JPH04213190A - アナログ信号解析方法及び電子回路 - Google Patents
アナログ信号解析方法及び電子回路Info
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- JPH04213190A JPH04213190A JP3027816A JP2781691A JPH04213190A JP H04213190 A JPH04213190 A JP H04213190A JP 3027816 A JP3027816 A JP 3027816A JP 2781691 A JP2781691 A JP 2781691A JP H04213190 A JPH04213190 A JP H04213190A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing Of Coins (AREA)
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- Electronic Switches (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はアナログ信号解析方法
及び該方法を実行する回路に関し、特にゲーム機、自動
販売機及び同類の一般のコイン操作機器用の硬貨選別機
に適用可能であって、その他同様の性能が要求されるも
のに適用した場合選別の高信頼性が保証されるものであ
る。
及び該方法を実行する回路に関し、特にゲーム機、自動
販売機及び同類の一般のコイン操作機器用の硬貨選別機
に適用可能であって、その他同様の性能が要求されるも
のに適用した場合選別の高信頼性が保証されるものであ
る。
【０００２】
【技術背景】導電材料、例えばコイン等が電磁場を通過
すると、該電磁場の励磁器と結合された発振回路に変化
が生じ、その振幅及び周波数に影響が及ぶことがよく知
られている。
すると、該電磁場の励磁器と結合された発振回路に変化
が生じ、その振幅及び周波数に影響が及ぶことがよく知
られている。
【０００３】導電部と電磁場間の相互作用はその形状寸
法、例えば、直径、厚み及び巻き線数、並びにそれの電
気特性、例えば合金の導電率及び透磁率等に依存するこ
とは明らかである。
法、例えば、直径、厚み及び巻き線数、並びにそれの電
気特性、例えば合金の導電率及び透磁率等に依存するこ
とは明らかである。
【０００４】コインがセンサを通過するときにおける振
動変化を分析することにより該コインの同定を行うこと
ができる。
動変化を分析することにより該コインの同定を行うこと
ができる。
【０００５】従来、導電材料がセンサ又は励磁器を通過
する時の振動変化を分析する、種々の装置が知られてお
り、該装置は信号の最大振幅変化量、信号周波数の最大
移相量又は所定期間における読み取り算術平均値等を算
定するものである。いずれにしても、その信号分析が不
十分なものであり、得られた情報が所定形式のコイン又
はカードを識別するのに不十分なものであった。
する時の振動変化を分析する、種々の装置が知られてお
り、該装置は信号の最大振幅変化量、信号周波数の最大
移相量又は所定期間における読み取り算術平均値等を算
定するものである。いずれにしても、その信号分析が不
十分なものであり、得られた情報が所定形式のコイン又
はカードを識別するのに不十分なものであった。
【０００６】
【発明の開示】本発明の方法の原理は測定センサにより
得られたアナログ信号においてその波形の測定領域を確
立するため、正から負へ又は負から正へ変化する信号変
化率に基づいてディジタル信号を発生させることにより
種々の測定領域が確立されるようになっている。
得られたアナログ信号においてその波形の測定領域を確
立するため、正から負へ又は負から正へ変化する信号変
化率に基づいてディジタル信号を発生させることにより
種々の測定領域が確立されるようになっている。
【０００７】アナログ信号の波形傾斜変化を検出する電
子回路は演算増幅器によりアナログ信号を、コインが測
定センサを通過するのに要する時間に相当する、僅かな
遅延時間をもって遅延された同様のアナログ信号と比較
するように構成される。
子回路は演算増幅器によりアナログ信号を、コインが測
定センサを通過するのに要する時間に相当する、僅かな
遅延時間をもって遅延された同様のアナログ信号と比較
するように構成される。
【０００８】各測定領域における時間及び振動周波数が
測定され、それぞれの測定領域とその隣接領域間におけ
る期間比および周波数比が確立される。
測定され、それぞれの測定領域とその隣接領域間におけ
る期間比および周波数比が確立される。
【０００９】上記電子回路には好ましくは電磁センサの
左右又は上下に２つの光電カップラ、例えばフォトダイ
オード−フォトトランジスタ対を配置して、コイン又は
金属片が通過するときの速度情報を得るようにしてもよ
い。
左右又は上下に２つの光電カップラ、例えばフォトダイ
オード−フォトトランジスタ対を配置して、コイン又は
金属片が通過するときの速度情報を得るようにしてもよ
い。
【００１０】
【本発明の好ましい実施例】本発明を、その構成および
特徴の完全な理解に寄与する、それらに限定されること
のない一実施例を示す添付図面とともに説明する。
特徴の完全な理解に寄与する、それらに限定されること
のない一実施例を示す添付図面とともに説明する。
【００１１】添付図面、特に第１図に詳細に示すように
、本発明の方法の主要事項は測定センサにより得られた
アナログ信号波形ＳＡに該アナログ信号の正及び／又は
負の傾斜変化に基づいて種々の測定領域ＴＡ、ＴＢ、Ｔ
Ｃ、…、を確立し、上記アナログ信号に対応する種々の
測定領域を各点Ｐで区分するディジタル信号ＳＤが得ら
れることが分かる。このようにして、測定しようとする
コインの通過によって惹起される変化がより完全にかつ
正確に分析され、従ってより高い信頼性のある同定を行
うことができる。
、本発明の方法の主要事項は測定センサにより得られた
アナログ信号波形ＳＡに該アナログ信号の正及び／又は
負の傾斜変化に基づいて種々の測定領域ＴＡ、ＴＢ、Ｔ
Ｃ、…、を確立し、上記アナログ信号に対応する種々の
測定領域を各点Ｐで区分するディジタル信号ＳＤが得ら
れることが分かる。このようにして、測定しようとする
コインの通過によって惹起される変化がより完全にかつ
正確に分析され、従ってより高い信頼性のある同定を行
うことができる。
【００１２】上記アナログ信号ＳＡを、図１に示す方法
にしたがって各種領域Ｔに区分するには、図２に示すよ
うな基本的回路によって行なわれる。この回路は演算増
幅器１及び該演算増幅器１の一方の入力と接続される遅
延回路２を有し、アナログ信号の傾きがプラス＋からマ
イナス−へ又はそれと逆に変化する、変曲点が得られる
ようになっている。
にしたがって各種領域Ｔに区分するには、図２に示すよ
うな基本的回路によって行なわれる。この回路は演算増
幅器１及び該演算増幅器１の一方の入力と接続される遅
延回路２を有し、アナログ信号の傾きがプラス＋からマ
イナス−へ又はそれと逆に変化する、変曲点が得られる
ようになっている。
【００１３】図１に示すように、アナログ信号の傾きが
負又はマイナスのとき演算増幅器１の出力は論理レベル
０であり、該アナログ信号の傾きが正もしくはプラス又
は零のとき演算増幅器１の出力は論理レベル１である。
負又はマイナスのとき演算増幅器１の出力は論理レベル
０であり、該アナログ信号の傾きが正もしくはプラス又
は零のとき演算増幅器１の出力は論理レベル１である。
【００１４】特に、アナログ信号は例えば図１に示すよ
うに３つの測定領域に区分される。測定領域の区分数は
アナログ信号の複合成分に応じたものとなっている。遅
延回路２は測定片又は試料片がセンサ励起部を通過する
のに要する時間より小さい時定数を有する、例えばＲＣ
タイプの遅延回路とされる。
うに３つの測定領域に区分される。測定領域の区分数は
アナログ信号の複合成分に応じたものとなっている。遅
延回路２は測定片又は試料片がセンサ励起部を通過する
のに要する時間より小さい時定数を有する、例えばＲＣ
タイプの遅延回路とされる。
【００１５】測定しようとする試料片が一旦電磁センサ
４を離れると、各隣接領域間での期間比及び周波数比が
得られ、これらの比を表す信号はコイン又は試料片を同
定するのに使用される。
４を離れると、各隣接領域間での期間比及び周波数比が
得られ、これらの比を表す信号はコイン又は試料片を同
定するのに使用される。
【００１６】図３から明らかなように、一般に、発振器
５がセンサ４の出力と接続され、該発振器５から一方で
は信号を直接マイクロプロセッサ３に送出するとともに
他方では該信号を図２の基本的回路を介して該マイクロ
プロセッサ３に送出される。該マイクロプロセッサ３は
所定のプログラムメモリ６を備えている。
５がセンサ４の出力と接続され、該発振器５から一方で
は信号を直接マイクロプロセッサ３に送出するとともに
他方では該信号を図２の基本的回路を介して該マイクロ
プロセッサ３に送出される。該マイクロプロセッサ３は
所定のプログラムメモリ６を備えている。
【００１７】更により正確な測定を行うために、図４に
示すように、図３の電子回路にコイン７の直径を測定す
る手段を付加するようにしてもよい。該コイン直径測定
手段は２つのフォトダイオード−フォトトランジスタ対
の光電カップラー８、８′から構成され、これらの光電
カップラー８、８′は好ましくは電磁センサ４の左右に
配置され、測定しようとする当面のコイン又は試料片７
が通過するときの速度情報をマイクロプロセッサ３に提
供する。上記コインの通過速度が分かると、各測定領域
の時間測定値が正規化又は調整され、これにより測定し
ようとするコイン又は試料片７の通過速度、たとえば該
コイン投入部の傾斜面等のコインガイド特性によって変
化するコイン通過速度と無関係なもの、すなわち該通過
速度に依存しないものとされる。
示すように、図３の電子回路にコイン７の直径を測定す
る手段を付加するようにしてもよい。該コイン直径測定
手段は２つのフォトダイオード−フォトトランジスタ対
の光電カップラー８、８′から構成され、これらの光電
カップラー８、８′は好ましくは電磁センサ４の左右に
配置され、測定しようとする当面のコイン又は試料片７
が通過するときの速度情報をマイクロプロセッサ３に提
供する。上記コインの通過速度が分かると、各測定領域
の時間測定値が正規化又は調整され、これにより測定し
ようとするコイン又は試料片７の通過速度、たとえば該
コイン投入部の傾斜面等のコインガイド特性によって変
化するコイン通過速度と無関係なもの、すなわち該通過
速度に依存しないものとされる。
【００１８】以上に説明したことにより、当該技術分野
の専門家に本発明の技術的範囲における全ての技術的事
項及び作用効果が十分に理解されたものと確信する。
の専門家に本発明の技術的範囲における全ての技術的事
項及び作用効果が十分に理解されたものと確信する。
【００１９】各構成部分の材料、形状、大きさ及びレイ
アウトは本発明の本質的な技術的範囲を逸脱しないかぎ
り変形することができる。
アウトは本発明の本質的な技術的範囲を逸脱しないかぎ
り変形することができる。
【００２０】この明細書における各用語は限定的ではな
くより広い意味に解釈されるべきものである。
くより広い意味に解釈されるべきものである。
【００２１】
【図１】本発明の分析方法にしたがってアナログ信号を
ディジタル信号に変換する一例を示す概略説明図である
。
ディジタル信号に変換する一例を示す概略説明図である
。
【図２】本発明の上記方法を実施する基本的電子回路の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】本発明の方法を実施する、所定のマイクロプロ
セッサを備えた信号処理回路のブロック図である。
セッサを備えた信号処理回路のブロック図である。
【図４】図３の信号処理回路に２つの光電カップラーを
付加して構成される変形例のブロック図である。
付加して構成される変形例のブロック図である。
１…演算増幅器、
２…遅延回路、
３…マイクロプロセッサ、
４…電磁センサ、
５…発振器、
６…プログラムメモリ、
７…コイン又は金属試料片、
８、８′…フォトダイオード−フォトトランジスタ光電
カップラー。
カップラー。
Claims (4)
- 【請求項１】 コイン又は金属片等の電子選別回路に
適用可能である、アナログ信号分析方法であって、測定
センサにより得たアナログ信号の正／負の傾きの変化に
基づいて各測定領域に区分し、該信号の傾きの変化に対
しディジタル信号を割り当てることにより上記アナログ
信号波形に関する各測定領域を確立することを特徴とす
る、アナログ信号分析方法。 - 【請求項２】 各測定領域の期間及び振動周波数を測
定することにより各隣接測定領域間の時間比及び周波数
比を確立する、第１項記載のアナログ信号解析方法。 - 【請求項３】 上記第１項及び第２項に記載の方法を
実施する電子回路であって、演算増幅器の一方の入力に
遅延回路を接続し、該演算増幅器により発振器を介して
センサからのアナログ信号を、上記遅延回路により遅延
された上記アナログ信号と比較し、該比較した結果をマ
イクロプロセッサに伝送することを特徴とする、電子回
路。 - 【請求項４】 更に２つの光電カップラーを設け、該
光電カップラーからマイクロプロセッサへコイン又は金
属片がセンサを通過するときの速度情報を伝送する、第
３項記載の電子回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| ES9000252A ES2020410A6 (es) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | Metodo y circuito electronico para analisis de senales analogicas. |
| ES9000252 | 1990-01-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04213190A true JPH04213190A (ja) | 1992-08-04 |
| JP2503114B2 JP2503114B2 (ja) | 1996-06-05 |
Family
ID=8265672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3027816A Expired - Lifetime JP2503114B2 (ja) | 1990-01-29 | 1991-01-28 | アナログ信号解析方法及び電子回路 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5191956A (ja) |
| JP (1) | JP2503114B2 (ja) |
| DE (1) | DE4100283A1 (ja) |
| ES (2) | ES2020410A6 (ja) |
| GB (1) | GB2240649B (ja) |
| IT (1) | IT1247811B (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE59306912D1 (de) * | 1992-05-22 | 1997-08-21 | Journomat Ag | Münzenkassierautomat |
| ES2046119B1 (es) * | 1992-06-01 | 1994-10-16 | Azkoyen Ind Sa | Procedimiento para la verificacion de monedas. |
| US5489014A (en) * | 1994-08-03 | 1996-02-06 | Journomat Ag | Apparatus for checking coins and reading cards in an article vending machine |
| US5662205A (en) * | 1994-11-03 | 1997-09-02 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device |
| ES2108643B1 (es) * | 1995-09-28 | 1998-07-01 | Azkoyen Ind Sa | Procedimiento de identificacion de monedas. |
| US5673781A (en) * | 1995-11-21 | 1997-10-07 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device and associated method |
| US5992603A (en) * | 1997-12-18 | 1999-11-30 | Ginsan Industries Inc | Coin acceptance mechanism and method of determining an acceptable coin |
| JP2000242823A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-08 | Nippon Conlux Co Ltd | 硬貨選別方法および装置 |
| US6230870B1 (en) * | 2000-02-10 | 2001-05-15 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device |
| US7877186B2 (en) * | 2003-07-28 | 2011-01-25 | Wabco Gmbh | Method and system for identifying a malfunctioning compressed air consumer circuit in a vehicle electronic compressed air system |
| KR100688527B1 (ko) * | 2005-02-03 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 아날로그 반도체 장치를 테스트하는 디지털 테스트 장치 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56149687A (en) * | 1980-04-22 | 1981-11-19 | Tokyo Shibaura Electric Co | Printed end detector |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3958178A (en) * | 1975-02-11 | 1976-05-18 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration | Automatic ranging circuit for a digital panel meter |
| DE2831407C3 (de) * | 1978-07-17 | 1986-06-19 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Elektronische Meßeinrichtung für analoge elektrische Signale |
| US4705154A (en) * | 1985-05-17 | 1987-11-10 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Coin selection apparatus |
-
1990
- 1990-01-29 ES ES9000252A patent/ES2020410A6/es not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-01-07 DE DE4100283A patent/DE4100283A1/de not_active Withdrawn
- 1991-01-08 US US07/638,622 patent/US5191956A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-01-09 GB GB9100377A patent/GB2240649B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-01-25 IT ITMI910185A patent/IT1247811B/it active IP Right Grant
- 1991-01-28 JP JP3027816A patent/JP2503114B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-08-30 ES ES09301877A patent/ES2065862A6/es not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56149687A (en) * | 1980-04-22 | 1981-11-19 | Tokyo Shibaura Electric Co | Printed end detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5191956A (en) | 1993-03-09 |
| IT1247811B (it) | 1995-01-02 |
| ES2020410A6 (es) | 1991-08-01 |
| JP2503114B2 (ja) | 1996-06-05 |
| DE4100283A1 (de) | 1991-08-01 |
| ITMI910185A1 (it) | 1992-07-25 |
| ES2065862A6 (es) | 1995-02-16 |
| GB2240649A (en) | 1991-08-07 |
| ITMI910185A0 (it) | 1991-01-25 |
| GB2240649B (en) | 1994-04-20 |
| GB9100377D0 (en) | 1991-02-20 |
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