JPH05315433A - ウェハホルダ - Google Patents

ウェハホルダ

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Publication number
JPH05315433A
JPH05315433A JP12153092A JP12153092A JPH05315433A JP H05315433 A JPH05315433 A JP H05315433A JP 12153092 A JP12153092 A JP 12153092A JP 12153092 A JP12153092 A JP 12153092A JP H05315433 A JPH05315433 A JP H05315433A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
piezoelectric element
vibration
pawl
claws
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP12153092A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Ueno
和彦 上野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05315433A publication Critical patent/JPH05315433A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】爪2,3へウェハを正しく移載することが出来
る。 【構成】互いに離間して配置される台座4及び5に固定
されウェハ1を載せる爪2及び3と、これら爪2及び3
に取付けられる振動子である圧電素子7及び8と、いず
れかの圧電素子7に電気を供給する交流電源9と、他の
爪3の圧電素子8の振動を検知する電圧計10と、台座
4及び台座5との間に接触することなく配置されるとと
もに前記検知電圧を有無によって上昇してウェハ1を支
持するウェハキャッチャ6を備えている。ウェハ1がウ
ェハホルダに正しく移載されると、交流電源9から交流
電圧が印加されている圧電素子7の振動が爪2及びウェ
ハ1を介して爪3の圧電素子8に振動が伝わり、この振
動が圧電素子8と接続される電圧計10に電気信号とし
て計測される。ウェハ1が載置されないとき及びウェハ
1が正しく載置されないときは、振動は伝わることなく
電気信号は得られない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造装置
における半導体基板であるウェハを保持するウェハホル
ダに関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のウェハホルダの一例を示す
断面図である。従来のウェハホルダは、図2に示すよう
に、ウェハ1を載せる爪2及び爪3と、これら爪2及び
爪3を固定する台座4と、ウェハ1の有無を検知する透
過型の光ファイバセンサの投光器11及び受光器12を
有している。
【0003】次に、動作について説明する。ウェハ1が
無いときは、光ファイバセンサの投光器11から発せら
れる光は受光器12に入射する。また、ウェハ1がウェ
ハホルダへ運ばれて爪2及び爪3の上に載ると、光ファ
イバセンサの投光器11から発せられる光はウェハ1に
てカットされるので受光器12に入射しない。このよう
な投光器11からの光が受光器12へ入射するか否かで
ウェハ1の有無を認識していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来のウェハホル
ダでは、光ファイバセンサにてウェハの有無のみを認識
しているものの、爪へウェハが正しく移載されたかどう
かを認識することは困難であった。このため、爪の一方
にしかウェハが載っていないにも拘らず、センサが積載
を検知し、ウェハを他に移載するためのウェハフォーク
が移動し、ウェハにフォークが当り、ウェハを割った
り、傷つけるような問題があった。
【0005】本発明の目的は、このような問題を解決す
るためになされたもので、ウェハを正しく載置出来るウ
ェハホルダを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の第1のウェハホ
ルダは、互いに接触することなく配置される複数の台座
と、これら台座に取付けられるとともにウェハを載せる
複数の爪と、これら複数の爪に接続される振動子と、こ
れら振動子のいずれかに接続される振動供給源と、他の
爪に接続される振動検知器とを備えている。また第2の
ウェハホルダは、第1のウェハホルダに加えて前記台座
間に接触することなく配置されるとともに前記振動検知
器の振動の検知の有無によって上昇動作して前記ウェハ
を支持するウェハキャッチャを備えている。
【0007】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
【0008】図1は本発明の一実施例を示すウェハホル
ダの断面図である。このウェハホルダは、図1に示すよ
うに、互いに離間して配置される台座4及び5と、これ
ら台座4及び5に固定されウェハ1を載せる爪2及び3
と、これら爪2及び3に取付けられる振動子である圧電
素子7及び8と、いずれかの圧電素子7に電気を供給す
る交流電源9と、他の圧電素子8の印加電圧を測定する
電圧計10と、爪2及び3の間に接触せずに配置される
とともに圧電素子8の検知電圧を有無により上昇したウ
ェハを支持する独立ウェハキャッチャ6を備えている。
【0009】次に、このウェハホルダの動作を説明す
る。まず、ウェハ1がウェハホルダの爪2と爪3に正し
く移載される場合は、交流電源9から交流電圧が印加さ
れている圧電素子7の振動が爪2を介してウェハ1へ伝
わる。そしてウェハ1の振動は相対する爪3の圧電素子
8に伝わり、この振動が圧電素子8と電気接続される電
圧計10に電気信号として計測される。この電気信号が
正しく移載されたことを確認する検知信号である。次
に、ウェハ1の移載が失敗した場合、すなわち、例えば
爪2または爪3のどちらか一方にしかウェハが載らない
場合は、前述のように電気信号は得られず、この検知信
号のないことを確認し、ウェハキャッチャ6が上昇し、
ウェハ1を支持する。台座4及び5並びにウェハキャッ
チャ6を互いに接触しないように離間して配置し圧電素
子7が発している振動は他方の圧電素子8には伝わらな
いようにしたことである。勿論、電圧計10には電気信
号としての電圧は計測されない。また、ウェハ1がウェ
ハホルダに無い場合も、圧電素子7の振動は他方の圧電
素子8へ伝わらない。
【0010】このように圧電素子7からの振動が他方の
圧電素子8へ伝わるか否かを検知し、ウェハ1の移載状
態、つまり爪2と爪3にウェハ1が正しく載っているか
否か及びウェハ1の有無を認識し、ウェハの正しい移載
ができる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、互いに離
間してウェハを支持する爪を複数個配置し、これらの爪
のそれぞれに振動子を取付け、一つの爪の振動子の振動
がウェハを介して他の爪に伝わるか否かでウェハが正し
く載っているか否かを検知することが出来るので、ウェ
ハを正しく載置できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すウェハホルダの断面図
である。
【図2】従来の一例を示すウェハホルダの断面図であ
る。
【符号の説明】
1 ウェハ 2,3 爪 4,5 台座 6 ウェハキャッチャ 7,8 圧電素子 9 交流電源 10 電圧計 11 投光器 12 受光器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに接触することなく配置される複数
    の台座と、これら台座に取付けられるとともにウェハを
    載せる複数の爪と、これら複数の爪に接続される振動子
    と、これら振動子のいずれかに接続される振動供給源
    と、他の爪に接続される振動検知器とを備えることを特
    徴とするウェハホルダ。
  2. 【請求項2】 前記台座間に接触することなく配置され
    るとともに前記振動検知器の振動の検知の有無によって
    上昇動作して前記ウェハを支持するウェハキャッチャを
    備えることを特徴とするウェハホルダ。
JP12153092A 1992-05-14 1992-05-14 ウェハホルダ Withdrawn JPH05315433A (ja)

Priority Applications (1)

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JP12153092A JPH05315433A (ja) 1992-05-14 1992-05-14 ウェハホルダ

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JP12153092A JPH05315433A (ja) 1992-05-14 1992-05-14 ウェハホルダ

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Publication Number Publication Date
JPH05315433A true JPH05315433A (ja) 1993-11-26

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ID=14813520

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JP12153092A Withdrawn JPH05315433A (ja) 1992-05-14 1992-05-14 ウェハホルダ

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1023645A4 (en) * 1997-10-10 2004-12-22 Applied Komatsu Technology Inc METHODS AND SYSTEMS FOR PROCESSING AUTOMATED SUBSTRATES
WO2008110746A3 (en) * 2007-03-14 2008-10-30 Metryx Ltd Measuring apparatus
JP2010188500A (ja) * 2009-02-20 2010-09-02 Ihi Corp ワークの取付け状態確認方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1023645A4 (en) * 1997-10-10 2004-12-22 Applied Komatsu Technology Inc METHODS AND SYSTEMS FOR PROCESSING AUTOMATED SUBSTRATES
JP2009152575A (ja) * 1997-10-10 2009-07-09 Akt Kk 自動基板処理システム及び方法
WO2008110746A3 (en) * 2007-03-14 2008-10-30 Metryx Ltd Measuring apparatus
US8200353B2 (en) 2007-03-14 2012-06-12 Metryx Limited Measuring apparatus
JP2010188500A (ja) * 2009-02-20 2010-09-02 Ihi Corp ワークの取付け状態確認方法

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Effective date: 19990803