JPH0528681Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0528681Y2
JPH0528681Y2 JP1986133389U JP13338986U JPH0528681Y2 JP H0528681 Y2 JPH0528681 Y2 JP H0528681Y2 JP 1986133389 U JP1986133389 U JP 1986133389U JP 13338986 U JP13338986 U JP 13338986U JP H0528681 Y2 JPH0528681 Y2 JP H0528681Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
irradiation window
foil
electrode
wall surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1986133389U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6339852U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1986133389U priority Critical patent/JPH0528681Y2/ja
Publication of JPS6339852U publication Critical patent/JPS6339852U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0528681Y2 publication Critical patent/JPH0528681Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この考案は電子線照射装置に関するものであ
る。
(従来の技術) 電子線照射装置において、真空容器の内部に負
の高電圧に維持される電極を配置し、その内部に
電子線を照射するフイラメントを配置するととも
に、前記電極と向い合う真空容器の壁面に照射窓
を配置し、この照射窓を通して電子線を照射する
ようにしたものは既によく知られている。
第3図は従来のこの種装置を示し、1は真空容
器、2は電極、3はその内部に配置されてあるフ
イラメント、4は真空容器1の、電極2と向い合
う壁面5に設けられた照射窓である。照射窓4は
一般に壁面5の一部を開口して形成した開口部分
6に設置される。そして照射窓4には真空を維持
するとともに、電子線の透過を許容する金属製の
箔7を備えている。
ところで従来のこの種装置においては、照射窓
4を開口部分6の下面に設置するようにしている
ので、壁面5の内面にはくぼみ(落ち込み深さは
約30〜40mm)が形成されるようになる。そのため
電極2を真空容器1と同軸またはその軸と平行に
設置しても、電極2と照射窓4との間に形成され
る電場の等電位面は、図中点線で示すように照射
窓4に向かつて凸となる。
そのためフイラメント3から放射される電子線
は、照射窓4に対して外側に広がるような軌道を
画くようになる。したがつて照射窓4の端部付近
では、電子線密度が低下する。すなわちこのよう
な構成では電子線の分布は均一になり得ない。
(考案が解決しようとする問題点) この考案は電子線照射に際し、照射窓における
電子線分布の均一化を図ることを目的とする。
(問題点を解決するための手段) この考案は電子線を照射する電極と向い合つて
真空容器の壁面に設置される照射窓を、壁面の開
口部分の内部に設置し、これによりこの照射窓を
壁面の内面とほぼ同一の平面に位置するようにし
たことを特徴とする。
(実施例) この考案を第1図、第2図によつて説明する。
なお第3図と同じ符号を付した部分は、同一また
は対応する部分を示す。この考案に従い照射窓4
を、壁面5の開口部分6の内部に設置する。具体
的にはその詳細の一部を第2図に示すように、照
射窓4は箔7と、これを支持する複数の並設され
た支持板8と、この支持板8を取り付ける枠9と
によつて構成されている。この枠9および各支持
板8の上端が壁面5の内面とほぼ同一の平面に位
置するように、照射窓4を開口部分6の内側に設
置する。
なお支持板8の下部にはパイプ10が固定され
てあり、このパイプ10に接するように箔7が取
り付けられてある。そしてこのパイプ10の内部
に冷却媒体が流通しており、これによつて箔7が
冷却されるようになつている。11は箔7の端部
を押える押え部材である。
以上の構成によれば、照射窓4は開口部分6の
内部に位置され、これによつて従来構成よりも照
射窓4は真空容器1の内部に入り込み、したがつ
てその上部は、壁面5の内面とほぼ同一の平面と
なる。そのため電極2と照射窓4との間に形成さ
れる電場の等電位面は、図中点線で示すように平
行となる。
そのためフイラメント3から放射される電子線
は、照射窓4に対してほぼ直交するような軌道を
画くようになる。したがつて照射窓4の端部付近
でも、電子線密度が従来のように低下することは
ない。すなわちこのような構成により電子線の分
布は均一となるのである。
(考案の効果) 以上詳述したようにこの考案によれば、真空容
器の開口部分に設置する照射窓を、その開口部分
の内部に設置するだけの簡単な構成によつて、照
射窓から照射される電子線の分布を、簡単に均一
とすることができるといつた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す断面図、第
2図は一部の拡大断面図、第3図は従来例を示す
断面図である。 1……真空容器、2……電極、3……フイラメ
ント、4……照射窓、5……壁面、6……開口部
分、7……箔。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子線を放射するフイラメントを備えた電極を
    真空容器の内部に設置するとともに、前記電極と
    向い合う前記真空容器の壁面の一部に形成した開
    口部分に、照射窓を設置してなる電子線照射装置
    において、前記照射窓を、前記真空容器の内部を
    真空に維持し、電子線の透過を許容する箔と、前
    記箔を下端で支持する複数の並設された支持板
    と、前記支持板を取り付ける枠とによつて構成
    し、前記支持板および枠の上端が、前記壁面の内
    面とほぼ同一の平面に位置するように、前記照射
    窓を前記開口部分の内部に設置し、前記箔の端部
    を押え部材により前記壁面に押えてなる電子線照
    射装置。
JP1986133389U 1986-08-29 1986-08-29 Expired - Lifetime JPH0528681Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986133389U JPH0528681Y2 (ja) 1986-08-29 1986-08-29

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986133389U JPH0528681Y2 (ja) 1986-08-29 1986-08-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6339852U JPS6339852U (ja) 1988-03-15
JPH0528681Y2 true JPH0528681Y2 (ja) 1993-07-23

Family

ID=31033661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1986133389U Expired - Lifetime JPH0528681Y2 (ja) 1986-08-29 1986-08-29

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0528681Y2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6086745A (ja) * 1983-10-18 1985-05-16 Nisshin Haiboruteeji Kk 電子銃

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6086745A (ja) * 1983-10-18 1985-05-16 Nisshin Haiboruteeji Kk 電子銃

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6339852U (ja) 1988-03-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3239706A (en) X-ray target
CA2152740A1 (en) Electron beam apparatus and image forming apparatus
JPH0528681Y2 (ja)
JPH0540480Y2 (ja)
JPH0317907B2 (ja)
JPS56147346A (en) Electron source
JPS61183859A (ja) 電子線照射装置の線量分布均一化方法
CN210554066U (zh) 一种负离子发生器安装结构
JP2578446B2 (ja) 二次電子検出器
JPS59107473U (ja) イオンビ−ム照射装置
JPS6136955U (ja) 電子顕微鏡等用x線検出装置
JPS6013740U (ja) 試料保持装置
JPS63110566U (ja)
JPH0315421U (ja)
JPS5941856U (ja) 分析装置等における試料面エツチング装置
JPS59194050U (ja) トランスフア・ブロテイング装置
JPH0616382B2 (ja) 電子線照射装置
JPS6419664A (en) Ion beam device
JPS5823164Y2 (ja) デンカイホウシユツガタデンシジユウ
JPS58107562U (ja) イオンサイクロトロン共鳴質量分析装置
JPH03103550U (ja)
JPS6037163U (ja) 走査電子顕微鏡
JPH01155251U (ja)
JPH08226927A (ja) 走査型プローブ顕微鏡用探針のクリーニング装置
JPS6215566U (ja)