JPH06111094A

JPH06111094A - 硬貨検査機

Info

Publication number: JPH06111094A
Application number: JP21936592A
Authority: JP
Inventors: Douglas Alain Richard; ダグラス，アランリチャード
Original assignee: Mars Inc
Current assignee: Mars Inc
Priority date: 1992-08-18
Filing date: 1992-08-18
Publication date: 1994-04-22

Abstract

(57)【要約】【目的】硬貨の厚さを検査する装置を提供する。【構成】硬貨検査機が、硬貨通路の各側に配置された
二つのコイルより形成された厚さ感知器を有している。
コイルの出力は、複合された場合、厚さを示す測定値を
生成する値を個別に誘導するように処理される。一つの
出力は、硬貨が試験される厚さに左右される程度までほ
かの出力に関連して縮小され、従って、厚さを示す測定
値は、その厚さの硬貨の位置における最大変化量に対応
する領域において、著しくは変化しない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は硬貨検査機に関し、詳し
くはこの種の検査機の硬貨の厚さ感知器に関する。

【０００２】

【従来の技術】硬貨を磁界内に置き、磁界への硬貨の影
響を測定することにより、例えば、感知器出力の大きさ
及び／あるいは周波数の変化を測定することにより、硬
貨を試験する硬貨感知器を有する硬貨検査機を提供する
ことは、よく知られている。感知器のなかには、硬貨の
厚さに主に依存している結果を生成するために使用され
るものもある。感知器の出力は、ほかの要因によっても
影響をうけるが、この要因は、各種の硬貨を区別する感
知器の能力には影響しないので、ほかのこのような影響
は、本明細書の目的に関しては無視されている。

【０００３】厚さ感知器は、比較的高い周波数で駆動さ
れまた硬貨通路の片側に配置されたコイルから構成して
いる。硬貨が通過するとき、硬貨は傾斜路に沿って移動
する。傾斜路はかなり傾斜しているので、硬貨の面は、
硬貨が感知器を通過するとき、基準面にもたれてやす
い。コイルは、通路のほかの側に配置されており、その
磁界は、コイルに関して硬貨の最も近い面の位置に左右
される範囲まで影響され、次に、硬貨の厚さに依存す
る。しかし、傾斜路の傾斜にもかかわらず、硬貨の移動
は、かなり不安定になりがちであり、従って、誤りが、
コイルに対する硬貨の位置の変化により、出現する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このような問題を軽減
するために、厚さ感知器のなかには、直列または並列に
接続した二つのコイルで構成されたものもある。コイル
の最初の一つは、基準面に接近しており、ほかのコイル
は、通路の反対側にある。特定の厚さの硬貨に関して
は、基準面から間隔を置いて離れている硬貨により発生
した第１コイル磁界への硬貨の影響のすべての減少は、
ほかのコイル磁界への硬貨の影響の増加によりかなり補
償される。しかし、これは、いわゆる“平衡点”に近い
部分の変化に対してのみ効果的であり、従って、この種
の改良は、硬貨の厚さのかなり小さい範囲と、基準面に
対する硬貨の位置の小さい範囲とだけに適用されがちで
ある。

【０００５】いくつかの試みが、例えば、硬貨の運動エ
ネルギーを吸収する緩衝器を使用して、硬貨の移動を安
定させるために行われたが、この問題はなおも残ってい
る。その上、硬貨検査機の大きさを小さくすることが、
一段と望まれるようになっており、これは、硬貨の移動
が感知器に到達する前に安定する距離を短縮するような
硬貨移動の不安定性を増大する傾向がある。

【０００６】欧州特許出願ＥＰ−Ａ−０４８４４４１
（オーストラリア特許出願No. ６１８９４／９０、南朝
鮮特許出願No. ９２−７００１８３及び日本特許出願N
o. ０２−５１１３７６に相当する）によれば、硬貨
は、硬貨通路の各側に配置されたインダクタンスによ
り、厚さに関して試験される。独立した値が生成され、
各値は、各インダクタンスにより検出された磁界への硬
貨の影響を示す。少なくとも一つの値が処理され、その
値は、硬貨の位置と本質的に無関係な厚さを示す測定値
を得るように、処理された後に複合される。

【０００７】各インダクタンスによって検出された影響
の測定値を分離することにより、各インダクタンスのそ
れぞれから硬貨の変位を考慮し、このようにして、この
変位から独立している複合された測定値を提供すること
は可能である。これは、厚さの測定値の変動を低減し、
これによって、一層厳しい試験基準の適用を可能にし、
従って、偽物の硬貨は、さらに容易に除かれる。

【０００８】上述の実施例では、出力値が、各感知器か
らの硬貨の間隔に関して直線的に変化することを確実に
するアルゴリズムを使用して、各出力値は処理される。
処理された出力の複合化により、通路の全幅にわたる硬
貨の位置とは実質的に無関係である厚さの測定値が得ら
れる。

【０００９】

【課題を解決するための手段】小さい記憶容量及び／あ
るいは短い処理時間を必要とするこの技術の変形に関す
る。本発明により、その厚さが、各硬貨の種類にそれぞ
れ関連した複数の異なる厚さのいずれか一つに対応する
かどうかを決定するために、硬貨を試験する方法が提供
されており、この方法は、硬貨通路の各側に配置された
インダクタンスを使用し、各インダクタンスにより検出
された磁界への硬貨の影響をそれぞれ示す独立した出力
値を生成することと；複数の値の一つをほかの値に関し
縮小を行う処理段階を実行することと；厚さを示す測定
値を得るように処理された値を複化することとを含んで
おり、前記処理段階が、硬貨が試験されている厚さに依
存して異なる縮小率を選択することを含み、従って、硬
貨が特定の種類に関連する厚さを有するかどうかを決定
するために使用される厚さを示す測定値が、前記種類の
硬貨の位置を最大と思われる変化に対応する領域におい
て、インダクタンス間の硬貨の位置から実質的に独立し
ている。本発明は、この方法に従って動作する装置へも
拡大している。

【００１０】本処理は、感知器の出力値にもとずいて動
作する適切なアルゴリズムを使用することにより達成さ
れ、この場合、単一のアルゴリズムを同時に使用して、
処理と複合化の段階を実行することが可能である。

【００１１】本発明により、感知器出力の相対的縮小
は、平衡点の有効位置を変えるように変化する。硬貨が
特定の種類に対応する厚さを有するかどうかを決定する
ために検査する場合、縮小率は、特定の厚さの硬貨の平
衡点をその硬貨の見込まれる位置へ近づけるように調節
される。従って、その硬貨が正しい厚さであるならば、
硬貨位置の僅小な変化は補償され、従って、厚さの測定
値を大きく変えることはない。

【００１２】感知器の出力値が、硬貨の影響が最大であ
るとき、感知器によって発生された信号から誘導される
ことは、よく知られている。このような方法は、感知器
の出力値のそれぞれを個別に誘導するために、本発明に
おいて使用されている。しかし、この方法は、硬貨の位
置によって、従来技術の装置よりも影響が少ない厚さの
測定値をさらに可能にしているが、硬貨が感知器を通過
中に変化する硬貨の位置によるか、あるいは、硬貨が感
知器を通過するときに傾斜した向きで移動している硬貨
の可能性によって、誤りが発生することがある。これら
の状態のいずれの場合でも、硬貨が感知器を通過してい
る期間中に、各感知器出力値は、硬貨の最も接近した位
置を示す。

【００１３】本発明の好適な面は、測定値の誤りのこの
別の発生源の影響を皆無とするか、あるいは、軽減する
ことを意図している。この好適な面により、どちらの感
知器の出力値も、感知器への硬貨の影響をほぼ同時に示
す。この時期は、複合された出力値が最大である期間中
に発生することが好ましい。例えば、連続した感知器出
力値が処理されて複合され、この連続の複合値の最大値
が、厚さを示す測定値として使用される。あるいは、必
要な処理量を減少するために、厚さの測定値は、感知器
の一つに対する影響が最大に達したときか、または、感
知器が硬貨の到着により影響を受け始めた後の所定の時
間に発生した両方の感知器の出力値から誘導することが
出来る。

【００１４】また、本発明は、硬貨を検査する装置へも
拡大しており、この装置は、本発明による方法を使用し
ている。本発明を具体化している装置を、付属図面を引
用して、実施例によって説明する。

【００１５】

【実施例】図１に関し、硬貨通路２が、参照符号６で示
されたような硬貨が矢印Ａの方向に傾斜路を滑りおりる
か、または転がりおりるように、第１平面で水平面に対
し傾斜している前記傾斜路４を有している。また、前記
傾斜路は、垂直平面で水平面に対し傾斜しており、従っ
て、硬貨は、その表面が前記通路の一つの側壁８と接触
した状態で移動しやすく、この側壁面は基準面として働
く。

【００１６】本検査機は、また、コイル１０と１２とに
より形成された一対のインダクタンス感知器を有する。
コイル１０は、側壁８により形成された基準面と隣接し
またその真後ろに位置している。コイルは、側壁と同一
面をなしている薄膜（示されていない）により被覆され
ている。

【００１７】コイル１２は同様に、前記通路のほかの側
面に取り付けられており、側壁８と相対する側壁１４の
内表面から各薄膜の厚さだけ間隔を置いて離れている。
従って、どちらのコイルも、側壁に対し、従って、硬貨
により使用される硬貨通路にまたがった位置範囲に関し
て、正確に位置づけられている。この一般的タイプは、
本来周知のものである。一例が、欧州特許明細書No. Ｅ
Ｐ−Ａ−Ｏ１４６２５１に開示されており、ここで、
コイルは直列に接続されている。しかし、本実施例で
は、コイルは相互結線されておらず、個々の出力側を有
する。

【００１８】図２に示されているように、各コイル１０
と１２は、各発信器回路１６あるいは１８へ接続してい
る。

【００１９】本検査機は、入力／出力線路０１〜０１１
及びタイマー／カウンタ入力端子Ｔ１を有するマイクロ
プロセッサ２０（例えば、モトローラ社の６８０５ファ
ミリーから選択された）から構成されている。

【００２０】オシレータ１６と１８は、スイッチ２２と
２４によりそれぞれ、オンとオフに切換えられ、前記ス
イッチは、マイクロプロセッサの出力端子０１と０２に
より、それぞれ、制御される。オンに切換えられると、
各オシレータは比較的高い周波数、例えば、１．０MHz
で動作する。周波数は高いことが好ましく、従って、磁
界は硬貨を実質的に透過せず、従って、硬貨の作用は、
その材料組成により実質的に影響を受けない。感知器周
波数（あるいは、その縮尺された形式の）の出力搬送信
号は、線路２６と２８に送れる。これら線路へのパルス
は、ゲート３０と３２を閉じることにより、端子Ｔ１へ
それぞれ送られ、前記ゲートは、入力／出力線０３と０
４へ送られた信号によりそれぞれ制御され、このように
して、マイクロプロセッサは、オシレータ１６と１８の
いずれもターンオンして、端子Ｔ１に送られた感知器出
力パルスがマイクロプロセッサの内部カウンタによりカ
ウントされる所定時間の間、各ゲート３０または３２を
閉じて、感知器周波数の測定を行うことが出来ることは
明らかである。

【００２１】硬貨が存在しない場合、マイクロプロセッ
サは、短時間の間オシレータ１６を繰返してターンオン
し、出力周波数を点検する。連続した周波数の読みがあ
る量だけ変化すると、硬貨が、コイル１０により発生し
た磁界への侵入を始めることが決定される。このように
して、本来周知の方法で、硬貨の到着が検出され、検査
機の回路のほかの各種部品を通電するために使用され
る。その時から、マイクロプロセッサ２０は、各感知器
から読み値を連続的に取るために、オシレータ１６と１
８を交互に繰り返し作動し、停止する。感知器の読み
は、一定間隔で、あるいは、読みの組合せにおいて、各
対の個々の読みの間の間隔より大きい連続した対の間の
間隔で、行われる。

【００２２】硬貨６が感知器１０と１２を離れた後、一
つ以上の測定値が、空き値、すなわち、硬貨不在時の周
波数測定値を設定するために、各感知器から読み取られ
る場合を除いて、マイクロプロセッサは、オシレータ１
８へ通電することを停止する。厚さ測定の推算に使用さ
れる感知値は、硬貨の通過中に感知された周波数と、空
き時の周波数との間の関係（例えば周波数間の差、ある
いは、周波数の比）から演繹される。この手法は、本来
知られており、回路構成部品の値のずれ、温度変化など
の影響を減少する。望むならば、硬貨が感知器１０と１
２の領域から完全に離れた後、空き値が測定されること
を確実にするため、空き値は、そのほかの感知器（示さ
れていない）が硬貨の存在するときに、使用することが
出来る。

【００２３】前述の特定の装置では、空き値は、硬貨が
感知器を離れた後に、測定されるので、硬貨が通過中に
行われる実際の検出動作は、先行する硬貨の通過に続い
て検出された空きのレベルに基づいている。明らかに、
これは、硬貨が感知器に達する前に空き値が測定するこ
とにより、例えば、非常に短い期間にオシレータを交互
にスイッチオンすることにより、避けられる。

【００２４】同時と云うよりは、連続的に感知器を作動
することにより、感知器の出力の間の混信がなく、電力
消費が低減されることが、確実になる。しかし、この手
法を使用することは、不可欠ではない。混信は、高いＱ
のコイルを使用するか、オシレータの周波数を十分に相
互に異なるようにするか、あるいは、ほかの方法によっ
て、避けることが出来る。そのほかに、いくつかの構成
では、硬貨の存在自体は、磁界を十分に孤立せしめ、従
って、コイルは、少なくとも硬貨が存在している間、同
時に駆動する。

【００２５】図３（Ａ）は、与えられ厚さの代表的感知
器出力を示す。水平軸は、通路の幅を横切る、硬貨の位
置づけを表す。垂直軸は、硬貨が通過するときの、感知
器の出力周波数と空き周波数との間の最大差を、任意の
尺度で示している。線Ｉは、感知器１０の出力を、線II
は、感知器１２の出力を示す。破線は、コイルが直列ま
たは並列に接続されたならば、得られる複合出力を（異
なる尺度で）表す。この複合出力が、硬貨の位置に従っ
て、実質的に変化することが分かる。

【００２６】すべての与えられたコイルの配置に関し
て、平衡点として引用される点Ｐがあり、その点におい
て、二つの出力の応答曲線は、硬貨がこの点上の中央平
面で位置づけられる場合、ほぼ同一で反対の勾配を有す
る。図３（Ａ）から明らかなように、硬貨の面Ｆ１とＦ
２が平衡点から等距離にあるように、硬貨が位置してい
る場合、面Ｆ１への感知器の応答を示す曲線Ｉは、面Ｆ
２への曲線IIの応答を示す曲線IIと等しくまた反対の勾
配を有する。同等の強度の磁界を形成するコイルの場
合、すべての硬貨の平衡点Ｐは、コイルの中間にある。
コイルの複合された出力は、硬貨が平衡点Ｐにあるか、
あるいは接近している限り、実質的に変化しない。上記
のように、コイルを通過するときの硬貨の位置は、基準
平面の位置（すなわち、コイル１０を側壁８から隔てて
いる薄膜の大きさ）と硬貨自体の厚さとより決定され
る。従って、硬貨の面の間の中間平面が平衡点Ｐに接近
しているような与えられる硬貨の厚さに関しては、硬貨
の位置づけの小さい変動に関係なく、十分に正確な結果
を得ることは、可能である。しかし、より薄い硬貨は、
その場合、その面（Ｆ２′）が側壁８により近く位置し
た状態で移動し、より厚い硬貨は、その面（Ｆ２″）が
側壁８からより大きい距離だけ間隔を置いた状態で移動
する。応答曲線IIの勾配は、相対する面の応答曲線Ｉの
勾配よりも、面Ｆ２′とＦ２″に関してより異なる。従
って、これらの硬貨の厚さの測定値は、硬貨の位置の小
さい変位の結果として、一層変り易い（留意すべきこと
は、図３（Ａ）は特定の事例を示しており、この場合、
磁界強度は等しく平衡点が、コイルの出力が等しい位置
にあることである。これらのことは、重要な要件ではな
い）。

【００２７】図３（Ｂ）は図３（Ａ）に似ているが、こ
の場合、感知器は、その応答が線形応答と実質的に変ら
ないように、慎重に設計され、位置づけられている。応
答には非線形な面が僅かにあるので、複合された測定値
は多少不正確であるが、応答曲線の勾配が異なるという
点から、より大きく不正確である。十分に線形である
か、あるいは、十分に対称である応答曲線を得ること
は、慎重なコイルの設計と位置づけとにより可能である
が、すべての可能なコイルの位置と厚さの結果をどちら
も達成することは、可能であることは立証されなかっ
た。

【００２８】上記のＥＰ−Ａ−０４８４４４１に記載の
装置では、マイクロプロセッサ２０は周波数ずれの各測
定値を各感知器から読み取り、このような問題を避ける
ように測定値を処理する。詳しく言えば、マイクロプロ
セッサは、１組の処理値を記憶している読出し専用メモ
リ（示されていない）を有し、各処理値は、各感知器の
出力値と対応する。感知器の出力値は、処理値が検索さ
れる表のなかにアドレスを決定するために使用される。
図３（Ｃ）は、処理値Ｉ′とII″が硬貨の位置によりど
のように変わるかを示している。図から分るように、応
答曲線は線形にして対称であり、従って、処理値がマイ
クロプロセッサ２０によって複合され、図３（Ｃ）にお
いて破線で示される複合結果の応答は、硬貨の位置にほ
ぼ関係ない。

【００２９】すべての感知器出力に対応する値を含んで
いる参照表を使用する代りに、アルゴリズムを使用して
感知器出力を変換するか、あるいは、特定の感知出力用
の参照表を使用し、次にほかの感知出力用の補間法を使
用することは、可能である。

【００３０】本発明は、広範囲な参照表の必要性を避け
るために、より少ないメモリを使用し、アルゴリズムま
たは補間法を使用する上記のいずれかよりも速く実行可
能な装置に関する。

【００３１】本装置を図５を参照して説明する。感知器
の出力が、特定の種類の硬貨の厚さに対応する硬貨の厚
さを表すかどうかを決定するために、感知器出力の少な
くとも一つに、好適にはそのどちらにも、その硬貨の種
類に関連する各縮小率を乗ずる。以上のように、本実施
例のマイクロプロセッサ２０は、次の評価はを行うよう
に構成されている。

【００３２】

【数１】

【００３３】ここで、縮小率１と縮小率２は、特定の硬
貨の種類Ａに関連する記憶された数字である。次に、評
価結果は、種類Ａの硬貨の許容値の範囲を定義する記憶
データと比較される。この結果がこの範囲内にあれば、
次に、硬貨は硬貨の種類Ａに関連する厚さを有すると見
なされる。さもなければ、さらに、ほかの硬貨の種類の
異なる記憶された縮小率１と２を使用して、評価が行わ
れる。

【００３４】縮小率は、二つのコイルの応答曲線の相対
的大きさを、効果的に調節し、これによって、上述の平
衡点Ｐを変える。図５（Ａ）に関し、縮小率は、例え
ば、応答曲線をＩ′とII″で示された形へ調節する。こ
れは、平衡点を移動するが、この平衡点において、与え
られた厚さの硬貨は、比較的小さい領域においてほぼ線
形でありまた等しく、逆の大きさの勾配を有する感知器
応答を形成する。説明した事例は、薄い硬貨の平衡点を
側壁８へより近づけ、従って、出力をこの種の硬貨を検
査するのに適切なものにする。図５（Ｂ）に示されてい
るように、ほかの縮小率は、感知器出力を厚い硬貨を検
査するのに適切なものにする働きを行う。実際には、平
衡点が、側壁８から硬貨の厚さの半分より僅かに大きい
距離だけ間隔を置いて離れた位置に設定することが好ま
しく、従って、実際に行われる硬貨位置の適切な範囲
は、平衡点に中心を置いている。

【００３５】縮小率１と２の個々の組が、試験される各
硬貨の種類について記憶されることが好ましいが、その
代りに、より少ない数の縮小率を記憶することが可能で
あり、そのうちのいくつかは、１種類以上の硬貨に適し
ている。

【００３６】図４は、本実施例が、硬貨が感知器を通過
するとき、硬貨の不確定な位置により発生する問題だけ
でなく、感知器を通過中の間にその位置における変動を
原因とする問題も、どのように防止するかを示してい
る。図４のグラフ（Ａ）〜（Ｆ）は、感知器出力を任意
の尺度で示している垂直軸と、時間を示す水平軸とを有
する。硬貨は、時間ｔ₁までの期間に感知器の間に入
り、ｔ₁とｔ₂の間の期間に感知器と完全に重なり、次
に、ｔ₂の後に、感知器から離れ始める。

【００３７】図４は、硬貨が感知器間の領域に入ると
き、硬貨は感知器１２へ比較的接近しているが、その領
域を離れる時までコイルのほぼ中間にある状態を示して
いる。このように、感知器１０の出力を示す図４Ａにお
いて、ｔ₁からｔ₂の期間中に、感知器出力が量ｄだけ
増加することが分る。同様に、感知器１２の出力を示す
図４Ｂにおいては、この出力がｔ₁からｔ₂の期間中に
量Ｄだけ増加する。応答曲線の非直線性により、硬貨の
位置の変化が、最も遠いコイルよりも最も近いコイルに
より大きく影響を与えるので、Ｄはｄより大きい。従っ
て、これらの未処理値が複合されるならば、その結果
は、図４（Ｃ）に示された通りであり、コイルが直列あ
るいは並列に接続されている場合の従来技術の装置で得
られた結果と似ている。図４（Ｃ）において、複合され
た出力は、期間ｔ₁とｔ₂との間で量Ｖだけ変化するこ
とが分る。これは、Ｄまたはｄより小さいが、それでも
かなりの変化である。この変化は、硬貨の横方向の不確
実さによる測定値の不確実さを示している。

【００３８】図４（Ｄ）と４（Ｅ）は、感知器１０と１
２の処理された出力をそれぞれ示している。これらの処
理された出力は、比較的に縮小されており、感知器１０
の処理された出力のｔ₁〜ｔ₂の期間における変化ｄ′
は、感知器１２の処理された出力と等しく、逆である。
このように、出力が複合された場合、正確な厚さの測定
値を与える図４（Ｆ）に示された水平軸上のピーク値が
得られる。これは、測定値が、硬貨の位置あるいは位置
の変化により影響を受けないことを示している。

【００３９】硬貨が傾斜路４に沿って傾斜した方向へ移
動するならば、同様な効果が発生する。上述のように、
図４（Ｆ）に示された複合値のピークを誘導する代り
に、単一時点においてのみ処理と複合を行うことは可能
であり、これは、感知器１０と１２の一つの未処理出力
のピークによるか、あるいは、硬貨の到着が感知された
後の所定時間で決定される。複合された処理値がほぼ同
じ時間における感知器出力を示すことが好適である理由
は、図４から明らかである。具体的に言えば、各感知器
が、個別にピークが検出されるならば、時間ｔ₂におけ
る感知器１０の出力は、時間ｔ₁における感知器１２の
出力と複合される。しかし、硬貨はこの期間中に移動
し、従って、厚さの誤り読み値が発生する。しかし、硬
貨の移動が十分に安定されており、この期間中の硬貨位
置の変化が非常に小さいようであれば、この状態は許容
される。

【００４０】上述の本実施例は、発振器の周波数の偏移
を検出することにより、測定値を引き出す。しかし、こ
の測定値は、その代りに、周波数の絶対値、振幅、振幅
の偏移、位相の偏移をベースにすることが出来る。

【００４１】上記実施例において、感知器コイルは、硬
貨により影響をうける磁界を発生することにも使用され
る。しかし、ほかの磁界発生器を使用することが出来る
ので、これは不可欠なものではない。

【００４２】用語“硬貨”が本明細書において使用され
たが、これは、本物の硬貨だけでなく、偽物の硬貨、代
用貨幣、または、検査機により受け入れられるほかの品
目に適用されるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による硬貨検査機の硬貨の通路を図示し
ている。

【図２】硬貨検査機の回路の関連部品の説明図である。

【図３】グラフ（Ａ），（Ｂ），（Ｃ）から成り、硬貨
の位置と無関係な厚さの測定値を伝える本発明の実施例
によって得られた有利な結果を示す。

【図４】グラフ（Ａ）〜（Ｆ）から成り、厚さの測定値
への硬貨位置の変化の影響を例示し、これが、どのよう
に軽減されるかを示している。

【図５】グラフ（Ａ）と（Ｂ）から成り、上記実施例の
変形の動作を示す。

【符号の説明】

２硬貨通路４傾斜路６硬貨８，１４側壁１０，１２コイル

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】厚さが、各硬貨の種類にそれぞれ関連し
た複数の異なる厚さのうちのいずれか一つの厚さと一致
するかどうかを試験する方法にして、硬貨の通路の各側
に配置されたインダクタンスを使用し、各インダクタンスにより検出された磁界への硬貨の影響
をそれぞれ示す独立した出力値を生成することと；複数
の値の一つをほかの値に関し縮小を行う処理段階を実行
することと；厚さを示す測定値を得るように処理された
値を複合することとを含み；前記処理段階が、硬貨が試
験されている厚さに依存して異なる縮小率を選択するこ
とを含み、従って、硬貨が特定の種類に関連する厚さを
有するかどうかを決定するために使用される厚さを示す
測定値が、前記種類の硬貨の位置の最大と思われる変化
に対応する領域においてインダクタンス間の硬貨の位置
から実質的に独立していることを特徴とする方法。
【請求項２】前記値が、前記時点において実質的に検
出された硬貨の影響を表していることを特徴とする請求
項１に記載の方法。
【請求項３】処理された値を連続的に複合する段階を
含み、厚さを示す測定値を得るために前記結果から最大
値を検出することを特徴とする請求項２に記載の方法。
【請求項４】出力の最大値が発生する時期を決定する
ために、インダクタンスの一つの出力を使用する段階を
含み、ほぼ前記時期に前記インダクタンスにより生成さ
れた出力値を処理しまた複合することを特徴とする請求
項２に記載の方法。
【請求項５】硬貨がインダクタンスを通過するときイ
ンダクタンスを連続的に駆動する段階を含むことを特徴
とするすべての前記請求項に記載の方法。
【請求項６】検査機内の硬貨の到着を検出するために
複数のインダクタンスのうちの単一のインダクタンスを
使用する段階と、前記検出に応答して検査機の選択され
た部分に給電する以降の段階とを含むことを特徴とする
すべての前記請求項に記載の方法。
【請求項７】硬貨検査装置にして、側端が優先的に当る向きで移動する硬貨を送る通路を形
成している手段にして、硬貨が前記通路の方向に対し側
方向に異なる位置を選択することが出来るよう、前記通
路が十分に幅広い前記手段と；前記通路の側面に配置さ
れた第１と第２のインダクタンスにして、前記第１と第
２のインダクタンスのそれぞれが、前記インダクタンス
間の硬貨の通過によって発生した磁界の変化を感知する
ことが動作可能である前記第１と第２のインダクタンス
と；分離したデジタル出力値を前記第１と第２のインダ
クタンスから誘導しまた前記デジタル出力値の一つがほ
かのデジタル出力値に関して縮小される変換処理を実行
する処理手段にして、前記処理手段が厚さを示す測定値
を得るために、生成したデジタル値を複合することがさ
らに動作可能である前記手段と；試験された硬貨が、各
硬貨の種類にそれぞれ関連する複数の異なる厚さのいず
れか一つに対応する厚さを有するかどうかを決定するた
めに、記憶されたデータを使用して前記厚さを示す測定
値を判断する手段とを含み、前記処理手段が、異なる縮小率が硬貨が試験される厚さ
に依存する少なくとも一つのデジタル値へ適用されるよ
うな前記変換処理を行うことが動作可能である前記硬貨
検査装置。