JPH0527828B2 - - Google Patents
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- JPH0527828B2 JPH0527828B2 JP60007173A JP717385A JPH0527828B2 JP H0527828 B2 JPH0527828 B2 JP H0527828B2 JP 60007173 A JP60007173 A JP 60007173A JP 717385 A JP717385 A JP 717385A JP H0527828 B2 JPH0527828 B2 JP H0527828B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
本発明は信号処理装置に関し、詳しくは、抵抗
式変換装置などにおける測定精度の改善に関する
ものである。
式変換装置などにおける測定精度の改善に関する
ものである。
第２図は従来の抵抗式変換装置の一例の要部を
示す構成説明図であり、測温抵抗体を用いた温度
測定装置を含む記録計の例を示している。 第２図において、Ｈ，Ｌは熱電対の出力電圧や
直流電圧などの入力端子であり、Ｈ端子は抵抗
R1およびスイツチSW1を介してアンプ１に接続
され、Ｌ端子は共通電位点に接続されている。２
は熱電対の冷接点温度を補償するための温度信号
を出力する温度センサであり、その出力端子はス
イツチSW2を介してアンプ１に接続されている。
このような温度センサ２としては例えばトランジ
スタのVbeの温度変化を利用したものが用いられ
る。 Rtは３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体で
あつて、端子Ａには基準電流を加える定電流源３
が接続され、端子ｂは抵抗R2を介して共通電位
点に接続されている。４は測温抵抗体Rtの端子
Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を温度
値（℃）に変換する信号変換回路であり、その出
力端子はスイツチSW3を介してアンプ１に接続さ
れている。SW4は共通電位点をアンプ１に接続す
るためのスイツチである。これらスイツチSW1〜
SW4はアンプ１の入力を切り換えるマルチプレク
サを構成している。 アンプ１の出力は抵抗R3および加算器５を介
して例えば積分形のＡ／Ｄ変換器６に加えられ、
デジタル信号に変換される。 ７は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源で
あり、８は負極性の基準電圧を出力する基準電圧
源である。基準電圧源７の出力電圧はＡ／Ｄ変換
器６の積分器の放電電流を設定する基準として
Ａ／Ｄ変換器６に加えられるとともに、基準電圧
源８の出力電圧の基準として基準電圧源８に加え
られている。 基準電圧源８の出力電圧は抵抗R4および加算
器５を介してＡ／Ｄ変換器６に加えられ、Ａ／Ｄ
変換器６を電圧零を中心とする正極性および負極
性の電圧に対応させるためのオフセツト電流を設
定する基準として用いられている。 Ａ／Ｄ変換器６で変換されたデジタル信号は、
フオトカプラなどの信号絶縁回路９を介してマイ
クロプロセツサやデジタル回路などで構成された
演算回路１０に加えられる。 演算回路１０は、例えばスイツSW4をオンにし
た状態でのＡ／Ｄ変換器６のデジタル信号出力を
基準にした測定結果に対するソフトウエアによる
自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度信号への
変換、測定信号に対するリニヤライズなどの必要
な演算処理を行う。そして、このようにして演算
された結果は、図示しない記録部に加えられて記
録される。
示す構成説明図であり、測温抵抗体を用いた温度
測定装置を含む記録計の例を示している。 第２図において、Ｈ，Ｌは熱電対の出力電圧や
直流電圧などの入力端子であり、Ｈ端子は抵抗
R1およびスイツチSW1を介してアンプ１に接続
され、Ｌ端子は共通電位点に接続されている。２
は熱電対の冷接点温度を補償するための温度信号
を出力する温度センサであり、その出力端子はス
イツチSW2を介してアンプ１に接続されている。
このような温度センサ２としては例えばトランジ
スタのVbeの温度変化を利用したものが用いられ
る。 Rtは３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体で
あつて、端子Ａには基準電流を加える定電流源３
が接続され、端子ｂは抵抗R2を介して共通電位
点に接続されている。４は測温抵抗体Rtの端子
Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を温度
値（℃）に変換する信号変換回路であり、その出
力端子はスイツチSW3を介してアンプ１に接続さ
れている。SW4は共通電位点をアンプ１に接続す
るためのスイツチである。これらスイツチSW1〜
SW4はアンプ１の入力を切り換えるマルチプレク
サを構成している。 アンプ１の出力は抵抗R3および加算器５を介
して例えば積分形のＡ／Ｄ変換器６に加えられ、
デジタル信号に変換される。 ７は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源で
あり、８は負極性の基準電圧を出力する基準電圧
源である。基準電圧源７の出力電圧はＡ／Ｄ変換
器６の積分器の放電電流を設定する基準として
Ａ／Ｄ変換器６に加えられるとともに、基準電圧
源８の出力電圧の基準として基準電圧源８に加え
られている。 基準電圧源８の出力電圧は抵抗R4および加算
器５を介してＡ／Ｄ変換器６に加えられ、Ａ／Ｄ
変換器６を電圧零を中心とする正極性および負極
性の電圧に対応させるためのオフセツト電流を設
定する基準として用いられている。 Ａ／Ｄ変換器６で変換されたデジタル信号は、
フオトカプラなどの信号絶縁回路９を介してマイ
クロプロセツサやデジタル回路などで構成された
演算回路１０に加えられる。 演算回路１０は、例えばスイツSW4をオンにし
た状態でのＡ／Ｄ変換器６のデジタル信号出力を
基準にした測定結果に対するソフトウエアによる
自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度信号への
変換、測定信号に対するリニヤライズなどの必要
な演算処理を行う。そして、このようにして演算
された結果は、図示しない記録部に加えられて記
録される。
しかし、このような従来の構成によれば、測温
抵抗体Rtを用いた温度測定装置に基準電流を加
えるための定電流源３および測温抵抗体Rtの端
子Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を温
度値（℃）に変換する信号変換回路４を設けてい
ることから、回路構成が複雑になるとともに、長
期間にわたつて高精度、項安定度を保つために高
価な回路部品を用いなければならず、コストが高
くなるという欠点がある。 また、Ａ／Ｄ変換器のオフセツト量は正負両極
性の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変
換できるように固定化されているので、測温抵抗
体の抵抗値測定の場合の分解能は1/2になつてし
まう。 本発明はこのような問題点を解決するものであ
つて、その目的は、比較的簡単な回路構成で精度
の高い測定が行え、特に測温抵抗体についてはリ
ード線の抵抗値の影響を受けることなく高い分解
能で高精度の温度測定が行える信号処理装置を実
現することにある。
抵抗体Rtを用いた温度測定装置に基準電流を加
えるための定電流源３および測温抵抗体Rtの端
子Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を温
度値（℃）に変換する信号変換回路４を設けてい
ることから、回路構成が複雑になるとともに、長
期間にわたつて高精度、項安定度を保つために高
価な回路部品を用いなければならず、コストが高
くなるという欠点がある。 また、Ａ／Ｄ変換器のオフセツト量は正負両極
性の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変
換できるように固定化されているので、測温抵抗
体の抵抗値測定の場合の分解能は1/2になつてし
まう。 本発明はこのような問題点を解決するものであ
つて、その目的は、比較的簡単な回路構成で精度
の高い測定が行え、特に測温抵抗体についてはリ
ード線の抵抗値の影響を受けることなく高い分解
能で高精度の温度測定が行える信号処理装置を実
現することにある。
このような目的を達成する本発明は、
ゲインが切換可能なアンプと、
このアンプの出力電圧をデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器に所望のオフセツト量を与え
るオフセツト切換回路と、 前記Ａ／Ｄ変換器のフルスパン入力に対応した
既知の基準電圧VFを発生する基準電圧源と、 前記アンプに測定電圧Vi、共通電位点の電圧
VZおよび基準電圧VFを選択的に入力するマルチ
プレクサと、 前記アンプのゲインを第１のゲインG1に設定
してVZ，VFを測定することにより測定結果VZ
（G1），VF（G1）を求めるとともに第２のゲイン
G2に設定してVi，VZを測定することにより測定
結果Vi（G2），VZ（G2）を求め、これら測定結果
および既知の基準電圧VFに基づいて、 Vi＝［｛Vi（G2）−VZ（G2）｝／｛VF （G1）−VZ（G1）｝］VF で表される演算を行う演算回路、 を設けたことを特徴とする。
るＡ／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器に所望のオフセツト量を与え
るオフセツト切換回路と、 前記Ａ／Ｄ変換器のフルスパン入力に対応した
既知の基準電圧VFを発生する基準電圧源と、 前記アンプに測定電圧Vi、共通電位点の電圧
VZおよび基準電圧VFを選択的に入力するマルチ
プレクサと、 前記アンプのゲインを第１のゲインG1に設定
してVZ，VFを測定することにより測定結果VZ
（G1），VF（G1）を求めるとともに第２のゲイン
G2に設定してVi，VZを測定することにより測定
結果Vi（G2），VZ（G2）を求め、これら測定結果
および既知の基準電圧VFに基づいて、 Vi＝［｛Vi（G2）−VZ（G2）｝／｛VF （G1）−VZ（G1）｝］VF で表される演算を行う演算回路、 を設けたことを特徴とする。
測定電圧Viは、アンプのゲインを第１のゲイン
に設定した状態でVZ，VFを測定することにより
得られる測定結果と、アンプのゲインを第２のゲ
インに設定した状態でVi，VZを測定することに
より得られる測定結果と、既知の基準電圧VFに
基づいて、演算回路で所定の演算式に従つて演算
される。 これにより、基準電圧源以外の回路は４点の電
圧を少なくとも１回測定する間だけ安定していれ
ばよく、構成の簡略化が図れ、コストの低減が図
れる。 また、測定電圧の極性に応じてオフセツト切換
回路を切り換えてＡ／Ｄ変換器に所望のオフセツ
ト量を与えることにより、高い分解能でデジタル
信号に変換できる。
に設定した状態でVZ，VFを測定することにより
得られる測定結果と、アンプのゲインを第２のゲ
インに設定した状態でVi，VZを測定することに
より得られる測定結果と、既知の基準電圧VFに
基づいて、演算回路で所定の演算式に従つて演算
される。 これにより、基準電圧源以外の回路は４点の電
圧を少なくとも１回測定する間だけ安定していれ
ばよく、構成の簡略化が図れ、コストの低減が図
れる。 また、測定電圧の極性に応じてオフセツト切換
回路を切り換えてＡ／Ｄ変換器に所望のオフセツ
ト量を与えることにより、高い分解能でデジタル
信号に変換できる。
【実施例】
以下、図面を用い本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明の一実施例を用いた記録計の要
部を示す構成説明図であり、第２図と同一部分に
は同一符号を付けている。第１図において、測温
抵抗体Rtの端子Ａは抵抗R5を介して電圧−Ｖが
加えられる端子１１に接続されるとともに抵抗
R6およびスイツチSW5を介してアンプ１に接続
され、端子Ｂは抵抗R7およびスイツチSW7を介
してアンプ１に接続され、端子ｂは抵抗Rsを介
して共通電位点に接続されるとともに抵抗R8お
よびスイツチSW7を介してアンプ１に接続されて
いる。ここで、抵抗Rsとしては、抵抗値が既知
で測定物理量による抵抗値の変化が少ない安定度
の高い抵抗体を用いるようにする。また、アンプ
１には、スイツチSW8を介してＡ／Ｄ変換器６の
フルスパン入力に対応した基準電圧VFを発生す
る基準電圧源１２が接続されている。Ａ／Ｄ変換
器６には従来の基準電圧源７の代わりに電圧＋Ｖ
が加えられる端子１３が接続され、加算器５には
従来の基準電圧源８の代わりに切換スイツチSW9
および抵抗R9，R10を介して電圧−Ｖが加えられ
る端子１４が接続されている。ここで、スイツチ
SW1〜SW8はマルチプレクサを構成している。 このように構成された装置の動作について説明
する。 まず、直流電圧および熱電対の出力電圧Viの測
定にあたつては、アンプ１のゲインを１に設定し
た状態でスイツチSW4およびSW8を順次選択的に
オンにして共通電位点の電圧VZおよび基準電圧
源１２の出力電圧VFを測定するとともに、アン
プ１のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧
Viの測定に必要なゲインＧに設定した状態でスイ
ツチSW1およびSW4を順次選択的にオンにして直
流電圧または熱電対の出力電圧Viおよびアンプ１
のオフセツト補償のための共通電位点の電圧VZ
を測定し、これら各測定結果VZ(1)，VF(1)，Vi
（Ｇ），VZ（Ｇ）を演算回路１０に格納する。そし
て、演算回路１０は、これら各測定結果VZ(1)，
VF(1)，Vi（Ｇ），VZ（Ｇ）および既知の基準電圧源
１２の出力電圧値VFに基づいて第(1)式で示すよ
うな演算を行う。 Vi＝［｛Vi（Ｇ）−VZ（Ｇ）｝／｛VF(1) −VZ(1)｝］VF ……(1) ここで、基準電圧源１２以外の各回路は、これ
ら４点の電圧を測定する期間においてのみ特性が
変化しなければよく、比較的簡単な回路構成でよ
い。 また、熱電対の冷接点温度を補償するための温
度センサ２の出力電圧VJの測定にあたつては、
前述と同様にアンプ１のゲインを１にしてVZ(1)，
VF(1)を測定するとともに、アンプ１のゲインを
温度センサ２の出力電圧の測定に測定に必要なゲ
インＧに設定した状態でスイツチSW2およびSW4
を順次選択的にオンにして温度センサ２の出力電
圧VJおよびアンプ１のオフセツト補償のための
共通電位点の電圧VZを測定し、これら各測定結
果VZ(1)，VF(1)，VJ（Ｇ），VZ（Ｇ）を演算回路１
０に格納する。そして、演算回路１０は、これら
各測定結果VZ(1)，VF(1)，VJ（Ｇ），VZ（Ｇ）およ
び既知の基準電圧源１２の出力電圧値VFに基づ
いて第(2)式で示すような演算を行う。 VJ＝［｛VJ（Ｇ）−VZ（Ｇ）｝／｛VF(1) −VZ(1)｝］VF ……(2) さらに演算回路１０は、このようにして演算さ
れた電圧VJを温度信号（℃）に変換する。 次に、測温抵抗体Rtによる温度測定について
説明する。測温抵抗体Rtには端子１１から一定
電圧−Ｖを加える。この状態で、アンプ１のゲイ
ンを一定に保ちながらスイツチSW5，SW6，
SW7，SW4を順次選択的にオンにし、測温抵抗体
Rtの各端子Ａ，Ｂ，ｂの電圧VA，VB，Vbおよび
共通電位点の電圧VZを測定してこれら各測定結
果VA，VB，Vb，VZを演算回路１０に格納する。
そして、演算回路１０において、これら各測定結
果VA，VB，Vb，VZおよび既知の抵抗値Rsに基づ
いて第(3)式で示すような演算を行う。 Rt＝［｛VA＋Vb−2VB｝／｛Vb −VZ｝］Rs ……(3) さらに、演算回路１０は、このようにして演算
された抵抗値Rt（Ω）を温度信号（℃）に変換す
る。 このように構成することにより、従来の測温抵
抗体Rtを用いた温度測定装置に必要であつた測
温抵抗体Rtに基準電流を加えるための定電流源
３および測温抵抗体Rtの端子Ａ，Ｂ間の電位差
に基づいて抵抗値Rt（Ω）を温度信号（℃）に変
換する信号変換回路４は不要になり、回路構成が
比較的簡単になるとともに、長期間にわたつて高
精度、高安定度が必要な回路部品も少なくてよ
く、コストの低減を図ることができる。 ところで、第１図の構成において、測温抵抗体
Rtの抵抗値測定動作時の測定電圧VA，VB，Vb，
VZに関連したアンプ１の出力は、零から正極性
の範囲のみになる。この結果、Ａ／Ｄ変換器６が
フルスパンで正、負の両極性の範囲のアナログ入
力信号をデジタル信号に変換できるように構成さ
れている場合、1/2の分解能で変換することにな
つてしまう。そこで、第１図の装置では、切換ス
イツチSW9により抵抗R9またはR10を選択的に加
算器５に接続してＡ／Ｄ変換器６に加えるオフセ
ツト量を変えるようにしている。 すなわち、加算器５に抵抗R9を接続した場合
にはＡ／Ｄ変換器６はフルスパンで零を中心にし
て正、負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジ
タル信号に変換することができる。一方、抵抗
R10を接続した場合にはＡ／Ｄ変換器６はフルス
パンで零から正極性の範囲のアナログ入力信号を
デジタル信号に変換でき、分解能を高めることが
できる。 なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度
を測定物理量とする測温抵抗体を用いる例を示し
たが、圧力や歪に応じて抵抗値が変化するゲージ
抵抗体などであつてもよい。 また、上記実施例では、１系統の測温抵抗体の
みを記録計に組み込んだ例について説明したが、
複数系統を設けておいてマルチプレクサで切り換
えるようにしてもよい。 また、記録計に限るものではなく、データロガ
ーなどにも組み込むことができる。
部を示す構成説明図であり、第２図と同一部分に
は同一符号を付けている。第１図において、測温
抵抗体Rtの端子Ａは抵抗R5を介して電圧−Ｖが
加えられる端子１１に接続されるとともに抵抗
R6およびスイツチSW5を介してアンプ１に接続
され、端子Ｂは抵抗R7およびスイツチSW7を介
してアンプ１に接続され、端子ｂは抵抗Rsを介
して共通電位点に接続されるとともに抵抗R8お
よびスイツチSW7を介してアンプ１に接続されて
いる。ここで、抵抗Rsとしては、抵抗値が既知
で測定物理量による抵抗値の変化が少ない安定度
の高い抵抗体を用いるようにする。また、アンプ
１には、スイツチSW8を介してＡ／Ｄ変換器６の
フルスパン入力に対応した基準電圧VFを発生す
る基準電圧源１２が接続されている。Ａ／Ｄ変換
器６には従来の基準電圧源７の代わりに電圧＋Ｖ
が加えられる端子１３が接続され、加算器５には
従来の基準電圧源８の代わりに切換スイツチSW9
および抵抗R9，R10を介して電圧−Ｖが加えられ
る端子１４が接続されている。ここで、スイツチ
SW1〜SW8はマルチプレクサを構成している。 このように構成された装置の動作について説明
する。 まず、直流電圧および熱電対の出力電圧Viの測
定にあたつては、アンプ１のゲインを１に設定し
た状態でスイツチSW4およびSW8を順次選択的に
オンにして共通電位点の電圧VZおよび基準電圧
源１２の出力電圧VFを測定するとともに、アン
プ１のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧
Viの測定に必要なゲインＧに設定した状態でスイ
ツチSW1およびSW4を順次選択的にオンにして直
流電圧または熱電対の出力電圧Viおよびアンプ１
のオフセツト補償のための共通電位点の電圧VZ
を測定し、これら各測定結果VZ(1)，VF(1)，Vi
（Ｇ），VZ（Ｇ）を演算回路１０に格納する。そし
て、演算回路１０は、これら各測定結果VZ(1)，
VF(1)，Vi（Ｇ），VZ（Ｇ）および既知の基準電圧源
１２の出力電圧値VFに基づいて第(1)式で示すよ
うな演算を行う。 Vi＝［｛Vi（Ｇ）−VZ（Ｇ）｝／｛VF(1) −VZ(1)｝］VF ……(1) ここで、基準電圧源１２以外の各回路は、これ
ら４点の電圧を測定する期間においてのみ特性が
変化しなければよく、比較的簡単な回路構成でよ
い。 また、熱電対の冷接点温度を補償するための温
度センサ２の出力電圧VJの測定にあたつては、
前述と同様にアンプ１のゲインを１にしてVZ(1)，
VF(1)を測定するとともに、アンプ１のゲインを
温度センサ２の出力電圧の測定に測定に必要なゲ
インＧに設定した状態でスイツチSW2およびSW4
を順次選択的にオンにして温度センサ２の出力電
圧VJおよびアンプ１のオフセツト補償のための
共通電位点の電圧VZを測定し、これら各測定結
果VZ(1)，VF(1)，VJ（Ｇ），VZ（Ｇ）を演算回路１
０に格納する。そして、演算回路１０は、これら
各測定結果VZ(1)，VF(1)，VJ（Ｇ），VZ（Ｇ）およ
び既知の基準電圧源１２の出力電圧値VFに基づ
いて第(2)式で示すような演算を行う。 VJ＝［｛VJ（Ｇ）−VZ（Ｇ）｝／｛VF(1) −VZ(1)｝］VF ……(2) さらに演算回路１０は、このようにして演算さ
れた電圧VJを温度信号（℃）に変換する。 次に、測温抵抗体Rtによる温度測定について
説明する。測温抵抗体Rtには端子１１から一定
電圧−Ｖを加える。この状態で、アンプ１のゲイ
ンを一定に保ちながらスイツチSW5，SW6，
SW7，SW4を順次選択的にオンにし、測温抵抗体
Rtの各端子Ａ，Ｂ，ｂの電圧VA，VB，Vbおよび
共通電位点の電圧VZを測定してこれら各測定結
果VA，VB，Vb，VZを演算回路１０に格納する。
そして、演算回路１０において、これら各測定結
果VA，VB，Vb，VZおよび既知の抵抗値Rsに基づ
いて第(3)式で示すような演算を行う。 Rt＝［｛VA＋Vb−2VB｝／｛Vb −VZ｝］Rs ……(3) さらに、演算回路１０は、このようにして演算
された抵抗値Rt（Ω）を温度信号（℃）に変換す
る。 このように構成することにより、従来の測温抵
抗体Rtを用いた温度測定装置に必要であつた測
温抵抗体Rtに基準電流を加えるための定電流源
３および測温抵抗体Rtの端子Ａ，Ｂ間の電位差
に基づいて抵抗値Rt（Ω）を温度信号（℃）に変
換する信号変換回路４は不要になり、回路構成が
比較的簡単になるとともに、長期間にわたつて高
精度、高安定度が必要な回路部品も少なくてよ
く、コストの低減を図ることができる。 ところで、第１図の構成において、測温抵抗体
Rtの抵抗値測定動作時の測定電圧VA，VB，Vb，
VZに関連したアンプ１の出力は、零から正極性
の範囲のみになる。この結果、Ａ／Ｄ変換器６が
フルスパンで正、負の両極性の範囲のアナログ入
力信号をデジタル信号に変換できるように構成さ
れている場合、1/2の分解能で変換することにな
つてしまう。そこで、第１図の装置では、切換ス
イツチSW9により抵抗R9またはR10を選択的に加
算器５に接続してＡ／Ｄ変換器６に加えるオフセ
ツト量を変えるようにしている。 すなわち、加算器５に抵抗R9を接続した場合
にはＡ／Ｄ変換器６はフルスパンで零を中心にし
て正、負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジ
タル信号に変換することができる。一方、抵抗
R10を接続した場合にはＡ／Ｄ変換器６はフルス
パンで零から正極性の範囲のアナログ入力信号を
デジタル信号に変換でき、分解能を高めることが
できる。 なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度
を測定物理量とする測温抵抗体を用いる例を示し
たが、圧力や歪に応じて抵抗値が変化するゲージ
抵抗体などであつてもよい。 また、上記実施例では、１系統の測温抵抗体の
みを記録計に組み込んだ例について説明したが、
複数系統を設けておいてマルチプレクサで切り換
えるようにしてもよい。 また、記録計に限るものではなく、データロガ
ーなどにも組み込むことができる。
以上説明したように、本発明によれば、比較的
簡単な回路構成で高精度の測定が行え、測定電圧
の極性に応じて高い分解能での測定が行える信号
処理装置を実現することができる。
簡単な回路構成で高精度の測定が行え、測定電圧
の極性に応じて高い分解能での測定が行える信号
処理装置を実現することができる。
第１図は本発明の一実施例を用いた記録計の要
部を示す構成説明図、第２図は従来の測温抵抗体
を用いた温度測定装置を含む記録計の一例の要部
を示す構成説明図である。 １……アンプ、２……温度センサ、５……加算
器、６……Ａ／Ｄ変換器、９……信号絶縁回路、
１０……演算回路、１２……基準電圧源、Rt…
…測温抵抗体、Rs……基準抵抗。
部を示す構成説明図、第２図は従来の測温抵抗体
を用いた温度測定装置を含む記録計の一例の要部
を示す構成説明図である。 １……アンプ、２……温度センサ、５……加算
器、６……Ａ／Ｄ変換器、９……信号絶縁回路、
１０……演算回路、１２……基準電圧源、Rt…
…測温抵抗体、Rs……基準抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ゲインが切換可能なアンプと、 このアンプの出力電圧をデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器に所望のオフセツト量を与え
るオフセツト切換回路と、 前記Ａ／Ｄ変換器のフルスパン入力に対応した
既知の基準電圧VFを発生する基準電圧源と、 前記アンプに測定電圧Vi、共通電位点の電圧
VZおよび基準電圧VFを選択的に入力するマルチ
プレクサと、 前記アンプのゲインを第１のゲインG1に設定
してVZ，VFを測定することにより測定結果VZ
（G1），VF（G1）を求めるとともに第２のゲイン
G2に設定してVi，VZを測定することにより測定
結果Vi（G2），VZ（G2）を求め、これら測定結果
および既知の基準電圧VFに基づいて、 Vi＝［｛Vi（G2）−VZ（G2）｝／VF （G1）−VZ（G1）｝］VF で表される演算を行う演算回路、 を設けたことを特徴とする信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP717385A JPS61167876A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP717385A JPS61167876A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20805892A Division JPH06100626B2 (ja) | 1992-08-04 | 1992-08-04 | 測温抵抗体回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61167876A JPS61167876A (ja) | 1986-07-29 |
| JPH0527828B2 true JPH0527828B2 (ja) | 1993-04-22 |
Family
ID=11658686
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP717385A Granted JPS61167876A (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61167876A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0743624Y2 (ja) * | 1989-01-26 | 1995-10-09 | 横河電機株式会社 | 温度測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56108971A (en) * | 1980-02-01 | 1981-08-28 | Advantest Corp | Resistance measuring method and device using said measuring method |
| JPS59203965A (ja) * | 1983-05-02 | 1984-11-19 | Tokyo Kosumosu Denki Kk | 抵抗偏差特性検査器 |
-
1985
- 1985-01-18 JP JP717385A patent/JPS61167876A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56108971A (en) * | 1980-02-01 | 1981-08-28 | Advantest Corp | Resistance measuring method and device using said measuring method |
| JPS59203965A (ja) * | 1983-05-02 | 1984-11-19 | Tokyo Kosumosu Denki Kk | 抵抗偏差特性検査器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61167876A (ja) | 1986-07-29 |
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