JPS60253882A - 短絡個所検出器 - Google Patents
短絡個所検出器Info
- Publication number
- JPS60253882A JPS60253882A JP10995184A JP10995184A JPS60253882A JP S60253882 A JPS60253882 A JP S60253882A JP 10995184 A JP10995184 A JP 10995184A JP 10995184 A JP10995184 A JP 10995184A JP S60253882 A JPS60253882 A JP S60253882A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- short
- pulse
- phase difference
- det
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は通信装置、電子装置等に於いて使用されている
プリント板上に書かれた回路パターンの短絡個所の検出
器に関するものである。
プリント板上に書かれた回路パターンの短絡個所の検出
器に関するものである。
通信装置、電子装置等に於いてはプリント板が使用され
、此のプリント板」二に回路パターンが画かれ、各種の
電子部品を取りつけて希望する装置を構成している。
、此のプリント板」二に回路パターンが画かれ、各種の
電子部品を取りつけて希望する装置を構成している。
最近各種の電子部品類は小型化され、従って同一のプリ
ント板とにより多くの部品が取りつけられるので、回路
パターンも複雑で細かくなってきた。
ント板とにより多くの部品が取りつけられるので、回路
パターンも複雑で細かくなってきた。
此の為各回路パターン間の間隔も又狭くなり、従、って
回路パターン間が何等かの原因で短絡する場合がある。
回路パターン間が何等かの原因で短絡する場合がある。
此の様な場合、従来は其の短絡個所の発見は人間の目に
頼ることになるので極めて困難であり、どうしても発見
出来ない時は配線や回路パターンの一部を切断して順次
捜索範囲を狭めていく方法が取られていた。此の方法で
短絡個所を特定出来ても配線のやりかえやプリント仮に
ストラップ等を行う必要があり、望ましくない。
頼ることになるので極めて困難であり、どうしても発見
出来ない時は配線や回路パターンの一部を切断して順次
捜索範囲を狭めていく方法が取られていた。此の方法で
短絡個所を特定出来ても配線のやりかえやプリント仮に
ストラップ等を行う必要があり、望ましくない。
問題点を解決するための手段は、通信装置、電子装置等
に於いて使用されているプリント板上に書かれた回路パ
ターンに於いて、該回路パターン中の任意の点から所定
のパルスを入力し、原点から所定距離湘れた点迄のパル
ス伝達時間を測定して単位距離当たりのパルス伝達基準
時間をめ、該回路パターン中の他の任意の２点間の距離
に就いてパルス伝達時間を測定して前記パルス伝達基準
時間に合致しているか否かを調べることにより、該回路
パターン中の短絡個所を検出する短絡個所検出器により
達成される。
に於いて使用されているプリント板上に書かれた回路パ
ターンに於いて、該回路パターン中の任意の点から所定
のパルスを入力し、原点から所定距離湘れた点迄のパル
ス伝達時間を測定して単位距離当たりのパルス伝達基準
時間をめ、該回路パターン中の他の任意の２点間の距離
に就いてパルス伝達時間を測定して前記パルス伝達基準
時間に合致しているか否かを調べることにより、該回路
パターン中の短絡個所を検出する短絡個所検出器により
達成される。
本発明に依るとプリント板上に書かれた回路パターンに
於いて、所定のパルスか任意の距離走行する喝合要する
時間は距離に比例することを利用し、任意の２点間のパ
ルス伝達時間を４１１定し、其の伝達時間が前記Ｊト準
に合致するか否かを調べ、若し合致しない時は前記２点
間に異常があることになるので、此の事から短絡個所を
判定することか出来ると云う効果が生ずる。
於いて、所定のパルスか任意の距離走行する喝合要する
時間は距離に比例することを利用し、任意の２点間のパ
ルス伝達時間を４１１定し、其の伝達時間が前記Ｊト準
に合致するか否かを調べ、若し合致しない時は前記２点
間に異常があることになるので、此の事から短絡個所を
判定することか出来ると云う効果が生ずる。
本発明はプリント板の回路パターン上の任意の２点間の
距離に比例したパルス伝達時間、又は抵抗値を基準に設
定し、調べたいと思う別の任意の２点間の距離に就いて
測定した時のパルス伝達時間又は抵抗値が此の基準に合
致した時のみ動作する検出器を用意し、該検出器を使用
して短絡個所を推定しようとするものである。
距離に比例したパルス伝達時間、又は抵抗値を基準に設
定し、調べたいと思う別の任意の２点間の距離に就いて
測定した時のパルス伝達時間又は抵抗値が此の基準に合
致した時のみ動作する検出器を用意し、該検出器を使用
して短絡個所を推定しようとするものである。
第１図は本発明に依る短絡個所検出器の一実施例を示す
概略図である。
概略図である。
以Ｔ図に従って本発明の詳細な説明する。
パルス発生器ＧＥＮは一定のパルスを発生する装置で、
其の出力の一部ば送出プローブ八へ、他の一部は位相差
検出回路ＤＥＴへ夫々接続されている。
其の出力の一部ば送出プローブ八へ、他の一部は位相差
検出回路ＤＥＴへ夫々接続されている。
位相差検出回路ＤＥＴには検出プローブＢが接続され、
其の出力は切り替えスイッチＳＷを通して一次記憶回路
ＭＥＭと比較回路ＣＯＭＰに接続されている。
其の出力は切り替えスイッチＳＷを通して一次記憶回路
ＭＥＭと比較回路ＣＯＭＰに接続されている。
又−次記憶回路ＭＥＭには記憶内容クリア用の端ｊ″Ｓ
か設けられている。
か設けられている。
先づ初めミニー次記憶回路Ｍｆ”、Ｍに其れ迄に格納さ
れていた記１０内容をクリアづ−る１菖υを端子ＳＧこ
印力１１する。
れていた記１０内容をクリアづ−る１菖υを端子ＳＧこ
印力１１する。
次にシ、（準の長さしの試料Ｔ Ｓ Ｔ ｏの一端に送
出ブ１７−）Δを、他端に検出ゾｌ’ｌ−ゾＩ３を大々
（Ｋノトシてパルス発生器Ｇ Ｅ Ｎから一定のパルス
を送１（）する。
出ブ１７−）Δを、他端に検出ゾｌ’ｌ−ゾＩ３を大々
（Ｋノトシてパルス発生器Ｇ Ｅ Ｎから一定のパルス
を送１（）する。
送出パルスの−・つは送出プローブΔ〜基準の長さしの
試料〜検出プローブＢを経由して位相差検出回路ＤＥＴ
へ、送出パルスの他の一つば位相差検出回路ＤＥＴへ夫
々接続され、位相差検出回路ＤＥＴに於いて両者の位相
差か測定されて出力される。
試料〜検出プローブＢを経由して位相差検出回路ＤＥＴ
へ、送出パルスの他の一つば位相差検出回路ＤＥＴへ夫
々接続され、位相差検出回路ＤＥＴに於いて両者の位相
差か測定されて出力される。
此の状態で切り替えスイッチＳＷをｓｅｔ側（点線側）
に倒して置き、其の測定結果を一次記１．１回路ＭＥＭ
に記憶する。
に倒して置き、其の測定結果を一次記１．１回路ＭＥＭ
に記憶する。
第２図のＦａｌは送出プローブへの出力パルス波形（（
３７相差検出回路ＤＥＴの入力１）、’（ｈｌば検出プ
ローブＢの入力波形（位相差検出回路１） Ｅ Ｔの入
力２ ） 、 （ｃｌは位相差検出回路ＤＥＴの出力波
形を夫々示す。
３７相差検出回路ＤＥＴの入力１）、’（ｈｌば検出プ
ローブＢの入力波形（位相差検出回路１） Ｅ Ｔの入
力２ ） 、 （ｃｌは位相差検出回路ＤＥＴの出力波
形を夫々示す。
次Ｇ、二新しい試料ＴＳＴ＋（長さＬ’）の両端に送出
プＩＪ−ブＡ、及び検出プローブＢを夫々セラ１−シ、
切り替えスイッチＳＷをｃｏｍｐ側に倒して同様にパル
ス発生器ＧＥＮから一定のパルスを送出する。
プＩＪ−ブＡ、及び検出プローブＢを夫々セラ１−シ、
切り替えスイッチＳＷをｃｏｍｐ側に倒して同様にパル
ス発生器ＧＥＮから一定のパルスを送出する。
今例えばＬ’＞Ｌとすると新しい試料Ｔ Ｓ Ｔ ＋（
長さ■７゛）の中をパルスが通過する時間が長くなる。
長さ■７゛）の中をパルスが通過する時間が長くなる。
従って第２図の（ａｌに示ず送出プローブＡの出力パ
ルス波形（位相差検出回路Ｄ ＥＴの入力１）に対Ｊる
検出プローブＢの入力波形（位相差挟出回ｉ／３ ｌ）
Ｅ Ｔの入力２）は＋ｄ＋に示す様に（ｂ）よりｉ！
１！延し、位相差検出回路Ｄ Ｅ Ｔの出力波形は（ｅ
＋の如くなり、此の結果比較回路ＣＯＭ ＋）で（Ｃ）
波形と＋ｎ１波形を比較して（ｆｌ波形を得る。
ルス波形（位相差検出回路Ｄ ＥＴの入力１）に対Ｊる
検出プローブＢの入力波形（位相差挟出回ｉ／３ ｌ）
Ｅ Ｔの入力２）は＋ｄ＋に示す様に（ｂ）よりｉ！
１！延し、位相差検出回路Ｄ Ｅ Ｔの出力波形は（ｅ
＋の如くなり、此の結果比較回路ＣＯＭ ＋）で（Ｃ）
波形と＋ｎ１波形を比較して（ｆｌ波形を得る。
此の様に回路パターンが正常であれば、長さの違いと（
ｆ）波形との間には一定の関係があるので、間柱な操作
を何点かの間で実施することにより容易にり（ｊ絡個所
を発見することが出来る。
ｆ）波形との間には一定の関係があるので、間柱な操作
を何点かの間で実施することにより容易にり（ｊ絡個所
を発見することが出来る。
第３図は本発明に依る別の短絡個所検出器の一実施例を
示す概略図である。
示す概略図である。
図中、ＧＥＮ’ はパルス発生器の代わりに定電流源を
使用し、検出回路ＤＥＴ’ は位相差ではなく抵抗値差
を検出し、比較回路ＣＯＩｖｌ Ｐ”は抵抗値差を比較
する方法であり、同様に短絡個所を推定することが出来
る。
使用し、検出回路ＤＥＴ’ は位相差ではなく抵抗値差
を検出し、比較回路ＣＯＩｖｌ Ｐ”は抵抗値差を比較
する方法であり、同様に短絡個所を推定することが出来
る。
以上詳細に説明した様に本発明によれば、回路パターン
に傷を付けることな（容易に短絡個所を判定出来ると云
う大きい効果がある。
に傷を付けることな（容易に短絡個所を判定出来ると云
う大きい効果がある。
第１図は本発明に依る短絡個所検出器の一実施例を示す
概略図である。 第２図は第１図の動作を説明する図である。 第３図は本発明に依る別の短絡個所検出器の一実施例を
示す概略図である。 図中、ＧＥＮはパルス発生器、ＤＥＴは位相差検出回路
、ＳＷば切り替えスイッチ、ＭＥＭは一次記憶回路ＭＥ
Ｍ、Ｓはクリア信号入力端子、Ｃ０Ｍ１）は比較回路、
Ａは送出プローブ、Ｂは検出プローブ、ＴＳＴは基準と
なる試料、ＴＳＴＩ は試験しようとする試料、ＧＥＮ
“は定電流源、ＤＥＴ’ は抵抗差検出回路、ＣＯＭＰ
″ は抵抗値差比較回路である。
概略図である。 第２図は第１図の動作を説明する図である。 第３図は本発明に依る別の短絡個所検出器の一実施例を
示す概略図である。 図中、ＧＥＮはパルス発生器、ＤＥＴは位相差検出回路
、ＳＷば切り替えスイッチ、ＭＥＭは一次記憶回路ＭＥ
Ｍ、Ｓはクリア信号入力端子、Ｃ０Ｍ１）は比較回路、
Ａは送出プローブ、Ｂは検出プローブ、ＴＳＴは基準と
なる試料、ＴＳＴＩ は試験しようとする試料、ＧＥＮ
“は定電流源、ＤＥＴ’ は抵抗差検出回路、ＣＯＭＰ
″ は抵抗値差比較回路である。
Claims (1)
- 通信装置、電子装置等に於いて使用されているプリント
板上に書かれた回路パターンに於いて、該回路パターン
中の任意の点□から所定のパルスを入力し、数点から所
定距離離れた点迄のパルス伝達時間を測定して単位距離
当たりのパルス伝達基準時間をめ、該回路パターン中の
他の任意の２点間の距離に就いてパル豆伝達時間を測定
して前記パルス伝達基準時間に合致しているか否かを調
べることにより、該回路パターン中の短絡個所を検出す
ることを特徴とする短絡個所検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10995184A JPS60253882A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 短絡個所検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10995184A JPS60253882A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 短絡個所検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60253882A true JPS60253882A (ja) | 1985-12-14 |
Family
ID=14523259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10995184A Pending JPS60253882A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 短絡個所検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60253882A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63142204A (ja) * | 1986-12-05 | 1988-06-14 | Nec Corp | パタ−ン線長測定装置 |
| CN107871057A (zh) * | 2017-11-17 | 2018-04-03 | 中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所 | 一种两级入轨可重复使用飞行器规模估算方法 |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP10995184A patent/JPS60253882A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63142204A (ja) * | 1986-12-05 | 1988-06-14 | Nec Corp | パタ−ン線長測定装置 |
| CN107871057A (zh) * | 2017-11-17 | 2018-04-03 | 中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所 | 一种两级入轨可重复使用飞行器规模估算方法 |
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