JPH0540881U - インタフエース観測用コネクタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板への観測用端子、信号線やノイズ対策部
品の取付け、取外しの手間を省く。 【構成】 基板ソケット４とＩ／Ｏコネクタ６の間に中
継コネクタ１が接続され、中継コネクタ１から中継ケー
ブル５を介して基板ソケット４とＩ／Ｏコネクタ６から
のインタフェース回線がそれぞれ試験ピン９₁ 、試験ソ
ケット１０₁ と試験ピン９₂ 、試験ソケット１０₂ に導
かれる。変換ワイヤ１３₁ 、１３₂ 、１３ ₃ とビースコ
ア１１が試験ピン９₁ 、９₂ と試験ソケット１０₁ 、１
２₂ の間に接続される。ＬＥＤ８は各インタフェース回
線に接続され、信号電圧の大小によって点滅する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は２つの電子装置間のインタフェース波形等の観測装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、コネクタにより接続された２つの電子装置間のインタフェースの信号波 形観測は、あらかじめ電子装置のプリント基板に信号観測用端子を設けたり、ま たはコネクタ端子かプリント基板の他の部品に直接に信号線を接続して外部から モニタして観測をしていた。また、装置のノイズ対策などのために回線にビース コア等のフェライトコアを挿入してその効果を確認する場合は、プリント基板上 のパターンをカッし、その間にビーズコア等を半田付けにより取付けて効果を確 認していた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

上述した従来の方法では、プリント基板への信号観測用の端子の取付け、取外 しや信号線の接続等がプリント基板の装置への実装状態によっては困難な場合が あり、また、ノイズ対策として個々に信号ラインにビーズコア等を入れてカット アンドトライにより効果を確かめる場合は、コアの着脱が簡単にはできないので 時間がかかるという欠点がある。

【０００４】 本考案の目的は、電子装置間のインタフェースにおける信号波形等を観測する とき、信号線の取付け、取外し等が容易にでき、かつ、ノイズ対策に信号ライン に入れたビースコア等の部品の効果の確認が容易にできるインタフェース観測用 コネクタを提供することである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

本考案の第１のインタフェース観測用コネクタは、 ２つの電子装置の接続コネクタ間に挿入して接続され、両電子装置のインタフ ェース回線を取り出すための中継コネクタ部と、 前記中継コネクタ部に接続され、両電子装置のインタフェース回線ごとの試験 端子を備える試験ボックスと、 前記試験端子に接続され両電子装置のインタフェース変換を試験するための変 換ワイヤとを有する。

【０００６】 本考案の第２のインタフェース観測用コネクタは、第１のインタフェース観測 用コネクタに加えて、試験端子に接続され、ノイズ対策としての効果を観測する ための部品を有する。

【０００７】 本考案の第３のインターフェース観測用コネクタは、第１または第２のインタ フェース観測用コネクタに加えて、試験ボックスはインタフェース回線ごとの信 号電圧が一定電圧以上のとき発光するＬＥＤを有する。

【０００８】

【作用】

第１のインタフエース観測用コネクタは、変換ワイヤと外部の観測装置を試験 端子に接続すれば、インタフェース波形等の観測をすることができ、基板への観 測用端子や信号線の取付け、取外しの必要がない。

【０００９】 第２のインタフェース観測用コネクタは、さらに、ノイズ対策としての効果を 観測するための部品を試験端子に接続すれば、該部品を基板上のパターンをカッ して半田付けするなどの手間をかけずに効果の確認ができる。

【００１０】 第３のインタフェース観測用コネクタは、第１、または第２のインタフェース 観測用コネクタに加えて、外部の観測装置を接続しなくてもＬＥＤの点滅によっ てインタフェース波形の状態が観測できる。

【００１１】

【実施例】

次に、本考案の実施例について図面を参照して説明する。

【００１２】 図１は本考案のインタフェース観測用コネクタの一実施例の斜視図、図２（ａ ）は図１のＡＡ線縦断面図、同図（ｂ）は図１のＢＢ線縦断面図、同図（ｃ）は 同図（ａ）のＣＣ線縦断面図、図３は図１のＬＥＤ８の動作回線図である。

【００１３】 このインタフェース観測用コネクタは中継コネクタ１と試験ボックス７と変換 ワイヤ１３₁ 、１３₂ 、１３₃ とビースコア１１とより構成されている。

【００１４】 中継コネクタ１は電子装置基板３の接続用の基板ソケット４と他の電子装置と の接続用のＩ／Ｏコネクタ６との間に挿入して接続され、図２（ａ）に示すよう に、基板３からのインタフェース回線を基板ソケット４のコネクタピン１５₁ か らコネクタソケット１４₁ で受け、また他の電子装置からのインタフェース回線 Ｉ／Ｏコネクタ６のコネクタソケット１４₂ からコネクタピン１５₂ で受けてそ れぞれ中継ソケット１７₁ と１７₂ に導いている。試験ボックス７はＬＥＤ８と 試験ピン９₁ 、９₂ と試験ソケット１０₁ 、１０₂ を備えていて、中継ケーブル ５を介して中継ケーブル５の先端にコネクタ接続プラグ２が接続されており、コ ネクタ接続プラグ２の中継ピン１６₁ 、１６₂ を中継コネクタ１の中継ソケット １７₁ 、１７₂ に差し込んで接続すると、基板３のインタフェース回線は中継ピ ン１６₁ から中継ケーブル５内を信号線１８によりＬＥＤ８を通じて試験ピン９ ₁ と試験ソケット１０₁ に導かれ、Ｉ／Ｏコネクタ６からのインタフェース回線 は中継ピン１６₂ から同様に中継線１８により試験ピン９₂ と試験ソケッ１０₂ に導かれる。ＬＥＤ８には図２（ｃ）の断面図には示されていないが、図３に示 す動作回路が試験ボックス内に形成されていて、中継ピン１６より入力した信号 がトランジスタ２１のベース部に入り、スイッチ２３がオンのとき、バッテリ２ ２の電流がトランジスタ２１の電流制御により入力信号電圧の大小によりＬＥＤ ８の点滅が行なわれる。また、回路中にあるディップスイッチ２４をオンにすれ ば変換ワイヤ１３₁ 、１３₂ 、１３₃ が回路に接続されていなくても基板ソケッ ト４とＩ／Ｏコネクタ６を接続した状態として、ＬＥＤ８を点滅させることがで きる。変換ワイヤ１３₁ は試験ピン９₁ と９₂ を相互に接続するために用いられ る。変換ワイヤ１３₂ は試験ソケット１０₁ と１０₂ を相互に接続するために用 いられる。変換ワイヤ１３₃ は試験ピン９₁ 、９₂ と試験ソケット１０₁ 、１０ ₂ をそれぞれ相互に接続するために用いられる。ビーズコア１１は試験ソケット １０₁ と１０₂ の間に接続される。外部入出力ワイヤ１２は試験ピン９₁ に接続 される。

【００１５】 本実施例のインタフェース観測用コネクタを使用して基板３とＩ／Ｏコネクタ ６に接続された電子装置の間のインタフェース信号観測をするときは、まず、基 板ソケット４とＩ／Ｏコネクタ６の間に中継コネクタ１を接続し、中継コネクタ １にコネクタ接続プラグ２を取付けて試験ボックスを接続する。

【００１６】 次に、変換ワイヤ１３₁ 、１３₂ 、１３₃ を試験ピン９₁ 、９₂ や試験ソケッ ト１０₁ 、１０₂ に取付け、試験ピン９₁ と外部の観測装置の間を外部入出力ワ イヤ１２で接続して外部観測装置でインタフェース回線の波形等を観測する。ま た、ビーズコア１１を試験ソケット１０₁ と１０₂ の間に取付けてノイズを注入 したときの動作状態変化を観測することができる。

【００１７】 さらに、外部の観測装置を接続しなくてもＬＥＤ８の点滅状態でインタフェー スの信号観測ができる。

【００１８】 本実施例のインタフェース観測用コネクタでは、２つの電子装置間のインタフ ェース波形観測をするとき、プリント基板へ信号観測用の端子や信号線を半田上 げ等により、取付け、取外しをする必要がなく、またノイズ対策のためのビーズ コア等のカットアンドトライによる確認も容易にでき、かつ外部の観測装置を使 用しなくてもＬＥＤにより信号状態の観測ができる。

【００１９】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案の第１のインタフェース観測用コネクタは、２つ の電子装置のインタフェース回線ごとの試験端子を備える試験ボックスと変換ワ イヤを備えることにより、変換ワイヤで両電子装置のインタフェース回線を接続 すれば、試験端子に接続された観測装置によりインタフェース波形等の観測がで きるので、基板への信号観測用の端子の取付け、取外しや信号線の接続などをす る必要がなくなり、観測が短時間に容易に行なえる効果がある。

【００２０】 また、第２のインタフェース観測用コネクタは、ノイズ対策のための部品を試 験端子に接続することにより、基板上のパターンをカッしてその間のにビーズコ ア等の対策部品を半田付けしてカットアンドトライのために着脱する手間を要せ ずに効果が確認できるという効果が加えられている。

【００２１】 第３のインタフェース観測用コネクタは、インターフェース回路ごとの信号電 圧が一定電圧以上のときＬＥＤを発光させることにより、第１、第２のインタフ ェース観測用端子の場合に加えて外部観測装置を接続しなくともＬＥＤの点滅に よってインタフェース波形の状態が観測できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案のインタフェース観測用コネクタの一実
施例の斜視図である。

【図２】（ａ）は図１のＡＡ線縦断面図である。（ｂ）
は図１のＢＢ線縦断面図である。（ｃ）は図１のＣＣ線
縦断面図である。

【図３】図１のＬＥＤ８の動作回路図である。

【符号の説明】

１ 中継コネクタ ２ コネクタ接続プラグ ３ 基板 ４ 基板ソケット ５ 中継ケヘブル ６ Ｉ／Ｏコネクタ ７ 試験ボックス ８ ＬＥＤ ９、９₁ 、９₂ 、９₃ 試験ピン １０、１０₁ 、１０₂ 、１０₃ 試験ソケット １１ ビーズコア １２ 外部入出力ワイヤ １３、１３₁ 、１３₂ 、１３₃ 変換ワイヤ １４、１４₁ 、１４₂ コネクタソケット １５、１５₁ 、１５₂ コネクタピン １６、１６₁ 、１６₂ 中継ピン １７、１７₁ 、１７₂ 中継ソケット １８ 信号線 １９、２０ 抵抗 ２１ トランジスタ ２２ バッテリ ２３ スイツチ ２４ ディップスイッチ

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 ２つの電子装置間のインタフェース波形
   等の観測を行なうための観測用コネクタであって、 両電子装置の接続コネクタ間に挿入して接続され、両電
   子装置のインタフェース回線を取り出すための中継コネ
   クタ部と、 前記中継コネクタ部に接続され、両電子装置のインタフ
   ェース回線ごとの試験端子を備える試験ボックスと、 前記試験端子に接続され両電子装置のインタフェース変
   換を試験するための変換ワイヤとを有するインタフェー
   ス観測用コネクタ。
2. 【請求項２】 請求項１記載のインタフェース観測用コ
   ネクタにおいて、前記試験端子に接続され、ノイズ対策
   としての効果を観測するための部品を有することを特徴
   とするインタフェース観測用コネクタ。
3. 【請求項３】 請求項１または２記載のインタフェース
   観測用コネクタにおいて、前記試験ボックスはインタフ
   ェース回線ごとの信号電圧が一定電圧以上のとき発光す
   るＬＥＤを有することを特徴とするインタフェース観測
   用コネクタ。