JPH0530778U - 故障ｌｓｉ検出システム - Google Patents

故障ｌｓｉ検出システム

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Publication number
JPH0530778U
JPH0530778U JP8847691U JP8847691U JPH0530778U JP H0530778 U JPH0530778 U JP H0530778U JP 8847691 U JP8847691 U JP 8847691U JP 8847691 U JP8847691 U JP 8847691U JP H0530778 U JPH0530778 U JP H0530778U
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JP
Japan
Prior art keywords
lsi
test pattern
lsis
output
detection system
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Pending
Application number
JP8847691U
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Inventor
秀二 岡田
健 樋山
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 互いに縦続接続構成の複数ＬＳＩのうち故障
ＬＳＩを測定器を用いずに、容易に速く検出する。 【構成】 各ＬＳＩ１Ａ〜１Ｃ内にバイパス手段６Ａ〜
６Ｃ，５Ａ〜５Ｃを設ける。故障検出のためのＬＳＩ１
Ｂを除く他のＬＳＩ１Ａ，１Ｃのバイパスを行い、最前
段ＬＳＩ１Ａよりテストパターン発生器２からテストパ
ターンを印加する。そのときの最終段ＬＳＩ１Ｃからの
出力パターンと期待値パターンとをテストパターン照合
器３で比較照合する。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【技術分野】
本考案は故障ＬＳＩ検出システムに関し、特に互いに縦続接続された複数のＬ ＳＩの各々の故障を検出する方式に関する。
【０００２】
【従来技術】
プリント基板上において、互いに縦続接続されて搭載された複数のＬＳＩの故 障を検出する場合、オシロスコープ等の測定器のプローブを用いて、最前段から 順次、各ＬＳＩのピンに対して、１ピンづつ検査し、その波形を観測するように なっている。
【０００３】 この様な従来方式では最前段から順次ＬＳＩの各ピンの波形を観測するもので あるから、ＬＳＩ個数が多いプリント基板を有する回路装置では、多大な手間が かかるという問題がある。
【０００４】
【考案の目的】
本考案の目的は、互いに縦続接続された複数のＬＳＩの故障をオシロスコープ 等の特別な観測器を用いずに、容易にかつ正確に検出することができる故障ＬＳ Ｉ検出システムを提供することである。
【０００５】
【考案の構成】
本考案による故障ＬＳＩ検出システムは、各々の内部において内部回路をバイ パスするためのバイパス手段を有し、互いに縦続接続された複数のＬＳＩと、こ れ等各ＬＳＩに対応したテストパターンを発生するテストパターン発生手段と、 前記ＬＳＩの一つを除く残余のＬＳＩ内のバイパス手段を活性化し、前記ＬＳＩ の一つに対応したテストパターンを、縦続接続された最前段のＬＳＩへ印加する 手段と、最終段のＬＳＩの出力から得られる出力パターンと期待値とを比較する テストパターン照合手段とを含む構成となっている。
【０００６】
【実施例】
以下、図面を用いて本考案の実施例を説明する。
【０００７】 図１は本考案の実施例のシステム構成図である。本例では３個のＬＳＩ１Ａ〜 １Ｃがこの順に互いに縦続接続され、各ＬＳＩ内部には通常動作回路４Ａ〜４Ｃ があり、この回路４Ａ〜４Ｃをバイパスするためのスイッチ６Ａ〜６Ｃ及びバイ パス回路５Ａ〜５Ｃが設けられている。
【０００８】 テストパターン発生器２は各ＬＳＩ１Ａ〜１Ｃに夫々対応したテスト用パター ンを発生するものであり、このテストパターンは最前段のＬＳＩ１Ａへ入力され る。
【０００９】 また、テストパータン照合器３は、各ＬＳＩ１Ａ〜１Ｃの各々に対してテスト パータンを印加したときに出力される出力パターンを、予め設定されている期待 値パターンと比較照合するものであり、最終段ＬＳＩ１Ｃの出力からこの出力パ ターンの供給を受けるようになっている。
【００１０】 例えば、ＬＳＩ１Ｂのテストを行う場合、制御線７により、ＬＳＩ１Ｂを除く ＬＳＩ１Ａ，１Ｃのスイッチ６Ａ，６Ｃを夫々図の様にバイパス回路５Ａ，５Ｃ 側へ接続制御する。そして、テストパターン発生器２よりＬＳＩ１Ｂに対応した テストパターンを生成して、最前段ＬＳＩ１Ａの入力から供給するのである。
【００１１】 これにより、最終段ＬＳＩ１Ｃの出力からＬＳＩ１Ｂを経た出力パターンが得 られるので、テストパターン照合器３はこの出力パターンと予め設定されている ＬＳＩ１Ｂ用の期待値パターンとを比較照合する。よって、ＬＳＩ１Ｂの故障の 有無が判別できる。
【００１２】
【考案の効果】 叙上の如く、本考案によれば、テストパターン信号を各ＬＳＩ内部でバイパス 回路か通常動作回路かのいずれかを通すことにより、互いに縦続接続された複数 のＬＳＩのうちから故障したものを容易に検出できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本考案の実施例のシステムブロック図である。
【符号の説明】
１Ａ〜１Ｃ ＬＳＩ ２ テステパターン発生器 ３ テストパターン照合器 ４Ａ〜４Ｃ 通常動作回路 ５Ａ〜５Ｃ バイパス回路 ６Ａ〜６Ｃ スイッチ ７ 制御線

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 各々の内部において内部回路をバイパス
    するためのバイパス手段を有し、互いに縦続接続された
    複数のＬＳＩと、これ等各ＬＳＩに対応したテストパタ
    ーンを発生するテストパターン発生手段と、前記ＬＳＩ
    の一つを除く残余のＬＳＩ内のバイパス手段を活性化
    し、前記ＬＳＩの一つに対応したテストパターンを、縦
    続接続された最前段のＬＳＩへ印加する手段と、最終段
    のＬＳＩの出力から得られる出力パターンと期待値とを
    比較するテストパターン照合手段とを含む故障ＬＳＩ検
    出システム。
JP8847691U 1991-10-02 1991-10-02 故障ｌｓｉ検出システム Pending JPH0530778U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007024884A (ja) * 2005-07-11 2007-02-01 Samsung Electronics Co Ltd 半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007024884A (ja) * 2005-07-11 2007-02-01 Samsung Electronics Co Ltd 半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法

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