JPH053222A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH053222A
JPH053222A JP3181966A JP18196691A JPH053222A JP H053222 A JPH053222 A JP H053222A JP 3181966 A JP3181966 A JP 3181966A JP 18196691 A JP18196691 A JP 18196691A JP H053222 A JPH053222 A JP H053222A
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JP
Japan
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power supply
ground
lead
electrodes
leads
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Pending
Application number
JP3181966A
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English (en)
Inventor
Tomonori Nishino
友規 西野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH053222A publication Critical patent/JPH053222A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/79Apparatus for Tape Automated Bonding [TAB]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/50Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂封止型半導体装置において、電源電圧供
給経路の抵抗を小さくして耐ノイズ性を高める。 【構成】 一方の面に接地用リード、電源用リード及び
信号用リードがあり、他方の面に電源用プレーンと接地
用プレーンがある多層TABテープを用いて電極の取り
出しを行い、外部リードからの電源電圧を上記両プレー
ン経由でチップの各電源用、接地用の電極対に印加する
ようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置、特にTA
Bテープを用いた半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置においては、半導体素子の大
チップ化、高集積化、薄型化が要求され、それに応える
べく電極の取り出しにTABテープを用いることが試み
られている。
【0003】ところで、TABテープを利用した従来の
半導体装置は、ポリイミドテープ上に銅箔からなるリー
ドを形成し該リードの表面にメッキを施した単層のTA
Bテープを用い、該リードの内端部を半導体素子の電極
に金バンプ等の突起電極を介して電気的及び機械的に接
続し、外端部を外部リードに接続したものであった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の単層のTABテープを使用した半導体装置によれ
ば、半導体素子の大チップ化、高集積化の要請に応える
のに限界があった。というのは、半導体素子の大チップ
化、高集積化に伴って半導体素子の電極数が増え、多く
の電極に支障なくリードを接続するようにすることは配
線が単層のTABテープでは非常に難しいからである。
特に電源用電極、接地用電極を増加すると難しさが倍増
する。この点について説明すると次のとおりである。
【0005】即ち、半導体素子の大型化、多素子化に伴
って信号伝送用電極の数が増えると電源用電極、接地用
電極も増やさなければならなくなる。というのは、大型
化した半導体チップのどの部分にも細くて薄い配線膜を
介して安定した電源電圧を供給することは難しく、電源
用電極、接地用電極と近いところと遠いところでは電源
電圧に微妙な差異が生じる可能性があるからである。特
に、複数の信号線において同時に信号がオン(レベルア
ップ)/オフ(レベルダウン)した場合には、電源電圧
のバウンスが生じ、ノイズが発生する。これは電源ライ
ン、接地ラインのインピーダンスが高くなる程激しさを
増す。しかも、TABテープのリードの配置ピッチを微
細にすると配線抵抗が大きくなるし、また、加工精度を
越えて配置ピッチを小さくすることは不可能であり、こ
のことも電極増加を阻む要因となる。
【0006】そこで、本発明はTABテープを利用しつ
つ半導体素子の大チップ化、高集積化の要請に応えるべ
く多くの電源用電極、接地用電極及び信号伝送用電極を
設けた半導体素子の耐ノイズ性を高めることを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明半導体装置は、T
ABテープとして多層配線構造であって一つの層に接地
用、電源用、信号用の各リードを設け、他の層に電源用
プレーン及び接地用プレーンを設けたものを用い、電源
用プレーンと各電源用リードとの間及び接地用プレーン
と各接地用リードとの間をスルーホールを介して接続
し、外部からの電源電位、接地電位を電源用プレーン、
接地用プレーン及び各電源用リード、接地用リードを介
して半導体素子の複数の電源電極及び接地電極に伝達す
るようにしたことを特徴とする。
【0008】
【実施例】以下、本発明半導体装置を図示実施例に従っ
て詳細に説明する。図1(A)、(B)、図2及び図3
は本発明半導体装置の第1の実施例を示すもので、
(A)は封止樹脂の半導体素子よりも上側の部分を切欠
いて示す平面図、(B)は半導体素子の電源電極とTA
Bテープの電源用リードとの接続を示す断面図であり、
また、図2は半導体装置の断面図であり、図3はTAB
テープのみを裏返しにして示す半導体素子とTABテー
プの分解斜視図である。
【0009】図面において、1は半導体素子、2d、2
s、2は半導体素子1の電極であり、そのうち2dは電
源電位(例えばVdd)を受ける電源電極、2sは接地
電位(例えばVss)を受ける接地電極、2は信号用電
極である。電源電極2d及び接地電極2sは共に複数個
形成されている。3はポリイミド樹脂(あるいは低誘電
率のフッ素系樹脂)からなるフィルム(厚さ20〜30
μm)で、半導体素子1の表面を保護し且つ後述するT
ABテープのリードとの間を絶縁する。該フィルム3に
は半導体素子1の各電極2d、2s、2が形成されたと
ころと対応した各位置毎に電極2、2dあるいは2sを
逃げる窓4が形成されている。
【0010】該窓4は選択的エッチングにより形成され
ており、この内側面の傾斜角度は15〜30度程度であ
る。該窓4の形成は該フィルム3の半導体素子1表面へ
の接着後に行っても良いし、接着前に行っても良い。
尚、フィルム3を低誘電率フッ素系樹脂で形成した場合
にはTABテープのリード、プレーンと半導体素子との
間に生じる寄生容量を小さくすることができる。
【0011】5はTABテープで、例えばポリイミドか
らなる平面形状矩形状のベース6の両主面に例えば銅箔
からなる配線が形成された二層配線構造を有している。
具体的には、該TABテープ5の下面には電源用リード
7d、接地用リード7s及び信号用リード7が形成され
ており、上面には拡がりを持ち(即ち、面積が広く)従
って抵抗の小さな電源用プレーン8d及び接地用プレー
ン8sが形成されている。そして、電源用リード7dと
各電源用プレーン8dとの間及び接地用リード7sと各
接地用プレーン8sとの間はそれぞれスルーホール(バ
イアホール)により電気的に接続されている。10はベ
ース6の略中央に存在するスリット状の窓である。
【0012】各信号用リード7は矩形のベース6の下面
にそれをよぎるように形成され、窓10内に食み出した
インナーリード部分がそれぞれ例えば金からなるバンプ
11を介して対応する、半導体素子1の電極2とボンデ
ィングされ、ベース6から外側に食み出したアウターリ
ード部分が、リードフレームのリードのインナーリード
部分に接続されている。
【0013】電源用リード7d、接地用リード7sはそ
れぞれ一端がスルーホール9を介して電源用プレーン8
d、接地用プレーン8sに接続され、他端が外部リード
12d、12sに、あるいはバンプ11を介して半導体
素子1の電源電極2d、接地電極2sに接続されてい
る。即ち、12dは電源用外部リードであり、電源電位
Vddを受け、この電源電位Vddは電源用リード7s
及びスルーホール9を介して拡がりのある広面積の電源
用プレーン8dに伝達され、そして、該電源用プレーン
8dから多数のスルーホール9及び電源用リード7dを
介して半導体素子1の多数の電源電極2dにパラレル的
に伝達されるようになっている。
【0014】12sは接地用外部リードであり、接地電
位Vssを受ける。この接地電位Vss電源電位Vdd
の場合と同様に接地用リード7d及びスルーホール9を
介して拡がりの大きな接地用プレーン8sに伝達され、
そして接地用プレーン8sから多数のスルーホール9及
び接地用リード7sを介して半導体素子1の多数の接地
電極2sにパラレル的に伝達されるようになっている。
【0015】尚、TABテープ5と半導体素子1上のフ
ィルム3とは、例えばTABテープ5の裏面(下面)に
感光性ソルダーレジスト膜を塗布し、該レジスト膜上に
熱可塑性樹脂を塗布して該TABテープ5を半導体素子
1に熱圧着することにより接着する。13は封止樹脂で
ある。
【0016】本半導体装置は、電源電圧を二対の外部リ
ード12d・12s、12d・12sを通して受け(一
対の外部リードにより受けるものにしても良い)、その
受けた電源電圧を一旦TABテープ5上面の電源用プレ
ーン8s、8dに伝達し、そして、該電源用プレーン8
s、8dからTABテープ5下面の複数の電源用リード
7d、7d、…、接地用リード7d、7s、…を通して
半導体素子1の複数対の電源電極2d・接地電極2sに
パラレルに伝達される。従って、電源電圧供給経路は電
源電位側も接地電位側も著しく他インピーダンス化で
き、電源電圧のバウンスによるノイズの発生を少なくで
き、延いてはノイズによる誤動作をなくすことができ
る。そして、半導体チップの電源電極、接地電極の数を
増やしても電源用外部リード、接地用外部リードは増や
すことは必要でなく、外部リードの増加を伴うことなく
耐ノイズ性を高めることができる。
【0017】また、TABテープ5、特にその電源用プ
レーン8d、接地用プレーン8sが半導体素子1の表面
上方に位置し、半導体素子1の表面部への外部からの光
の入射を阻むので、半導体素子1表面部の寄生フォトト
ランジスタ、寄生フォトダイオードが外部からの光によ
って光電流が流れてリーク電流が多くなるという問題が
回避できる。即ち、TABテープにより耐光性を高める
ことができる。
【0018】図4(A)、(B)は本発明半導体装置の
他の実施例を示すもので、(A)は外部リード接続前
(従って樹脂封止前でもある)の状態を示す平面図、
(B)は同じく断面図である。本実施例は、TABテー
プ5の下面の信号用リード7・7間にクロストーク防止
用のリード14を設け、信号用リード7・7間のクロス
トークを防止するようにしたものであり、各クロストー
ク防止用リード14はスルーホール9を介して接地用プ
レーン8sに接続されている。
【0019】このような半導体装置によれば、耐クロス
トーク性をより高めることができる。尚、本半導体装置
は図1乃至図4に示す半導体装置とはTABテープ5に
クロストーク防止用リード14を設けた点以外では同じ
であり、耐クロストーク性を高めることもできる点以外
では奏する効果は全く同じである。
【0020】図5は本発明半導体装置の更に別の実施例
を示すところの外部リード接続前(従って樹脂封止前で
もある)の状態を示す平面図である。本実施例は、本発
明をQFPタイプの半導体装置に適用した例を示すもの
である。本半導体装置のTABテープは、上面の接地用
プレーン8sが周縁部と中央部に設けられ、中央部の接
地用プレーン8sのすぐ外側に電源用プレーン8dが設
けられ、該電源用プレーン8dと周縁部の接地用プレー
ン8sとの間に電極2、2d、2sを開口させる窓10
が形成されている。
【0021】尚、本発明半導体装置において、電源用外
部リード2d、接地用外部リード2sと電源用プレーン
8d、接地用プレーン8sとの間の電気的接続は、TA
Bテープ5自身のスルーホール9を通して行うようして
も良いことは言うまでもないが、それとは別の方法とし
て、電源用リード7d、接地用リード7sにより一旦半
導体素子1の電源電極2d、接地電極2sに電源電位、
接地電位を伝達し、該電源電極2d、接地電極2sから
その一つの隣りの電極2d、2sに例えばアルミニウム
配線を介して伝達し、該電極2d、2sから電源用リー
ド7d、7s及びTABテープ5のスルーホール9を介
して電源用プレーン2d、2sに伝送する方法もある。
図5中の矢印はその電位Vddの供給経路を一つ例示す
るものである。
【0022】
【発明の効果】本発明半導体装置は、TABテープのイ
ンナーリードを半導体素子の電極に接続した半導体装置
において、上記TABテープが多層配線構造を有し、該
TABテープの一つの層として半導体素子の複数の電源
電極に電源電位を与える複数の電源用リード、半導体素
子の複数の接地電極に接地電位を与える複数の接地用リ
ード及び外部と半導体素子の信号用電極との間で信号の
伝送をする信号用リードが形成され、該TABテープの
別の層として電源用プレーン及び接地用プレーンが形成
され、上記電源用プレーンと上記各電源用リードとの間
及び上記接地用プレーンと上記各接地用リードとの間そ
れぞれに電位伝達用のスルーホールが形成されたことを
特徴とするものである。従って、本発明半導体装置によ
れば、電源電位、接地電位を電源用プレーン、接地用プ
レーンに与え、更に該電源用プレーン、接地用プレーン
から複数の電源電位電極、接地電位電極にパラレルに伝
達することができ、電源電圧供給経路のインピーダンス
を低くすることができる。従って、複数箇所における信
号の同時オン(レベルアップ)/オフ(レベルダウン)
により電源電位、接地電位が変動して生じるノイズを小
さくすることができ、延いてはノイズによる誤作動を生
じにくくできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図(A)、(B)は本発明半導体装置の一つの
実施例を示すもので、(A)は樹脂の半導体素子よりも
上側の部分を切欠いて示す平面図、(B)は電極とTA
Bテープのリードの接続を示す断面図である。
【図2】上記実施例の断面図である。
【図3】上記実施例のTABテープのみを裏返しにして
示す半導体素子とTABテープの分解斜視図である。
【図4】(A)、(B)は本発明半導体装置の他の実施
例を示すもので、(A)は外部リード接続前の状態の平
面図、(B)は断面図である。
【図5】本発明半導体装置の更に他の実施例を示す外部
リード接続前の状態の平面図である。
【符号の説明】
1 半導体素子 2 電極 2d 電源電極 2s 接地電極 5 TABテープ 7 信号用リード 7d 電源用リード 7s 接地用リード 8d 電源用プレーン 8s 接地用プレーン 9 スルーホール
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成3年11月21日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0014
【補正方法】変更
【補正内容】
【0014】12sは接地用外部リードであり、接地電
位Vssを受ける。この接地電位Vss電源電位Vd
dの場合と同様に接地用リード7d及びスルーホール9
を介して拡がりの大きな接地用プレーン8sに伝達さ
れ、そして接地用プレーン8sから多数のスルーホール
9及び接地用リード7sを介して半導体素子1の多数の
接地電極2sにパラレル的に伝達されるようになってい
る。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0016
【補正方法】変更
【補正内容】
【0016】本半導体装置は、電源電圧を二対の外部リ
ード12d・12s、12d・12sを通して受け(一
対の外部リードにより受けるものにしても良い)、その
受けた電源電圧を一旦TABテープ5上面の電源用プレ
ーン8s、8dに伝達し、そして、該電源用プレーン8
s、8dからTABテープ5下面の複数の電源用リード
7d、7d、…、接地用リード7d、7s、…を通して
半導体素子1の複数対の電源電極2d・接地電極2sに
パラレルに伝達される。従って、電源電圧供給経路は電
源電位側も接地電位側も著しくインピーダンス化で
き、電源電圧のバウンスによるノイズの発生を少なくで
き、延いてはノイズによる誤動作をなくすことができ
る。そして、半導体チップの電源電極、接地電極の数を
増やしても電源用外部リード、接地用外部リードは増や
すことは必要でなく、外部リードの増加を伴うことなく
耐ノイズ性を高めることができる。
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 TABテープのインナーリードを半導体
    素子の電極に接続した半導体装置において、上記TAB
    テープが多層配線構造を有し、上記TABテープの一つ
    の層として半導体素子の複数の電源電極に電源電位を与
    える複数の電源用リード、半導体素子の複数の接地電極
    に接地電位を与える複数の接地用リード及び外部と半導
    体素子の信号用電極との間で信号の伝送をする信号用リ
    ードが形成され、上記TABテープの別の層として電源
    用プレーン及び接地用プレーンが形成され、上記電源用
    プレーンと上記各電源用リードとの間及び上記接地用プ
    レーンと上記各接地用リードとの間それぞれに電位伝達
    用のスルーホールが形成されたことを特徴とする半導体
    装置
JP3181966A 1991-06-25 1991-06-25 半導体装置 Pending JPH053222A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3181966A JPH053222A (ja) 1991-06-25 1991-06-25 半導体装置

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JP3181966A JPH053222A (ja) 1991-06-25 1991-06-25 半導体装置

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ID=16109983

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JP (1) JPH053222A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005347488A (ja) * 2004-06-02 2005-12-15 Fujitsu Ltd 半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005347488A (ja) * 2004-06-02 2005-12-15 Fujitsu Ltd 半導体装置

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