JP3229980B2 - フィゾー型干渉計 - Google Patents
フィゾー型干渉計Info
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- JP3229980B2 JP3229980B2 JP13545392A JP13545392A JP3229980B2 JP 3229980 B2 JP3229980 B2 JP 3229980B2 JP 13545392 A JP13545392 A JP 13545392A JP 13545392 A JP13545392 A JP 13545392A JP 3229980 B2 JP3229980 B2 JP 3229980B2
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- Japan
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- lens
- test
- interferometer
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレンズ等の面形状を精密
に計測するための干渉計、特に大口径の高精度光学レン
ズの表面精度の測定装置に関する。
に計測するための干渉計、特に大口径の高精度光学レン
ズの表面精度の測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、フィゾー型干渉計は参照面と被検
面とを同一光軸上に配置して各面からの反射光を干渉さ
せることによって、参照面に対する被検面の差異を極め
て高い精度で計測することができる有用な手法として種
々用いられてきている。そして、フィゾー型干渉計の場
合、口径の大きな凸面の表面精度測定のためには、参照
面と被検面に光束が垂直に入射しなければならないこと
から図4に示す様な光学系の配置がとられていた。すな
わち干渉装置1からの平行光束を負レンズ2によって一
旦発散させた後、正レンズ3,4によって収斂させ、こ
の収斂光束中に参照レンズ5(フィゾーレンズ)の参照
面(フィゾー面)aを配置し、これを透過する収斂光束
を垂直反射するように被検凸面bを配置していた。
面とを同一光軸上に配置して各面からの反射光を干渉さ
せることによって、参照面に対する被検面の差異を極め
て高い精度で計測することができる有用な手法として種
々用いられてきている。そして、フィゾー型干渉計の場
合、口径の大きな凸面の表面精度測定のためには、参照
面と被検面に光束が垂直に入射しなければならないこと
から図4に示す様な光学系の配置がとられていた。すな
わち干渉装置1からの平行光束を負レンズ2によって一
旦発散させた後、正レンズ3,4によって収斂させ、こ
の収斂光束中に参照レンズ5(フィゾーレンズ)の参照
面(フィゾー面)aを配置し、これを透過する収斂光束
を垂直反射するように被検凸面bを配置していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図4か
ら明らかなように、被検凸面bよりも大きい口径の光学
系が必要となり、干渉計が大型化・高価格化してしまう
という問題点があった。具体的には、図4に示す如く、
干渉装置1からの平行光束を強く発散させるための負レ
ンズ2と、この発散光束を収斂するための正レンズ3,
4及び参照面aを有する参照レンズ5が必要であり、被
検凸面bを有する被検レンズ6の口径よりはるかに大き
な口径のレンズ系が必要であった。また、被検面bに垂
直入射する収束光をつくる際、強いパワーを持った負レ
ンズ2で光束を一旦広げてから、それを距離を置いて配
置された正レンズ3,4で収束させるため、正弦条件が
悪化し、結果として測定精度も悪くなるという問題点が
あった。
ら明らかなように、被検凸面bよりも大きい口径の光学
系が必要となり、干渉計が大型化・高価格化してしまう
という問題点があった。具体的には、図4に示す如く、
干渉装置1からの平行光束を強く発散させるための負レ
ンズ2と、この発散光束を収斂するための正レンズ3,
4及び参照面aを有する参照レンズ5が必要であり、被
検凸面bを有する被検レンズ6の口径よりはるかに大き
な口径のレンズ系が必要であった。また、被検面bに垂
直入射する収束光をつくる際、強いパワーを持った負レ
ンズ2で光束を一旦広げてから、それを距離を置いて配
置された正レンズ3,4で収束させるため、正弦条件が
悪化し、結果として測定精度も悪くなるという問題点が
あった。
【0004】本発明の目的はこの様な従来の問題点を解
消し、被検面より径の大きい光学系を必要とせず、また
同時に正弦条件の悪化も防ぎつつ、大口径の凸面の面形
状を高い精度で測定することのできるフィゾー型干渉計
を提供することにある。
消し、被検面より径の大きい光学系を必要とせず、また
同時に正弦条件の悪化も防ぎつつ、大口径の凸面の面形
状を高い精度で測定することのできるフィゾー型干渉計
を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、参照面と、参
照面と同一光軸上に配置される被検面との各面からの反
射光を干渉させる干渉装置を有し、干渉装置により得ら
れる干渉情報から被検面の面形状を測定するフィゾー型
干渉計において、参照面は凹面であり、干渉装置は光束
を参照面に向けて供給するレンズを有し、凸の被検面を
レンズと凹面の参照面との間の発散光路中に、凹参照面
に対向して配置する構成としたものである。
照面と同一光軸上に配置される被検面との各面からの反
射光を干渉させる干渉装置を有し、干渉装置により得ら
れる干渉情報から被検面の面形状を測定するフィゾー型
干渉計において、参照面は凹面であり、干渉装置は光束
を参照面に向けて供給するレンズを有し、凸の被検面を
レンズと凹面の参照面との間の発散光路中に、凹参照面
に対向して配置する構成としたものである。
【0006】すなわち、凸被検面を有するレンズへの入
射光は、被検レンズ面の反対側の面から発散光束として
供給されるものである。そして、この時問題となるレン
ズの被検面でない側の面で発生する球面収差の補正のた
めに、該被検レンズに近接して補正レンズを挿入するこ
とが好ましい。
射光は、被検レンズ面の反対側の面から発散光束として
供給されるものである。そして、この時問題となるレン
ズの被検面でない側の面で発生する球面収差の補正のた
めに、該被検レンズに近接して補正レンズを挿入するこ
とが好ましい。
【0007】
【作用】上記の如き構成に於いては、被検面である光学
レンズの凸面へ、収束光束ではなく発散光束を入射させ
るため、被検面より径の大きい光学系が不要となる。ま
た、実際上は干渉装置から供給される平行光束を一端拡
大するために必要とされた強い発散性の負レンズを設け
る必要がないため、正弦条件違反量の発生も少なくな
る。
レンズの凸面へ、収束光束ではなく発散光束を入射させ
るため、被検面より径の大きい光学系が不要となる。ま
た、実際上は干渉装置から供給される平行光束を一端拡
大するために必要とされた強い発散性の負レンズを設け
る必要がないため、正弦条件違反量の発生も少なくな
る。
【0008】
【実施例】以下図示した実施例の構成に基づいて本発明
を説明する。図1は本発明の第1実施例の概略構成を示
す図である。干渉装置1より射出した平行光束は、収束
レンズ7により点Fに集光され、集光点Fからの発散光
束中に被検凸面Bを有する被検レンズ6が配置され、こ
の面で一部の光束は反射されて再び集光点Fにて集光さ
れた後に干渉装置1へ戻る。また被検凸面Bを透過した
光束は参照レンズ9の参照面としての凹面Aで反射され
て、集光点Fに集光されたあと干渉装置1に戻され、被
検凸面Bからの反射光との干渉縞により、公知の手法に
より参照面Aに対する被検凸面Bの面精度の計測がなさ
れる。
を説明する。図1は本発明の第1実施例の概略構成を示
す図である。干渉装置1より射出した平行光束は、収束
レンズ7により点Fに集光され、集光点Fからの発散光
束中に被検凸面Bを有する被検レンズ6が配置され、こ
の面で一部の光束は反射されて再び集光点Fにて集光さ
れた後に干渉装置1へ戻る。また被検凸面Bを透過した
光束は参照レンズ9の参照面としての凹面Aで反射され
て、集光点Fに集光されたあと干渉装置1に戻され、被
検凸面Bからの反射光との干渉縞により、公知の手法に
より参照面Aに対する被検凸面Bの面精度の計測がなさ
れる。
【0009】ここで、収束レンズ7には非球面を設ける
ことによって容易に球面収差が補正された収束光束にす
ることができる。又、被検レンズ6の集光点F側には、
被検レンズ6に接近して補正レンズ8が配置されてお
り、この補正レンズ8は、被検レンズ6の被検凸面Bの
反対側面Cで発生する収差を補正する機能を有してい
る。より具体的には、補正レンズ8の2つのレンズ面
D,Eの曲率半径、及び収束レンズ7と補正レンズ8の
間隔を最適化することによって、被検レンズ6の集光点
側面Cで発生する球面収差を補正することができ、且つ
被検面Bへ光束を垂直入射させることができる。又、被
検レンズ6と参照レンズ9の間隔を最適化することによ
って、参照面Aへ光束を垂直入射させることができる。
ことによって容易に球面収差が補正された収束光束にす
ることができる。又、被検レンズ6の集光点F側には、
被検レンズ6に接近して補正レンズ8が配置されてお
り、この補正レンズ8は、被検レンズ6の被検凸面Bの
反対側面Cで発生する収差を補正する機能を有してい
る。より具体的には、補正レンズ8の2つのレンズ面
D,Eの曲率半径、及び収束レンズ7と補正レンズ8の
間隔を最適化することによって、被検レンズ6の集光点
側面Cで発生する球面収差を補正することができ、且つ
被検面Bへ光束を垂直入射させることができる。又、被
検レンズ6と参照レンズ9の間隔を最適化することによ
って、参照面Aへ光束を垂直入射させることができる。
【0010】図2は図1の実施例に対して、さらに補正
レンズ8と被検レンズ6との間に液体10を封入した第
2実施例の概略構成図である。補正レンズ8と被検レン
ズ6との間に液体10を封入することによって、補正レ
ンズ8と被検レンズ6との互いに対向する面が持つパワ
ーを減少させることができ、これによって被検レンズ6
の集光点側面Cで発生する収差量を小さくすることがで
きるため、補正レンズ8による球面収差の補正が容易に
なる。
レンズ8と被検レンズ6との間に液体10を封入した第
2実施例の概略構成図である。補正レンズ8と被検レン
ズ6との間に液体10を封入することによって、補正レ
ンズ8と被検レンズ6との互いに対向する面が持つパワ
ーを減少させることができ、これによって被検レンズ6
の集光点側面Cで発生する収差量を小さくすることがで
きるため、補正レンズ8による球面収差の補正が容易に
なる。
【0011】また、この第2実施例の構成において、液
体を封入した部分の収差発生量が十分に小さければ、収
束レンズ7の集光点Fに対して補正レンズ6の集光点側
面Eと被検面Bの3者をアプラチックな配置にすること
によって球面収差を取り除くことが可能である。図3に
示した第3実施例は、封入する液体の屈折率を補正レン
ズ8と被検レンズ6の屈折率とほぼ同一のものとするこ
とによって、被検レンズ6と補正レンズ8との対向する
面D及びCでの屈折を無視することができる場合の構成
例である。この構成においては、補正レンズ8の集光点
F側の凹面Eに反射防止コートを施してこの凹面Eによ
る反射光が干渉縞を発生しない様にし、さらに補助レン
ズ8の凹面Eに光束を垂直入射させて球面収差の発生を
防止したものである。従って、補正レンズ8はその集光
点F側の面Eで光束が垂直入射するような形状であれば
良く、光線追跡等の計算をすることなく補助レンズ8の
曲率半径等を容易に決定することができる。
体を封入した部分の収差発生量が十分に小さければ、収
束レンズ7の集光点Fに対して補正レンズ6の集光点側
面Eと被検面Bの3者をアプラチックな配置にすること
によって球面収差を取り除くことが可能である。図3に
示した第3実施例は、封入する液体の屈折率を補正レン
ズ8と被検レンズ6の屈折率とほぼ同一のものとするこ
とによって、被検レンズ6と補正レンズ8との対向する
面D及びCでの屈折を無視することができる場合の構成
例である。この構成においては、補正レンズ8の集光点
F側の凹面Eに反射防止コートを施してこの凹面Eによ
る反射光が干渉縞を発生しない様にし、さらに補助レン
ズ8の凹面Eに光束を垂直入射させて球面収差の発生を
防止したものである。従って、補正レンズ8はその集光
点F側の面Eで光束が垂直入射するような形状であれば
良く、光線追跡等の計算をすることなく補助レンズ8の
曲率半径等を容易に決定することができる。
【0012】尚、上記の各実施例において収束レンズ7
に非球面レンズを使用したが、球面収差が補正されてい
れば球面のみからなるレンズを使用することができるこ
とはいうまでもない。また、収差補正のためには負レン
ズの使用も妨げるものではない。
に非球面レンズを使用したが、球面収差が補正されてい
れば球面のみからなるレンズを使用することができるこ
とはいうまでもない。また、収差補正のためには負レン
ズの使用も妨げるものではない。
【0013】
【発明の効果】以上の様に本発明によれば、被検面より
口径の大きい光学系を必要とせず、干渉計が小型・安価
となる効果がある。また、従来技術の様に強いパワーの
負レンズと正レンズとを距離を置いて配置する必要がな
いので、正弦条件を悪化させることがない。このため、
光学系の配置において許容できる偏心量も大きくなり、
偏心による測定精度の悪化も防げるという効果がある。
口径の大きい光学系を必要とせず、干渉計が小型・安価
となる効果がある。また、従来技術の様に強いパワーの
負レンズと正レンズとを距離を置いて配置する必要がな
いので、正弦条件を悪化させることがない。このため、
光学系の配置において許容できる偏心量も大きくなり、
偏心による測定精度の悪化も防げるという効果がある。
【図1】本発明による第1実施例の概略構成図。
【図2】本発明による第2実施例の概略構成図。
【図3】本発明による第3実施例の概略構成図。
【図4】従来の干渉計における光学系の概略構成図。
1…干渉装置 6…被検レンズ 7…収束レンズ 8…補正レンズ 9…参照レンズ a,A…参照面 b,B…被検凸面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 9/00 - 11/30 102 G01M 11/00 - 11/08
Claims (2)
- 【請求項1】参照面と、該参照面と同一光軸上に配置さ
れる被検面との各面からの反射光を干渉させる干渉装置
を有し、該干渉装置により得られる干渉情報から前記被
検面の面形状を測定するフィゾー型干渉計において、 前記参照面は、凹面であり、 前記干渉装置は、光束を前記凹面の参照面に向けて供給
するレンズを有し、 前記被検面は、前記レンズと前記凹面の参照面との間の
発散光路中に、前記凹面の参照面に対向して配置される
凸面である、ことを特徴とするフィゾー型干渉計。 - 【請求項2】前記被検面は、被検レンズの凸面であり、 該凸被検面を有する被検レンズの他方の面を通過する際
に生じる球面収差を補正するために、前記被検レンズに
近接して配置された補正レンズを有することを特徴とす
る請求項1記載のフィゾー型干渉計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13545392A JP3229980B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | フィゾー型干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13545392A JP3229980B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | フィゾー型干渉計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05332715A JPH05332715A (ja) | 1993-12-14 |
JP3229980B2 true JP3229980B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=15152070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13545392A Expired - Fee Related JP3229980B2 (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | フィゾー型干渉計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3229980B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4094301B2 (ja) * | 2002-02-06 | 2008-06-04 | フジノン株式会社 | 干渉計用基準レンズ |
-
1992
- 1992-05-28 JP JP13545392A patent/JP3229980B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05332715A (ja) | 1993-12-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070914 Year of fee payment: 6 |
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