JPH0541503A - マスタスライス方式の半導体装置の製造方法 - Google Patents

マスタスライス方式の半導体装置の製造方法

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JPH0541503A
JPH0541503A JP14907391A JP14907391A JPH0541503A JP H0541503 A JPH0541503 A JP H0541503A JP 14907391 A JP14907391 A JP 14907391A JP 14907391 A JP14907391 A JP 14907391A JP H0541503 A JPH0541503 A JP H0541503A
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JP
Japan
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layer
interconnection
semiconductor
electrode
master chip
Prior art date
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Pending
Application number
JP14907391A
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English (en)
Inventor
Norio Kato
典生 加藤
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NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Publication of JPH0541503A publication Critical patent/JPH0541503A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【構成】マスタチップの各素子あたり必ず1つの電極
(7−1〜7−4)を最上層金属膜で形成する。 【効果】このように各素子の電極にプローブを接触させ
ることができるので特性チェック・不具合箇所の抽出が
容易になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマスタスライス方式の半
導体装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】マスタスライス方式とは拡散工程の殆ん
どを共通のマスクパターンによって拡散を行いアルミニ
ウムなどによる配線工程など一部の工程の変更で所定の
回路機能をもつ半導体装置を製造する方法である。
【0003】図3はマスタスライスを行う半導体素子を
あらかじめ配置したマスタチップの平面模式図である。
このマスタチップは複数の容量素子を列状に配置した容
量素列2やPNPトランジスタ列3、NPNトランジス
タ列4、抵抗素子列5を中央部に有し、周辺部にはボン
ディングパッド部8aがある。
【0004】マスタスライスの接続はマスタチップ上に
アレイ状態で配置された複数種類の半導体素子を選択し
て行われるが、特に多層配線構造の配線層の選択は単な
る接続性の他に素子整合,配線抵抗,クロストークなど
素子配置に左右される特性をも満足するように決定され
ている。
【0005】しかし、多層配線を用いた半導体素子にお
いては素子電極と同じ層次の金属膜を使用し素子間/機
能回路ブロック間を結線してしまうこともあるため電気
的特性の検証が必要と予測された配線については、図4
に示すように、最も後工程で形成される配線層に取り出
していた。すなわち、例えば2つの機能ブロックA,B
のそれぞれに最上層金属膜で素子電極91と最上層配線
92とを形成する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のマスタ
スライス方式の半導体装置の製造方法では、内部の電気
的特性の検証が必要と予測された素子電極のみ、最も後
工程の配線層(最上層金属膜)に取り出したが、実際に
不具合が生じた場合など更に局所的なDC/AC解析が
必要になり、欠陥箇所の抽出が容易でなく多大の評価工
数を要するという問題点があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体基板に
複数の半導体素子を設けたマスタチップを形成する工程
と、多層配線技術により前記半導体素子間の結線を行な
って所定の回路機能を実現する工程とを有するマスタス
ライス方式の半導体素子の製造方法において、前記半導
体素子の少なくとも一つの電極を最上層金属膜で形成す
るというものである。
【0008】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
【0009】図1は本発明の一実施例の説明に使用する
半導体チップの平面模式図、図2は図1のY−Y線断面
模式図である。
【0010】P- 型シリコン基体101の表面にN-
エピタキシャル層103を形成した半導体基板にP+
素子分離領域を選択的に形成して素子領域を区画する。
次に各種の拡散層を形成し、各素子を形成する。すなわ
ち、MOS容量素子列2はN+ 型拡散層104を一方の
電極として有している。PNPトランジスタ列3は、N
+ 型拡散層105、P+ 型拡散層106,107を有し
ている。NPNトランジスタ4は、N+ 型拡散層10
8、P+ 型拡散層109、N+ 型拡散層110を有して
いる。抵抗素子列5はP+ 拡散層111を有している。
酸化シリコン膜112には、これらの拡散層上にコンタ
クト穴を有している。このようなマスタチップを準備
し、次に第1層目アルミニウム膜により、素子電極11
3、容量電極113Cおよび図示しない第1層配線を形
成する。
【0011】次に層間絶縁膜114を堆積しコンタクト
穴6−1〜6−4を形成し、第2層目アルミニウム膜に
より素子電極7−1〜7−4および図示しない第2層配
線を行なう。素子電極7−1,7−2,7−3,7−4
はそれぞれMOS容量素子の電極113C、PNPトラ
ンジスタのコレクタ領域(P+ 型拡散層106)、NP
Nトランジスタのベース領域(N+ 型拡散層109)、
抵抗素子の一方の電極に接続されている。このように、
本発明では、各素子あたり必ず1箇の電極を最上層金属
膜で形成しておくのである。更に、これらの素子電極7
−1〜7−4のうち、あるものは他の素子電極もしくは
ボンディングパッド8bに第2層配線により接続され
る。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明によればマス
タチップの各半導体素子あたり少なくとも一つの電極を
多層配線構造の最終工程の配線層に接続することによ
り、これらの電極に導電性プローブを接触させることに
より、集積回路の電気的特性の評価及び不具合箇所の抽
出が容易になり、評価時間を短縮できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の説明に使用する半導体チッ
プの平面模式図である。
【図2】図1のY−Y線断面模式図である。
【図3】従来の技術の説明に使用するマスタチップの平
面模式図である。
【図4】従来の技術の説明に使用する半導体チップの平
面模式図である。
【符号の説明】
1 スクライブ枠 2 MOS容量素子列 3 PNPトランジスタ列 4 NPNトランジスタ列 5 抵抗素子列 6−1〜6−4 コンタクト孔 7−1〜7−4 素子電極 8a ボンディングパッド部 8b ボンディングパッド 91 素子電極 92 最上層配線 101 P型シリコン基体 102 P+ 型素子分離領域 103 N- 型エピタキシャル層 104,105 N+ 型拡散層 106,107 P+ 型拡散層 108 N+ 型拡散層 109 P+ 型拡散層 110 N+ 型拡散層 111 P+ 型拡散層 112 酸化シリコン膜 113 素子電極

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板に複数の半導体素子を設けた
    マスタチップを形成する工程と、多層配線技術により前
    記半導体素子間の結線を行なって所定の回路機能を実現
    する工程とを有するマスタスライス方式の半導体素子の
    製造方法において、前記半導体素子の少なくとも一つの
    電極を最上層金属膜で形成することを特徴とするマスタ
    スライス方式の半導体装置の製造方法。
JP14907391A 1991-06-21 1991-06-21 マスタスライス方式の半導体装置の製造方法 Pending JPH0541503A (ja)

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19971007