JPH05332715A - フィゾー型干渉計 - Google Patents
フィゾー型干渉計Info
- Publication number
- JPH05332715A JPH05332715A JP4135453A JP13545392A JPH05332715A JP H05332715 A JPH05332715 A JP H05332715A JP 4135453 A JP4135453 A JP 4135453A JP 13545392 A JP13545392 A JP 13545392A JP H05332715 A JPH05332715 A JP H05332715A
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- JP
- Japan
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- lens
- inspected
- plane
- concave
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】被検面より径の大きい光学系を必要とせず、ま
た同時に正弦条件の悪化も防ぎつつ、大口径の凸面の面
形状を高い精度で測定する。 【構成】参照面と、該参照面と同一光軸上に配置される
被検面との各面からの反射光を干渉させる干渉装置を有
し、該干渉装置により得られる干渉情報から前記被検面
の面形状を測定するフィゾー型干渉計において、参照面
は凹面であり、干渉装置は参照面に向けて供給される光
束を参照面との間において集光する正レンズを有し、凸
の被検面は正レンズによる集光位置と凹の参照面との間
の発散光路中にて凹参照面に対向して配置される。被検
面である光学レンズの凸面へ、収束光束ではなく発散光
束を入射させるため、被検面より径の大きい光学系が不
要となる。
た同時に正弦条件の悪化も防ぎつつ、大口径の凸面の面
形状を高い精度で測定する。 【構成】参照面と、該参照面と同一光軸上に配置される
被検面との各面からの反射光を干渉させる干渉装置を有
し、該干渉装置により得られる干渉情報から前記被検面
の面形状を測定するフィゾー型干渉計において、参照面
は凹面であり、干渉装置は参照面に向けて供給される光
束を参照面との間において集光する正レンズを有し、凸
の被検面は正レンズによる集光位置と凹の参照面との間
の発散光路中にて凹参照面に対向して配置される。被検
面である光学レンズの凸面へ、収束光束ではなく発散光
束を入射させるため、被検面より径の大きい光学系が不
要となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はレンズ等の面形状を精密
に計測するための干渉計、特に大口径の高精度光学レン
ズの表面精度の測定装置に関する。
に計測するための干渉計、特に大口径の高精度光学レン
ズの表面精度の測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、フィゾー型干渉計は参照面と被検
面とを同一光軸上に配置して各面からの反射光を干渉さ
せることによって、参照面に対する被検面の差異を極め
て高い精度で計測することができる有用な手法として種
々用いられてきている。そして、フィゾー型干渉計の場
合、口径の大きな凸面の表面精度測定のためには、参照
面と被検面に光束が垂直に入射しなければならないこと
から図４に示す様な光学系の配置がとられていた。すな
わち干渉装置１からの平行光束を負レンズ２によって一
旦発散させた後、正レンズ３，４によって収斂させ、こ
の収斂光束中に参照レンズ５（フィゾーレンズ）の参照
面（フィゾー面）ａを配置し、これを透過する収斂光束
を垂直反射するように被検凸面ｂを配置していた。
面とを同一光軸上に配置して各面からの反射光を干渉さ
せることによって、参照面に対する被検面の差異を極め
て高い精度で計測することができる有用な手法として種
々用いられてきている。そして、フィゾー型干渉計の場
合、口径の大きな凸面の表面精度測定のためには、参照
面と被検面に光束が垂直に入射しなければならないこと
から図４に示す様な光学系の配置がとられていた。すな
わち干渉装置１からの平行光束を負レンズ２によって一
旦発散させた後、正レンズ３，４によって収斂させ、こ
の収斂光束中に参照レンズ５（フィゾーレンズ）の参照
面（フィゾー面）ａを配置し、これを透過する収斂光束
を垂直反射するように被検凸面ｂを配置していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図４か
ら明らかなように、被検凸面ｂよりも大きい口径の光学
系が必要となり、干渉計が大型化・高価格化してしまう
という問題点があった。具体的には、図４に示す如く、
干渉装置１からの平行光束を強く発散させるための負レ
ンズ２と、この発散光束を収斂するための正レンズ３，
４及び参照面ａを有する参照レンズ５が必要であり、被
検凸面ｂを有する被検レンズ６の口径よりはるかに大き
な口径のレンズ系が必要であった。また、被検面ｂに垂
直入射する収束光をつくる際、強いパワーを持った負レ
ンズ２で光束を一旦広げてから、それを距離を置いて配
置された正レンズ３，４で収束させるため、正弦条件が
悪化し、結果として測定精度も悪くなるという問題点が
あった。
ら明らかなように、被検凸面ｂよりも大きい口径の光学
系が必要となり、干渉計が大型化・高価格化してしまう
という問題点があった。具体的には、図４に示す如く、
干渉装置１からの平行光束を強く発散させるための負レ
ンズ２と、この発散光束を収斂するための正レンズ３，
４及び参照面ａを有する参照レンズ５が必要であり、被
検凸面ｂを有する被検レンズ６の口径よりはるかに大き
な口径のレンズ系が必要であった。また、被検面ｂに垂
直入射する収束光をつくる際、強いパワーを持った負レ
ンズ２で光束を一旦広げてから、それを距離を置いて配
置された正レンズ３，４で収束させるため、正弦条件が
悪化し、結果として測定精度も悪くなるという問題点が
あった。
【０００４】本発明の目的はこの様な従来の問題点を解
消し、被検面より径の大きい光学系を必要とせず、また
同時に正弦条件の悪化も防ぎつつ、大口径の凸面の面形
状を高い精度で測定することのできるフィゾー型干渉計
を提供することにある。
消し、被検面より径の大きい光学系を必要とせず、また
同時に正弦条件の悪化も防ぎつつ、大口径の凸面の面形
状を高い精度で測定することのできるフィゾー型干渉計
を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、参照面と、該
参照面と同一光軸上に配置される被検面との各面からの
反射光を干渉させる干渉装置を有し、該干渉装置により
得られる干渉情報から前記被検面の面形状を測定するフ
ィゾー型干渉計において、参照面は凹面であり、干渉装
置は参照面に向けて供給される光束を参照面との間にお
いて集光する正レンズを有し、凸の被検面を正レンズに
よる集光位置と凹の参照面との間の発散光路中において
凹参照面に対向して配置する構成としたものである。
参照面と同一光軸上に配置される被検面との各面からの
反射光を干渉させる干渉装置を有し、該干渉装置により
得られる干渉情報から前記被検面の面形状を測定するフ
ィゾー型干渉計において、参照面は凹面であり、干渉装
置は参照面に向けて供給される光束を参照面との間にお
いて集光する正レンズを有し、凸の被検面を正レンズに
よる集光位置と凹の参照面との間の発散光路中において
凹参照面に対向して配置する構成としたものである。
【０００６】すなわち、凸被検面を有するレンズへの入
射光は、被検レンズ面の反対側の面から発散光束として
供給されるものである。そして、この時問題となるレン
ズの被検面でない側の面で発生する球面収差の補正のた
めに、該被検レンズに近接して補正レンズを挿入するこ
とが好ましい。
射光は、被検レンズ面の反対側の面から発散光束として
供給されるものである。そして、この時問題となるレン
ズの被検面でない側の面で発生する球面収差の補正のた
めに、該被検レンズに近接して補正レンズを挿入するこ
とが好ましい。
【０００７】
【作用】上記の如き構成に於いては、被検面である光学
レンズの凸面へ、収束光束ではなく発散光束を入射させ
るため、被検面より径の大きい光学系が不要となる。ま
た、実際上は干渉装置から供給される平行光束を一端拡
大するために必要とされた強い発散性の負レンズを設け
る必要がないため、正弦条件違反量の発生も少なくな
る。
レンズの凸面へ、収束光束ではなく発散光束を入射させ
るため、被検面より径の大きい光学系が不要となる。ま
た、実際上は干渉装置から供給される平行光束を一端拡
大するために必要とされた強い発散性の負レンズを設け
る必要がないため、正弦条件違反量の発生も少なくな
る。
【０００８】
【実施例】以下図示した実施例の構成に基づいて本発明
を説明する。図１は本発明の第１実施例の概略構成を示
す図である。干渉装置１より射出した平行光束は、収束
レンズ７により点Ｆに集光され、集光点Ｆからの発散光
束中に被検凸面Ｂを有する被検レンズ６が配置され、こ
の面で一部の光束は反射されて再び集光点Ｆにて集光さ
れた後に干渉装置１へ戻る。また被検凸面Ｂを透過した
光束は参照レンズ９の参照面としての凹面Ａで反射され
て、集光点Ｆに集光されたあと干渉装置１に戻され、被
検凸面Ｂからの反射光との干渉縞により、公知の手法に
より参照面Ａに対する被検凸面Ｂの面精度の計測がなさ
れる。
を説明する。図１は本発明の第１実施例の概略構成を示
す図である。干渉装置１より射出した平行光束は、収束
レンズ７により点Ｆに集光され、集光点Ｆからの発散光
束中に被検凸面Ｂを有する被検レンズ６が配置され、こ
の面で一部の光束は反射されて再び集光点Ｆにて集光さ
れた後に干渉装置１へ戻る。また被検凸面Ｂを透過した
光束は参照レンズ９の参照面としての凹面Ａで反射され
て、集光点Ｆに集光されたあと干渉装置１に戻され、被
検凸面Ｂからの反射光との干渉縞により、公知の手法に
より参照面Ａに対する被検凸面Ｂの面精度の計測がなさ
れる。
【０００９】ここで、収束レンズ７には非球面を設ける
ことによって容易に球面収差が補正された収束光束にす
ることができる。又、被検レンズ６の集光点Ｆ側には、
被検レンズ６に接近して補正レンズ８が配置されてお
り、この補正レンズ８は、被検レンズ６の被検凸面Ｂの
反対側面Ｃで発生する収差を補正する機能を有してい
る。より具体的には、補正レンズ８の２つのレンズ面
Ｄ，Ｅの曲率半径、及び収束レンズ７と補正レンズ８の
間隔を最適化することによって、被検レンズ６の集光点
側面Ｃで発生する球面収差を補正することができ、且つ
被検面Ｂへ光束を垂直入射させることができる。又、被
検レンズ６と参照レンズ９の間隔を最適化することによ
って、参照面Ａへ光束を垂直入射させることができる。
ことによって容易に球面収差が補正された収束光束にす
ることができる。又、被検レンズ６の集光点Ｆ側には、
被検レンズ６に接近して補正レンズ８が配置されてお
り、この補正レンズ８は、被検レンズ６の被検凸面Ｂの
反対側面Ｃで発生する収差を補正する機能を有してい
る。より具体的には、補正レンズ８の２つのレンズ面
Ｄ，Ｅの曲率半径、及び収束レンズ７と補正レンズ８の
間隔を最適化することによって、被検レンズ６の集光点
側面Ｃで発生する球面収差を補正することができ、且つ
被検面Ｂへ光束を垂直入射させることができる。又、被
検レンズ６と参照レンズ９の間隔を最適化することによ
って、参照面Ａへ光束を垂直入射させることができる。
【００１０】図２は図１の実施例に対して、さらに補正
レンズ８と被検レンズ６との間に液体１０を封入した第
２実施例の概略構成図である。補正レンズ８と被検レン
ズ６との間に液体１０を封入することによって、補正レ
ンズ８と被検レンズ６との互いに対向する面が持つパワ
ーを減少させることができ、これによって被検レンズ６
の集光点側面Ｃで発生する収差量を小さくすることがで
きるため、補正レンズ８による球面収差の補正が容易に
なる。
レンズ８と被検レンズ６との間に液体１０を封入した第
２実施例の概略構成図である。補正レンズ８と被検レン
ズ６との間に液体１０を封入することによって、補正レ
ンズ８と被検レンズ６との互いに対向する面が持つパワ
ーを減少させることができ、これによって被検レンズ６
の集光点側面Ｃで発生する収差量を小さくすることがで
きるため、補正レンズ８による球面収差の補正が容易に
なる。
【００１１】また、この第２実施例の構成において、液
体を封入した部分の収差発生量が十分に小さければ、収
束レンズ７の集光点Ｆに対して補正レンズ６の集光点側
面Ｅと被検面Ｂの３者をアプラチックな配置にすること
によって球面収差を取り除くことが可能である。図３に
示した第３実施例は、封入する液体の屈折率を補正レン
ズ８と被検レンズ６の屈折率とほぼ同一のものとするこ
とによって、被検レンズ６と補正レンズ８との対向する
面Ｄ及びＣでの屈折を無視することができる場合の構成
例である。この構成においては、補正レンズ８の集光点
Ｆ側の凹面Ｅに反射防止コートを施してこの凹面Ｅによ
る反射光が干渉縞を発生しない様にし、さらに補助レン
ズ８の凹面Ｅに光束を垂直入射させて球面収差の発生を
防止したものである。従って、補正レンズ８はその集光
点Ｆ側の面Ｅで光束が垂直入射するような形状であれば
良く、光線追跡等の計算をすることなく補助レンズ８の
曲率半径等を容易に決定することができる。
体を封入した部分の収差発生量が十分に小さければ、収
束レンズ７の集光点Ｆに対して補正レンズ６の集光点側
面Ｅと被検面Ｂの３者をアプラチックな配置にすること
によって球面収差を取り除くことが可能である。図３に
示した第３実施例は、封入する液体の屈折率を補正レン
ズ８と被検レンズ６の屈折率とほぼ同一のものとするこ
とによって、被検レンズ６と補正レンズ８との対向する
面Ｄ及びＣでの屈折を無視することができる場合の構成
例である。この構成においては、補正レンズ８の集光点
Ｆ側の凹面Ｅに反射防止コートを施してこの凹面Ｅによ
る反射光が干渉縞を発生しない様にし、さらに補助レン
ズ８の凹面Ｅに光束を垂直入射させて球面収差の発生を
防止したものである。従って、補正レンズ８はその集光
点Ｆ側の面Ｅで光束が垂直入射するような形状であれば
良く、光線追跡等の計算をすることなく補助レンズ８の
曲率半径等を容易に決定することができる。
【００１２】尚、上記の各実施例において収束レンズ７
に非球面レンズを使用したが、球面収差が補正されてい
れば球面のみからなるレンズを使用することができるこ
とはいうまでもない。また、収差補正のためには負レン
ズの使用も妨げるものではない。
に非球面レンズを使用したが、球面収差が補正されてい
れば球面のみからなるレンズを使用することができるこ
とはいうまでもない。また、収差補正のためには負レン
ズの使用も妨げるものではない。
【００１３】
【発明の効果】以上の様に本発明によれば、被検面より
口径の大きい光学系を必要とせず、干渉計が小型・安価
となる効果がある。また、従来技術の様に強いパワーの
負レンズと正レンズとを距離を置いて配置する必要がな
いので、正弦条件を悪化させることがない。このため、
光学系の配置において許容できる偏心量も大きくなり、
偏心による測定精度の悪化も防げるという効果がある。
口径の大きい光学系を必要とせず、干渉計が小型・安価
となる効果がある。また、従来技術の様に強いパワーの
負レンズと正レンズとを距離を置いて配置する必要がな
いので、正弦条件を悪化させることがない。このため、
光学系の配置において許容できる偏心量も大きくなり、
偏心による測定精度の悪化も防げるという効果がある。
【図１】本発明による第１実施例の概略構成図。
【図２】本発明による第２実施例の概略構成図。
【図３】本発明による第３実施例の概略構成図。
【図４】従来の干渉計における光学系の概略構成図。
１…干渉装置 ６…被検レンズ ７…収束レンズ ８…補正レンズ ９…参照レンズ ａ，Ａ…参照面 ｂ，Ｂ…被検凸面
Claims (3)
- 【請求項１】参照面と、該参照面と同一光軸上に配置さ
れる被検面との各面からの反射光を干渉させる干渉装置
を有し、該干渉装置により得られる干渉情報から前記被
検面の面形状を測定するフィゾー型干渉計において、前
記参照面は凹面であり、前記干渉装置は前記参照面に向
けて供給される光束を前記参照面との間において集光す
る正レンズを有し、前記被検面は前記正レンズによる集
光位置と前記凹の参照面との間の発散光路中において前
記凹参照面に対向して配置される凸面であることを特徴
とするフィゾー型干渉計。 - 【請求項２】前記被検面はレンズの凸面であり、該凸被
検面を有する被検レンズの他方の面を通過する際に生じ
る球面収差を補正するために、前記被検レンズに近接し
て配置された補正レンズを有することを特徴とする請求
項１記載のフィゾー型干渉計。 - 【請求項３】前記補正レンズと前記被検レンズとの間に
液体が封入されることを特徴とする請求項２記載のフィ
ゾー型干渉計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13545392A JP3229980B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | フィゾー型干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13545392A JP3229980B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | フィゾー型干渉計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05332715A true JPH05332715A (ja) | 1993-12-14 |
| JP3229980B2 JP3229980B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=15152070
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13545392A Expired - Fee Related JP3229980B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | フィゾー型干渉計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3229980B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6798585B2 (en) * | 2002-02-06 | 2004-09-28 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Reference lens for interferometer and interferometer that uses it |
-
1992
- 1992-05-28 JP JP13545392A patent/JP3229980B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6798585B2 (en) * | 2002-02-06 | 2004-09-28 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Reference lens for interferometer and interferometer that uses it |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3229980B2 (ja) | 2001-11-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070914 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100914 Year of fee payment: 9 |
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