JPH0527828B2 - - Google Patents
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- JPH0527828B2 JPH0527828B2 JP60007173A JP717385A JPH0527828B2 JP H0527828 B2 JPH0527828 B2 JP H0527828B2 JP 60007173 A JP60007173 A JP 60007173A JP 717385 A JP717385 A JP 717385A JP H0527828 B2 JPH0527828 B2 JP H0527828B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
本発明は信号処理装置に関し、詳しくは、抵抗
式変換装置などにおける測定精度の改善に関する
ものである。
式変換装置などにおける測定精度の改善に関する
ものである。
第2図は従来の抵抗式変換装置の一例の要部を
示す構成説明図であり、測温抵抗体を用いた温度
測定装置を含む記録計の例を示している。 第2図において、H,Lは熱電対の出力電圧や
直流電圧などの入力端子であり、H端子は抵抗
R1およびスイツチSW1を介してアンプ1に接続
され、L端子は共通電位点に接続されている。2
は熱電対の冷接点温度を補償するための温度信号
を出力する温度センサであり、その出力端子はス
イツチSW2を介してアンプ1に接続されている。
このような温度センサ2としては例えばトランジ
スタのVbeの温度変化を利用したものが用いられ
る。 Rtは3端子A,B,bを有する測温抵抗体で
あつて、端子Aには基準電流を加える定電流源3
が接続され、端子bは抵抗R2を介して共通電位
点に接続されている。4は測温抵抗体Rtの端子
A,B間の電位差に基づいて抵抗値(Ω)を温度
値(℃)に変換する信号変換回路であり、その出
力端子はスイツチSW3を介してアンプ1に接続さ
れている。SW4は共通電位点をアンプ1に接続す
るためのスイツチである。これらスイツチSW1〜
SW4はアンプ1の入力を切り換えるマルチプレク
サを構成している。 アンプ1の出力は抵抗R3および加算器5を介
して例えば積分形のA/D変換器6に加えられ、
デジタル信号に変換される。 7は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源で
あり、8は負極性の基準電圧を出力する基準電圧
源である。基準電圧源7の出力電圧はA/D変換
器6の積分器の放電電流を設定する基準として
A/D変換器6に加えられるとともに、基準電圧
源8の出力電圧の基準として基準電圧源8に加え
られている。 基準電圧源8の出力電圧は抵抗R4および加算
器5を介してA/D変換器6に加えられ、A/D
変換器6を電圧零を中心とする正極性および負極
性の電圧に対応させるためのオフセツト電流を設
定する基準として用いられている。 A/D変換器6で変換されたデジタル信号は、
フオトカプラなどの信号絶縁回路9を介してマイ
クロプロセツサやデジタル回路などで構成された
演算回路10に加えられる。 演算回路10は、例えばスイツSW4をオンにし
た状態でのA/D変換器6のデジタル信号出力を
基準にした測定結果に対するソフトウエアによる
自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度信号への
変換、測定信号に対するリニヤライズなどの必要
な演算処理を行う。そして、このようにして演算
された結果は、図示しない記録部に加えられて記
録される。
示す構成説明図であり、測温抵抗体を用いた温度
測定装置を含む記録計の例を示している。 第2図において、H,Lは熱電対の出力電圧や
直流電圧などの入力端子であり、H端子は抵抗
R1およびスイツチSW1を介してアンプ1に接続
され、L端子は共通電位点に接続されている。2
は熱電対の冷接点温度を補償するための温度信号
を出力する温度センサであり、その出力端子はス
イツチSW2を介してアンプ1に接続されている。
このような温度センサ2としては例えばトランジ
スタのVbeの温度変化を利用したものが用いられ
る。 Rtは3端子A,B,bを有する測温抵抗体で
あつて、端子Aには基準電流を加える定電流源3
が接続され、端子bは抵抗R2を介して共通電位
点に接続されている。4は測温抵抗体Rtの端子
A,B間の電位差に基づいて抵抗値(Ω)を温度
値(℃)に変換する信号変換回路であり、その出
力端子はスイツチSW3を介してアンプ1に接続さ
れている。SW4は共通電位点をアンプ1に接続す
るためのスイツチである。これらスイツチSW1〜
SW4はアンプ1の入力を切り換えるマルチプレク
サを構成している。 アンプ1の出力は抵抗R3および加算器5を介
して例えば積分形のA/D変換器6に加えられ、
デジタル信号に変換される。 7は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源で
あり、8は負極性の基準電圧を出力する基準電圧
源である。基準電圧源7の出力電圧はA/D変換
器6の積分器の放電電流を設定する基準として
A/D変換器6に加えられるとともに、基準電圧
源8の出力電圧の基準として基準電圧源8に加え
られている。 基準電圧源8の出力電圧は抵抗R4および加算
器5を介してA/D変換器6に加えられ、A/D
変換器6を電圧零を中心とする正極性および負極
性の電圧に対応させるためのオフセツト電流を設
定する基準として用いられている。 A/D変換器6で変換されたデジタル信号は、
フオトカプラなどの信号絶縁回路9を介してマイ
クロプロセツサやデジタル回路などで構成された
演算回路10に加えられる。 演算回路10は、例えばスイツSW4をオンにし
た状態でのA/D変換器6のデジタル信号出力を
基準にした測定結果に対するソフトウエアによる
自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度信号への
変換、測定信号に対するリニヤライズなどの必要
な演算処理を行う。そして、このようにして演算
された結果は、図示しない記録部に加えられて記
録される。
しかし、このような従来の構成によれば、測温
抵抗体Rtを用いた温度測定装置に基準電流を加
えるための定電流源3および測温抵抗体Rtの端
子A,B間の電位差に基づいて抵抗値(Ω)を温
度値(℃)に変換する信号変換回路4を設けてい
ることから、回路構成が複雑になるとともに、長
期間にわたつて高精度、項安定度を保つために高
価な回路部品を用いなければならず、コストが高
くなるという欠点がある。 また、A/D変換器のオフセツト量は正負両極
性の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変
換できるように固定化されているので、測温抵抗
体の抵抗値測定の場合の分解能は1/2になつてし
まう。 本発明はこのような問題点を解決するものであ
つて、その目的は、比較的簡単な回路構成で精度
の高い測定が行え、特に測温抵抗体についてはリ
ード線の抵抗値の影響を受けることなく高い分解
能で高精度の温度測定が行える信号処理装置を実
現することにある。
抵抗体Rtを用いた温度測定装置に基準電流を加
えるための定電流源3および測温抵抗体Rtの端
子A,B間の電位差に基づいて抵抗値(Ω)を温
度値(℃)に変換する信号変換回路4を設けてい
ることから、回路構成が複雑になるとともに、長
期間にわたつて高精度、項安定度を保つために高
価な回路部品を用いなければならず、コストが高
くなるという欠点がある。 また、A/D変換器のオフセツト量は正負両極
性の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変
換できるように固定化されているので、測温抵抗
体の抵抗値測定の場合の分解能は1/2になつてし
まう。 本発明はこのような問題点を解決するものであ
つて、その目的は、比較的簡単な回路構成で精度
の高い測定が行え、特に測温抵抗体についてはリ
ード線の抵抗値の影響を受けることなく高い分解
能で高精度の温度測定が行える信号処理装置を実
現することにある。
このような目的を達成する本発明は、
ゲインが切換可能なアンプと、
このアンプの出力電圧をデジタル信号に変換す
るA/D変換器と、 このA/D変換器に所望のオフセツト量を与え
るオフセツト切換回路と、 前記A/D変換器のフルスパン入力に対応した
既知の基準電圧VFを発生する基準電圧源と、 前記アンプに測定電圧Vi、共通電位点の電圧
VZおよび基準電圧VFを選択的に入力するマルチ
プレクサと、 前記アンプのゲインを第1のゲインG1に設定
してVZ,VFを測定することにより測定結果VZ
(G1),VF(G1)を求めるとともに第2のゲイン
G2に設定してVi,VZを測定することにより測定
結果Vi(G2),VZ(G2)を求め、これら測定結果
および既知の基準電圧VFに基づいて、 Vi=[{Vi(G2)−VZ(G2)}/{VF (G1)−VZ(G1)}]VF で表される演算を行う演算回路、 を設けたことを特徴とする。
るA/D変換器と、 このA/D変換器に所望のオフセツト量を与え
るオフセツト切換回路と、 前記A/D変換器のフルスパン入力に対応した
既知の基準電圧VFを発生する基準電圧源と、 前記アンプに測定電圧Vi、共通電位点の電圧
VZおよび基準電圧VFを選択的に入力するマルチ
プレクサと、 前記アンプのゲインを第1のゲインG1に設定
してVZ,VFを測定することにより測定結果VZ
(G1),VF(G1)を求めるとともに第2のゲイン
G2に設定してVi,VZを測定することにより測定
結果Vi(G2),VZ(G2)を求め、これら測定結果
および既知の基準電圧VFに基づいて、 Vi=[{Vi(G2)−VZ(G2)}/{VF (G1)−VZ(G1)}]VF で表される演算を行う演算回路、 を設けたことを特徴とする。
測定電圧Viは、アンプのゲインを第1のゲイン
に設定した状態でVZ,VFを測定することにより
得られる測定結果と、アンプのゲインを第2のゲ
インに設定した状態でVi,VZを測定することに
より得られる測定結果と、既知の基準電圧VFに
基づいて、演算回路で所定の演算式に従つて演算
される。 これにより、基準電圧源以外の回路は4点の電
圧を少なくとも1回測定する間だけ安定していれ
ばよく、構成の簡略化が図れ、コストの低減が図
れる。 また、測定電圧の極性に応じてオフセツト切換
回路を切り換えてA/D変換器に所望のオフセツ
ト量を与えることにより、高い分解能でデジタル
信号に変換できる。
に設定した状態でVZ,VFを測定することにより
得られる測定結果と、アンプのゲインを第2のゲ
インに設定した状態でVi,VZを測定することに
より得られる測定結果と、既知の基準電圧VFに
基づいて、演算回路で所定の演算式に従つて演算
される。 これにより、基準電圧源以外の回路は4点の電
圧を少なくとも1回測定する間だけ安定していれ
ばよく、構成の簡略化が図れ、コストの低減が図
れる。 また、測定電圧の極性に応じてオフセツト切換
回路を切り換えてA/D変換器に所望のオフセツ
ト量を与えることにより、高い分解能でデジタル
信号に変換できる。
【実施例】
以下、図面を用い本発明の実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例を用いた記録計の要
部を示す構成説明図であり、第2図と同一部分に
は同一符号を付けている。第1図において、測温
抵抗体Rtの端子Aは抵抗R5を介して電圧−Vが
加えられる端子11に接続されるとともに抵抗
R6およびスイツチSW5を介してアンプ1に接続
され、端子Bは抵抗R7およびスイツチSW7を介
してアンプ1に接続され、端子bは抵抗Rsを介
して共通電位点に接続されるとともに抵抗R8お
よびスイツチSW7を介してアンプ1に接続されて
いる。ここで、抵抗Rsとしては、抵抗値が既知
で測定物理量による抵抗値の変化が少ない安定度
の高い抵抗体を用いるようにする。また、アンプ
1には、スイツチSW8を介してA/D変換器6の
フルスパン入力に対応した基準電圧VFを発生す
る基準電圧源12が接続されている。A/D変換
器6には従来の基準電圧源7の代わりに電圧+V
が加えられる端子13が接続され、加算器5には
従来の基準電圧源8の代わりに切換スイツチSW9
および抵抗R9,R10を介して電圧−Vが加えられ
る端子14が接続されている。ここで、スイツチ
SW1〜SW8はマルチプレクサを構成している。 このように構成された装置の動作について説明
する。 まず、直流電圧および熱電対の出力電圧Viの測
定にあたつては、アンプ1のゲインを1に設定し
た状態でスイツチSW4およびSW8を順次選択的に
オンにして共通電位点の電圧VZおよび基準電圧
源12の出力電圧VFを測定するとともに、アン
プ1のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧
Viの測定に必要なゲインGに設定した状態でスイ
ツチSW1およびSW4を順次選択的にオンにして直
流電圧または熱電対の出力電圧Viおよびアンプ1
のオフセツト補償のための共通電位点の電圧VZ
を測定し、これら各測定結果VZ(1),VF(1),Vi
(G),VZ(G)を演算回路10に格納する。そし
て、演算回路10は、これら各測定結果VZ(1),
VF(1),Vi(G),VZ(G)および既知の基準電圧源
12の出力電圧値VFに基づいて第(1)式で示すよ
うな演算を行う。 Vi=[{Vi(G)−VZ(G)}/{VF(1) −VZ(1)}]VF ……(1) ここで、基準電圧源12以外の各回路は、これ
ら4点の電圧を測定する期間においてのみ特性が
変化しなければよく、比較的簡単な回路構成でよ
い。 また、熱電対の冷接点温度を補償するための温
度センサ2の出力電圧VJの測定にあたつては、
前述と同様にアンプ1のゲインを1にしてVZ(1),
VF(1)を測定するとともに、アンプ1のゲインを
温度センサ2の出力電圧の測定に測定に必要なゲ
インGに設定した状態でスイツチSW2およびSW4
を順次選択的にオンにして温度センサ2の出力電
圧VJおよびアンプ1のオフセツト補償のための
共通電位点の電圧VZを測定し、これら各測定結
果VZ(1),VF(1),VJ(G),VZ(G)を演算回路1
0に格納する。そして、演算回路10は、これら
各測定結果VZ(1),VF(1),VJ(G),VZ(G)およ
び既知の基準電圧源12の出力電圧値VFに基づ
いて第(2)式で示すような演算を行う。 VJ=[{VJ(G)−VZ(G)}/{VF(1) −VZ(1)}]VF ……(2) さらに演算回路10は、このようにして演算さ
れた電圧VJを温度信号(℃)に変換する。 次に、測温抵抗体Rtによる温度測定について
説明する。測温抵抗体Rtには端子11から一定
電圧−Vを加える。この状態で、アンプ1のゲイ
ンを一定に保ちながらスイツチSW5,SW6,
SW7,SW4を順次選択的にオンにし、測温抵抗体
Rtの各端子A,B,bの電圧VA,VB,Vbおよび
共通電位点の電圧VZを測定してこれら各測定結
果VA,VB,Vb,VZを演算回路10に格納する。
そして、演算回路10において、これら各測定結
果VA,VB,Vb,VZおよび既知の抵抗値Rsに基づ
いて第(3)式で示すような演算を行う。 Rt=[{VA+Vb−2VB}/{Vb −VZ}]Rs ……(3) さらに、演算回路10は、このようにして演算
された抵抗値Rt(Ω)を温度信号(℃)に変換す
る。 このように構成することにより、従来の測温抵
抗体Rtを用いた温度測定装置に必要であつた測
温抵抗体Rtに基準電流を加えるための定電流源
3および測温抵抗体Rtの端子A,B間の電位差
に基づいて抵抗値Rt(Ω)を温度信号(℃)に変
換する信号変換回路4は不要になり、回路構成が
比較的簡単になるとともに、長期間にわたつて高
精度、高安定度が必要な回路部品も少なくてよ
く、コストの低減を図ることができる。 ところで、第1図の構成において、測温抵抗体
Rtの抵抗値測定動作時の測定電圧VA,VB,Vb,
VZに関連したアンプ1の出力は、零から正極性
の範囲のみになる。この結果、A/D変換器6が
フルスパンで正、負の両極性の範囲のアナログ入
力信号をデジタル信号に変換できるように構成さ
れている場合、1/2の分解能で変換することにな
つてしまう。そこで、第1図の装置では、切換ス
イツチSW9により抵抗R9またはR10を選択的に加
算器5に接続してA/D変換器6に加えるオフセ
ツト量を変えるようにしている。 すなわち、加算器5に抵抗R9を接続した場合
にはA/D変換器6はフルスパンで零を中心にし
て正、負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジ
タル信号に変換することができる。一方、抵抗
R10を接続した場合にはA/D変換器6はフルス
パンで零から正極性の範囲のアナログ入力信号を
デジタル信号に変換でき、分解能を高めることが
できる。 なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度
を測定物理量とする測温抵抗体を用いる例を示し
たが、圧力や歪に応じて抵抗値が変化するゲージ
抵抗体などであつてもよい。 また、上記実施例では、1系統の測温抵抗体の
みを記録計に組み込んだ例について説明したが、
複数系統を設けておいてマルチプレクサで切り換
えるようにしてもよい。 また、記録計に限るものではなく、データロガ
ーなどにも組み込むことができる。
部を示す構成説明図であり、第2図と同一部分に
は同一符号を付けている。第1図において、測温
抵抗体Rtの端子Aは抵抗R5を介して電圧−Vが
加えられる端子11に接続されるとともに抵抗
R6およびスイツチSW5を介してアンプ1に接続
され、端子Bは抵抗R7およびスイツチSW7を介
してアンプ1に接続され、端子bは抵抗Rsを介
して共通電位点に接続されるとともに抵抗R8お
よびスイツチSW7を介してアンプ1に接続されて
いる。ここで、抵抗Rsとしては、抵抗値が既知
で測定物理量による抵抗値の変化が少ない安定度
の高い抵抗体を用いるようにする。また、アンプ
1には、スイツチSW8を介してA/D変換器6の
フルスパン入力に対応した基準電圧VFを発生す
る基準電圧源12が接続されている。A/D変換
器6には従来の基準電圧源7の代わりに電圧+V
が加えられる端子13が接続され、加算器5には
従来の基準電圧源8の代わりに切換スイツチSW9
および抵抗R9,R10を介して電圧−Vが加えられ
る端子14が接続されている。ここで、スイツチ
SW1〜SW8はマルチプレクサを構成している。 このように構成された装置の動作について説明
する。 まず、直流電圧および熱電対の出力電圧Viの測
定にあたつては、アンプ1のゲインを1に設定し
た状態でスイツチSW4およびSW8を順次選択的に
オンにして共通電位点の電圧VZおよび基準電圧
源12の出力電圧VFを測定するとともに、アン
プ1のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧
Viの測定に必要なゲインGに設定した状態でスイ
ツチSW1およびSW4を順次選択的にオンにして直
流電圧または熱電対の出力電圧Viおよびアンプ1
のオフセツト補償のための共通電位点の電圧VZ
を測定し、これら各測定結果VZ(1),VF(1),Vi
(G),VZ(G)を演算回路10に格納する。そし
て、演算回路10は、これら各測定結果VZ(1),
VF(1),Vi(G),VZ(G)および既知の基準電圧源
12の出力電圧値VFに基づいて第(1)式で示すよ
うな演算を行う。 Vi=[{Vi(G)−VZ(G)}/{VF(1) −VZ(1)}]VF ……(1) ここで、基準電圧源12以外の各回路は、これ
ら4点の電圧を測定する期間においてのみ特性が
変化しなければよく、比較的簡単な回路構成でよ
い。 また、熱電対の冷接点温度を補償するための温
度センサ2の出力電圧VJの測定にあたつては、
前述と同様にアンプ1のゲインを1にしてVZ(1),
VF(1)を測定するとともに、アンプ1のゲインを
温度センサ2の出力電圧の測定に測定に必要なゲ
インGに設定した状態でスイツチSW2およびSW4
を順次選択的にオンにして温度センサ2の出力電
圧VJおよびアンプ1のオフセツト補償のための
共通電位点の電圧VZを測定し、これら各測定結
果VZ(1),VF(1),VJ(G),VZ(G)を演算回路1
0に格納する。そして、演算回路10は、これら
各測定結果VZ(1),VF(1),VJ(G),VZ(G)およ
び既知の基準電圧源12の出力電圧値VFに基づ
いて第(2)式で示すような演算を行う。 VJ=[{VJ(G)−VZ(G)}/{VF(1) −VZ(1)}]VF ……(2) さらに演算回路10は、このようにして演算さ
れた電圧VJを温度信号(℃)に変換する。 次に、測温抵抗体Rtによる温度測定について
説明する。測温抵抗体Rtには端子11から一定
電圧−Vを加える。この状態で、アンプ1のゲイ
ンを一定に保ちながらスイツチSW5,SW6,
SW7,SW4を順次選択的にオンにし、測温抵抗体
Rtの各端子A,B,bの電圧VA,VB,Vbおよび
共通電位点の電圧VZを測定してこれら各測定結
果VA,VB,Vb,VZを演算回路10に格納する。
そして、演算回路10において、これら各測定結
果VA,VB,Vb,VZおよび既知の抵抗値Rsに基づ
いて第(3)式で示すような演算を行う。 Rt=[{VA+Vb−2VB}/{Vb −VZ}]Rs ……(3) さらに、演算回路10は、このようにして演算
された抵抗値Rt(Ω)を温度信号(℃)に変換す
る。 このように構成することにより、従来の測温抵
抗体Rtを用いた温度測定装置に必要であつた測
温抵抗体Rtに基準電流を加えるための定電流源
3および測温抵抗体Rtの端子A,B間の電位差
に基づいて抵抗値Rt(Ω)を温度信号(℃)に変
換する信号変換回路4は不要になり、回路構成が
比較的簡単になるとともに、長期間にわたつて高
精度、高安定度が必要な回路部品も少なくてよ
く、コストの低減を図ることができる。 ところで、第1図の構成において、測温抵抗体
Rtの抵抗値測定動作時の測定電圧VA,VB,Vb,
VZに関連したアンプ1の出力は、零から正極性
の範囲のみになる。この結果、A/D変換器6が
フルスパンで正、負の両極性の範囲のアナログ入
力信号をデジタル信号に変換できるように構成さ
れている場合、1/2の分解能で変換することにな
つてしまう。そこで、第1図の装置では、切換ス
イツチSW9により抵抗R9またはR10を選択的に加
算器5に接続してA/D変換器6に加えるオフセ
ツト量を変えるようにしている。 すなわち、加算器5に抵抗R9を接続した場合
にはA/D変換器6はフルスパンで零を中心にし
て正、負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジ
タル信号に変換することができる。一方、抵抗
R10を接続した場合にはA/D変換器6はフルス
パンで零から正極性の範囲のアナログ入力信号を
デジタル信号に変換でき、分解能を高めることが
できる。 なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度
を測定物理量とする測温抵抗体を用いる例を示し
たが、圧力や歪に応じて抵抗値が変化するゲージ
抵抗体などであつてもよい。 また、上記実施例では、1系統の測温抵抗体の
みを記録計に組み込んだ例について説明したが、
複数系統を設けておいてマルチプレクサで切り換
えるようにしてもよい。 また、記録計に限るものではなく、データロガ
ーなどにも組み込むことができる。
以上説明したように、本発明によれば、比較的
簡単な回路構成で高精度の測定が行え、測定電圧
の極性に応じて高い分解能での測定が行える信号
処理装置を実現することができる。
簡単な回路構成で高精度の測定が行え、測定電圧
の極性に応じて高い分解能での測定が行える信号
処理装置を実現することができる。
第1図は本発明の一実施例を用いた記録計の要
部を示す構成説明図、第2図は従来の測温抵抗体
を用いた温度測定装置を含む記録計の一例の要部
を示す構成説明図である。 1……アンプ、2……温度センサ、5……加算
器、6……A/D変換器、9……信号絶縁回路、
10……演算回路、12……基準電圧源、Rt…
…測温抵抗体、Rs……基準抵抗。
部を示す構成説明図、第2図は従来の測温抵抗体
を用いた温度測定装置を含む記録計の一例の要部
を示す構成説明図である。 1……アンプ、2……温度センサ、5……加算
器、6……A/D変換器、9……信号絶縁回路、
10……演算回路、12……基準電圧源、Rt…
…測温抵抗体、Rs……基準抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ゲインが切換可能なアンプと、 このアンプの出力電圧をデジタル信号に変換す
るA/D変換器と、 このA/D変換器に所望のオフセツト量を与え
るオフセツト切換回路と、 前記A/D変換器のフルスパン入力に対応した
既知の基準電圧VFを発生する基準電圧源と、 前記アンプに測定電圧Vi、共通電位点の電圧
VZおよび基準電圧VFを選択的に入力するマルチ
プレクサと、 前記アンプのゲインを第1のゲインG1に設定
してVZ,VFを測定することにより測定結果VZ
(G1),VF(G1)を求めるとともに第2のゲイン
G2に設定してVi,VZを測定することにより測定
結果Vi(G2),VZ(G2)を求め、これら測定結果
および既知の基準電圧VFに基づいて、 Vi=[{Vi(G2)−VZ(G2)}/VF (G1)−VZ(G1)}]VF で表される演算を行う演算回路、 を設けたことを特徴とする信号処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP717385A JPS61167876A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP717385A JPS61167876A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20805892A Division JPH06100626B2 (ja) | 1992-08-04 | 1992-08-04 | 測温抵抗体回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61167876A JPS61167876A (ja) | 1986-07-29 |
JPH0527828B2 true JPH0527828B2 (ja) | 1993-04-22 |
Family
ID=11658686
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP717385A Granted JPS61167876A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61167876A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0743624Y2 (ja) * | 1989-01-26 | 1995-10-09 | 横河電機株式会社 | 温度測定装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56108971A (en) * | 1980-02-01 | 1981-08-28 | Advantest Corp | Resistance measuring method and device using said measuring method |
JPS59203965A (ja) * | 1983-05-02 | 1984-11-19 | Tokyo Kosumosu Denki Kk | 抵抗偏差特性検査器 |
-
1985
- 1985-01-18 JP JP717385A patent/JPS61167876A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56108971A (en) * | 1980-02-01 | 1981-08-28 | Advantest Corp | Resistance measuring method and device using said measuring method |
JPS59203965A (ja) * | 1983-05-02 | 1984-11-19 | Tokyo Kosumosu Denki Kk | 抵抗偏差特性検査器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61167876A (ja) | 1986-07-29 |
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