JPS5856155B2 - 硬貨選別装置 - Google Patents
硬貨選別装置Info
- Publication number
- JPS5856155B2 JPS5856155B2 JP6917776A JP6917776A JPS5856155B2 JP S5856155 B2 JPS5856155 B2 JP S5856155B2 JP 6917776 A JP6917776 A JP 6917776A JP 6917776 A JP6917776 A JP 6917776A JP S5856155 B2 JPS5856155 B2 JP S5856155B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coin
- square wave
- frequency
- magnetic field
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は少くとも二通りの周波数をもつ電磁界内に硬貨
を置いて夫々の磁界変化を例えば電圧、位相、電流等を
測定することで検出し、後段の判定装置で各々の場合の
磁界変化に基いて硬貨の真贋及び金種を判定する硬貨選
別装置の改良に関するものである。
を置いて夫々の磁界変化を例えば電圧、位相、電流等を
測定することで検出し、後段の判定装置で各々の場合の
磁界変化に基いて硬貨の真贋及び金種を判定する硬貨選
別装置の改良に関するものである。
斯かる硬貨選別装置の二通りの周波数とは硬貨の深部ま
で侵透するような低周波数及び硬貨の表面付近までしか
侵透しない高周波数であり、低周波数域の電磁界によっ
て硬貨の材質及び高周波数域の電磁界によって硬貨の表
面形状が検査でき確実なる硬貨の真贋判定が行えること
が実証されている。
で侵透するような低周波数及び硬貨の表面付近までしか
侵透しない高周波数であり、低周波数域の電磁界によっ
て硬貨の材質及び高周波数域の電磁界によって硬貨の表
面形状が検査でき確実なる硬貨の真贋判定が行えること
が実証されている。
しかしながら斯かる方式による従来の装置は低周波数で
発振する励磁コイル及びその検出コイルと高周波数で発
振する励磁コイル及びその検出コイルを備えている為に
比較的高価な装置である。
発振する励磁コイル及びその検出コイルと高周波数で発
振する励磁コイル及びその検出コイルを備えている為に
比較的高価な装置である。
また二つの電磁界で順次コインを検査するよう励磁コイ
ル及び検出コイルから成るセンサーを二組設けると自ず
からコイン通路が長くなり装置が大型化する欠点がある
。
ル及び検出コイルから成るセンサーを二組設けると自ず
からコイン通路が長くなり装置が大型化する欠点がある
。
周知のごとく方形波は基本周波数の正弦波とその奇数倍
の第１、第３・・・・・・第（２ｎ−１）高調、枝より
形式されてすなわち低周波数から高周波数までの種々の
正弦波を含んでいるが本発明は斯かる点に着目し、方形
波を励磁装置に印加して磁界を形成すればその中に硬貨
を置くと検出装置には硬貨による高周波数域及び低周波
数域の磁界の変化が合成されて出力されろために前記セ
ンサーを一組しか必要としない装置ができることを提唱
するものである。
の第１、第３・・・・・・第（２ｎ−１）高調、枝より
形式されてすなわち低周波数から高周波数までの種々の
正弦波を含んでいるが本発明は斯かる点に着目し、方形
波を励磁装置に印加して磁界を形成すればその中に硬貨
を置くと検出装置には硬貨による高周波数域及び低周波
数域の磁界の変化が合成されて出力されろために前記セ
ンサーを一組しか必要としない装置ができることを提唱
するものである。
第２図は方形波ｄによる磁界中に硬貨を置いたときに検
出装置に現われる電圧変化ｅを示す図である。
出装置に現われる電圧変化ｅを示す図である。
図より明らかなように方形波の立上り時点Ｔ。
に対応する検出電圧は比較的低い電圧値を示すが立上り
時点Ｔ３に近づくにつれて検出電圧値は上昇する。
時点Ｔ３に近づくにつれて検出電圧値は上昇する。
そして方形波の立上り時点Ｔ。
から立下り時点Ｔ３の間に対応して検出される電圧値は
同一の値が現われることがなくこの理由は第１図にて説
明される。
同一の値が現われることがなくこの理由は第１図にて説
明される。
即ち第１図は基本周波数２．５ Ｋ Ｃの方形波ａに対
して７ＫＣ及び６０ＫＣの周波数の振幅変化を成る帯域
を有したフィルターにて取り出した結果を示す図であり
、略６０ＫＣの合成波形す及び略７ＫＣの合成波形Ｃが
夫々得られる。
して７ＫＣ及び６０ＫＣの周波数の振幅変化を成る帯域
を有したフィルターにて取り出した結果を示す図であり
、略６０ＫＣの合成波形す及び略７ＫＣの合成波形Ｃが
夫々得られる。
この図から判ることはフィルターで抜き取った高固波す
は方形波ａの立上がり付近ではその振幅は大きいが立下
がり以前では殆んど小さくなることであり、このことは
見かけ上６０ＫＣ付近のフィルターで抜き出した波形は
方形波の振幅を形成する上で立上がり付近のＴ１時点で
は大いに影響を受けているが、他の時点では殆んど影響
を受けていないことを示している。
は方形波ａの立上がり付近ではその振幅は大きいが立下
がり以前では殆んど小さくなることであり、このことは
見かけ上６０ＫＣ付近のフィルターで抜き出した波形は
方形波の振幅を形成する上で立上がり付近のＴ１時点で
は大いに影響を受けているが、他の時点では殆んど影響
を受けていないことを示している。
このように方形波の振幅は種々の高調波の振幅が合成さ
れて現われたものであるが、高次の高調波の互いの位相
位置によりこのように検出されるものである。
れて現われたものであるが、高次の高調波の互いの位相
位置によりこのように検出されるものである。
したがって第２図に示すごとく方形波ａによる磁界中に
硬貨を置くと、Ｔ。
硬貨を置くと、Ｔ。
からＴ３までの各時点で最も方形波の磁界を形成するの
に影響をおよぼす周波数が夫々異っているために、各時
点で硬貨に与える作用が変化し検出装置に検出される電
歪変化はｅのような波形となるのである。
に影響をおよぼす周波数が夫々異っているために、各時
点で硬貨に与える作用が変化し検出装置に検出される電
歪変化はｅのような波形となるのである。
このような検出装置に検出される電圧変化特性は硬貨種
類に応じて独自のカーブを有しており、第２図でｅは白
銅貨、ｆは青銅貨、ｇは芯材に銀画側を白銅で構成した
クラッド貨の電圧変化特性を示している。
類に応じて独自のカーブを有しており、第２図でｅは白
銅貨、ｆは青銅貨、ｇは芯材に銀画側を白銅で構成した
クラッド貨の電圧変化特性を示している。
そしてこのような検査硬貨によって現われる電圧変化特
性を正貨の場合と比較することで検査硬貨の真贋及び金
種が検査され得るのである。
性を正貨の場合と比較することで検査硬貨の真贋及び金
種が検査され得るのである。
したがって検査硬貨によって現われた電圧変化特性を正
貨の場合と比較するには少くとも所定の二時点における
検出電圧値を取り出して序しめ判明している正貨の電圧
変化特性における同一の二時点にて現わる検出電圧と比
較すれば良いのである。
貨の場合と比較するには少くとも所定の二時点における
検出電圧値を取り出して序しめ判明している正貨の電圧
変化特性における同一の二時点にて現わる検出電圧と比
較すれば良いのである。
そしてこの所定の二時点はＴ。からＴ３までのいずれの
二時点でも良いが、前述したごとく方形波は高周波の振
幅の影響が強い部分及び低周波の振幅の影響が強い部分
があることに着目し、高周波の影響が強い時点及び低周
波の影響が強い時点の検出電圧値を取り出して判定すれ
ば、やはり前述した二つのセンサーに夫々高周波及び低
周波を印加して硬貨を検査するのと略等価な精度で検査
を行うことができる。
二時点でも良いが、前述したごとく方形波は高周波の振
幅の影響が強い部分及び低周波の振幅の影響が強い部分
があることに着目し、高周波の影響が強い時点及び低周
波の影響が強い時点の検出電圧値を取り出して判定すれ
ば、やはり前述した二つのセンサーに夫々高周波及び低
周波を印加して硬貨を検査するのと略等価な精度で検査
を行うことができる。
例えば第１図と第２図を対照させて６０ＫＣの周波数の
振幅が最も強く現われるＴ１時点及び７ＫＣの周波数の
振幅が最も強く現われるＴ２時点での検出電圧値Ｅ１及
びＥ２を取り出してこれに基き硬貨の真贋及び金種を判
定すると二つのセンサーにて硬貨の７ＫＣの低周波数域
試験及び６０ＫＣの高周波数域試験を行うのと略等価な
精度で検査が行えるのである。
振幅が最も強く現われるＴ１時点及び７ＫＣの周波数の
振幅が最も強く現われるＴ２時点での検出電圧値Ｅ１及
びＥ２を取り出してこれに基き硬貨の真贋及び金種を判
定すると二つのセンサーにて硬貨の７ＫＣの低周波数域
試験及び６０ＫＣの高周波数域試験を行うのと略等価な
精度で検査が行えるのである。
以下図面と共に一実施例を詳述する。
以下図面と共に一実施例を示す前に本発明の概略を第２
図にて説明する。
図にて説明する。
第２図に於いてｄは第１図で記したａと同様の方形波で
あり硬貨に印加する交番磁界波形である。
あり硬貨に印加する交番磁界波形である。
ｅは検出装置に硬貨が存在したときの該検出装置の出力
であり、硬貨による影響を受けた交番磁界の波形である
。
であり、硬貨による影響を受けた交番磁界の波形である
。
このように交番磁界として方形波を印加した場合前述し
たごとく前記検出装置の出力ｅは立上がり付近と立下が
り付近の波形が異なり、この夫々の時間Ｔ１及びＴ２の
時の電圧Ｅ１及びＥ２は硬貨の材質によって相違するも
のである。
たごとく前記検出装置の出力ｅは立上がり付近と立下が
り付近の波形が異なり、この夫々の時間Ｔ１及びＴ２の
時の電圧Ｅ１及びＥ２は硬貨の材質によって相違するも
のである。
特に高周波数で損失が大きい材質ではＥｌが著しく減少
し低い周波数での影響はＥ２の値の変化となって検出す
ることができる。
し低い周波数での影響はＥ２の値の変化となって検出す
ることができる。
したがってこのＥｌ及びＥ２の双方の値が適正硬貨の値
に等しいかを比較することにより硬貨の真贋若しくは金
種が判定可能となるのである。
に等しいかを比較することにより硬貨の真贋若しくは金
種が判定可能となるのである。
第３図は本発明の装置の実際を示すものである。
方形波を出力する発振器としてはマルチバイブレーク１
を使用し、該方形波は１／、１□に分周するよう９ ｂ
ｉｔの計数段で形成される分周器２で分周されて駆動回
路９に入力し励磁装置である励磁コイル３にて磁界を形
成せしめる。
を使用し、該方形波は１／、１□に分周するよう９ ｂ
ｉｔの計数段で形成される分周器２で分周されて駆動回
路９に入力し励磁装置である励磁コイル３にて磁界を形
成せしめる。
即ち励磁コイル３は方形波の交番磁界を出力している。
硬貨通路４を挟んで励磁コイル３に対抗して配設される
検出装置である検出コイル５（又はホール素子等の検出
素子）は検査硬貨Ｃの投入による励磁コイル３より誘起
される磁界の変化を逐次電圧で捉えて増巾器１０を介し
てゲート回路であるアナログスイッチ６．７に出力して
いる。
検出装置である検出コイル５（又はホール素子等の検出
素子）は検査硬貨Ｃの投入による励磁コイル３より誘起
される磁界の変化を逐次電圧で捉えて増巾器１０を介し
てゲート回路であるアナログスイッチ６．７に出力して
いる。
検査硬貨Ｃに分周器２より出力される方形波を印加して
方形波の立上り付近Ｔ１時点及び立下りＴ２時点で検査
を行うのであれば装置に検査時を指令するタイミング制
御が必要となる。
方形波の立上り付近Ｔ１時点及び立下りＴ２時点で検査
を行うのであれば装置に検査時を指令するタイミング制
御が必要となる。
その為にマルチバイブレーク１より出力される方形波（
以下分周器２より出力される方形波と区別する為にタイ
ミングパルスと称す。
以下分周器２より出力される方形波と区別する為にタイ
ミングパルスと称す。
）を順次計数する分周器２がこのタイミングパルスの５
０番目及び４６０番目を計数するのをデコーダ１１が検
出すると、デコーダ１１は５０番目のタイミングパルス
でアナログスイッチ６そして４６０番目のタイミングパ
ルスでアナログスイッチ７に夫々ゲート開放指令を出力
する。
０番目及び４６０番目を計数するのをデコーダ１１が検
出すると、デコーダ１１は５０番目のタイミングパルス
でアナログスイッチ６そして４６０番目のタイミングパ
ルスでアナログスイッチ７に夫々ゲート開放指令を出力
する。
従ってタイミングパルスの５０番目及び４６０番目は夫
々方形波の立上り及び立下り付近と時間的に同一である
筈であり、このタイミングパルスが発生した夫々の時点
に於ける検出コイル５で誘起される電圧がアナログスイ
ッチ６．７を介して例えばコンデンサ等で構成される電
圧記憶装置１２．１３に出力されるのである。
々方形波の立上り及び立下り付近と時間的に同一である
筈であり、このタイミングパルスが発生した夫々の時点
に於ける検出コイル５で誘起される電圧がアナログスイ
ッチ６．７を介して例えばコンデンサ等で構成される電
圧記憶装置１２．１３に出力されるのである。
こうして測定された７ＫＣの低周波数の影響が強い電磁
界及び６０ＫＣの高周波数の影響が強い電磁界に於ける
二通りの電圧値から検査硬貨Ｃの真贋及び金種の判定を
判定装置８にて行う。
界及び６０ＫＣの高周波数の影響が強い電磁界に於ける
二通りの電圧値から検査硬貨Ｃの真贋及び金種の判定を
判定装置８にて行う。
判定装置８は先ず二通りの電圧値を比較する必要があり
割算器１４にて電圧比を求め比較装置１５にて真贋及び
金種を判定するが、記憶装置１５には各硬貨種類毎の正
貨を検査したときに得られる電圧比の下限許容値及び上
限許容値が設定されている。
割算器１４にて電圧比を求め比較装置１５にて真贋及び
金種を判定するが、記憶装置１５には各硬貨種類毎の正
貨を検査したときに得られる電圧比の下限許容値及び上
限許容値が設定されている。
したがって割算器１４がデコーダ１１が５１２番目のタ
イミングパルスを検出した時点で電圧記憶装置１２．１
３による二通りの電圧値の比を算出すると、比較装置１
５はこの算出値と記憶装置１５に設定されている各設定
値とを比較して、算出値が倒れの硬貨に関する許容範囲
に含まれるかで検査硬貨Ｃの金種を判定して金種に応じ
た出力Ａを発生する。
イミングパルスを検出した時点で電圧記憶装置１２．１
３による二通りの電圧値の比を算出すると、比較装置１
５はこの算出値と記憶装置１５に設定されている各設定
値とを比較して、算出値が倒れの硬貨に関する許容範囲
に含まれるかで検査硬貨Ｃの金種を判定して金種に応じ
た出力Ａを発生する。
また検査硬貨Ｃの電圧比が硬貨種類に応じた前記レベル
のいずれにも該当しなければ贋硬貨と判定するのである
。
のいずれにも該当しなければ贋硬貨と判定するのである
。
尚二通りの電圧値を比較する手段として割算器１１４を
使用しているが電源電圧変動の影響を受けないという利
点がある。
使用しているが電源電圧変動の影響を受けないという利
点がある。
したがってこの利点を無視すれば検査硬貨Ｃによって得
られる二通りの測定値（本例では電圧）が、予め記憶装
置１５に設定した正貨の場合の測定値と夫々予定の許容
範囲内で一致しているかにても、硬貨の真贋及び金種を
判定することは可能である。
られる二通りの測定値（本例では電圧）が、予め記憶装
置１５に設定した正貨の場合の測定値と夫々予定の許容
範囲内で一致しているかにても、硬貨の真贋及び金種を
判定することは可能である。
以上詳述したように本発明は一組みのセンサーに方形波
を印加することで従来二組みのセンサーに高周波及び低
周波を夫々印加して検査硬貨の高周波数域試験及び低周
波数域試験を行っていたものと略等価な精度の検査を行
うことができ、安価で構造の簡単な装置でありながら確
実な硬貨の選別を行い得るのである。
を印加することで従来二組みのセンサーに高周波及び低
周波を夫々印加して検査硬貨の高周波数域試験及び低周
波数域試験を行っていたものと略等価な精度の検査を行
うことができ、安価で構造の簡単な装置でありながら確
実な硬貨の選別を行い得るのである。
従来二種類の周波数で検査を行う場合、周波数の設定は
装置の製作時に行われてそれ以後は発振器の回路を操作
して回路定数を変えなければならない不都合があったが
本発明はデコーダが計数装置より取出す計数出力を変え
るだけで容易に周波数を可変できるのである。
装置の製作時に行われてそれ以後は発振器の回路を操作
して回路定数を変えなければならない不都合があったが
本発明はデコーダが計数装置より取出す計数出力を変え
るだけで容易に周波数を可変できるのである。
即ち方形波に於いて取出したい周波数を含む部分の時点
に対応したクロックパルスを計数装置が計数したときデ
コーダがアナログスイッチにゲート開放指令を出力する
ように変えるだけで、その周波数に対する試験とはゾ等
価な結果が得られるがこの周波数を可変にすることは次
に述べる利点がある。
に対応したクロックパルスを計数装置が計数したときデ
コーダがアナログスイッチにゲート開放指令を出力する
ように変えるだけで、その周波数に対する試験とはゾ等
価な結果が得られるがこの周波数を可変にすることは次
に述べる利点がある。
例えば多種類の硬貨を扱う硬貨選別装置に於いて使用す
る周波数が全ての硬貨に感度が良いとは限らず成る硬貨
種に対しては若干選別能力が低いとしたときその硬貨種
の贋物が出回った場合に周波数が可変である為にこの硬
貨種に対して感度の最良な周波数に簡単に変えられるこ
とで選別能力を向上させることができ且つ新硬貨が出た
場合にもこれに容易に対処できる利点もある。
る周波数が全ての硬貨に感度が良いとは限らず成る硬貨
種に対しては若干選別能力が低いとしたときその硬貨種
の贋物が出回った場合に周波数が可変である為にこの硬
貨種に対して感度の最良な周波数に簡単に変えられるこ
とで選別能力を向上させることができ且つ新硬貨が出た
場合にもこれに容易に対処できる利点もある。
また実施例に於いては励磁コイルに印加する方形波とタ
イミングパルスを同一のマルチバイブレークより出力し
ている為に回路が簡単に構成できる。
イミングパルスを同一のマルチバイブレークより出力し
ている為に回路が簡単に構成できる。
第１図は方形波に於ける略６０ＫＣ及び７ＫＣの周波数
を取り出した場合の波形を示し、第２図は方形波の実際
の波形変化を示し、第３図は本発明装置をブロック図で
示す。 主な区番の説明、１・・・・・・発振器、２・・・・・
・分周器、３・・・・・・励磁装置、４・・・・・・硬
貨通路、５・・・・・・検出装置、６，７・・・・・・
ゲート回路、８・・・・・・判定装置。
を取り出した場合の波形を示し、第２図は方形波の実際
の波形変化を示し、第３図は本発明装置をブロック図で
示す。 主な区番の説明、１・・・・・・発振器、２・・・・・
・分周器、３・・・・・・励磁装置、４・・・・・・硬
貨通路、５・・・・・・検出装置、６，７・・・・・・
ゲート回路、８・・・・・・判定装置。
Claims (1)
- １ タイミングパルスとしての方形波を出力する発振器
と、該方形波を分周する分周器と、該分周による方形波
にて磁界を形式する励磁装置と、該磁界中に検査硬貨を
導く硬貨通路と、該検査硬貨の通過による磁界の変化を
検出する検出装置と、前記タイミングパルスに応じて、
前記方形波の少なくとも二点の位置で夫々検出した前記
検出装置の出力を通過せしめるゲート回路と、該ゲート
回路を通過した前記検出装置の出力に基いて硬貨の真贋
及び金種を判定する判定装置とから収る硬貨選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6917776A JPS5856155B2 (ja) | 1976-06-11 | 1976-06-11 | 硬貨選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6917776A JPS5856155B2 (ja) | 1976-06-11 | 1976-06-11 | 硬貨選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52152298A JPS52152298A (en) | 1977-12-17 |
| JPS5856155B2 true JPS5856155B2 (ja) | 1983-12-13 |
Family
ID=13395166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6917776A Expired JPS5856155B2 (ja) | 1976-06-11 | 1976-06-11 | 硬貨選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856155B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS616429U (ja) * | 1984-06-18 | 1986-01-16 | 川崎重工業株式会社 | 自動２輪車用エアクリ−ナ |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2905828A1 (de) * | 1978-02-18 | 1979-08-30 | Pa Management Consult | Anordnung zum unterscheiden und sichten von muenzen |
| JP4499964B2 (ja) * | 2001-09-12 | 2010-07-14 | 日本金銭機械株式会社 | 硬貨識別装置 |
| JP2013101129A (ja) * | 2012-12-25 | 2013-05-23 | Hamamatsu Koden Kk | 渦電流センサ及び検出物判別回路 |
-
1976
- 1976-06-11 JP JP6917776A patent/JPS5856155B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS616429U (ja) * | 1984-06-18 | 1986-01-16 | 川崎重工業株式会社 | 自動２輪車用エアクリ−ナ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52152298A (en) | 1977-12-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4124111A (en) | Coin inspecting apparatus | |
| KR890002334B1 (ko) | 경화선별장치 | |
| US5213190A (en) | Method and apparatus for testing coins | |
| ES2343730T3 (es) | Discriminador de monedas. | |
| US4091908A (en) | Coin checking device for a vending machine | |
| US5715926A (en) | Money validation | |
| US3895290A (en) | Defect detection system using an AND gate to distinguish specific flaw parameters | |
| US6173826B1 (en) | Method and apparatus for validating coins | |
| JPS5856155B2 (ja) | 硬貨選別装置 | |
| CN113624834A (zh) | 一种基于边际谱质心检测的缺陷深度识别方法、系统 | |
| US5341908A (en) | Method and apparatus for testing coins | |
| RU2155381C2 (ru) | Устройство для проверки подлинности монет, жетонов и других плоских металлических предметов (варианты) | |
| JP3478602B2 (ja) | コイン検査方法およびその装置 | |
| EP0603340B1 (en) | Method and apparatus for testing coins | |
| KR930011725B1 (ko) | 주화 선별장치 | |
| US5480019A (en) | Coin-distinguishing method and apparatus therefor | |
| JPS5856154B2 (ja) | 硬貨選別装置 | |
| GB2266399A (en) | Coin testing | |
| AU678857B2 (en) | Coin sorting method and apparatus therefor | |
| GB2023902A (en) | Testing coins | |
| SU864106A1 (ru) | Способ магнитошумовой структуроскопии изделий из ферромагнитных материалов | |
| SU915030A1 (ru) | Устройство для разбраковки магнитных сердечников 1 | |
| GB1578767A (en) | Coin checking apparatus | |
| JPS5860389A (ja) | 硬貨判別方法 | |
| SU1758613A1 (ru) | Устройство дл измерени импульсного магнитного пол |