JPH0540129A - 半導体加速度検出装置 - Google Patents

半導体加速度検出装置

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Publication number
JPH0540129A
JPH0540129A JP3161295A JP16129591A JPH0540129A JP H0540129 A JPH0540129 A JP H0540129A JP 3161295 A JP3161295 A JP 3161295A JP 16129591 A JP16129591 A JP 16129591A JP H0540129 A JPH0540129 A JP H0540129A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
weight
acceleration
acceleration detecting
bottom plate
semiconductor acceleration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3161295A
Other languages
English (en)
Inventor
Kuriko Toda
くり子 戸田
Masahiro Yamamoto
雅裕 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3161295A priority Critical patent/JPH0540129A/ja
Publication of JPH0540129A publication Critical patent/JPH0540129A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 Siビームのような検出梁を用いた半導体加
速度検出装置の耐衝撃性向上を主な目的とする。 【構成】 加速度検出梁(Siビーム)2の撓み幅を制
御できるように、Siビーム2の端部に取付けられたウ
エイト1の形状を加速度検出方向に長くし、Siビーム
2の振動幅をウエイト1が上下のフタ部材6または底板
5に接することで制限させるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体加速度検出装
置、特に、Siビームのような検出梁を用いた半導体加
速度検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3,図4は、従来の半導体加速度検出
装置を示し、図において、垂直方向の寸法が小さい直方
体状のウエイト11に設けられた凹部11aに、Siビ
ーム2でなる検出梁の自由端が結合されている。Siビ
ーム2の中間部にはダイヤフラム3が形成されている。
Siビーム2の基部は台座4に固定されている。台座4
が立設されているモールド底板5にはフタ部材6が装着
されている。
【0003】次に動作について説明する。速度変化に伴
う慣性Gがウエイト11を振動させ、そのモーメントが
Siビーム2に加わるとSiビーム2に撓みを生じさせ
る。それによって変化したSiビーム2の抵抗値をダイ
ヤフラム3が感知し、加速度を検出する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体加速度検
出装置は以上のように構成されているので、ウエイトに
作用する振幅が大きい場合、ウエイトの先端がフタ部材
まで達し、その際発生する衝撃Gがウエイトの慣性力を
増幅させる。そのため、Siビームの撓み部分に応力が
集中し、Siビームを破壊するに至るという問題点があ
った。
【0005】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、構造的耐衝撃性を増すことがで
きる半導体加速度検出装置を得ることを目的としている
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明における半導体
加速度検出装置は、Siビームのような検出梁の撓み幅
を制御するために、ウエイトを加速度検出方向に長い形
状にしたものである。
【0007】
【作用】この発明においては、ウエイトが加速度検出方
向に長いため、Siビームの上下の振幅を、フタ部材ま
たは底板にウエイトが接触することで制御する。
【0008】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図1,図2につ
いて説明する。図において、ウエイト1は垂直方向、即
ち加速度検出方向に長い直方体状をなしており、ウエイ
ト1の側部に設けられた凹部1aに検出梁であるSiビ
ーム2の自由端が結合されている。その他、図3におけ
ると同一符号は同一部分である。
【0009】次に動作について説明する。ウエイト1の
慣性重量が速度の変化によってSiビーム2に作用し、
Siビーム2を撓ませて表面の抵抗値を変化させて加速
度を検出させ、ダイヤフラム3がそれを感知する。この
とき、ウエイト1の末端が、ストッパとなるフタ部材
6、底板5に接し、Siビーム2の過度な撓みを制御す
る。
【0010】実施例2 なお、上記の例では、ウエイト1の接点はフタ部材6ま
たは底板5となっているが、図3に示すストッパ7が設
けられた構造の場合、この発明を適用することでストッ
パが不要となり、部品点数を減らし省スペースで同様の
効果を奏することができる。
【0011】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、ウエ
イトを加速度検出方向に長く取付けた簡易構造により、
耐衝撃性が向上し、装置が安価にできる。また、省スペ
ースで機能するため、実装部品の設計自由度が増す。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1を示す側断面図である。
【図2】図1のものの要部斜視図である。
【図3】従来の半導体加速度検出装置の側断面図であ
る。
【図4】図3のものの要部斜視図である。
【符号の説明】
1 ウエイト 2 Siビーム(検出梁) 3 ダイヤフラム 4 台座 5 底板 6 フタ部材
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年9月9日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0002
【補正方法】変更
【補正内容】
【0002】
【従来の技術】図3,図4は、従来の半導体加速度検出
装置を示し、図において、垂直方向の寸法が小さい直方
体状のウエイト11に設けられた凹部11aに、Siビ
ーム2でなる検出梁の自由端が結合されている。Siビ
ーム2の中間部には溝状のダイヤフラム3が形成されて
いる。Siビーム2の基部は台座4に固定されている。
台座4が立設されているモールド底板5にはフタ部材6
が装着されている。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0003
【補正方法】変更
【補正内容】
【0003】次に動作について説明する。速度変化に伴
う慣性Gがウエイト11を振動させ、そのモーメントが
Siビーム2に加わるとSiビーム2に撓みを生じさ
、ダイヤフラム3が最も撓む。それによって変化した
Siビーム2の表面の抵抗値が変化し、加速度を検出す
る。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0004
【補正方法】変更
【補正内容】
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体加速度検
出装置は以上のように構成されているので、ウエイトに
作用する振幅が大きい場合、ウエイトの先端がフタ部材
まで達し、その際発生する衝撃Gがウエイトの慣性力を
増幅させる。そのため、Siビームの最も撓む部分であ
るダイヤフラム3に応力が集中し、最も薄いダイヤフラ
ム3が破壊されSiビームを破壊するに至るという問題
点があった。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】次に動作について説明する。ウエイト1の
慣性重量が速度の変化によってSiビーム2に作用し、
Siビーム2のダイヤフラム3を撓ませて表面の抵抗値
を変化させて加速度を検出する。このとき、ウエイト1
の末端が、ストッパとなるフタ部材6、底板5に接し、
Siビーム2の過度な撓みを制御する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撓むことで加速度を検出する検出梁と、
    前記検出梁に形成され、加速度の検出値を感知するダイ
    ヤフラムと、前記検出梁を底板に取付ける台座と、前記
    底板に装着されたフタ部材と、前記検出梁の自由端に取
    付けられていて、加速度検出方向に長い寸法を有し、振
    動が加わると上下に振れ、前記検出梁の撓み幅を前記フ
    タ部材および前記底板の少なくともいずれかに接触する
    ことで前記振れが制限されるウエイトとを備えた半導体
    加速度検出装置。
JP3161295A 1991-07-02 1991-07-02 半導体加速度検出装置 Pending JPH0540129A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3161295A JPH0540129A (ja) 1991-07-02 1991-07-02 半導体加速度検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3161295A JPH0540129A (ja) 1991-07-02 1991-07-02 半導体加速度検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0540129A true JPH0540129A (ja) 1993-02-19

Family

ID=15732397

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3161295A Pending JPH0540129A (ja) 1991-07-02 1991-07-02 半導体加速度検出装置

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JP (1) JPH0540129A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5632392A (en) * 1993-12-30 1997-05-27 Oh; Hae Soon Foldable container

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5632392A (en) * 1993-12-30 1997-05-27 Oh; Hae Soon Foldable container

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