収容できるその他のアイテムもカバーするものとして
使用された。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−201248（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G07D 5/02 G07D 5/08
Claims (10)
- 【請求項１】硬貨通路の側面にそれぞれ配置された一対
のインダクタを使用して硬貨の厚さを検査する方法であ
って、 前記インダクタの出力は、前記インダクタ間の制限され
た位置範囲内にわたって硬貨の位置に実質的に依存しな
い硬貨の所与の厚さに対する厚さ指示信号を提供するた
めに結合され、 前記各々のインダクタによって個別に検出された電磁場
に対する硬貨の影響を示す別々のインダクタ出力値を発
生し、前記インダクタ出力値の各々の前記位置範囲内の
前記所与の厚さの硬貨の位置に対する依存性の勾配は相
異なっているステップ、及び 前記の少なくとも一方のインダクタ出力値を処理して厚
さ指示信号を生成するように前記値を結合し、前記少な
くとも一方のインダクタ出力値の処理は、前記勾配の差
に対しての前記厚さの指示信号を実質的に補正するよう
他方のインダクタ出力値の処理とは異なるようにしてい
ることを特徴とする硬貨真贋性判定方法。 - 【請求項２】前記値は、実質的に検出されると同様すぐ
に硬貨の影響を示すことを特徴とする請求項１に記載の
方法。 - 【請求項３】連続して処理済値を結合し、そして厚さ指
示量を得るために結果をピーク検出するステップを含む
ことを特徴とする請求項２に記載の方法。 - 【請求項４】前記インダクタは、それにより提供された
前記値が、硬貨の位置に関して非線形になるように配置
され、前記値の処理過程は、硬貨の位置に関して線形的
にそれらを表わすものであることを特徴とする先行する
請求項のいずれかに記載の方法。 - 【請求項５】前記処理過程は、出力値を処理済値と関連
付ける索引テーブルを用いて達成されることを特徴とす
る先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - 【請求項６】硬貨が前記インダクタを通過する時に、連
続して前記インダクタを駆動するステップを含むことを
特徴とする先行する請求項のいずれかに記載の方法。 - 【請求項７】真贋性判定器内で硬貨の到着を検出するた
めに前記インダクタのただ１つを用いるステップ、そし
てさらに前記検出に応答して真贋性判定器の選択的部分
に給電するステップを含むことを特徴とする先行する請
求項のいずれかに記載の方法。 - 【請求項８】前記インダクタ出力値をデジタル化するス
テップ、及び、前記インダクタ間の複数位置に対する前
記インダクタ出力値に寄与する前記インダクタ出力値の
依存の均衡をたもつために蓄積されたデータ定義処理を
用いて前記インダクタ出力を処理するステップからなる
ことを特徴とする請求項１に記載の方法。 - 【請求項９】請求項１に記載の方法において、前記処理
過程は、インダクタ出力値の一方または両方の適切な縮
尺を使用して達成されることを特徴とする方法。 - 【請求項１０】先行する請求項のいずれかに記載の方法
を用いて硬貨の厚さを検出できる硬貨真贋性判定器であ
ることを特徴とする機器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8917258A GB2234619B (en) | 1989-07-28 | 1989-07-28 | Coin validators |
| GB8917258.9 | 1989-07-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04507020A JPH04507020A (ja) | 1992-12-03 |
| JP2972332B2 true JP2972332B2 (ja) | 1999-11-08 |
Family
ID=10660761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2511376A Expired - Fee Related JP2972332B2 (ja) | 1989-07-28 | 1990-07-27 | コイン確認器 |
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|---|---|
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| EP (1) | EP0484441B1 (ja) |
| JP (1) | JP2972332B2 (ja) |
| KR (1) | KR920704242A (ja) |
| AT (1) | ATE120295T1 (ja) |
| AU (1) | AU647700B2 (ja) |
| BR (1) | BR9007564A (ja) |
| CA (1) | CA2063738C (ja) |
| DD (1) | DD296770A5 (ja) |
| DE (1) | DE69018081T2 (ja) |
| ES (1) | ES2069743T3 (ja) |
| GB (1) | GB2234619B (ja) |
| HK (1) | HK1007024A1 (ja) |
| HU (1) | HU9200261D0 (ja) |
| IE (1) | IE902515A1 (ja) |
| WO (1) | WO1991002334A1 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| AU688449B2 (en) * | 1994-03-28 | 1998-03-12 | Abey Australia Pty Ltd | Improved heavy duty brick tie |
| US5626262A (en) * | 1995-06-07 | 1997-05-06 | Redmond Products, Inc. | Dispensing container with drainage passages |
| US5655687A (en) * | 1995-06-07 | 1997-08-12 | Redmond Products, Inc. | Base end dispensing container with travel cap |
| AU2288397A (en) * | 1996-03-19 | 1997-10-10 | Electrowatt Technology Innovation Ag | Coin-checking arrangement |
| GB2323200B (en) | 1997-02-24 | 2001-02-28 | Mars Inc | Coin validator |
| US5992603A (en) * | 1997-12-18 | 1999-11-30 | Ginsan Industries Inc | Coin acceptance mechanism and method of determining an acceptable coin |
| GB2340681B (en) | 1998-08-14 | 2003-07-30 | Mars Inc | Oscillators |
| US6230870B1 (en) * | 2000-02-10 | 2001-05-15 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device |
| ES2170678B1 (es) | 2000-06-30 | 2003-09-16 | Azkoyen Medios De Pago Sa | Metodo y aparato de obtencion de caracteristicas fisicas de monedas para su identificacion. |
| JP4022583B2 (ja) * | 2002-03-11 | 2007-12-19 | 旭精工株式会社 | コインセレクタ |
| CN104134269B (zh) * | 2014-06-23 | 2017-07-07 | 江苏多维科技有限公司 | 一种硬币检测系统 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2646025A1 (de) * | 1976-10-12 | 1978-04-13 | Siemens Ag | Elektronische muenzpruefung mit mathematisch definierten annahmebereichen |
| JPS5724803A (en) * | 1980-07-22 | 1982-02-09 | Yoshitsuka Seiki:Kk | Measuring device for size of powder-molded, press-molded product |
| DE3485866T2 (de) * | 1983-11-04 | 1992-12-10 | Mars Inc | Vorrichtung zum erkennen der gueltigkeit von muenzen. |
| JPS60262292A (ja) * | 1984-06-08 | 1985-12-25 | 株式会社田村電機製作所 | 硬貨検査装置 |
| US4678994A (en) * | 1984-06-27 | 1987-07-07 | Digital Products Corporation | Methods and apparatus employing apparent resonant properties of thin conducting materials |
| GB8510181D0 (en) * | 1985-04-22 | 1985-05-30 | Aeronautical General Instr | Moving coin validation |
| CH667546A5 (de) * | 1985-07-26 | 1988-10-14 | Autelca Ag | Einrichtung zur muenzenpruefung. |
| JPS62164190A (ja) * | 1986-01-16 | 1987-07-20 | 三洋電機株式会社 | 硬貨識別装置 |
| GB2207270B (en) * | 1987-07-20 | 1991-06-19 | Thomas Patrick Sorensen | Improvements in and relating to determining the characteristics of conducting objects |
| JP2567654B2 (ja) * | 1988-03-31 | 1996-12-25 | 株式会社 日本コンラックス | 硬貨選別方法および装置 |
| JPH0786939B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1995-09-20 | 株式会社日本コンラックス | 硬貨識別装置 |
| GB8912522D0 (en) * | 1989-05-26 | 1989-07-19 | Coin Controls | Coin discrimination apparatus with temperature compensation |
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1989
- 1989-07-28 GB GB8917258A patent/GB2234619B/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
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1992
- 1992-07-31 US US07/923,860 patent/US5337877A/en not_active Expired - Lifetime
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1998
- 1998-06-23 HK HK98106203A patent/HK1007024A1/xx not_active IP Right Cessation
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