JPH05302896A - 検査用プログラムデ−タ作成方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 基板の種類の多い場合の対応性、即応性、柔
軟性と、基板及びはんだ表面状態の多様性に対する対応
に優れた電子部品実装後のはんだ付け状態自動検査方
法、装置の提供。 【構成】 電子部品の基板実装後のはんだ付け状態の自
動検査する装置として、検査対象であるはんだ付け部に
対し、検査用プログラムのデ−タ作成を予め設定する場
合において、予め、実装される部品の種類と部品のリ−
ド形状と、更に、その上、基板上のはんだ付け部のラン
ド上との組合せによる、はんだ付け状態を検査するウイ
ンドウの位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、部
品のリ−ド形状と一体に、作成し、ライブラリとして登
録設定し、次ぎに、検査対象の基板ごとに、検査プログ
ラムのデ−タ作成する場合には、該基板に実装される部
品の搭載位置、部品の種類の情報と、その部品毎に登録
されている部品のリ−ド形状と一体のライブラリに基づ
いた、はんだ付け状態を検査するウインドウを用いて、
編集作成することよりなる、検査用プログラムのデ−タ
を作成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電子部品の実装基板検査
装置に係り、特に、電子部品の基板実装後のはんだ付け
状態の検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の装置は、例えば、特開平３−１９
１６００号公報に記載のように、電子部品の基板実装後
のはんだ付け状態の自動検査装置として、検査対象であ
るはんだ付け部に対して、予め検査用プログラム作成デ
−タとして設定する必要があり、その為には、基板に実
装される部品の搭載位置、部品の種類と部品のリ−ド形
状と、更に、その、裸基板上のはんだ付け部のランド上
との組合せによる、はんだ付け状態を観察、検査、判別
する窓枠、すなわち、ウインドウ（窓枠＝ウインドウ）
を、新しい基板毎に、事前に作成することを必要として
いた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、特
に、基板の種類の多い場合の対応性、即応性、柔軟性
と、基板及びはんだ表面状態の多様性について考慮され
ていない。つまり、検査対象であるはんだ付け部に対
し、予め検査用プログラムのデ−タを作成して設定する
上で、はんだ付け状態を観察、検査、判別するウインド
ウを、新しい基板毎に、例え、部品は従来品でも、その
都度、事前に作成することを必要としていた為に、大変
に手間の掛かるものであった。

【０００４】また、部品の変更、追加に対しての、検査
用プログラムのデ−タを作成として変更することも、必
ずしも容易ではなかった。また、裸基板上のはんだ付け
部の銅箔のランド上との組合せする場合の、予備はんだ
の光沢と基板表面状態との光学的に差別されるコントラ
ストにより入力する上で、手間の掛かる場合もあった。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、検査用プログラムのデ−タを作成する上
で、部品のリ−ド形状と、更に、各基板を作成するメ−
カによる、基板上のはんだ付け部のランド上との組合せ
による、はんだ付け状態を観察、検査、判別するウイン
ドウの位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、部品
のリ−ド形状と一体に辞書的に、すなわち、ライブラリ
（辞書＝ライブラリ）として登録し、構成することにあ
る。

【０００６】

【作用】本発明は電子部品の基板実装後のはんだ付け状
態の自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付
け部に対し、予め検査用プログラムのデ−タを作成して
設定する必要があり、その為に、 実装される部品の種類と部品のリ−ド形状と、更に、
その上、各基板を作成するメ−カによる裸基板上のはん
だ付け部のランド上との組合せによる、はんだ付け状態
を検査するウインドウの位置とサイズとをウインドウ
デ−タとして設定し、 事前に部品の種類毎に、部品のリ−ド形状と一体にウ
インドウ デ−タを辞書＝ライブラリとして登録し、 予め、新しい基板毎に、検査用プログラムデ−タ作成
として設定する場合には、新しい基板に実装される部品
の搭載位置、部品の種類の情報と、その部品毎にすでに
登録されている部品のリ−ド形状と一体のライブラリに
よるはんだ付け状態を検査するウインドウを用いて、検
査対象の全ウインドウ デ−タを自動編集作成する方法
と、 作成された検査対象となる基板における各ウインドウ
デ−タに対し、確認し、必要に応じて修正したのち、 この方法を実施する装置。 これらにより、新しい基板毎に、部品の搭載位置、部品
の種類と部品リ−ド形状デ−タとウインドウのライブラ
リの情報のみで、検査用プログラムを編成し作成デ−タ
することは容易である。また、部品の変更、追加編集修
正作成も容易である。また裸基板を直接使用しないので
裸基板の状態にも無関係である。また、難しい部品、特
殊部品のウインドウも一度ライブラリとして登録すれ
ば、容易に繰返し活用出来る。また、部品の搭載位置の
ＮＣデ−タ、部品の種類と部品リ−ド形状デ−タとウイ
ンドウのライブラリの情報により、事前の検査用プログ
ラム作成デ−タをＣＡＤ／ＣＡＭにて自動作成すること
も容易に達成できる。

【０００７】

【実施例】以下に本発明の一実施例について図面により
詳細に説明する。図１は本発明による検査用プログラム
デ−タ自動作成機能を有する検査装置のの一実施例を示
す概略構成図である。図２は本発明による検査用プログ
ラムデ−タ自動作成機能の一実施例を説明するフロ−チ
ャ−トである。同図において、１は検査対象となるプリ
ント基板の裸基板、または電子部品がはんだ付けされた
実装基板であり、２は基板（裸基板または実装基板）１
を保持して基板１をＸＹ方向の任意の位置に移動するこ
とが出来るＸＹテ−ブル出ある。３はＸＹテ−ブル２を
制御するＸＹテ−ブル制御回路、４はＣＰＵボ−ド、５
はメモリ、６は画像フレ−ムメモリを持つ画像入出力イ
ンタ−フェ−ス、７は外部との通信インタフェ−ス回路
であり、８はＣＲＴ・キ−ボ−ド、９はフロッピ−ディ
スクドライブである。１０は基板１を撮像するカメラ
で、カメラ１０はＸＹテ−ブル２の上部にあって基板１
を垂直に見おろすことができるように取り付けられてい
る。カメラ１０で撮像された画像は画像入出力インタ−
フェ−ス６を通してＣＰＵボ−ド４に入力されて処理さ
れる。１１は照明部でカメラ１０と基板１の間の上方に
設置され、カメラ１０で撮像される時に基板１上が照射
される。１２は外部装置で、例えば基板設計用ＣＡＤシ
ステムや部品基板搭載システム等である。１３は外部装
置１１との通信回線で、通信インタフェ−ス回路７を通
してＣＰＵボ−ド４に接続されている。

【０００８】上記構成で、まず、外部より部品種類に対
応して各部品の諸寸法を記録したデ−タを部品中心位置
からのデ−タとして入力する。

【０００９】次に、図３に基板１において、搭載される
部品１４のリ−ド１５の位置とはんだ付けされる基板１
のランド１６に対し、検査時にはんだ付け状態を観察す
る視野範囲内のウインドウ１７を設定する。

【００１０】ＣＰＵボ−ド４において、ウインドウ１７
のサイズのデ−タの座標中心（ｘ、ｙ）は、搭載される
部品１４の中心（Ｘ、Ｙ）に対して作図し数値データが
設定される。

【００１１】ウインドウ１７のサイズの設定には、リ−
ド１５の一部とランド１６の多くの部分が含まれる。更
に、部品１４の基板１への搭載誤差分、検査時の基板１
の部品１４へのＸＹテ−ブル２の移動誤差分、基板１上
にプリントされるの基準マ−カとランドとの誤差分等
と、部品１４とリ−ド形状の寸法のバラツキ分等を配慮
し設定される。ウインドウ１７のサイズ幅はＸｗ、長さ
はＹｗが作図数値データ入力指定される。

【００１２】またウインドウ１７は部品１４の配置方向
と、検査対象のリ−ド１５の番号にとに対応される。

【００１３】検査対象部品１４の種類別と部品リ−ド１
５の番号にとに対応されウインドウデ−タとして設定さ
れた、部品中心位置からウインドウ１７のサイズの中心
位置デ−タ（ｘ、ｙ）、ウインドウ１７のサイズ デ−
タ（Ｘｗ、Ｙｗ）、部品１４の配置方向デ−タ等はウイ
ンドウ デ−タとして、部品１４の種類毎に、部品のリ
−ド１５形状と一体に作成された、ライブラリとして登
録設定する。

【００１４】部品１４の種類別に登録されたウインドウ
デ−タのライブラリはメモリ５に記憶される。

【００１５】更に、ウィンドウ デ−タはファイルとし
てフロッピ−ディスクドライブ９に登録蓄積される。

【００１６】次に、新しい基板１毎に、検査用プログラ
ムデ−タ作成として設定する場合には、先ず、新しい基
板１に実装される部品１４の種類、搭載位置、方向のＮ
Ｃデ−タまたはＣＡＤデ−タが、外部装置１２からの通
信回線１３またはフロッピ−ディスクドライブ９により
メモリ５に入力される。

【００１７】また、すでに部品１４の種類別に作成され
ているウィンドウ デ−タのファイルはフロッピ−ディ
スクドライブ９に作成登録蓄積されているファイルから
メモリ５に呼び出される。

【００１８】ＣＰＵボ−ド４により、新しいの基板１に
実装される部品１４の種類、搭載位置、方向のＮＣデ−
タまたはＣＡＤデ−タと、登録されている部品１４のリ
−ド１５形状と一体のライブラリによる、はんだ付け状
態を検査するウインドウ デ−タのファイルから、新し
い基板１上に、検査対象の全ウインドウ デ−タを自動
的に組合せ、編集し、合成作成される。

【００１９】次に、図１に示すように、新しい基板１を
ＸＹテ−ブル２に搭載し、照明部１１により基板１を照
射し、カメラ１０で撮像する。カメラ１０で撮像された
画像は画像入出力インタ−フェ−ス６を通してＣＰＵボ
−ド４に入力される。

【００２０】新しい基板１上の、検査対象部品１４の、
リ−ド１５おける各ウインドウ デ−タに対し、カメラ
１０で撮像された画像に重ね合わせ、ＣＲＴ・キ−ボ−
ド８に表示し、ウインドウ デ−タとして設定された、
部品中心位置からウインドウ１７のサイズの中心位置デ
−タ（ｘ、ｙ）、ウインドウ１７のサイズ デ−タ（Ｘ
ｗ、Ｙｗ）、部品１４の配置方向デ−タ等を確認し、必
要に応じて修正する。ウィンドウ デ−タの修正は、Ｃ
ＲＴ・キ−ボ−ド８において、キ−より数値入力作成・
修正する。またはグラフィック表示において作図・修正
する。

【００２１】修正後のウインドウ デ−タは部品と一体
にライブラリとして再登録される。

【００２２】以上により、検査対象となる新しい基板１
毎に、検査用プログラムデ−タとして編集作成を完了す
る。

【００２３】新しい検査対象となる基板１毎に、検査用
プログラムデ−タはファイルとしてフロッピ−ディスク
ドライブ９に蓄積さる。

【００２４】これらにより、新しい基板毎に、部品の搭
載位置、部品の種類と部品リ−ド形状デ−タとウインド
ウ デ−タの部品と一体のライブラリの情報のみで、検
査用プログラムを編成し作成デ−タすることは容易であ
る。

【００２５】また、部品の変更、追加、削除、修正作成
も容易である。また裸基板を直接使用しないので裸基板
の状態にも無関係である。検査ウインドウ デ−タを編
集後、確認、修正する上で裸基板を使用ことは当然であ
り、容易ある。

【００２６】また、部品１４のリ−ド１５間の、はんだ
ブリッジの有無を検査するのウインドウのデ−タ作成、
ライヴラリの登録も、すでに述べた方法により、部品中
心位置からウインドウ１７のサイズの中心位置デ−タ
（ｘ、ｙ）、ウインドウ１７のサイズ デ−タ（Ｘｗ、
Ｙｗ）、部品１４の配置方向デ−タ等はウインドウ デ
−タとして、部品１４の種類毎に、部品のリ−ド１５形
状と一体に、作成された、ライブラリとして登録設定す
れば、検査用プログラムの作成に容易に繰返し活用出来
る。

【００２７】また、これ迄は、部品１４のリ−ド１５の
接続状態について、具体例を示したが、個々の部品での
電極の接続状態、および一定部品間ブリッジの有無の検
査検査用のウインドウも、一度部品と一体にライブラリ
として登録すれば、検査用プログラムの作成に容易に繰
返し活用出来る。

【００２８】また、新しい部品、特殊部品の検査用のウ
インドウも、一度部品と一体にライブラリとして登録す
れば、検査用プログラムの作成に容易に繰返し活用出来
る。

【００２９】また、部品の搭載位置のＮＣデ−タ、部品
の種類と部品リ−ド形状デ−タと検査ウインドウの部品
と一体のライブラリの情報、すなわち、部品ごとの、部
品中心位置からウインドウのサイズの中心位置デ−タ
（ｘ、ｙ）、ウインドウのサイズ デ−タ（Ｘｗ、Ｙ
ｗ）、部品の配置方向デ−タ等は、ウインドウ デ−タ
として、組合せ作成によるライブラリとしての登録（Ｃ
ＡＤ／ＣＡＭにて自動作成）、および、基板ごとに、基
板上の部品の搭載位置のＮＣデ−タにより、事前の検査
用プログラム編集作成デ−タをＣＡＤ／ＣＡＭにて自動
作成することも容易に達成できる。

【００３０】以上説明した検査用プログラム作成デ−タ
法を実施する装置を構成することも容易である。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、新しい基
板毎に、部品の搭載位置、部品の種類と部品リ−ド形状
デ−タ及び基板のランドにもとづく検査用のウインドウ
の、部品と一体のライブラリのデ−タが確立しているの
で、検査用プログラムを編成し作成デ−タする場合、部
品と一体として編集することは容易である。また、ブリ
ッジ有無の検査用のウインドウの、部品と一体のライブ
ラリのデ−タにより、検査用プログラムを編成し作成デ
−タする場合、部品と一体として編集することも容易で
ある。また、部品毎の変更、追加、削除、編集、修正作
成も容易である。また、裸基板を直接使用しないので裸
基板の状態にも無関係である。また、難しい部品、特殊
部品の検査用ウインドウも一度ライブラリとして登録す
れば、容易に繰返し活用出来る。また、部品の搭載位置
のＮＣデ−タ、部品の種類と部品リ−ド形状デ−タと検
査用ウインドウのライブラリの情報により、事前の検査
用プログラム作成デ−タをＣＡＤ／ＣＡＭにて自動作成
することも容易に達成できる。

【００３２】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による検査用プログラムデ−タ自動作成
機能を有する検査装置の主要部概略構成図。

【図２】本発明による検査用プログラムデ−タ自動作成
機能のフロ−チャ−ト。

【図３】検査用ウインドウの設定の説明図

【００３３】

【符号の説明】

１ 基板 ２ ＸＹテ−ブル ３ ＸＹテ−ブル制御回路 ４ ＣＰＵボ−ド ５ メモリ ６ 画像入出力インタ−フェ−ス ７ 通信インタフェ−ス回路 ８ ＣＲＴ・キ−ボ−ド ９ フロッピ−ディスクドライブ １０ カメラ １１ 照明部 １２ 外部装置 １３ 通信回線 １４ 部品 １５ リ−ド １６ ランド １７ ウインドウ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】電子部品の基板実装後のはんだ付け状態の
   自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付け部
   に対し、検査用プログラムのデ−タ作成を予め設定する
   場合において、予め、実装される部品の種類と部品のリ
   −ド形状と、更に、その上、基板上のはんだ付け部のラ
   ンド上との組合せによる、はんだ付け状態を検査するウ
   インドウの位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、
   部品のリ−ド形状と一体に、作成し、ライブラリとして
   登録設定し、次ぎに、検査対象の基板ごとに、検査プロ
   グラムのデ−タ作成する場合には、該基板に実装される
   部品の搭載位置、部品の種類の情報と、その部品毎に登
   録されている部品のリ−ド形状と一体のライブラリに基
   づいた、はんだ付け状態を検査するウインドウを用い
   て、編集作成することよりなる、検査用プログラムのデ
   −タを作成する方法。
2. 【請求項２】電子部品の基板実装後のはんだ付け状態の
   自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付け部
   に対し、検査用プログラムのデ−タ作成を予め設定する
   場合において、予め、実装される部品の種類と部品のリ
   −ド形状と、更に、その上、基板上のはんだ付け部のラ
   ンド上との組合せによる、はんだ付け状態を検査するウ
   インドウの位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、
   部品のリ−ド形状と一体に作成し、ライブラリとして登
   録設定し、次ぎに、検査対象の基板毎に、検査用プログ
   ラムのデ−タ作成する場合には、該基板に実装される部
   品の搭載位置、部品の種類の情報と、その部品毎にに登
   録されている部品のリ−ド形状と一体のライブラリに基
   づいた、はんだ付け状態を検査するウインドウを用い
   て、編集作成することよりなる、検査用プログラムのデ
   −タを作成することを可能とした装置。
3. 【請求項３】請求項１、請求項２において、検査するウ
   インドウの自動編集、変更、追加、削除、修正、作成す
   る、検査用プログラムのデ−タを作成する方法を実施す
   る装置。
4. 【請求項４】請求項１、請求項２において、新規に作成
   する部品を検査するウインドウを、ライブラリとして作
   成登録し、繰返し活用出来る検査用プログラムのデ−タ
   を作成する方法を実施する装置。
5. 【請求項５】請求項１、請求項２において、また、部品
   の搭載位置のＮＣデ−タ、部品の種類と部品リ−ド形状
   デ−タと、基板上のはんだ付け部のランドとの組合せに
   よる、はんだ付け状態検査対象のウインドウのライブラ
   リの情報により、基板ごとに、検査用プログラムのデ−
   タを作成する場合において、ＣＡＤにて自動作成し、活
   用出来る構成とした、検査プログラムのデ−タを作成す
   る方法を実施する装置。