JPH05301710A - 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置 - Google Patents

基板処理システムの基板搬送方法及びその装置

Info

Publication number
JPH05301710A
JPH05301710A JP12988292A JP12988292A JPH05301710A JP H05301710 A JPH05301710 A JP H05301710A JP 12988292 A JP12988292 A JP 12988292A JP 12988292 A JP12988292 A JP 12988292A JP H05301710 A JPH05301710 A JP H05301710A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
stage
processing
vertical
processed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12988292A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Mihashi
善之 三橋
Keiko Nakakura
啓子 中倉
Hideto Tani
秀人 谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP12988292A priority Critical patent/JPH05301710A/ja
Publication of JPH05301710A publication Critical patent/JPH05301710A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 ロードステージLSにて処理対象となる基板
1をホルダを介さない縦型基板搬送系2に保持する工程
と、基板1を処理ステージSTに搬送する工程と、この
処理ステージSTに搬入された基板1を位置決め固定す
る工程と、処理ステージSTでの処理が終了した時点で
処理済みの基板1をアンロードステージUSへ搬送する
工程と、アンロードステージUSにて処理済みの基板1
を縦型基板搬送系2から離脱させる工程とを具備させ
る。 【効果】 基板搬送系側でのアライメント調整及び基板
サイズの変更への対応を容易に行うことができ、しか
も、基板の処理タクトを短縮することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、液晶用ガラス基板等
の各種基板を処理するシステムにおいて用いられる基板
搬送方法及びその装置に係り、特に、基板を縦置き搬送
するタイプの改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、液晶用ガラス基板の表面欠陥を検
査するようなシステムにおいては、搬送ベルト上に検査
対象である基板を横置きし、所定の検査ステージに順次
搬送して基板の表面欠陥の有無を検査するという方法が
採用されていた。しかしながら、この種のシステムにあ
っては、基板を横置きしている関係上、薄く大型の基板
は撓み変形し易く、その撓み変形が表面検査精度に悪影
響を及ぼす虞れがあるばかりか、一度に基板の片側のみ
しか検査することができず、両側の表面検査を行うよう
な場合には検査ステージを2回通過させることが必要に
なり、その分、検査処理時間が嵩むという技術的課題が
ある。
【0003】このような技術的課題を解決するために、
本件出願人は、例えば縦置きホルダに基板を縦置き保持
し、この縦置きホルダを介して基板を処理ステージへ搬
送し、縦置き姿勢の基板を両側から同時に検査するとい
う方法が既に案出されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
の検査システムにあっては、ホルダに基板を保持する上
で、ホルダに対して基板をある程度正確に位置決めする
ことが必要であるため、ホルダのアライメント調整が面
倒になってしまうばかりか、基板サイズ毎に専用のホル
ダが必要になるため、例えばサイズの異なる基板を検査
対象とする場合には、搬送ライン上に新たなホルダをセ
ットした後に所定のアライメント調整を行わなければな
らず、その分、基板サイズの変更への対応が極めて面倒
であるという技術的課題がある。更に、この種のホルダ
搬送タイプにあっては、基板を連続的に検査するとして
も、ホルダが基板ロード位置に戻るまでは、次の基板を
搬送することができず、その分、基板の検査タクトを短
縮するには限界があった。
【0005】この発明は、以上の技術的課題を解決する
ためになされたものであって、基板搬送系側でのアライ
メント調整及び基板サイズの変更への対応を容易に行う
ことができ、しかも、基板の処理タクトを短縮すること
ができる基板処理システムの基板搬送方法及びその装置
を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】すなわち、この発明は、
図1に示すように、処理対象となる基板1を所定の処理
ステージSTまで搬送すると共に、当該処理ステージS
Tにて搬入された基板1に対し所定の処理を施し、しか
る後、処理済みの基板1を処理ステージSTから離脱さ
せる基板処理システムを前提とし、ロードステージLS
から処理ステージSTを経由してアンロードステージU
Sまで延び且つ基板1の下端縁が載置されて移動する基
板搬送手段3と、この基板搬送手段3の上方部位に設け
られ、基板搬送手段3に載置された基板1が縦方向姿勢
に保持されたまま移動する基板案内手段4とからなる縦
型基板搬送系2を用い、ロードステージLSにて処理対
象となる基板1を縦型基板搬送系2に保持する基板ロー
ド工程と、縦型基板搬送系2に保持された基板1を処理
ステージSTに搬送する基板処理前搬送工程と、この処
理ステージSTにて所定の処理が施される間、搬入され
た基板1を位置決め固定する基板位置決め停止工程と、
処理ステージSTでの処理が終了した時点で処理済みの
基板1をアンロードステージUSへ搬送する基板処理後
搬送工程と、アンロードステージUSにて処理済みの基
板1を縦型基板搬送系2から離脱させるアンロード工程
とを具備させたことを特徴とするものである。
【0007】そして、このような方法発明を具現化した
装置発明は、例えば図1に示すように、処理対象となる
基板1を所定の処理ステージSTまで搬送すると共に、
当該処理ステージSTにて搬入された基板1に対し所定
の処理を施し、しかる後、処理済みの基板1を処理ステ
ージSTから離脱させる基板処理システムを前提とし、
ロードステージLSから処理ステージSTを経由してア
ンロードステージUSまで延び且つ基板1の下端縁が載
置されて移動する基板搬送手段3、並びに、この基板搬
送手段3の上方部位に設けられ、基板搬送手段3に載置
された基板1が縦方向姿勢に保持されたまま移動する基
板案内手段4からなる縦型基板搬送系2と、処理前の基
板群領域から処理対象となる基板1を選択してロードス
テージLSへ移載し、縦型基板搬送系2に保持するロー
ド用基板移載手段5と、処理ステージSTに搬入された
基板1を位置決め固定する位置決め固定手段6と、アン
ロードステージUSにて縦型基板搬送系2から処理済み
の基板1を離脱させ、処理済みの基板群領域へ移載する
アンロード用基板移載手段7と、少なくとも処理ステー
ジSTにて処理手段9が基板1に対して所定の処理を施
すタイミングで基板搬送手段3を停止させ、このタイミ
ングに同期して、ロード用基板移載手段5、位置決め固
定手段6及びアンロード用基板移載手段7を必要に応じ
て作動させるシーケンス制御手段8とを備えたことを特
徴とするものである。
【0008】このような技術的手段において、縦型基板
搬送系2としては、基板1を垂直姿勢に保持してもよい
が、この場合には、基板案内手段4で基板1の両方向へ
の倒れを阻止するようにしなければならないが、基板1
を垂直姿勢から僅かに傾斜配置させるようにすれば、基
板案内手段4に基板1の上端部が支持されることになる
ため、基板案内手段4としては、基板1の移動を確保で
きるような構成のみを考慮すれば足りることになり、そ
の分、装置構成の簡略化を図ることが可能である。ま
た、基板1の処理は振動に影響を受けるので、装置自体
に防振対策を施すことが好ましく、また、基板1を検査
処理するようなシステムにおいては、基板1を停止して
検査システムを動かすことにより、基板1(特に薄いガ
ラス基板)の振動を減少させることが可能である。
【0009】また、ロード用基板移載手段5、アンロー
ド用基板移載手段7としては、予め所定の動きがティー
チングされたロボットを始め適宜選定して差し支えない
が、可能な限り省スペース化を考慮して設置することが
好ましい。また、各基板移載手段5,7による基板1の
保持の仕方についても適宜選定して差し支えないが、検
査を実施するために表面接触を嫌うもの(ゴミの付着、
吸着あと等が誤検査の原因になる)の場合には、基板の
表面部分に触れないで例えば基板のエッジ部分をサポー
トするように設計することが必要である。
【0010】更に、位置決め固定手段6としては、少な
くとも処理手段9による処理が損なわれない範囲で、基
板1を位置決め固定できるものであれば、基板1周囲の
一部をクランプ部材で保持するようにしてもよいし、あ
るいは、基板1の周囲に対応した固定フレームを用意
し、この固定フレームに対して基板を例えば真空吸着さ
せる等適宜設計変更して差し支えない。
【0011】更にまた、シーケンス制御手段8として
は、適宜コンピュータシステム等を用いて、夫々の制御
対象をコントロールするものであれば適宜設計変更して
差し支えない。
【0012】
【作用】上述したような技術的手段において、図1の装
置発明を用いてこの発明の作用を説明する。同図におい
て、縦型基板搬送系2は、基板搬送手段3上に基板1の
下端部を載置し、基板案内手段4にて基板1の上端部を
案内しながら、基板1を縦方向姿勢のまま搬送する。そ
して、基板1が処理ステージSTに到達すると、シーケ
ンス制御手段8が働いて位置決め固定手段6が作動し、
基板1は位置決め固定手段6によって所定位置に固定さ
れ、処理手段9が基板1に対して所定の処理を施す。こ
のとき、シーケンス制御手段8は、ロード用基板移載手
段5及びアンロード用基板移載手段7を作動させるた
め、処理手段9による処理過程中において、ロード用基
板移載手段5はロードステージLSにて次の基板1を縦
型基板搬送系2に保持させ、また、アンロード用基板移
載手段7はアンロードステージUSにて処理済みの基板
1を縦型基板搬送系2から離脱させる。
【0013】
【実施例】以下、添付図面に示す実施例に基づいてこの
発明を詳細に説明する。図2はガラス基板の欠陥検査シ
ステムにこの発明を適用した一実施例である。同図にお
いて、符号20は縦型基板搬送系であり、基板100の
下端部を載置して基板100を搬送する搬送機構21
と、基板100の上端部を移動可能に支持するガイド機
構25とで構成されている。そして、この実施例では、
上記基板100は垂直方向に対して僅かにθ(基板10
0の撓み防止の観点から10゜以下:この実施例では7
゜程度)だけ傾斜配置される。より具体的に述べると、
上記搬送機構21は、特に図2,図3,図4に示すよう
に、ロードステージLSから処理ステージSTを経由し
てアンロードステージUSへ直線的に基板100を搬送
するものであり、具体的には、メンテナンスを考慮して
複数に分割配置されている単位搬送ベルト22群にて構
成されており、各単位搬送ベルト22間には基板100
の搬送性に影響を与えない範囲でスペース23が確保さ
れている。また、ガイド機構25は、上記搬送機構21
の上方に搬送機構21の長手方向に沿ってガイドレール
26を設け、このガイドレール26にはガイドロール2
7を所定ピッチ間隔毎に配設したものである。尚、この
実施例で用いられるガイドロール27は、ガイドレール
26にシャフト27aを固定し、このシャフト27aに
ベアリング27bを介してゴムライニング27cをロー
ル表面に露呈させるようにしたものである。更に、この
実施例では、上記ガイドレール26は、図2に示すよう
に、調整ネジ機構28に上下方向位置を可変設定できる
ようになっており、検査対象の基板100のサイズが変
更されたような場合に、ガイドレール26位置を調整す
ることにより、ガイドロール27の案内面位置を変化さ
せるようになっている。
【0014】また、符号30はロード用基板移載ロボッ
ト、31はロード用基板移載ロボット30の移載動作を
サポートするロード用リフタ、32は処理前の基板10
0が多数縦置き収容されている専用カセット台である。
尚、この専用カセット台32としては、ガラス基板10
0のバッチ式洗浄工程(前工程)で用いたものを流用す
ることができる。この実施例において、ロード用基板移
載ロボット30は、図5に示すように、縦型基板搬送系
20のロードステージLSの後方部位に設置されてお
り、縦型基板搬送系20を横切ってロードステージLS
の手前側に向かって進退する1軸のアーム301を有
し、このアーム301の先端に把持ハンド302を取り
付けたものである。
【0015】この実施例における把持ハンド302の具
体的構成を図6及び図7に示す。同図において、把持ハ
ンド302は、ベースフレーム303の下部に下方向に
延びる舌状サポート片304を取り付け、この舌状サポ
ート片304の下端には回転自由端が前方側へ突出可能
にチルト式爪片305を回動自在に取り付けると共に、
このチルト式爪片305の回転自由端が下方向へ向かう
ようにスプリング部材306でチルト式爪片305を予
め付勢し、更に、駆動シリンダ307にてチルト式爪片
305をスプリング部材306の付勢力に抗して前方側
へ突出させるようにしたものである。また、把持ハンド
302は、そのベースフレーム303にモータ310に
よって回転するボールネジ311を水平方向に取り付
け、このボールネジ311の回転に応じて水平方向で進
退する移動ブロック312を設けるト共に、この移動ブ
ロック312には下方に垂下されたガイド付き爪片31
3(基板100取り出し時等において基板100のがた
つきをなくして安定させる用途のもの)を夫々設けるよ
うにしたものである。このような把持ハンド302によ
れば、ガラス基板100搬送時には、チルト式爪片30
5が前方側へ突出した状態に設定され、ガラス基板10
0の下端部を支え、一方、縦型基板搬送系20に基板1
00をロードした後あるいは専用カセット台32に基板
を取り出しに行く際にはチルト式爪片305は下方側へ
チルトするようになっている。尚、符号315は例えば
ジョブチェンジで大型の基板100を保持するような場
合において前記ガイド付き爪片313と交換される交換
用爪片であり、また、符号316は把持ハンド302に
基板100が把持されているか否かを検出する超音波セ
ンサである。
【0016】また、リフタ31は把持ハンド302で把
持される基板100を上方向へ持ち上げるものであり、
リフタ31の先端部は二股に分かれて基板100の下端
部を支持するサポート用溝部31aとして構成され、リ
フタ31の先端部二股部分の間に確保される凹所31b
は上記把持ハンド302のチルト式爪片305の移動ス
ペースを考慮したものである。
【0017】また、符号40はアンロード用基板移載ロ
ボット、41はアンロード用基板移載ロボット40の移
載動作をサポートするアンロード用リフタ、42は検査
済みの基板100のうち良品を縦置き収容する良品専用
カセット台、43は検査済みの基板100のうち不良品
を縦置き収容する不良品専用カセット台である。尚、こ
の専用カセット台42,43についても、ガラス基板1
00のバッチ式洗浄工程(前工程)で用いたものを流用
することができる。この実施例において、アンロード用
基板移載ロボット40は、図2に示すように、縦型基板
搬送系20のアンロードステージUSの後方部位に設置
されており、縦型基板搬送系20の長手方向に沿って移
動するロボット本体401、並びに、縦型基板搬送系2
0を横切ってアンロードステージUSの手前側に向かっ
て進退するアーム402の2軸構成であり、前記アーム
402の先端にロード用移載ロボット30のものと同様
な把持ハンド403を取り付けたものである。
【0018】更にまた、この実施例では、図3に示すよ
うに、検査ステージSTに搬入された基板100を位置
決め固定するクランパ50が基板100の上端部の両側
に対応して二つ、下端側中央部に対応して一つ設けられ
ている。このクランパ50は、例えば図8に示すよう
に、回転自由端が基板100側に向かっているクランプ
部材51を回転自在に設け、このクランプ部材51をス
プリング52で開方向へ付勢するト共に、シリンダ53
のロッド54をクランプ部材51の溝部55に係合させ
ることにより、クランプ部材51を閉方向へ移動させる
ものである。
【0019】また、この実施例では、検査ステージST
の検査機60は、図2に示すように、縦方向姿勢で搬送
されてくる基板100の両側面に対応して一対設けられ
ている。各検査機60は、図9に示すように、光源装置
61からの光をライン状の光として基板100に照射す
る上下一対の光ファイバ62と、基板100からの反射
光を分担して読み取る例えば四つのCCDラインセンサ
カメラ63とで構成されている。そして、CCDライン
センサカメラ63からの映像信号は、図10に示すよう
に、画像処理装置64に取り込まれて適宜欠陥判別用の
処理が行われ、この結果がモニタ65に出力される。
尚、画像処理装置64での欠陥判別処理は例えばホスト
コンピュータ66にてダウンロードされた処理プログラ
ムに従って処理されるようになっている。
【0020】また、上記ホストコンピュータ66は検査
システムコントローラ67に所定の検査シーケンスに従
ったコントロール信号を送出し、検査システムコントロ
ーラ67は、ロード用移載ロボット30(ロード用リフ
タ31も含む)、縦型基板搬送系20、クランパ50、
検査機60及びアンロード用移載ロボット40(アンロ
ード用リフタ41を含む)を後述するように制御する。
【0021】次に、この実施例に係るガラス基板の欠陥
検査システムの作動について説明する。先ず、ローダ用
リフタ31が専用カセット台32から検査対象となるガ
ラス基板100を持ち上げると、専用カセット台32の
上方で待機していたローダ用移載ロボット30の把持ハ
ンド302は、そのガイドつき爪片313にてガラス基
板100をチャックする。この後、把持ハンド302の
チルト式爪片305がガラス基板100の下端縁を支持
し、この段階で、ローダ用リフタ31が降下する。そし
て、上記ローダ用移載ロボット30のアーム301が後
退移動し、ロードステージLSにて縦型基板搬送系20
にガラス基板100を数度傾けた状態で移載する。しか
る後、縦型基板搬送系20は基板100を検査ステージ
STまでベルト搬送する。そして、基板100が検査ス
テージSTに到達すると、図示外の位置検出センサ等か
らの情報に基づいてクランパ50が基板100を位置決
め固定する。この状態において、検査機60が固定され
ている基板100に対しその検査部位を順次移動させて
検査を行うため、基板100を移動させる際に生じ得る
基板100の振動の影響による検査精度の低下は抑えら
れる。検査が終了すると、縦型基板搬送系20は基板1
00を再びベルト搬送し、アンローダステージUSで停
止させる。すると、アンローダ用移載ロボット40が作
動し、検査機60による検査結果に基づいて検査済みの
基板100を良品専用カセット台42あるいは不良品専
用カセット台43に収納する。
【0022】このような動作過程において、検査ステー
ジSTにてある基板100に対する欠陥検査が行われて
いるとすれば、このとき、縦型基板搬送系20は停止状
態にあるため、検査の順番が次の基板100rはローダ
用移載ロボット30にてロードステージLSにロードさ
れ、また、一つ手前の順番の検査済みの基板100fは
アンローダ用移載ロボット40にてアンロードステージ
USから離脱され、良品専用カセット台42あるいは不
良品専用カセット台43に収納される。それゆえ、検査
用の基板は順次縦型基板搬送系20にセットされて順次
検査ステージSTに搬送され、順次各基板100に対す
る欠陥検査が行われる。
【0023】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1若し
くは2記載の発明によれば、以下のような効果を奏する
ことができる。すなわち、第一に、縦型基板搬送系に基
板をロードさせる際には、基本的に基板搬送手段に基板
を載置させるだけで済むので、ホルダ搬送タイプの場合
に比べて、ホルダに対する基板の位置決めが不要になる
分、基板搬送系側でのアライメント調整を簡略化するこ
とができる。第二に、基板サイズを変更する場合には、
基板案内手段の上下方向位置を調整するだけで済むの
で、ホルダ搬送タイプに比べて、専用のホルダをアライ
メント調整しながらセットする作業が不要になる分、基
板サイズの変更への対応を容易に行うことができる。第
三に、縦型基板搬送系の処理ステージで基板の処理を行
っている間に、縦型基板搬送系に他の基板のロード、ア
ンロードを並行して行うことができるため、ホルダ搬送
タイプに比べて、ホルダの戻り時間を省略できる分、処
理タクトの短縮化を図ることができる。第四に、処理ス
テージでは、固定状態の基板に対して処理を施すように
しているので、基板移動時の処理に比べて、基板の振動
等による処理精度の低下を有効に防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明に係る基板処理システムの基板搬送
方法及びその装置の構成を示す説明図である。
【図2】 この発明が適用されたガラス基板の欠陥検査
システムの一実施例を示す説明図である。
【図3】 実施例に係る縦型基板搬送系の詳細を示す説
明図である。
【図4】 図3中IV−IV線断面図である。
【図5】 実施例に係るロード用移載ロボットの詳細を
示す説明図である。
【図6】 実施例に係るロード用移載ロボットの把持ハ
ンドの具体例を示す説明図である。
【図7】 実施例に係る把持ハンドのチルト式爪片の支
持構造例を示す説明図である。
【図8】 実施例で用いられるクランパの具体例を示す
説明図である。
【図9】 実施例で用いられる検査機の具体例を示す説
明図である。
【図10】 実施例で用いられるシーケンス制御系の具
体例を示すブロック図である。
【図11】 実施例に係るガラス基板の欠陥検査システ
ムの作動状態を示す説明図である。
【符号の説明】
LS…ロードステージ,ST…処理ステージ,US…ア
ンロードステージ,1…基板,2…縦型基板搬送系,3
…基板搬送手段,4…基板案内手段,5…ロード用基板
移載手段,6…位置決め固定手段,7…アンロード用基
板移載手段,8…シーケンス制御手段,9…処理手段

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理対象となる基板(1)を所定の処理
    ステージ(ST)まで搬送すると共に、当該処理ステー
    ジ(ST)にて搬入された基板(1)に対し所定の処理
    を施し、しかる後、処理済みの基板(1)を処理ステー
    ジ(ST)から離脱させる基板処理システムにおいて、
    ロードステージ(LS)から処理ステージ(ST)を経
    由してアンロードステージ(US)まで延び且つ基板
    (1)の下端縁が載置されて移動する基板搬送手段
    (3)と、この基板搬送手段(3)の上方部位に設けら
    れ、基板搬送手段(3)に載置された基板(1)が縦方
    向姿勢に保持されたまま移動する基板案内手段(4)と
    からなる縦型基板搬送系(2)を用い、ロードステージ
    (LS)にて処理対象となる基板(1)を縦型基板搬送
    系(2)に保持する基板ロード工程と、縦型基板搬送系
    (2)に保持された基板(1)を処理ステージ(ST)
    に搬送する基板処理前搬送工程と、この処理ステージ
    (ST)にて所定の処理が施される間、搬入された基板
    (1)を位置決め固定する基板位置決め停止工程と、処
    理ステージ(ST)での処理が終了した時点で処理済み
    の基板(1)をアンロードステージ(US)へ搬送する
    基板処理後搬送工程と、アンロードステージ(US)に
    て処理済みの基板(1)を縦型基板搬送系(2)から離
    脱させるアンロード工程とを具備させたことを特徴とす
    る基板処理システムの基板搬送方法。
  2. 【請求項2】 処理対象となる基板(1)を所定の処理
    ステージ(ST)まで搬送すると共に、当該処理ステー
    ジ(ST)にて搬入された基板(1)に対し所定の処理
    を施し、しかる後、処理済みの基板(1)を処理ステー
    ジ(ST)から離脱させる基板処理システムにおいて、
    ロードステージ(LS)から処理ステージ(ST)を経
    由してアンロードステージ(US)まで延び且つ基板
    (1)の下端縁が載置されて移動する基板搬送手段
    (3)、並びに、この基板搬送手段(3)の上方部位に
    設けられ、基板搬送手段(3)に載置された基板(1)
    が縦方向姿勢に保持されたまま移動する基板案内手段
    (4)からなる縦型基板搬送系(2)と、処理前の基板
    群領域から処理対象となる基板(1)を選択してロード
    ステージ(LS)へ移載し、縦型基板搬送系(2)に保
    持するロード用基板移載手段(5)と、処理ステージ
    (ST)に搬入された基板(1)を位置決め固定する位
    置決め固定手段(6)と、アンロードステージ(US)
    にて縦型基板搬送系(2)から処理済みの基板(1)を
    離脱させ、処理済みの基板群領域へ移載するアンロード
    用基板移載手段(7)と、少なくとも処理ステージ(S
    T)にて処理手段(9)が基板(1)に対して所定の処
    理を施すタイミングで基板搬送手段(3)を停止させ、
    このタイミングに同期して、ロード用基板移載手段
    (5)、位置決め固定手段(6)及びアンロード用基板
    移載手段(7)を必要に応じて作動させるシーケンス制
    御手段(8)とを備えたことを特徴とする基板処理シス
    テムの基板搬送装置。
JP12988292A 1992-04-24 1992-04-24 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置 Pending JPH05301710A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12988292A JPH05301710A (ja) 1992-04-24 1992-04-24 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12988292A JPH05301710A (ja) 1992-04-24 1992-04-24 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05301710A true JPH05301710A (ja) 1993-11-16

Family

ID=15020667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12988292A Pending JPH05301710A (ja) 1992-04-24 1992-04-24 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05301710A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006143462A (ja) * 2004-11-25 2006-06-08 Ulvac Japan Ltd 縦型基板搬送機構及びこれを備えた基板搬送装置
JP2006273521A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Central Glass Co Ltd 容器溝へのガラス板の挿入方法および装置
JP2006327819A (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Central Glass Co Ltd ガラス板の移載装置および移載方法
US7300084B2 (en) 2002-03-23 2007-11-27 L.G.Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus for conveying liquid crystal display panel
JP2008299021A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査方法及び装置
JP2009236771A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス基板検査装置およびガラス基板検査方法
JP2010122225A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Ls-Nikko Copper Inc 電解精錬された金属析出板の表面検査装置
JP2010186850A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Yaskawa Electric Corp 基板把持ハンド、基板把持機構およびそれを備えた基板搬送装置、製造装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7616289B2 (en) 2002-03-23 2009-11-10 Lg Display Co., Ltd. Apparatus for conveying liquid crystal display panel
US7300084B2 (en) 2002-03-23 2007-11-27 L.G.Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus for conveying liquid crystal display panel
JP2006143462A (ja) * 2004-11-25 2006-06-08 Ulvac Japan Ltd 縦型基板搬送機構及びこれを備えた基板搬送装置
JP4582628B2 (ja) * 2004-11-25 2010-11-17 株式会社アルバック 縦型基板搬送機構及びこれを備えた基板搬送装置
JP2006273521A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Central Glass Co Ltd 容器溝へのガラス板の挿入方法および装置
JP4614807B2 (ja) * 2005-03-29 2011-01-19 セントラル硝子株式会社 容器溝へのガラス板の挿入方法および装置
JP2006327819A (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Central Glass Co Ltd ガラス板の移載装置および移載方法
JP2008299021A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Micronics Japan Co Ltd 液晶パネル検査方法及び装置
JP2009236771A (ja) * 2008-03-27 2009-10-15 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス基板検査装置およびガラス基板検査方法
CN101889199A (zh) * 2008-03-27 2010-11-17 日本电气硝子株式会社 玻璃基板检查装置及玻璃基板检查方法
KR101471899B1 (ko) * 2008-03-27 2014-12-11 니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤 유리 기판 검사 장치 및 유리 기판 검사 방법
JP2010122225A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Ls-Nikko Copper Inc 電解精錬された金属析出板の表面検査装置
JP2010186850A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Yaskawa Electric Corp 基板把持ハンド、基板把持機構およびそれを備えた基板搬送装置、製造装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI383936B (zh) 基板交換裝置、基板處理裝置及基板檢查裝置
JPH09162257A (ja) 薄型基板の搬送装置
JP2003515947A (ja) 板状の基板を位置合わせするための装置および方法
JPH05301710A (ja) 基板処理システムの基板搬送方法及びその装置
JP2022176247A (ja) ウエハ位置決め装置
JP2000205848A (ja) モジュ―ル外観検査設備
CN116472604A (zh) 对准装置以及对准方法
JPH11165864A (ja) 基板搬送装置及び基板処理装置
JPH08137091A (ja) マスク外観検査装置
CN108628106B (zh) 曝光装置
JP2005017386A (ja) 平板状ワークの検査、修正装置
JPH08316288A (ja) 自動搬送装置
JP2000236009A (ja) 基板処理装置
JPH1179391A (ja) 薄型ワークの立直装置
JP3138391B2 (ja) 位置合わせ装置及び位置合わせ方法
JPH0986655A (ja) 試料搬送装置
JP2005286219A (ja) 部品搭載装置、及びそのプログラム
CN113510689B (zh) 工业用机器人和工业用机器人的控制方法
JPH10154743A (ja) ウェハー処理装置
JP4386419B2 (ja) 部品認識装置及び同装置を搭載した表面実装機並びに部品試験装置
JP6231397B2 (ja) 部品認識装置、部品移載装置および部品実装装置
JPH09246352A (ja) 基板搬送方法
JP3059210B2 (ja) ガラス基板のディッピング方法及び装置
US6854948B1 (en) Stage with two substrate buffer station
JPH11317437A (ja) 平板状被処理体の受け渡し装置及びこれを用いた処理装置