JPH0528569A - 光磁気用ピツクアツプ - Google Patents
光磁気用ピツクアツプInfo
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- JPH0528569A JPH0528569A JP3181292A JP18129291A JPH0528569A JP H0528569 A JPH0528569 A JP H0528569A JP 3181292 A JP3181292 A JP 3181292A JP 18129291 A JP18129291 A JP 18129291A JP H0528569 A JPH0528569 A JP H0528569A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光磁気用ピックアップを小型軽量化し、かつ受
光素子における受光効率の低下を防ぐ。 【構成】光学的記録媒体16へ向けてレーザ光を射出す
る半導体レーザ50および偏光分離機能を備えた導波路
30を一体化する。この一体化された素子20は射出さ
れたレーザ光の偏光面に対して45度の角度で導波路3
0に入射させるように構成されている。そして、この導
波路30を伝搬し、ここから射出された光は受光部10
によって検出される。
光素子における受光効率の低下を防ぐ。 【構成】光学的記録媒体16へ向けてレーザ光を射出す
る半導体レーザ50および偏光分離機能を備えた導波路
30を一体化する。この一体化された素子20は射出さ
れたレーザ光の偏光面に対して45度の角度で導波路3
0に入射させるように構成されている。そして、この導
波路30を伝搬し、ここから射出された光は受光部10
によって検出される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光学的記録媒体に信
号を記録し、および/または記録された信号を再生する
ための光磁気用ピックアップに関し、特に小型軽量な光
磁気用ピックアップに関する。
号を記録し、および/または記録された信号を再生する
ための光磁気用ピックアップに関し、特に小型軽量な光
磁気用ピックアップに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、光磁気記録用のピックアップ
は、コンパクトディスクなどの読取り専用と違って、偏
光面のわずかな回転を検出しなければならず、偏光を分
離するためのプリズム、例えばPBS(偏光ビームスプ
リッター)が必要となる。このため、部品点数が多くな
り、光磁気用ピックアップ自体が大きく、重くなるとい
う欠点があった。
は、コンパクトディスクなどの読取り専用と違って、偏
光面のわずかな回転を検出しなければならず、偏光を分
離するためのプリズム、例えばPBS(偏光ビームスプ
リッター)が必要となる。このため、部品点数が多くな
り、光磁気用ピックアップ自体が大きく、重くなるとい
う欠点があった。
【0003】このような欠点を解消すべく、プリズムに
代わってホログラム素子を使い、かつ受光素子および発
光素子をユニット化することにより、光磁気用ピックア
ップの小型、軽量化を達成する技術が提案されている。
例えば、特開平1−229437号公報には図11,1
2に示すような薄膜化した光磁気用ピックアップが開示
されている。以下、これらの図を参照して、従来の光磁
気用ピックアップの構成を説明する。
代わってホログラム素子を使い、かつ受光素子および発
光素子をユニット化することにより、光磁気用ピックア
ップの小型、軽量化を達成する技術が提案されている。
例えば、特開平1−229437号公報には図11,1
2に示すような薄膜化した光磁気用ピックアップが開示
されている。以下、これらの図を参照して、従来の光磁
気用ピックアップの構成を説明する。
【0004】この光磁気用ピックアップに用いられてい
る半導体レーザは、半導体基板上に受光素子および発光
素子が一体的に形成されている。即ち、図12に示すよ
うに、レーザビームを発光する活性層1の中央部の両側
には、それぞれ2つの受光素子2a〜2dが形成されて
いる。
る半導体レーザは、半導体基板上に受光素子および発光
素子が一体的に形成されている。即ち、図12に示すよ
うに、レーザビームを発光する活性層1の中央部の両側
には、それぞれ2つの受光素子2a〜2dが形成されて
いる。
【0005】そして、図11に示すように、半導体レー
ザの中央部の活性層1から射出されたレーザビームは、
ホログラム回折格子3および集光レンズ5を介して光デ
ィスク7のトラックに集光される。そして、光ディスク
7からの反射光は、集光レンズ5を介してホログラム回
折格子3に入射する。このホログラム回折格子3は、非
点收差を発生させるように構成されており、ホログラム
回折格子3に入射した反射光は前記受光素子2a〜2d
に光スポットを投射するように回折される。そして、こ
れらの受光素子2a〜2dで、光ディスクからの反射光
を検出するようになっている。このように、ホログラム
素子を使い、かつ受光素子と発光素子とを一体的に形成
したため、これまで用いられてきた光磁気用ピックアッ
プより、小型軽量という点では有利なものとなってい
る。
ザの中央部の活性層1から射出されたレーザビームは、
ホログラム回折格子3および集光レンズ5を介して光デ
ィスク7のトラックに集光される。そして、光ディスク
7からの反射光は、集光レンズ5を介してホログラム回
折格子3に入射する。このホログラム回折格子3は、非
点收差を発生させるように構成されており、ホログラム
回折格子3に入射した反射光は前記受光素子2a〜2d
に光スポットを投射するように回折される。そして、こ
れらの受光素子2a〜2dで、光ディスクからの反射光
を検出するようになっている。このように、ホログラム
素子を使い、かつ受光素子と発光素子とを一体的に形成
したため、これまで用いられてきた光磁気用ピックアッ
プより、小型軽量という点では有利なものとなってい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、半導
体基板上に受光素子および発光素子を一体的に設けるこ
とによって、光磁気用ピックアップをかなり小型軽量に
することができる。しかし、光ディスクからの反射光の
受光を半導体レーザ構造の活性層部で行うため、以下の
問題点があげられる。
体基板上に受光素子および発光素子を一体的に設けるこ
とによって、光磁気用ピックアップをかなり小型軽量に
することができる。しかし、光ディスクからの反射光の
受光を半導体レーザ構造の活性層部で行うため、以下の
問題点があげられる。
【0007】一般に半導体レーザの活性層は、モード制
御の関係からあまり厚くすることはできず、通常0.0
7μm 程度である。これに対して受光素子における光デ
ィスクからの反射光のスポット径は、ホログラム光学素
子で絞り込んだとしても、数μm 以上である。すなわ
ち、受光面の面積がスポットサイズに対して極めて小さ
いので、受光効率が悪く、ほとんどの反射光は受光でき
なくなる。また、これに伴いS/N比も悪くなってしま
い、反射光を受光した際の信号の検出が困難となる。従
って、上記従来例では、光磁気用ピックアップとしての
実用性能を得るのが非常に難しい。
御の関係からあまり厚くすることはできず、通常0.0
7μm 程度である。これに対して受光素子における光デ
ィスクからの反射光のスポット径は、ホログラム光学素
子で絞り込んだとしても、数μm 以上である。すなわ
ち、受光面の面積がスポットサイズに対して極めて小さ
いので、受光効率が悪く、ほとんどの反射光は受光でき
なくなる。また、これに伴いS/N比も悪くなってしま
い、反射光を受光した際の信号の検出が困難となる。従
って、上記従来例では、光磁気用ピックアップとしての
実用性能を得るのが非常に難しい。
【0008】この発明は、上記問題点を解決するために
成されたものであり、受光効率およびS/N比の低下が
生じることのない、小型軽量な光磁気用ピックアップを
提供することを目的とする。
成されたものであり、受光効率およびS/N比の低下が
生じることのない、小型軽量な光磁気用ピックアップを
提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段、作用】前記課題を解決す
るために、本発明の光磁気用ピックアップは、光学的記
録媒体を用いて情報を記録および/または再生する光磁
気用ピックアップにおいて、レーザ光を射出する半導体
光源と前記光学的記録媒体からの反射光を導波させる偏
光分離機能を備えた導波層とを一体的に形成し、かつ射
出されたレーザ光の偏光面に対して45度の角度で前記
導波層に入射させるように配置した素子と、前記導波層
から射出された光を検出する光検出部と、を有すること
を特徴としている。
るために、本発明の光磁気用ピックアップは、光学的記
録媒体を用いて情報を記録および/または再生する光磁
気用ピックアップにおいて、レーザ光を射出する半導体
光源と前記光学的記録媒体からの反射光を導波させる偏
光分離機能を備えた導波層とを一体的に形成し、かつ射
出されたレーザ光の偏光面に対して45度の角度で前記
導波層に入射させるように配置した素子と、前記導波層
から射出された光を検出する光検出部と、を有すること
を特徴としている。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に沿って具
体的に説明する。
体的に説明する。
【0011】図1は、本発明の概略を示した図である。
本発明に係る光磁気用ピックアップを構成している部品
の主なものは、半導体レーザ50と偏光分離機能導波路
30(以下、導波路もしくは導波層とする)が一体化し
た素子20、ホログラム光学素子12、対物レンズ1
4、および受光部10である。このうち本発明の特徴で
あるレーザ光源と偏光分離機能の一体化素子は、同一基
板上にモノリシックに形成されている。
本発明に係る光磁気用ピックアップを構成している部品
の主なものは、半導体レーザ50と偏光分離機能導波路
30(以下、導波路もしくは導波層とする)が一体化し
た素子20、ホログラム光学素子12、対物レンズ1
4、および受光部10である。このうち本発明の特徴で
あるレーザ光源と偏光分離機能の一体化素子は、同一基
板上にモノリシックに形成されている。
【0012】そして、半導体レーザ50から射出された
レーザ光は、ホログラム光学素子12、対物レンズ14
を介して光学的記録媒体16のトラック17に集光さ
れ、ここからの反射光は、対物レンズ14、ホログラム
光学素子12、導波路30を介して受光部10で検出さ
れるようになっている。以下これらの構成部品を詳細に
説明する。
レーザ光は、ホログラム光学素子12、対物レンズ14
を介して光学的記録媒体16のトラック17に集光さ
れ、ここからの反射光は、対物レンズ14、ホログラム
光学素子12、導波路30を介して受光部10で検出さ
れるようになっている。以下これらの構成部品を詳細に
説明する。
【0013】図2は、試作した半導体レーザ50の構造
を示したものである。波長は790nmで設計した。厚さ
350μm のガリウム砒素基板51上に、Siドープし
たn−Al0.45Ga0.55As層52をMOCVD法によ
り、1.5μmの厚さにエピタキシャル成長させた。そ
の上に、Al0.15Ga0.85As層53を0.07μm の
厚さに成長させた。さらに、その上にZnドープしたp
−Al0.45Ga0.55As層54、p−GaAs層55を
それぞれ1.5μm 、0.5μm の厚さに成長させた。
その後、5μm の幅を残して、p−Al0.45Ga0.55A
s層54の途中までエッチングした。このとき、p−A
l0.45Ga0.55As層54は、断面凸状になっており、
突出した部分の上にp−GaAs層55が形成されてい
た。この突出している両サイドに、高さが等しくなるよ
うに、Siドープしたn−GaAs層56を成長させ
て、電流ブロック層を形成した。そして、p−GaAs
層55およびn−GaAs層56の上に、Ti,Pt,
Auを順次被着して、Ti層、Pt層,Au層を形成
し、その後、450°Cで加熱してアロイ化させ、電極
を形成した。その後、このレーザダイオード部分を幅3
00μm 残して、両側を溝状にガリウム砒素基板51ま
でエッチングにより取り除き、図5(A)に示すような
半導体レーザ50を作製した。
を示したものである。波長は790nmで設計した。厚さ
350μm のガリウム砒素基板51上に、Siドープし
たn−Al0.45Ga0.55As層52をMOCVD法によ
り、1.5μmの厚さにエピタキシャル成長させた。そ
の上に、Al0.15Ga0.85As層53を0.07μm の
厚さに成長させた。さらに、その上にZnドープしたp
−Al0.45Ga0.55As層54、p−GaAs層55を
それぞれ1.5μm 、0.5μm の厚さに成長させた。
その後、5μm の幅を残して、p−Al0.45Ga0.55A
s層54の途中までエッチングした。このとき、p−A
l0.45Ga0.55As層54は、断面凸状になっており、
突出した部分の上にp−GaAs層55が形成されてい
た。この突出している両サイドに、高さが等しくなるよ
うに、Siドープしたn−GaAs層56を成長させ
て、電流ブロック層を形成した。そして、p−GaAs
層55およびn−GaAs層56の上に、Ti,Pt,
Auを順次被着して、Ti層、Pt層,Au層を形成
し、その後、450°Cで加熱してアロイ化させ、電極
を形成した。その後、このレーザダイオード部分を幅3
00μm 残して、両側を溝状にガリウム砒素基板51ま
でエッチングにより取り除き、図5(A)に示すような
半導体レーザ50を作製した。
【0014】次に、半導体レーザ50の両側に残った積
層部50aに、ラッピング研磨またはエッチング等の手
段を施し、それぞれ外側に向けて45度の傾きをもった
斜面を形成した(図5(B)参照)。そして、形成され
た斜面上にガラス、金属酸化物をスパッタリング法、C
VD法等を用いて多層に積層し、互いに直交する偏光方
向の成分を取り出すような導波路30を形成した(図5
(C)参照)。このように導波路30を45度傾けるこ
とにより、半導体レーザ50から射出されたレーザ光の
偏光面を45度傾けるλ/2板を配置する必要がなくな
り、部品点数を減らすことができる。
層部50aに、ラッピング研磨またはエッチング等の手
段を施し、それぞれ外側に向けて45度の傾きをもった
斜面を形成した(図5(B)参照)。そして、形成され
た斜面上にガラス、金属酸化物をスパッタリング法、C
VD法等を用いて多層に積層し、互いに直交する偏光方
向の成分を取り出すような導波路30を形成した(図5
(C)参照)。このように導波路30を45度傾けるこ
とにより、半導体レーザ50から射出されたレーザ光の
偏光面を45度傾けるλ/2板を配置する必要がなくな
り、部品点数を減らすことができる。
【0015】図3は、本実施例で用いる導波路の概念を
示した図である。基板上には、クラッド層46を挟んで
TE,TM両モードが伝搬する第2導波路44が形成さ
れており、この第2導波路44上には、クラッド層42
を挟んでTEモードのみが伝搬する第1導波路40が形
成されている。ホログラム光学素子からの戻り光は、い
ったん全部第1導波路40内に入射するが、TEモード
の光のみが伝搬して行き、TMモードの光は第1導波路
40では進まず下側に逃げて行き、第2導波路44にト
ラップされる。
示した図である。基板上には、クラッド層46を挟んで
TE,TM両モードが伝搬する第2導波路44が形成さ
れており、この第2導波路44上には、クラッド層42
を挟んでTEモードのみが伝搬する第1導波路40が形
成されている。ホログラム光学素子からの戻り光は、い
ったん全部第1導波路40内に入射するが、TEモード
の光のみが伝搬して行き、TMモードの光は第1導波路
40では進まず下側に逃げて行き、第2導波路44にト
ラップされる。
【0016】図4(A)は、ガリウム砒素51上に形成
した導波路30の具体的な構造を示したものである。こ
れはガリウム砒素基板51を除いて7層構造を成してお
り、1番上の厚さ5.3μm のSiO2 層37と、厚さ
1μm のガラス層32が、それぞれ第1導波路37、第
2導波路32を構成する。ホログラム光学素子からの戻
り光はいったん全部SiO2 層37に入射される。そし
て、入射した光は、それぞれ厚さが0.1μm に形成さ
れ、クラッド層として機能する、TiO2 層36、Si
O2 層35、TiO2 層34によって閉じ込められる。
しかし、これは限られた導波モードのみ、この構造の場
合、TEモードのみが導波でき、TMモ−ドの光は導波
できずに、下方へ漏れて行く。下方へ漏れた光は厚さ
2.5μmのSiO2 層33を通り抜け、厚さ1.5μm
のSiO2 層31上に形成されたガラス層32にトラ
ップされる。このように分離された光は、それぞれ導波
路37,32内を伝搬して行き、導波路の端面から射出
される。
した導波路30の具体的な構造を示したものである。こ
れはガリウム砒素基板51を除いて7層構造を成してお
り、1番上の厚さ5.3μm のSiO2 層37と、厚さ
1μm のガラス層32が、それぞれ第1導波路37、第
2導波路32を構成する。ホログラム光学素子からの戻
り光はいったん全部SiO2 層37に入射される。そし
て、入射した光は、それぞれ厚さが0.1μm に形成さ
れ、クラッド層として機能する、TiO2 層36、Si
O2 層35、TiO2 層34によって閉じ込められる。
しかし、これは限られた導波モードのみ、この構造の場
合、TEモードのみが導波でき、TMモ−ドの光は導波
できずに、下方へ漏れて行く。下方へ漏れた光は厚さ
2.5μmのSiO2 層33を通り抜け、厚さ1.5μm
のSiO2 層31上に形成されたガラス層32にトラ
ップされる。このように分離された光は、それぞれ導波
路37,32内を伝搬して行き、導波路の端面から射出
される。
【0017】屈折率の異なる2種類の層を多層にした導
波路も複屈折性を示し、TEとTMモードでは、かなり
伝搬するときの屈折率が異なる。この性質を利用して、
これら多層の導波路の下に、TMモードと同じ実効屈折
率を持つ導波路を設けると、TMモードの光のみが下の
導波路と結合し、導波する。
波路も複屈折性を示し、TEとTMモードでは、かなり
伝搬するときの屈折率が異なる。この性質を利用して、
これら多層の導波路の下に、TMモードと同じ実効屈折
率を持つ導波路を設けると、TMモードの光のみが下の
導波路と結合し、導波する。
【0018】このような効果を得るための具体的な導波
路の構造を図4(B)に示す。基板51上に、厚さ2μ
m のSiO2 層52を形成し、その上に、第2の導波層
として屈折率2.0のSi3 N4 層53を600nmの厚
さで形成し、その上に、コア層として、1μm のSiO
2 層54を形成する。そして、SiO2 層54の上に屈
折率2.49のTiO2 層56および屈折率1.47の
SiO2 層58を、各50nmの厚さで交互に26層(ト
ータルの厚さ1.3μm )積層し、第1の導波層60を
形成する。このような構成の導波路において、光学的記
録媒体からの戻り光を第1の導波層60に入射させる
と、第1の導波層60からはTEモードの光のみ、第2
の導波層53からはTMモードの光のみを取出すことが
できる。
路の構造を図4(B)に示す。基板51上に、厚さ2μ
m のSiO2 層52を形成し、その上に、第2の導波層
として屈折率2.0のSi3 N4 層53を600nmの厚
さで形成し、その上に、コア層として、1μm のSiO
2 層54を形成する。そして、SiO2 層54の上に屈
折率2.49のTiO2 層56および屈折率1.47の
SiO2 層58を、各50nmの厚さで交互に26層(ト
ータルの厚さ1.3μm )積層し、第1の導波層60を
形成する。このような構成の導波路において、光学的記
録媒体からの戻り光を第1の導波層60に入射させる
と、第1の導波層60からはTEモードの光のみ、第2
の導波層53からはTMモードの光のみを取出すことが
できる。
【0019】図6は、受光部10の構成を具体的に示し
たものである。ホログラム光学素子に入射した光学的記
録媒体からの反射光は、図に示すように、左右の導波路
30の第1の導波層37(60)の端面に入射するよう
に回折される。前述したように、第1の導波層37(6
0)に入射した光は、TE,TMモードに分離され、第
1の導波層37(60)および第2の導波層32(5
3)の後端面から射出する。そして、これら射出した光
を、受光部10によって検出することにより、光磁気信
号、フォーカスエラー信号、トラックエラー信号を得
る。
たものである。ホログラム光学素子に入射した光学的記
録媒体からの反射光は、図に示すように、左右の導波路
30の第1の導波層37(60)の端面に入射するよう
に回折される。前述したように、第1の導波層37(6
0)に入射した光は、TE,TMモードに分離され、第
1の導波層37(60)および第2の導波層32(5
3)の後端面から射出する。そして、これら射出した光
を、受光部10によって検出することにより、光磁気信
号、フォーカスエラー信号、トラックエラー信号を得
る。
【0020】図6および図7を参照して、上記各信号の
検出方法を説明する。受光部10はTEモードの光を検
出する3分割されたフォトディテクタPD1〜PD3と
PD4〜PD6、およびTMモードの光を検出する2分
割されたフォトディテクタPD8a,PD8bとPD9
a,PD9bによって構成されている。光磁気信号は、
左右それぞれのTEモードとTMモードの信号を合わ
せ、これらの差を取ることにより検出される。フォーカ
スエラー信号はビームサイズ法により、導波路通過後の
左右のTEモードの光の広がりを受光し、その差を取る
ことにより検出される。トラックエラー信号は、プッシ
ュプル法で、左右それぞれ2分割されたフォトディテク
タの外側の信号の和と内側の信号の和との差を取ること
により検出される。なお、光学的記録媒体のトラック
は、半導体レーザ50の両サイドの導波路を結ぶ直線に
対して垂直となるように設定されている。また、図にお
いて示されているPD7は、半導体レーザ出射光をモニ
タするためのものである。
検出方法を説明する。受光部10はTEモードの光を検
出する3分割されたフォトディテクタPD1〜PD3と
PD4〜PD6、およびTMモードの光を検出する2分
割されたフォトディテクタPD8a,PD8bとPD9
a,PD9bによって構成されている。光磁気信号は、
左右それぞれのTEモードとTMモードの信号を合わ
せ、これらの差を取ることにより検出される。フォーカ
スエラー信号はビームサイズ法により、導波路通過後の
左右のTEモードの光の広がりを受光し、その差を取る
ことにより検出される。トラックエラー信号は、プッシ
ュプル法で、左右それぞれ2分割されたフォトディテク
タの外側の信号の和と内側の信号の和との差を取ること
により検出される。なお、光学的記録媒体のトラック
は、半導体レーザ50の両サイドの導波路を結ぶ直線に
対して垂直となるように設定されている。また、図にお
いて示されているPD7は、半導体レーザ出射光をモニ
タするためのものである。
【0021】図8を参照して、上述した各構成部品の配
置関係およびその作用を説明する。上記方法で作成した
ガリウム砒素基板を基板側から研磨して薄くした後、劈
開により半導体レーザと導波路の端面を出す。この半導
体レーザと導波路が一体化した素子20の前方には、ホ
ログラム光学素子12が配置されている。さらにその前
方には、トラッキングコイル15a,フォーカシングコ
イル15bを備えた対物レンズ14が配置されている。
置関係およびその作用を説明する。上記方法で作成した
ガリウム砒素基板を基板側から研磨して薄くした後、劈
開により半導体レーザと導波路の端面を出す。この半導
体レーザと導波路が一体化した素子20の前方には、ホ
ログラム光学素子12が配置されている。さらにその前
方には、トラッキングコイル15a,フォーカシングコ
イル15bを備えた対物レンズ14が配置されている。
【0022】情報を再生する場合、半導体レーザから射
出された直線偏光は、光学的記録媒体16で偏光面の回
転を受けて戻ってくる。この反射光は、ホログラム光学
素子12で回折されて、半導体レーザの左右に形成され
た導波路の端面に集光する。導波路は、ホログラム光学
素子12による回折光のスポット径と同程度の厚みを持
っているので、光が無駄になるようなことはない。ホロ
グラム光学素子による回折光は、導波路内において、上
述した原理により、TEモード、TMモードに分割さ
れ、受光部10によって検出される。そして、各フォト
ディテクタでの受光量を電気的な信号に変換し、これら
の信号に基づいて、前記コイル15a,15bに制御電
流を流す。この結果、対物レンズ14からの収束光は、
常に光学的記録媒体16のトラック17の記録ドメイン
18に合焦するように制御され、これと同時に情報の記
録/再生が行われる。
出された直線偏光は、光学的記録媒体16で偏光面の回
転を受けて戻ってくる。この反射光は、ホログラム光学
素子12で回折されて、半導体レーザの左右に形成され
た導波路の端面に集光する。導波路は、ホログラム光学
素子12による回折光のスポット径と同程度の厚みを持
っているので、光が無駄になるようなことはない。ホロ
グラム光学素子による回折光は、導波路内において、上
述した原理により、TEモード、TMモードに分割さ
れ、受光部10によって検出される。そして、各フォト
ディテクタでの受光量を電気的な信号に変換し、これら
の信号に基づいて、前記コイル15a,15bに制御電
流を流す。この結果、対物レンズ14からの収束光は、
常に光学的記録媒体16のトラック17の記録ドメイン
18に合焦するように制御され、これと同時に情報の記
録/再生が行われる。
【0023】なお、光学的記録媒体での情報の消去、新
たな書き込みは、従来の一般的な光磁気用のピックアッ
プと同様に、コイルや永久磁石等により、外部から磁場
を与えながらレーザ光のパワーを強くすることによる媒
体記録層の磁化の反転を利用して行う。
たな書き込みは、従来の一般的な光磁気用のピックアッ
プと同様に、コイルや永久磁石等により、外部から磁場
を与えながらレーザ光のパワーを強くすることによる媒
体記録層の磁化の反転を利用して行う。
【0024】図9(A)〜(D)は、前述した半導体レ
ーザと導波路が一体となった素子の変形例を示す図であ
り、その作製工程を示したものである。Si基板51a
上に所定間隔をおいてマスクをかけ、異方性エッチング
により45度の同一方向に傾斜した片斜面を形成する
(図9(A),(B))。次に、ガラス、金属酸化物を
CVD法等を用いて、傾斜面上に多層に積層し、前述し
た導波路と同一の構成の導波路30を形成する(図9
(C))。そして、最後に斜面と斜面との間の平坦な領
域に、通常の工程によって作製された半導体レーザチッ
プ50aを張付ける(図9(D))。このように、導波
路と半導体レーザのプロセスを分けることにより、素子
20aの製造を容易にすることができる。
ーザと導波路が一体となった素子の変形例を示す図であ
り、その作製工程を示したものである。Si基板51a
上に所定間隔をおいてマスクをかけ、異方性エッチング
により45度の同一方向に傾斜した片斜面を形成する
(図9(A),(B))。次に、ガラス、金属酸化物を
CVD法等を用いて、傾斜面上に多層に積層し、前述し
た導波路と同一の構成の導波路30を形成する(図9
(C))。そして、最後に斜面と斜面との間の平坦な領
域に、通常の工程によって作製された半導体レーザチッ
プ50aを張付ける(図9(D))。このように、導波
路と半導体レーザのプロセスを分けることにより、素子
20aの製造を容易にすることができる。
【0025】また、前述したように、半導体レーザから
射出されたレーザ光の偏光面に対して導波路を45度傾
ければ、λ/2板を配置する必要がなくなる。このた
め、例えば、図10に示すような、半導体レーザと導波
路が一体となった素子を構成することもできる。この変
形例は、Si基板51a上に、水平に積層して形成され
た導波路30,30の間に、45度傾斜した台座60を
張付け、その傾斜面上に半導体レーザチップ50aを張
付けたものである。このように構成しても、前述した実
施例と同様の作用、効果を得ることができる。
射出されたレーザ光の偏光面に対して導波路を45度傾
ければ、λ/2板を配置する必要がなくなる。このた
め、例えば、図10に示すような、半導体レーザと導波
路が一体となった素子を構成することもできる。この変
形例は、Si基板51a上に、水平に積層して形成され
た導波路30,30の間に、45度傾斜した台座60を
張付け、その傾斜面上に半導体レーザチップ50aを張
付けたものである。このように構成しても、前述した実
施例と同様の作用、効果を得ることができる。
【0026】
【発明の効果】以上、本発明によれば、部品点数が少な
く、光磁気信号のS/N比の高い、小型軽量な光磁気用
ピックアップを得ることができる。
く、光磁気信号のS/N比の高い、小型軽量な光磁気用
ピックアップを得ることができる。
【図1】本発明に係る光磁気用ピックアップの概略を示
す図である。
す図である。
【図2】図1に示した光磁気用ピックアップにおいて、
半導体レーザの構造を示す図である。
半導体レーザの構造を示す図である。
【図3】偏光分離機能を備えた導波路の概略を示す図で
ある。
ある。
【図4】(A)は、図1に示した光磁気用ピックアップ
において、偏光分離機能を備えた導波路の構造を示す図
であり、(B)は、その変形例を示す図である。
において、偏光分離機能を備えた導波路の構造を示す図
であり、(B)は、その変形例を示す図である。
【図5】(A)〜(C)を含み、半導体レーザと偏光分
離機能を備えた導波路とを一体化した素子の作製工程を
示す図である。
離機能を備えた導波路とを一体化した素子の作製工程を
示す図である。
【図6】図1に示した光磁気用ピックアップにおいて、
半導体レーザと偏光分離機能を備えた導波路とを一体化
した素子、および受光部の構成を示す図である。
半導体レーザと偏光分離機能を備えた導波路とを一体化
した素子、および受光部の構成を示す図である。
【図7】受光部における信号の検出方法を示す図であ
り、(A)は光磁気信号、(B)はフォーカスエラー信
号、(C)はトラックエラー信号の検出方法を示す図で
ある。
り、(A)は光磁気信号、(B)はフォーカスエラー信
号、(C)はトラックエラー信号の検出方法を示す図で
ある。
【図8】本発明に係る光磁気用ピックアップの構成を示
す図である。
す図である。
【図9】(A)〜(D)を含み、半導体レーザと偏光分
離機能を備えた導波路とを一体化した素子の変形例の作
製工程を示す図である。
離機能を備えた導波路とを一体化した素子の変形例の作
製工程を示す図である。
【図10】半導体レーザと偏光分離機能を備えた導波路
とを一体化した素子のさらに別の変形例を示す図であ
る。
とを一体化した素子のさらに別の変形例を示す図であ
る。
【図11】従来の光磁気用ピックアップの構成を示す図
である。
である。
【図12】図11に示した光磁気用ピックアップにおい
て、受発光ユニットの構成を示す図である。
て、受発光ユニットの構成を示す図である。
【符号の説明】 10…受光部、12…ホログラム光学素子、16…光学
的記録媒体、20…半導体レーザと偏光分離機能導波路
とが一体化した素子、30…偏光分離機能導波路、50
…半導体レーザ。
的記録媒体、20…半導体レーザと偏光分離機能導波路
とが一体化した素子、30…偏光分離機能導波路、50
…半導体レーザ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項1】 光学的記録媒体を用いて情報を記録およ
び/または再生する光磁気用ピックアップにおいて、 レーザ光を射出する半導体光源と前記光学的記録媒体か
らの反射光を導波させる偏光分離機能を備えた導波層と
を一体的に形成し、かつ射出されたレーザ光の偏光面に
対して45度の角度で前記導波層に入射させるように配
置した素子と、前記導波層から射出された光を検出する
光検出部と、を有することを特徴とする光磁気用ピック
アップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3181292A JPH0528569A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光磁気用ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3181292A JPH0528569A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光磁気用ピツクアツプ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0528569A true JPH0528569A (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=16098135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3181292A Pending JPH0528569A (ja) | 1991-07-22 | 1991-07-22 | 光磁気用ピツクアツプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0528569A (ja) |
-
1991
- 1991-07-22 JP JP3181292A patent/JPH0528569A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000321 |