JPH0682228A - 検査用プログラムデータ作成方法及び装置 - Google Patents
検査用プログラムデータ作成方法及び装置Info
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- JPH0682228A JPH0682228A JP4258986A JP25898692A JPH0682228A JP H0682228 A JPH0682228 A JP H0682228A JP 4258986 A JP4258986 A JP 4258986A JP 25898692 A JP25898692 A JP 25898692A JP H0682228 A JPH0682228 A JP H0682228A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 検査用プログラムデータ作成装置において、
はんだ付け状態を観察、検査、判別するウインドウ等を
効率的に作成する。 【構成】 検査対象であるはんだ付け部に対し、検査用
プログラムのデ−タ作成を予め設定する場合において、
予め、実装される部品の種類と部品のリ−ド形状と、裸
基板上の撮像画像処理による、はんだ付け部のランド上
との組合せによる、はんだ付け状態を検査するウインド
ウの位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、部品の
リ−ド形状と一体に形成し、ライブラリとして登録設定
し、次ぎに、検査対象の基板ごとに、検査用プログラム
のデ−タ作成する場合には、基板に実装される部品の搭
載位置、部品の種類の情報と、その部品毎に登録されて
いる部品のリ−ド形状と一体のライブラリに基づいた、
はんだ付け状態を検査するウインドウを用いて、編集作
成することよりなる、検査用プログラムのデ−タを作成
する。
はんだ付け状態を観察、検査、判別するウインドウ等を
効率的に作成する。 【構成】 検査対象であるはんだ付け部に対し、検査用
プログラムのデ−タ作成を予め設定する場合において、
予め、実装される部品の種類と部品のリ−ド形状と、裸
基板上の撮像画像処理による、はんだ付け部のランド上
との組合せによる、はんだ付け状態を検査するウインド
ウの位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、部品の
リ−ド形状と一体に形成し、ライブラリとして登録設定
し、次ぎに、検査対象の基板ごとに、検査用プログラム
のデ−タ作成する場合には、基板に実装される部品の搭
載位置、部品の種類の情報と、その部品毎に登録されて
いる部品のリ−ド形状と一体のライブラリに基づいた、
はんだ付け状態を検査するウインドウを用いて、編集作
成することよりなる、検査用プログラムのデ−タを作成
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品の実装基板検査
装置に係り、特に、電子部品の基板実装後のはんだ付け
状態の検査装置に関する。
装置に係り、特に、電子部品の基板実装後のはんだ付け
状態の検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の装置は、例えば、特開平3−19
1600号公報に記載のように、電子部品の基板実装後
のはんだ付け状態の自動検査装置として、検査対象であ
るはんだ付け部に対して、予め検査用プログラム作成デ
−タとして設定する必要があり、その為には、基板に実
装される部品の搭載位置、部品の種類と部品のリ−ド形
状と、更に、その、裸基板上のはんだ付け部のランド上
との組合せによる、はんだ付け状態を観察、検査、判別
する窓枠、すなわち、ウインドウ(窓枠=ウインドウ)
を、新しい基板毎に、事前に作成することを必要として
いた。
1600号公報に記載のように、電子部品の基板実装後
のはんだ付け状態の自動検査装置として、検査対象であ
るはんだ付け部に対して、予め検査用プログラム作成デ
−タとして設定する必要があり、その為には、基板に実
装される部品の搭載位置、部品の種類と部品のリ−ド形
状と、更に、その、裸基板上のはんだ付け部のランド上
との組合せによる、はんだ付け状態を観察、検査、判別
する窓枠、すなわち、ウインドウ(窓枠=ウインドウ)
を、新しい基板毎に、事前に作成することを必要として
いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、特
に、基板の種類の多い場合の対応性、即応性、柔軟性
と、基板及びはんだ表面状態の多様性について考慮され
ていない。つまり、検査対象であるはんだ付け部に対
し、予め検査用プログラムのデ−タを作成して設定する
上で、はんだ付け状態を観察、検査、判別するウインド
ウを、新しい基板毎に、例え、部品は従来品でも、その
都度、事前に作成することを必要としていた為に、大変
に手間の掛かるものであった。
に、基板の種類の多い場合の対応性、即応性、柔軟性
と、基板及びはんだ表面状態の多様性について考慮され
ていない。つまり、検査対象であるはんだ付け部に対
し、予め検査用プログラムのデ−タを作成して設定する
上で、はんだ付け状態を観察、検査、判別するウインド
ウを、新しい基板毎に、例え、部品は従来品でも、その
都度、事前に作成することを必要としていた為に、大変
に手間の掛かるものであった。
【0004】また、部品の変更、追加に対しての、検査
用プログラムのデ−タを作成として変更することも、必
ずしも容易ではなかった。また、裸基板上のはんだ付け
部の銅箔のランド上との組合せする場合の、予備はんだ
の光沢と基板表面状態との光学的に差別されるコントラ
ストにより入力する上で、手間の掛かる場合もあった。
用プログラムのデ−タを作成として変更することも、必
ずしも容易ではなかった。また、裸基板上のはんだ付け
部の銅箔のランド上との組合せする場合の、予備はんだ
の光沢と基板表面状態との光学的に差別されるコントラ
ストにより入力する上で、手間の掛かる場合もあった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、検査用プログラムのデ−タを作成する上
で、部品のリ−ド形状と、更に、裸基板、または実装基
板上のはんだ付け部のランド上との組合せによる、はん
だ付け状態を観察、検査、判別するウインドウの位置と
サイズとを、事前に部品の種類毎に、部品のリ−ド形状
と一体に辞書的に、すなわち、ライブラリ(辞書=ライ
ブラリ)として登録し、構成することにある。
決するために、検査用プログラムのデ−タを作成する上
で、部品のリ−ド形状と、更に、裸基板、または実装基
板上のはんだ付け部のランド上との組合せによる、はん
だ付け状態を観察、検査、判別するウインドウの位置と
サイズとを、事前に部品の種類毎に、部品のリ−ド形状
と一体に辞書的に、すなわち、ライブラリ(辞書=ライ
ブラリ)として登録し、構成することにある。
【0006】
【作用】本発明は電子部品の基板実装後のはんだ付け状
態の自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付
け部に対し、予め検査用プログラムのデ−タを作成して
設定する必要があり、その為に、 .実装される各
部品の種類と部品のリ−ド(電極)形状と、更に、その
上、各部品の搭載位置デ−タにもとづき、 .基板
実装するときの裸基板上を撮像画像処理により、部品の
リ−ド(電極)のはんだ付け部のランドの形状を検出
し、部品のリ−ド(電極)形状と裸基板上のランドの形
状との組合せ対応により、はんだ付け状態を検査するウ
インドウの位置とサイズとをウインドウ デ−タとして
形成・設定し、 .事前に部品の種類毎に、部品の
リ−ド形状と一体にウインドウ デ−タを辞書=ライブ
ラリとして登録し、 .必要に応じて、基板実装す
るときの部品のリ−ド(電極)形状と基板上のランドの
形状との組合せ対応を数値入力により作画し、はんだ付
け状態を検査するウインドウの位置とサイズとをウイン
ドウ デ−タとして設定し、部品のリ−ド形状と一体に
ウインドウ デ−タを辞書=ライブラリとして登録し、
.次に、新しい基板毎に、検査用プログラムデ−タ
作成として設定する場合には、新しい基板に実装される
部品の搭載位置、部品の種類の情報と、その部品毎にす
でに登録されている部品のリ−ド形状と一体のライブラ
リによるはんだ付け状態を検査するウインドウを用い
て、検査対象の全ウインドウ デ−タを自動編集作成す
る方法と、 .作成された検査対象となる基板にお
ける各ウインドウ デ−タに対し、確認し、必要に応じ
て修正したのち、再登録し、この方法を実施する装置。
これらにより、次の新しい基板毎に、部品の搭載位置、
部品の種類と部品リ−ド形状デ−タとウインドウのライ
ブラリの情報のみで、検査用プログラムを編成し作成デ
−タすることは容易である。また、部品の変更、追加編
集修正作成も容易である。また裸基板を繰り返し使用し
ないので裸基板の状態にもデ−タ作成上の影響が少な
い。また、難しい部品、特殊部品のウインドウも一度ラ
イブラリとして登録すれば、容易に繰返し活用出来る。
態の自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付
け部に対し、予め検査用プログラムのデ−タを作成して
設定する必要があり、その為に、 .実装される各
部品の種類と部品のリ−ド(電極)形状と、更に、その
上、各部品の搭載位置デ−タにもとづき、 .基板
実装するときの裸基板上を撮像画像処理により、部品の
リ−ド(電極)のはんだ付け部のランドの形状を検出
し、部品のリ−ド(電極)形状と裸基板上のランドの形
状との組合せ対応により、はんだ付け状態を検査するウ
インドウの位置とサイズとをウインドウ デ−タとして
形成・設定し、 .事前に部品の種類毎に、部品の
リ−ド形状と一体にウインドウ デ−タを辞書=ライブ
ラリとして登録し、 .必要に応じて、基板実装す
るときの部品のリ−ド(電極)形状と基板上のランドの
形状との組合せ対応を数値入力により作画し、はんだ付
け状態を検査するウインドウの位置とサイズとをウイン
ドウ デ−タとして設定し、部品のリ−ド形状と一体に
ウインドウ デ−タを辞書=ライブラリとして登録し、
.次に、新しい基板毎に、検査用プログラムデ−タ
作成として設定する場合には、新しい基板に実装される
部品の搭載位置、部品の種類の情報と、その部品毎にす
でに登録されている部品のリ−ド形状と一体のライブラ
リによるはんだ付け状態を検査するウインドウを用い
て、検査対象の全ウインドウ デ−タを自動編集作成す
る方法と、 .作成された検査対象となる基板にお
ける各ウインドウ デ−タに対し、確認し、必要に応じ
て修正したのち、再登録し、この方法を実施する装置。
これらにより、次の新しい基板毎に、部品の搭載位置、
部品の種類と部品リ−ド形状デ−タとウインドウのライ
ブラリの情報のみで、検査用プログラムを編成し作成デ
−タすることは容易である。また、部品の変更、追加編
集修正作成も容易である。また裸基板を繰り返し使用し
ないので裸基板の状態にもデ−タ作成上の影響が少な
い。また、難しい部品、特殊部品のウインドウも一度ラ
イブラリとして登録すれば、容易に繰返し活用出来る。
【0007】
【実施例】以下に本発明の一実施例について図面により
詳細に説明する。図1は本発明による検査用プログラム
デ−タ自動作成機能を有する検査装置のの一実施例を示
す概略構成図である。図2は本発明による検査用プログ
ラムデ−タ自動作成機能の一実施例を説明するフロ−チ
ャ−トである。同図において、1は検査対象となるプリ
ント基板の裸基板、または電子部品がはんだ付けされた
実装基板であり、2は基板(裸基板または実装基板)1
を保持して基板1をXY方向の任意の位置に移動するこ
とが出来るXYテ−ブルである。3はXYテ−ブル2を
制御するXYテ−ブル制御回路、4はCPUボ−ド、5
はメモリ、6は画像フレ−ムメモリを持つ画像入出力イ
ンタ−フェ−ス、7は外部との通信インタフェ−ス回路
であり、8はCRT・キ−ボ−ド、9はフロッピ−ディ
スクドライブである。10は基板1を撮像するカメラ
で、カメラ10はXYテ−ブル2の上部にあって基板1
を垂直に見おろすことができるように取り付けられてい
る。カメラ10で撮像された画像は画像入出力インタ−
フェ−ス6を通してCPUボ−ド4に入力されて処理さ
れる。11は照明部でカメラ10と基板1の間の上方に
設置され、カメラ10で撮像される時に基板1上が照射
される。12は外部装置で、例えば基板設計用CADシ
ステムや部品基板搭載システム等である。13は外部装
置11との通信回線で、通信インタフェ−ス回路7を通
してCPUボ−ド4に接続されている。
詳細に説明する。図1は本発明による検査用プログラム
デ−タ自動作成機能を有する検査装置のの一実施例を示
す概略構成図である。図2は本発明による検査用プログ
ラムデ−タ自動作成機能の一実施例を説明するフロ−チ
ャ−トである。同図において、1は検査対象となるプリ
ント基板の裸基板、または電子部品がはんだ付けされた
実装基板であり、2は基板(裸基板または実装基板)1
を保持して基板1をXY方向の任意の位置に移動するこ
とが出来るXYテ−ブルである。3はXYテ−ブル2を
制御するXYテ−ブル制御回路、4はCPUボ−ド、5
はメモリ、6は画像フレ−ムメモリを持つ画像入出力イ
ンタ−フェ−ス、7は外部との通信インタフェ−ス回路
であり、8はCRT・キ−ボ−ド、9はフロッピ−ディ
スクドライブである。10は基板1を撮像するカメラ
で、カメラ10はXYテ−ブル2の上部にあって基板1
を垂直に見おろすことができるように取り付けられてい
る。カメラ10で撮像された画像は画像入出力インタ−
フェ−ス6を通してCPUボ−ド4に入力されて処理さ
れる。11は照明部でカメラ10と基板1の間の上方に
設置され、カメラ10で撮像される時に基板1上が照射
される。12は外部装置で、例えば基板設計用CADシ
ステムや部品基板搭載システム等である。13は外部装
置11との通信回線で、通信インタフェ−ス回路7を通
してCPUボ−ド4に接続されている。
【0008】上記構成で、まず、外部より部品種類に対
応して各部品の諸寸法を記録したデ−タを部品中心位置
からのデ−タとして入力する。実装される各部品の種類
と部品のリ−ド(電極)形状と、更に、その上、各部品
の搭載位置NCデ−タ、CADデ−タを予め入力する。
次に、図3に示す裸基板1において、カメラ10から
撮像された映像入力画像を、画像処理として、予め設定
された閾値により、ランド部を2値化等の処理により独
立のセグメントとして抽出する。 この画像により、現
在対象にしている部品14のランド16を見つけるに
は、例えば、ランド16として有効な面積を持つセグメ
ントで、デ−タとして与えられた部品搭載位置に最も近
いセグメントを見つける。次に見つけた各セグメントの
中心を結ぶ方向が部品の搭載される方向か、セグメント
の中心間距離が部品形状寸法に近いか、複数のセグメン
トを持つ場合の相対位置関係等の条件を用いて設定すれ
ばよい。 これより、現在対象にしている一つの部品1
4に属するランド16、16’、−−−が見つかる。
応して各部品の諸寸法を記録したデ−タを部品中心位置
からのデ−タとして入力する。実装される各部品の種類
と部品のリ−ド(電極)形状と、更に、その上、各部品
の搭載位置NCデ−タ、CADデ−タを予め入力する。
次に、図3に示す裸基板1において、カメラ10から
撮像された映像入力画像を、画像処理として、予め設定
された閾値により、ランド部を2値化等の処理により独
立のセグメントとして抽出する。 この画像により、現
在対象にしている部品14のランド16を見つけるに
は、例えば、ランド16として有効な面積を持つセグメ
ントで、デ−タとして与えられた部品搭載位置に最も近
いセグメントを見つける。次に見つけた各セグメントの
中心を結ぶ方向が部品の搭載される方向か、セグメント
の中心間距離が部品形状寸法に近いか、複数のセグメン
トを持つ場合の相対位置関係等の条件を用いて設定すれ
ばよい。 これより、現在対象にしている一つの部品1
4に属するランド16、16’、−−−が見つかる。
【0009】次に、搭載される部品14のリ−ド15の
位置と、はんだ付けされる基板1のランド16に対し、
部品のリ−ド(電極)15の形状と裸基板1上のランド
16の形状との組合せ対応により、抽出したランドによ
りそのランド位置から、検査時にはんだ付け状態を観察
する最適な視野範囲内のウインドウ17を形成・設定す
る。 CPUボ−ド4において、ウインドウ17のサイ
ズのデ−タの座標中心(x、y)は、搭載される部品1
4の中心(X、Y)に対して、画像から読み取り、数値
データが設定される。 ウインドウ17のサイズの設定
には、リ−ド15の一部とランド16の多くの部分が含
まれる。更に、部品14の基板1への搭載誤差分、検査
時の基板1の部品14へのXYテ−ブル2の移動誤差
分、基板1上にプリントされるの基準マ−カとランドと
の誤差分等と、部品14とリ−ド形状の寸法のバラツキ
分等を配慮し設定される。ウインドウ17のサイズ幅は
Xw、長さはYwが、画像から読み取り、数値データ指
定される。 またウインドウ17は部品14の配置方向
と、検査対象のリ−ド15の番号にとに対応される。
位置と、はんだ付けされる基板1のランド16に対し、
部品のリ−ド(電極)15の形状と裸基板1上のランド
16の形状との組合せ対応により、抽出したランドによ
りそのランド位置から、検査時にはんだ付け状態を観察
する最適な視野範囲内のウインドウ17を形成・設定す
る。 CPUボ−ド4において、ウインドウ17のサイ
ズのデ−タの座標中心(x、y)は、搭載される部品1
4の中心(X、Y)に対して、画像から読み取り、数値
データが設定される。 ウインドウ17のサイズの設定
には、リ−ド15の一部とランド16の多くの部分が含
まれる。更に、部品14の基板1への搭載誤差分、検査
時の基板1の部品14へのXYテ−ブル2の移動誤差
分、基板1上にプリントされるの基準マ−カとランドと
の誤差分等と、部品14とリ−ド形状の寸法のバラツキ
分等を配慮し設定される。ウインドウ17のサイズ幅は
Xw、長さはYwが、画像から読み取り、数値データ指
定される。 またウインドウ17は部品14の配置方向
と、検査対象のリ−ド15の番号にとに対応される。
【0010】検査対象部品14の種類別と部品リ−ド1
5の番号にとに対応されウインドウデ−タとして設定さ
れた、部品中心位置からウインドウ17のサイズの中心
位置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサイズ デ−
タ(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−タ等はウイ
ンドウデ−タとして、部品14の種類毎に、部品のリ−
ド15形状と一体に作成された、ライブラリとして登録
設定する。ウインドウ データの作成を、必要に応じ
て、裸基板の撮像画像処理により作成せずに、数値デ−
タ入力により作成する場合には、搭載される部品14の
リ−ド(電極)15の位置と、はんだ付けされる基板1
のランド16に対し、部品のリ−ド(電極)15の形状
と基板1上のランド16の形状との組合せ対応により、
検査時にはんだ付け状態を観察する最適な視野範囲内の
ウインドウ17を設定する。 CPUボ−ド4におい
て、ウインドウ17のサイズのデ−タの座標中心(x、
y)は、搭載される部品14の中心(X、Y)に対し、
数値入力し、作図・作画し、ウインドウ データが設定
される。
5の番号にとに対応されウインドウデ−タとして設定さ
れた、部品中心位置からウインドウ17のサイズの中心
位置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサイズ デ−
タ(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−タ等はウイ
ンドウデ−タとして、部品14の種類毎に、部品のリ−
ド15形状と一体に作成された、ライブラリとして登録
設定する。ウインドウ データの作成を、必要に応じ
て、裸基板の撮像画像処理により作成せずに、数値デ−
タ入力により作成する場合には、搭載される部品14の
リ−ド(電極)15の位置と、はんだ付けされる基板1
のランド16に対し、部品のリ−ド(電極)15の形状
と基板1上のランド16の形状との組合せ対応により、
検査時にはんだ付け状態を観察する最適な視野範囲内の
ウインドウ17を設定する。 CPUボ−ド4におい
て、ウインドウ17のサイズのデ−タの座標中心(x、
y)は、搭載される部品14の中心(X、Y)に対し、
数値入力し、作図・作画し、ウインドウ データが設定
される。
【0011】ウインドウ17のサイズの設定には、リ−
ド15の一部とランド16の多くの部分が含まれる。更
に、部品14の基板1への搭載誤差分、検査時の基板1
の部品14へのXYテ−ブル2の移動誤差分、基板1上
にプリントされるの基準マ−カとランドとの誤差分等
と、部品14とリ−ド形状の寸法のバラツキ分等を配慮
し設定される。ウインドウ17のサイズ幅はXw、長さ
はYwを数値データ入力し、作図・作画し、ウインドウ
のデ−タ指定される。 またウインドウ17は部品14
の配置方向と、検査対象のリ−ド15の番号にとに対応
される。 検査対象部品14の種類別と部品リ−ド15
の番号にとに対応されウインドウ デ−タとして設定さ
れた、部品中心位置からウインドウ17のサイズの中心
位置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサイズ デ−
タ(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−タ等はウイ
ンドウ デ−タとして、部品14の種類毎に、部品のリ
−ド15形状と一体に作成された、ライブラリとして登
録設定する。部品14の種類別に登録されたウインドウ
デ−タのライブラリはメモリ5に記憶される。更に、
ウィンドウ デ−タはファイルとしてフロッピ−ディス
クドライブ9に登録蓄積される。
ド15の一部とランド16の多くの部分が含まれる。更
に、部品14の基板1への搭載誤差分、検査時の基板1
の部品14へのXYテ−ブル2の移動誤差分、基板1上
にプリントされるの基準マ−カとランドとの誤差分等
と、部品14とリ−ド形状の寸法のバラツキ分等を配慮
し設定される。ウインドウ17のサイズ幅はXw、長さ
はYwを数値データ入力し、作図・作画し、ウインドウ
のデ−タ指定される。 またウインドウ17は部品14
の配置方向と、検査対象のリ−ド15の番号にとに対応
される。 検査対象部品14の種類別と部品リ−ド15
の番号にとに対応されウインドウ デ−タとして設定さ
れた、部品中心位置からウインドウ17のサイズの中心
位置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサイズ デ−
タ(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−タ等はウイ
ンドウ デ−タとして、部品14の種類毎に、部品のリ
−ド15形状と一体に作成された、ライブラリとして登
録設定する。部品14の種類別に登録されたウインドウ
デ−タのライブラリはメモリ5に記憶される。更に、
ウィンドウ デ−タはファイルとしてフロッピ−ディス
クドライブ9に登録蓄積される。
【0012】次に、新しい基板1毎に、検査用プログラ
ムデ−タ作成として設定する場合には、先ず、新しい基
板1に実装される部品の種類、搭載位置、方向のNCデ
−タまたはCADデ−タが、外部装置12からの通信回
線13またはフロッピ−ディスクドライブ9によりメモ
リ5に入力される。 また、すでに部品の種類別に作成
されているウィンドウ デ−タのファイルはフロッピ−
ディスクドライブ9に作成登録蓄積されているファイル
からメモリ5に呼び出される。 CPUボ−ド4によ
り、新しいの基板1に実装される部品14の種類、搭載
位置、方向のNCデ−タまたはCADデ−タと、登録さ
れている部品14のリ−ド15形状と一体のライブラリ
による、はんだ付け状態を検査するウインドウ デ−タ
のファイルから、新しい基板1上に、検査対象の全ウイ
ンドウ デ−タを自動的に組合せ、編集し、合成作成さ
れる。次に、図1に示すように、新しい基板1をXYテ
−ブル2に搭載し、照明部11により基板1を照射し、
カメラ10で撮像する。カメラ10で撮像された画像は
画像入出力インタ−フェ−ス6を通してCPUボ−ド4
に入力される。 新しい基板1上の、検査対象部品14
の、リ−ド15おける各ウインドウ デ−タに対し、カ
メラ10で撮像された画像に重ね合わせ、CRT・キ−
ボ−ド8に表示し、ウインドウ デ−タとして設定され
た、部品中心位置からウインドウ17のサイズの中心位
置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサイズ デ−タ
(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−タ等を確認
し、必要に応じて修正する。ウィンドウ デ−タの修正
は、CRT・キ−ボ−ド8において、キ−より数値入力
作成・修正する。またはグラフィック表示において作図
・修正する。
ムデ−タ作成として設定する場合には、先ず、新しい基
板1に実装される部品の種類、搭載位置、方向のNCデ
−タまたはCADデ−タが、外部装置12からの通信回
線13またはフロッピ−ディスクドライブ9によりメモ
リ5に入力される。 また、すでに部品の種類別に作成
されているウィンドウ デ−タのファイルはフロッピ−
ディスクドライブ9に作成登録蓄積されているファイル
からメモリ5に呼び出される。 CPUボ−ド4によ
り、新しいの基板1に実装される部品14の種類、搭載
位置、方向のNCデ−タまたはCADデ−タと、登録さ
れている部品14のリ−ド15形状と一体のライブラリ
による、はんだ付け状態を検査するウインドウ デ−タ
のファイルから、新しい基板1上に、検査対象の全ウイ
ンドウ デ−タを自動的に組合せ、編集し、合成作成さ
れる。次に、図1に示すように、新しい基板1をXYテ
−ブル2に搭載し、照明部11により基板1を照射し、
カメラ10で撮像する。カメラ10で撮像された画像は
画像入出力インタ−フェ−ス6を通してCPUボ−ド4
に入力される。 新しい基板1上の、検査対象部品14
の、リ−ド15おける各ウインドウ デ−タに対し、カ
メラ10で撮像された画像に重ね合わせ、CRT・キ−
ボ−ド8に表示し、ウインドウ デ−タとして設定され
た、部品中心位置からウインドウ17のサイズの中心位
置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサイズ デ−タ
(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−タ等を確認
し、必要に応じて修正する。ウィンドウ デ−タの修正
は、CRT・キ−ボ−ド8において、キ−より数値入力
作成・修正する。またはグラフィック表示において作図
・修正する。
【0013】修正後のウインドウ デ−タは部品と一体
にライブラリとして再登録される。以上により、検査対
象となる新しい基板1毎に、検査用プログラムデ−タと
して編集作成を完了する。新しい検査対象となる基板1
毎に、検査用プログラムデ−タはファイルとしてフロッ
ピ−ディスクドライブ9に蓄積さる。これらにより、新
しい基板毎に、部品の搭載位置、部品の種類と部品リ−
ド形状デ−タとウインドウ デ−タの部品と一体のライ
ブラリの情報のみで、検査用プログラムを編成し作成デ
−タすることは容易である。 また、部品の変更、追
加、削除、修正作成も容易である。また裸基板を直接使
用しないので裸基板の状態にも無関係である。検査ウイ
ンドウ デ−タを編集後、確認、修正する上で裸基板を
使用ことは当然であり、容易ある。 また、部品14の
リ−ド15間の、はんだブリッジの有無を検査するのウ
インドウのデ−タ作成、ライヴラリの登録も、すでに述
べた方法により、部品中心位置からウインドウ17のサ
イズの中心位置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサ
イズ デ−タ(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−
タ等はウインドウ デ−タとして、部品14の種類毎
に、部品のリ−ド15形状と一体に作成された、ライブ
ラリとして登録設定すれば、検査用プログラムの作成に
容易に繰返し活用出来る。 また、これ迄は、部品14
のリ−ド15の接続状態について、具体例を示したが、
個々の部品での電極の接続状態、および一定部品間ブリ
ッジの有無の検査検査用のウインドウも、一度部品と一
体にライブラリとして登録すれば、検査用プログラムの
作成に容易に繰返し活用出来る。また、新しい部品、特
殊部品の検査用のウインドウも、一度部品と一体にライ
ブラリとして登録すれば、検査用プログラムの作成に容
易に繰返し活用出来る。以上説明した検査用プログラム
作成デ−タ法を実施する装置を構成することも容易であ
る。
にライブラリとして再登録される。以上により、検査対
象となる新しい基板1毎に、検査用プログラムデ−タと
して編集作成を完了する。新しい検査対象となる基板1
毎に、検査用プログラムデ−タはファイルとしてフロッ
ピ−ディスクドライブ9に蓄積さる。これらにより、新
しい基板毎に、部品の搭載位置、部品の種類と部品リ−
ド形状デ−タとウインドウ デ−タの部品と一体のライ
ブラリの情報のみで、検査用プログラムを編成し作成デ
−タすることは容易である。 また、部品の変更、追
加、削除、修正作成も容易である。また裸基板を直接使
用しないので裸基板の状態にも無関係である。検査ウイ
ンドウ デ−タを編集後、確認、修正する上で裸基板を
使用ことは当然であり、容易ある。 また、部品14の
リ−ド15間の、はんだブリッジの有無を検査するのウ
インドウのデ−タ作成、ライヴラリの登録も、すでに述
べた方法により、部品中心位置からウインドウ17のサ
イズの中心位置デ−タ(x、y)、ウインドウ17のサ
イズ デ−タ(Xw、Yw)、部品14の配置方向デ−
タ等はウインドウ デ−タとして、部品14の種類毎
に、部品のリ−ド15形状と一体に作成された、ライブ
ラリとして登録設定すれば、検査用プログラムの作成に
容易に繰返し活用出来る。 また、これ迄は、部品14
のリ−ド15の接続状態について、具体例を示したが、
個々の部品での電極の接続状態、および一定部品間ブリ
ッジの有無の検査検査用のウインドウも、一度部品と一
体にライブラリとして登録すれば、検査用プログラムの
作成に容易に繰返し活用出来る。また、新しい部品、特
殊部品の検査用のウインドウも、一度部品と一体にライ
ブラリとして登録すれば、検査用プログラムの作成に容
易に繰返し活用出来る。以上説明した検査用プログラム
作成デ−タ法を実施する装置を構成することも容易であ
る。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、新しい基
板毎に、部品の搭載位置、部品の種類と部品リ−ド形状
デ−タ及び裸基板のランドにもとづく検査用のウインド
ウの、部品と一体のライブラリのデ−タが確立している
ので、検査用プログラムを編成し作成デ−タする場合、
部品と一体として編集することは容易である。また、ブ
リッジ有無の検査用のウインドウの、部品と一体のライ
ブラリのデ−タにより、検査用プログラムを編成し作成
デ−タする場合、部品と一体として編集することも容易
である。また、部品毎の変更、追加、削除、編集、修正
作成も容易である。また、難しい部品、特殊部品の検査
用ウインドウも一度ライブラリとして登録すれば、容易
に繰返し活用出来る。
板毎に、部品の搭載位置、部品の種類と部品リ−ド形状
デ−タ及び裸基板のランドにもとづく検査用のウインド
ウの、部品と一体のライブラリのデ−タが確立している
ので、検査用プログラムを編成し作成デ−タする場合、
部品と一体として編集することは容易である。また、ブ
リッジ有無の検査用のウインドウの、部品と一体のライ
ブラリのデ−タにより、検査用プログラムを編成し作成
デ−タする場合、部品と一体として編集することも容易
である。また、部品毎の変更、追加、削除、編集、修正
作成も容易である。また、難しい部品、特殊部品の検査
用ウインドウも一度ライブラリとして登録すれば、容易
に繰返し活用出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の主要部概略構成図。
【図2】本発明による検査用プログラムデ−タ自動作成
機能のフロ−チャ−ト。
機能のフロ−チャ−ト。
【図3】検査用ウインドウの設定の説明図
1 基板 2 XYテ−ブル 3 XYテ−ブル制御回路 4 CPUボ−ド 5 メモリ 6 画像入出力インタ−フェ−ス 7 通信インタフェ−ス回路 8 CRT・キ−ボ−ド 9 フロッピ−ディスクドライブ 10 カメラ 11 照明部 12 外部装置 13 通信回線 14 部品 15 リ−ド 16 ランド 17 ウインドウ
Claims (4)
- 【請求項1】電子部品の基板実装後のはんだ付け状態を
自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付け部
に対し、検査用プログラムのデ−タ作成を予め設定する
場合において、予め、実装される部品の種類と部品のリ
−ド形状と、更にその上、裸基板上の撮像画像処理によ
る、はんだ付け部のランド上との組合せによる、はんだ
付け状態を検査するウインドウの位置とサイズとを、事
前に部品の種類毎に、部品のリ−ド形状と一体に形成
し、ライブラリとして登録設定し、次ぎに、検査対象の
基板ごとに、検査用プログラムのデ−タ作成する場合に
は、該基板に実装される部品の搭載位置、部品の種類の
情報と、その部品毎に登録されている部品のリ−ド形状
と一体のライブラリに基づいた、はんだ付け状態を検査
するウインドウを用いて、編集作成することよりなる、
検査用プログラムのデ−タを作成する方法。 - 【請求項2】電子部品の基板実装後のはんだ付け状態を
自動検査する装置として、検査対象であるはんだ付け部
に対し、検査用プログラムのデ−タ作成を予め設定する
上で、予め、実装される部品の種類と部品のリ−ド形状
と、更にその上、基板上のはんだ付け部のランド上との
組合せによる、はんだ付け状態を検査するウインドウの
位置とサイズとを、事前に部品の種類毎に、部品のリ−
ド形状と一体に作成する場合において、裸基板から撮像
画像処理による方法と、数値デ−タによる方法を併せも
ち、作成し、ライブラリとして登録設定し、次ぎに、検
査対象の基板ごとに、検査用プログラムのデ−タ作成す
る場合には、該基板に実装される部品の搭載位置、部品
の種類の情報と、その部品毎に登録されている部品のリ
−ド形状と一体のライブラリに基づいた、はんだ付け状
態を検査するウインドウを用いて、編集作成することよ
りなる、検査用プログラムのデ−タを作成する方法。 - 【請求項3】請求項1または請求項2において、検査す
るウインドウの自動編集、変更、追加、削除、修正、作
成する、検査用プログラムのデ−タを作成する方法を実
施する装置。 - 【請求項4】請求項1または請求項2において、新規に
作成する部品を検査するウインドウを、ライブラリとし
て作成登録し、繰返し活用出来る検査用プログラムのデ
−タを作成する方法を実施する装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4258986A JPH0682228A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 検査用プログラムデータ作成方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4258986A JPH0682228A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 検査用プログラムデータ作成方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0682228A true JPH0682228A (ja) | 1994-03-22 |
Family
ID=17327769
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4258986A Pending JPH0682228A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 検査用プログラムデータ作成方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0682228A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006330003A (ja) * | 2006-08-30 | 2006-12-07 | Saki Corp:Kk | 部品検査装置の検査用ライブラリデータの管理方法 |
US7406191B2 (en) | 2002-08-06 | 2008-07-29 | Omron Corporation | Inspection data producing method and board inspection apparatus using the method |
JP2011095053A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Omron Corp | 基板検査用の検査領域の設定データ作成方法および検査データ作成システム |
JP2011095054A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Omron Corp | 基板検査用の検査領域の設定データ作成方法および検査データ作成システム |
-
1992
- 1992-09-02 JP JP4258986A patent/JPH0682228A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7406191B2 (en) | 2002-08-06 | 2008-07-29 | Omron Corporation | Inspection data producing method and board inspection apparatus using the method |
JP2006330003A (ja) * | 2006-08-30 | 2006-12-07 | Saki Corp:Kk | 部品検査装置の検査用ライブラリデータの管理方法 |
JP4573273B2 (ja) * | 2006-08-30 | 2010-11-04 | 株式会社サキコーポレーション | 部品検査装置の検査用ライブラリデータの管理方法 |
JP2011095053A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Omron Corp | 基板検査用の検査領域の設定データ作成方法および検査データ作成システム |
JP2011095054A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Omron Corp | 基板検査用の検査領域の設定データ作成方法および検査データ作成システム |
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Legal Events
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---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
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