JPH0313535B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0313535B2 JPH0313535B2 JP4941185A JP4941185A JPH0313535B2 JP H0313535 B2 JPH0313535 B2 JP H0313535B2 JP 4941185 A JP4941185 A JP 4941185A JP 4941185 A JP4941185 A JP 4941185A JP H0313535 B2 JPH0313535 B2 JP H0313535B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistance
- temperature
- temperature detector
- resistance temperature
- correction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 4
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/02—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
- G01K1/026—Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for monitoring a plurality of temperatures, e.g. by multiplexing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/18—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
- G01K7/20—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/21—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit for modifying the output characteristic, e.g. linearising
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、測温抵抗体入力装置に関し、より
詳しくは温度変化により抵抗値が可変することを
利用した測温抵抗体を備えた測温抵抗体入力装置
に関する。
詳しくは温度変化により抵抗値が可変することを
利用した測温抵抗体を備えた測温抵抗体入力装置
に関する。
第２図は、従来の測温抵抗体入力装置の一例を
示す全体構成図であり、第３図は前記第２図にて
示した従来の測温抵抗体入力装置における入力回
路の回路構成を示した図である。第２図におい
て、３線式の測温抵抗体（以下単に「測温抵抗
体」という）１，２，６は、材質がPtで構成さ
れており、その周囲温度が０℃のとき抵抗値100
Ωを示し、温度変化に対応した抵抗値をもつ抵抗
体である。これらの測温抵抗体１，２，６は、
夫々変換器１１，１２，１６の入力側に接続され
ている。前記変換器１１，１２，１６は、前記測
温抵抗体１，２，６の抵抗値が温度変化によつて
可変した分を１〜5V程度の標準電圧に変換して
該電圧信号を出力する。アナログ入力カード９
は、前記変換器１１，１２，１６から出力された
標準電圧信号をデイジタル信号に変換して出力す
る。前記変換器１１，１２，１６の内部構成は第
３図にて図示するごとくである。
示す全体構成図であり、第３図は前記第２図にて
示した従来の測温抵抗体入力装置における入力回
路の回路構成を示した図である。第２図におい
て、３線式の測温抵抗体（以下単に「測温抵抗
体」という）１，２，６は、材質がPtで構成さ
れており、その周囲温度が０℃のとき抵抗値100
Ωを示し、温度変化に対応した抵抗値をもつ抵抗
体である。これらの測温抵抗体１，２，６は、
夫々変換器１１，１２，１６の入力側に接続され
ている。前記変換器１１，１２，１６は、前記測
温抵抗体１，２，６の抵抗値が温度変化によつて
可変した分を１〜5V程度の標準電圧に変換して
該電圧信号を出力する。アナログ入力カード９
は、前記変換器１１，１２，１６から出力された
標準電圧信号をデイジタル信号に変換して出力す
る。前記変換器１１，１２，１６の内部構成は第
３図にて図示するごとくである。
第３図は前記測温抵抗体１と変換器１１との関
係の詳細を図示したもので、測温抵抗体２と変換
器１２、測温抵抗体６と変換器１６との関係も同
様である。第３図において、測温抵抗体１と抵抗
２１、抵抗３１、抵抗４１とでブリツジ回路を構
成しており、該ブリツジ回路からは前記測温抵抗
体１の温度変化に応じた抵抗値の変化によつて該
ブリツジの平衡がくずれたときの差電圧を取り出
して出力する。
係の詳細を図示したもので、測温抵抗体２と変換
器１２、測温抵抗体６と変換器１６との関係も同
様である。第３図において、測温抵抗体１と抵抗
２１、抵抗３１、抵抗４１とでブリツジ回路を構
成しており、該ブリツジ回路からは前記測温抵抗
体１の温度変化に応じた抵抗値の変化によつて該
ブリツジの平衡がくずれたときの差電圧を取り出
して出力する。
入力フイルタ５１は、前記ブリツジ回路から出
力される信号より約2KHz−3dBで交流誘導成分
を除去して出力する。プリアンプ５２の入力端子
は前記入力フイルタ５１の出力端子と接続されて
おり、入力フイルタ５１から出力された信号を増
幅して出力する。リニアライザ５３は前記プリア
ンプ５２の帰還ループに接続されており、前記プ
リアンプ５１によつて増幅された温度変化に対し
て非直線性を示す測温抵抗体１の抵抗値変化によ
つて生ずる差電圧を直線化し、１〜5V信号とし
て出力する。アイソレータ５４は入力−出力間を
絶縁することによつて水分の多い環境で回り込み
による影響を少なくするとともに、前記１〜5V
信号を受けてこれを前記アナログ入力カード９に
出力する。
力される信号より約2KHz−3dBで交流誘導成分
を除去して出力する。プリアンプ５２の入力端子
は前記入力フイルタ５１の出力端子と接続されて
おり、入力フイルタ５１から出力された信号を増
幅して出力する。リニアライザ５３は前記プリア
ンプ５２の帰還ループに接続されており、前記プ
リアンプ５１によつて増幅された温度変化に対し
て非直線性を示す測温抵抗体１の抵抗値変化によ
つて生ずる差電圧を直線化し、１〜5V信号とし
て出力する。アイソレータ５４は入力−出力間を
絶縁することによつて水分の多い環境で回り込み
による影響を少なくするとともに、前記１〜5V
信号を受けてこれを前記アナログ入力カード９に
出力する。
上述したごとき構成の従来の測温抵抗体入力装
置を使用して、例えば０℃〜100℃の計測を行う
場合には測定温度範囲０℃〜100℃をプリアンプ
５２においてボリユーム（図示しない）等で調整
する。各々の測温抵抗体１，２，６の抵抗値は、
０℃〜100℃の間の被測定温度に応じて可変する。
すると、前述したごとく測温抵抗体１，２，６と
前記変換器１１，１２，１６内の抵抗とで夫々構
成されているブリツジ回路におけるブリツジの平
衡がくずれるため、その差電圧が前記変換器１
１，１２，１６からアナログ入力カード９へと出
力される。そしてアナログ入力カード９において
Ａ／Ｄ変換されることとなる。
置を使用して、例えば０℃〜100℃の計測を行う
場合には測定温度範囲０℃〜100℃をプリアンプ
５２においてボリユーム（図示しない）等で調整
する。各々の測温抵抗体１，２，６の抵抗値は、
０℃〜100℃の間の被測定温度に応じて可変する。
すると、前述したごとく測温抵抗体１，２，６と
前記変換器１１，１２，１６内の抵抗とで夫々構
成されているブリツジ回路におけるブリツジの平
衡がくずれるため、その差電圧が前記変換器１
１，１２，１６からアナログ入力カード９へと出
力される。そしてアナログ入力カード９において
Ａ／Ｄ変換されることとなる。
なお、前述したアイソレータ５４は、水分等が
少ない環境下においては必要性がないものであ
る。
少ない環境下においては必要性がないものであ
る。
ところで上述したごとき構成の従来の測温抵抗
体入力装置においては、夫々の測温抵抗体毎に変
換器が接続される構成となつていたために、測定
点が増加して測温抵抗体の配設数がそれに伴つて
増加すると変換器の配設数も増加しなければなら
ず部品点数が多くなりコスト高になるという問題
点があつた。
体入力装置においては、夫々の測温抵抗体毎に変
換器が接続される構成となつていたために、測定
点が増加して測温抵抗体の配設数がそれに伴つて
増加すると変換器の配設数も増加しなければなら
ず部品点数が多くなりコスト高になるという問題
点があつた。
この発明は、上記のような問題点を解決するた
めになされたもので、測定点が増加してもそれに
よつて部品点数が増加することがなく、コスト低
下が可能な測温抵抗体入力装置を得ることを目的
とする。
めになされたもので、測定点が増加してもそれに
よつて部品点数が増加することがなく、コスト低
下が可能な測温抵抗体入力装置を得ることを目的
とする。
この発明に係る測温抵抗体入力装置は、測温抵
抗体が接続された第１複数群のブリツジ回路と、
予め不平衡となるように抵抗値を選定した第２複
数群のブリツジ回路と、入力制御信号によつて第
１、第２複数群のブリツジ回路から出力される差
電圧信号を選択的に取り込む入力選択手段と、増
幅手段によつて増幅された前記差電圧信号をデイ
ジタル化し、このデイジタル化した信号を線形補
正するとともに温度スパン補正を行う補正手段と
を有するものである。
抗体が接続された第１複数群のブリツジ回路と、
予め不平衡となるように抵抗値を選定した第２複
数群のブリツジ回路と、入力制御信号によつて第
１、第２複数群のブリツジ回路から出力される差
電圧信号を選択的に取り込む入力選択手段と、増
幅手段によつて増幅された前記差電圧信号をデイ
ジタル化し、このデイジタル化した信号を線形補
正するとともに温度スパン補正を行う補正手段と
を有するものである。
この発明における測温抵抗体入力装置は測温抵
抗体が接続された複数のブリツジ回路から出力さ
れる差電圧と、予め不平衡となるように抵抗値を
選定したブリツジ回路から出力される差電圧とを
入力選択手段において選択的に入力することによ
り増幅手段、線形補正、温度補正を行う補正手段
を共用化することが可能となつて部品点数の減少
によるコスト低下に資する。又、予め不平衡とな
るように抵抗値を選定したブリツジ回路からの差
電圧を補正用電圧として用いることによりオフセ
ツトや温度ドリフト等の影響を極めて小さくする
ことが可能で前記入力装置の調整を不要としてい
る。
抗体が接続された複数のブリツジ回路から出力さ
れる差電圧と、予め不平衡となるように抵抗値を
選定したブリツジ回路から出力される差電圧とを
入力選択手段において選択的に入力することによ
り増幅手段、線形補正、温度補正を行う補正手段
を共用化することが可能となつて部品点数の減少
によるコスト低下に資する。又、予め不平衡とな
るように抵抗値を選定したブリツジ回路からの差
電圧を補正用電圧として用いることによりオフセ
ツトや温度ドリフト等の影響を極めて小さくする
ことが可能で前記入力装置の調整を不要としてい
る。
以下この発明の一実施例を図について説明す
る。第１図はこの発明の一実施例に従う測温抵抗
体入力装置の全体構成図である。第１図におい
て、測温抵抗体１，２，６は、材質がPtで構成
されており、その周囲温度が０℃のとき抵抗値
100Ωを示し、温度変化に対応した抵抗値をもつ
抵抗体である。測温抵抗体１は、10KΩの抵抗２
１，３１と100Ωの抵抗４１とで第１のブリツジ
回路を構成している。測温抵抗体２は、10KΩの
抵抗２２，３２と100Ωの抵抗４２とで第２のブ
リツジ回路を構成している。同様に測温抵抗体６
も、10KΩの抵抗２６，３６と100Ωの抵抗４６
とで第６のブリツジ回路を構成している。抵抗７
にはその抵抗値が110Ωの素子が使用されており、
10KΩの抵抗２７，３７と100Ωの抵抗４７とで
不平衡な第７のブリツジ回路を構成している。同
様に抵抗８にはその抵抗値が90Ωの素子が使用さ
れており、10KΩの抵抗２８，３８と100Ωの抵
抗４８とで不平衡な第８のブリツジ回路を構成し
ている。上述した測温抵抗体１〜６が接続されて
いる第１〜第６のブリツジ回路は、温度変化によ
つて夫々の測温抵抗体１〜６の抵抗値が可変する
ことによつて不平衡となり、各々のブリツジ回路
から差電圧を出力する。又、上述した不平衡な第
１、第２のブリツジ回路からは、常時一定の差電
圧が夫々出力されている。
る。第１図はこの発明の一実施例に従う測温抵抗
体入力装置の全体構成図である。第１図におい
て、測温抵抗体１，２，６は、材質がPtで構成
されており、その周囲温度が０℃のとき抵抗値
100Ωを示し、温度変化に対応した抵抗値をもつ
抵抗体である。測温抵抗体１は、10KΩの抵抗２
１，３１と100Ωの抵抗４１とで第１のブリツジ
回路を構成している。測温抵抗体２は、10KΩの
抵抗２２，３２と100Ωの抵抗４２とで第２のブ
リツジ回路を構成している。同様に測温抵抗体６
も、10KΩの抵抗２６，３６と100Ωの抵抗４６
とで第６のブリツジ回路を構成している。抵抗７
にはその抵抗値が110Ωの素子が使用されており、
10KΩの抵抗２７，３７と100Ωの抵抗４７とで
不平衡な第７のブリツジ回路を構成している。同
様に抵抗８にはその抵抗値が90Ωの素子が使用さ
れており、10KΩの抵抗２８，３８と100Ωの抵
抗４８とで不平衡な第８のブリツジ回路を構成し
ている。上述した測温抵抗体１〜６が接続されて
いる第１〜第６のブリツジ回路は、温度変化によ
つて夫々の測温抵抗体１〜６の抵抗値が可変する
ことによつて不平衡となり、各々のブリツジ回路
から差電圧を出力する。又、上述した不平衡な第
１、第２のブリツジ回路からは、常時一定の差電
圧が夫々出力されている。
入力選択手段即ちアナログマルチプレクサ６１
は、入力制御端子を介して制御部６６から出力さ
れる入力制御信号に基づいて前記各々のブリツジ
回路から出力される差電圧信号を選択的に取り込
んで出力する。増幅手段即ち差動アンプ６２は、
前記アナログマルチプレクサ６１から時系列的に
出力される各差電圧信号を受けてこれを増幅して
出力する。Ａ／Ｄ変換器６３は制御部６６から出
力される駆動指令信号によつて駆動し前記差動ア
ンプ６２から出力された信号をデイジタル信号に
変換して出力する。デイジタル補正器６４には、
例えばマイクロプロセツサのごとき電子回路制御
機器が使用されており、温度変化と非線形の関係
にある前記測温抵抗体１〜６の抵抗値の可変によ
つて前記第１〜第６ブリツジ回路に発生しデイジ
タル化された差電圧信号を線形補正する。これと
ともに前記デイジタル補正器６４は、不平衡な第
７、第８のブリツジ回路から夫々出力されデイジ
タル化された差電圧信号に基づいて、電源電圧の
変動、差動アンプ６２、Ａ／Ｄ変換器６３等によ
つて前記第１〜第６のブリツジ回路から出力され
た差電圧信号に生ずるオフセツトや温度ドリフト
等の補正をも行う。制御部６６には例えばマイク
ロコンピユータのCPUのごときが使用されてお
り、前述したアナログマルチプレクサ６１、Ａ／
Ｄ変換器６３、デイジタル補正器６４及び入出力
インターフエース６５へ夫々駆動指令信号を力す
る。スパン（記憶部）６７は、前記測温抵抗体１
〜６の１点毎の測定温度範囲データを記憶してお
り、デイジタル補正器６４に該データを出力す
る。
は、入力制御端子を介して制御部６６から出力さ
れる入力制御信号に基づいて前記各々のブリツジ
回路から出力される差電圧信号を選択的に取り込
んで出力する。増幅手段即ち差動アンプ６２は、
前記アナログマルチプレクサ６１から時系列的に
出力される各差電圧信号を受けてこれを増幅して
出力する。Ａ／Ｄ変換器６３は制御部６６から出
力される駆動指令信号によつて駆動し前記差動ア
ンプ６２から出力された信号をデイジタル信号に
変換して出力する。デイジタル補正器６４には、
例えばマイクロプロセツサのごとき電子回路制御
機器が使用されており、温度変化と非線形の関係
にある前記測温抵抗体１〜６の抵抗値の可変によ
つて前記第１〜第６ブリツジ回路に発生しデイジ
タル化された差電圧信号を線形補正する。これと
ともに前記デイジタル補正器６４は、不平衡な第
７、第８のブリツジ回路から夫々出力されデイジ
タル化された差電圧信号に基づいて、電源電圧の
変動、差動アンプ６２、Ａ／Ｄ変換器６３等によ
つて前記第１〜第６のブリツジ回路から出力され
た差電圧信号に生ずるオフセツトや温度ドリフト
等の補正をも行う。制御部６６には例えばマイク
ロコンピユータのCPUのごときが使用されてお
り、前述したアナログマルチプレクサ６１、Ａ／
Ｄ変換器６３、デイジタル補正器６４及び入出力
インターフエース６５へ夫々駆動指令信号を力す
る。スパン（記憶部）６７は、前記測温抵抗体１
〜６の１点毎の測定温度範囲データを記憶してお
り、デイジタル補正器６４に該データを出力す
る。
上記のように構成された測温抵抗体入力装置に
おいて、測温抵抗体１〜６が温度変化によつて
夫々の抵抗値が可変すると前記第１〜第６ブリツ
ジ回路は夫々不平衡状態となるので差電圧が発生
する。この差電圧は例えば第１ブリツジ回路につ
いてみれば、抵抗２１，３１の値が10KΩであり
測温抵抗体１の値は100Ω近傍であり又抵抗４１
は100Ωであるため前記抵抗２１，３１の値の方
が十分大きいためにこれらの抵抗値の差分に比例
した値として発生するものである。該差電圧はア
ナログマルチプレクサ６１を介して差動アンプ６
２に入力され該差動アンプ６２で増幅された後
Ａ／Ｄ変換器６３においてデイジタル信号に変換
される。そして該デイジタル信号は、デイジタル
補正器６４において線形補正、温度スパン補正
（即ち測定温度範囲の補正）及びオフセツト、温
度ドリフト補正が行われる。
おいて、測温抵抗体１〜６が温度変化によつて
夫々の抵抗値が可変すると前記第１〜第６ブリツ
ジ回路は夫々不平衡状態となるので差電圧が発生
する。この差電圧は例えば第１ブリツジ回路につ
いてみれば、抵抗２１，３１の値が10KΩであり
測温抵抗体１の値は100Ω近傍であり又抵抗４１
は100Ωであるため前記抵抗２１，３１の値の方
が十分大きいためにこれらの抵抗値の差分に比例
した値として発生するものである。該差電圧はア
ナログマルチプレクサ６１を介して差動アンプ６
２に入力され該差動アンプ６２で増幅された後
Ａ／Ｄ変換器６３においてデイジタル信号に変換
される。そして該デイジタル信号は、デイジタル
補正器６４において線形補正、温度スパン補正
（即ち測定温度範囲の補正）及びオフセツト、温
度ドリフト補正が行われる。
上述したデイジタル補正器６４において行われ
る線形補正、温度スパン補正及びオフセツト、温
度ドリフト補正の詳細は以下のようである。
る線形補正、温度スパン補正及びオフセツト、温
度ドリフト補正の詳細は以下のようである。
(1) まず抵抗７，８を有する不平衡な第７ブリツ
ジ回路、第８ブリツジ回路から出力される差電
圧を用いたオフセツト、温度ドリフト補正につ
いて説明する。被測定温度や測温抵抗体１〜６
の間にある個体差によつて電源電圧（15V）が
変動するので、前記測温抵抗体１〜６を有する
第１〜第６のブリツジ回路から夫々出力される
差電圧が変動し、これによつて差動アンプ６２
の利得やオフセツトも変動することとなる。
ジ回路、第８ブリツジ回路から出力される差電
圧を用いたオフセツト、温度ドリフト補正につ
いて説明する。被測定温度や測温抵抗体１〜６
の間にある個体差によつて電源電圧（15V）が
変動するので、前記測温抵抗体１〜６を有する
第１〜第６のブリツジ回路から夫々出力される
差電圧が変動し、これによつて差動アンプ６２
の利得やオフセツトも変動することとなる。
前記測温抵抗体１，２，６の真の値をR1，R2，
R6、抵抗７，８の真の値をR7，R8とし前記第１
〜第６のブリツジ回路、予め不平衡に説定された
第７、第８のブリツジ回路から出力される差電圧
をそれぞれV1，V2，V6，V7，V8とし、これら差
電圧をアナログマルチプレクサ６１で選択的に取
り込んで差動アンプ６２で増幅し、Ａ／Ｄ変換器
６３で夫々変換した値をd1，d2，d6，d7，d8とす
れば次のような関係式が成立する。
R6、抵抗７，８の真の値をR7，R8とし前記第１
〜第６のブリツジ回路、予め不平衡に説定された
第７、第８のブリツジ回路から出力される差電圧
をそれぞれV1，V2，V6，V7，V8とし、これら差
電圧をアナログマルチプレクサ６１で選択的に取
り込んで差動アンプ６２で増幅し、Ａ／Ｄ変換器
６３で夫々変換した値をd1，d2，d6，d7，d8とす
れば次のような関係式が成立する。
V1＝K1d1＋a1，V2＝K2d2＋a2，V6＝K6d6＋
a6，V7＝K7d7＋a7，V8＝K8d8＋a8 ここで抵抗２１，３１，４１，２２，３２，４
２，２６，３６，４６，２７，３７，４７，２
８，３８，４８の素子値の精度が十分高いものを
利用するとすれば、差動アンプ６２、Ａ／Ｄ変換
器６３は共用されているので k1＝k2＝k6＝k7＝k8 a1＝a2＝a6＝a7＝a8 という関係が成立すると考えてよい。従つて次の
ごとき関係式が成立する。
a6，V7＝K7d7＋a7，V8＝K8d8＋a8 ここで抵抗２１，３１，４１，２２，３２，４
２，２６，３６，４６，２７，３７，４７，２
８，３８，４８の素子値の精度が十分高いものを
利用するとすれば、差動アンプ６２、Ａ／Ｄ変換
器６３は共用されているので k1＝k2＝k6＝k7＝k8 a1＝a2＝a6＝a7＝a8 という関係が成立すると考えてよい。従つて次の
ごとき関係式が成立する。
V1＝d1−d8／d7−d8（V7−V8）＋V8 …
V2＝d2−d8／d7−d8（V7−V8）＋V8 …
V6＝d6−d8／d7−d8（V7−V8）＋V8 …
また、抵抗２１，２２，２６，２７，２８，３
１，３２，３６，３７，３８，４１，４２，４
６，４７，４８の抵抗値をそれぞれR21，R22，
R26，R27，R28，R31，R32，R36，R37，R38，
R41，R42，R46，R47，R48とすれば下記の関係式
が成り立つ。
１，３２，３６，３７，３８，４１，４２，４
６，４７，４８の抵抗値をそれぞれR21，R22，
R26，R27，R28，R31，R32，R36，R37，R38，
R41，R42，R46，R47，R48とすれば下記の関係式
が成り立つ。
V1＝R1R31−R41R21／（R1＋R21）（R41＋R31）
×15（Ｖ）
V2＝R2R32−R42R22／（R2＋R22）（R42＋R32）
×15（Ｖ）
V6＝R6R36−R46R26／（R16R26）（R46＋R36）
×15（Ｖ）
V7＝R7R37−R47R27／（R7＋R27）（R47＋R37）
×15（Ｖ）
V8＝R8R38−R48R28／（R8＋R28）（R48＋R38）
×15（Ｖ）
ここで、上記抵抗の素子数の精度が十分高いも
のを利用することから R21＝R22＝R26＝R27＝R28＝R31＝R32＝R36＝
R37＝R38＝R41＝R42＝R46＝R47＝R48 という関係式が成立すると考えてよい。従つて、
下記の関係式が成り立つ。
のを利用することから R21＝R22＝R26＝R27＝R28＝R31＝R32＝R36＝
R37＝R38＝R41＝R42＝R46＝R47＝R48 という関係式が成立すると考えてよい。従つて、
下記の関係式が成り立つ。
V1＝R21（R1−R41）／（R1＋R21）（R41＋R21）
×15（Ｖ）
V2＝R21（R2−R41）／（R2＋R21）（R41＋R21）
×15（Ｖ）
V6＝R21（R6−R41）／（R6R21）（R41＋R21）
×15（Ｖ）
V7＝R21（R7−R41）／（R7＋R21）（R41＋R21）
×15（Ｖ）
V8＝R21（R8−R41）／（R3＋R21）（R41＋R21）
×15（Ｖ）
上記の関係式と前記関係式，，より次の
関係式が成り立つ。
関係式が成り立つ。
R1−R41／R1＋R21＝d1−d8／d7−d8ｘ＋ｙ
R2−R41／R2＋R21＝d2−d8／d7−d8ｘ＋ｙ
R6−R41／R6＋R21＝61−d8／d7−d8ｘ＋ｙ
但し、ｘ＝（R7−R8）（R21＋R41）／（R7＋R21）（R
8＋R21） ｙ＝R8−R41／R8＋R21 R7，R8は既知であるためd1，d2，d6の値が温
度ドリフト等で変動したとしても、d7，d8を同時
に計測することにより前掲の関係式で測温抵抗体
の真値R1，R2，R6を計算することとなる。
8＋R21） ｙ＝R8−R41／R8＋R21 R7，R8は既知であるためd1，d2，d6の値が温
度ドリフト等で変動したとしても、d7，d8を同時
に計測することにより前掲の関係式で測温抵抗体
の真値R1，R2，R6を計算することとなる。
上記関係式からデイジタル補正器６４が行うオ
フセツト、温度ドリフト補正は以下の一般式で表
現できる。
フセツト、温度ドリフト補正は以下の一般式で表
現できる。
Ｒ＝R21｛ｄ−d8／d7−d8（R21＋R41）＋R7
−R8／d7−d8（R8−R41）｝＋R41A／（R21＋R41）（Ａ
／R8−R21−ｄ−d8／d7−d8）… 但し、 Ａ＝（R7＋R21）（R8＋R21）／R7−R8 Ｒ：測温抵抗体の真の抵抗値 ｄ：Ａ／Ｄ変換後のデイジタル値 上述したオフセツト、温度ドリフトの補正にお
いて、測温抵抗体とともにブリツジ回路に精度の
高い抵抗を使用すれば、電源電圧、差動アンプ６
２Ａ／Ｄコンバータ６３のオフセツト、温度ドリ
フトの影響を少なくし、調整箇所をなくすことが
可能となる。
−R8／d7−d8（R8−R41）｝＋R41A／（R21＋R41）（Ａ
／R8−R21−ｄ−d8／d7−d8）… 但し、 Ａ＝（R7＋R21）（R8＋R21）／R7−R8 Ｒ：測温抵抗体の真の抵抗値 ｄ：Ａ／Ｄ変換後のデイジタル値 上述したオフセツト、温度ドリフトの補正にお
いて、測温抵抗体とともにブリツジ回路に精度の
高い抵抗を使用すれば、電源電圧、差動アンプ６
２Ａ／Ｄコンバータ６３のオフセツト、温度ドリ
フトの影響を少なくし、調整箇所をなくすことが
可能となる。
(2) 次いで線形補正及び温度スパン補正について
説明する。測温抵抗体の抵抗値可変とその周辺
温度の温度変化との関係は非線形であるので補
正する必要がある。また測定温度範囲に応じ変
換したいデイジタル値が異なるため（例えば測
温抵抗体１は０〜100℃測定用、２は−100℃〜
＋100℃測定用でその変換デイジタル値は800〜
4000にしたいような場合）スパン補正も行う必
要がある。
説明する。測温抵抗体の抵抗値可変とその周辺
温度の温度変化との関係は非線形であるので補
正する必要がある。また測定温度範囲に応じ変
換したいデイジタル値が異なるため（例えば測
温抵抗体１は０〜100℃測定用、２は−100℃〜
＋100℃測定用でその変換デイジタル値は800〜
4000にしたいような場合）スパン補正も行う必
要がある。
上述した線形補正は以下に示す式で、又測定
温度範囲の補正は式で夫々示される。
温度範囲の補正は式で夫々示される。
Ｔ＝ｆ（Ｒ）…リニアライズ（非線形性の補正）
…… Ｔ：測温抵抗体の周囲温度 Ｄ＝Ｔ−TA／TB−TA（DB−DA）＋DA …スパンの補正…… TA，TB：測定しない温度の下限値、上限値 （スパン記憶部６７に情報がある…スイツチ
による設定も考えられる） DA，DB：TA，TBに対応したデイジタル値 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば測温抵抗体が
接続された第１複数群のブリツジ回路と、予め不
平衡となるように抵抗値を選定した第２複数群の
ブリツジ回路と、入力制御信号によつて第１、第
２複数群のブリツジ回路から出力される差電圧信
号を選択的に取り込む入力選択手段と、増幅手段
によつて増幅された前記差電圧信号をデイジタル
化し、このデイジタル化した信号を線形補正する
とともに温度スパン補正を行う補正手段とを有す
ることとしたので、測定点が増加してもそれによ
つて部品点数が増加することがなく、コスト低下
が可能な測温抵抗体入力装置を得ることができる
効果がある。
…… Ｔ：測温抵抗体の周囲温度 Ｄ＝Ｔ−TA／TB−TA（DB−DA）＋DA …スパンの補正…… TA，TB：測定しない温度の下限値、上限値 （スパン記憶部６７に情報がある…スイツチ
による設定も考えられる） DA，DB：TA，TBに対応したデイジタル値 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば測温抵抗体が
接続された第１複数群のブリツジ回路と、予め不
平衡となるように抵抗値を選定した第２複数群の
ブリツジ回路と、入力制御信号によつて第１、第
２複数群のブリツジ回路から出力される差電圧信
号を選択的に取り込む入力選択手段と、増幅手段
によつて増幅された前記差電圧信号をデイジタル
化し、このデイジタル化した信号を線形補正する
とともに温度スパン補正を行う補正手段とを有す
ることとしたので、測定点が増加してもそれによ
つて部品点数が増加することがなく、コスト低下
が可能な測温抵抗体入力装置を得ることができる
効果がある。
第１図はこの発明の一実施例に従う測温抵抗体
入力装置の全体構成図、第２図は従来の測温抵抗
体入力装置の一例を示す全体構成図、第３図は前
記第２図における入力回路の回路構成を示した図
である。 図において１，２，６は測温抵抗体、２１，３
１，２２，３２，２６，３６，２７，３７，２
８，３８は同一値の抵抗器、４１，４２，４６，
４７は同一値の抵抗器、４７，４８は異なる値の
抵抗器、６１はアナログマルチプレクサ、６２は
差動アンプ、６３はＡ／Ｄ変換器、６４はデイジ
タル補正器、６５は他とのインターフエイス部、
６６は制御部、６７は測定温度範囲を持つスパ
ン、１１，１２，１６は測温抵抗体の抵抗値を標
準的な電圧１〜5V等に変換する変換器、９は標
準化された電圧をデイジタル値に直すアナログ入
力装置、５１はノイズを除去する入力フイルタ、
５２はプリアンプ、５３はリニアライザ、５４は
アイソレータである。図中、同一符号は同一を示
す。
入力装置の全体構成図、第２図は従来の測温抵抗
体入力装置の一例を示す全体構成図、第３図は前
記第２図における入力回路の回路構成を示した図
である。 図において１，２，６は測温抵抗体、２１，３
１，２２，３２，２６，３６，２７，３７，２
８，３８は同一値の抵抗器、４１，４２，４６，
４７は同一値の抵抗器、４７，４８は異なる値の
抵抗器、６１はアナログマルチプレクサ、６２は
差動アンプ、６３はＡ／Ｄ変換器、６４はデイジ
タル補正器、６５は他とのインターフエイス部、
６６は制御部、６７は測定温度範囲を持つスパ
ン、１１，１２，１６は測温抵抗体の抵抗値を標
準的な電圧１〜5V等に変換する変換器、９は標
準化された電圧をデイジタル値に直すアナログ入
力装置、５１はノイズを除去する入力フイルタ、
５２はプリアンプ、５３はリニアライザ、５４は
アイソレータである。図中、同一符号は同一を示
す。
Claims (1)
- １ 測温抵抗体が接続され、該測温抵抗体の温度
変化による抵抗値可変に起因して不平衡となり差
電圧を発生させる第１複数群のブリツジ回路と、
予め不平衡となるように抵抗値が選定され、各々
異なつた差電圧を発生させる第２複数群のブリツ
ジ回路と、入力制御信号によつて前記第１、第２
複数群のブリツジ回路から出力される差電圧信号
を選択的に取り込む入力選択手段と、該入力選択
手段から出力された前記差電圧信号を増幅して出
力する増幅手段と、該増幅手段によつて増幅され
た信号をデイジタル信号に変換し該信号を前記測
温抵抗体の抵抗値可変に合わせて線形補正すると
ともに温度スパン補正を行う補正手段とを有する
測温抵抗体入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4941185A JPS61209331A (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | 測温抵抗体入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4941185A JPS61209331A (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | 測温抵抗体入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61209331A JPS61209331A (ja) | 1986-09-17 |
| JPH0313535B2 true JPH0313535B2 (ja) | 1991-02-22 |
Family
ID=12830311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4941185A Granted JPS61209331A (ja) | 1985-03-14 | 1985-03-14 | 測温抵抗体入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61209331A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0273123A (ja) * | 1988-09-07 | 1990-03-13 | Yokogawa Electric Corp | 多点温度測定装置 |
| CN103913249A (zh) * | 2012-12-29 | 2014-07-09 | 北京谊安医疗系统股份有限公司 | 一种温度监测电路装置和方法 |
| CN106200713B (zh) * | 2015-05-06 | 2017-11-10 | 常州轻工职业技术学院 | 用于控制加弹机热箱温度的高精度温控器 |
| CN111189553A (zh) * | 2020-01-10 | 2020-05-22 | 北京航天测控技术有限公司 | 一种热电偶及其多阶微分信号的同步采集装置 |
-
1985
- 1985-03-14 JP JP4941185A patent/JPS61209331A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61209331A (ja) | 1986-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4734873A (en) | Method of digital process variable transmitter calibration and a process variable transmitter system utilizing the same | |
| JPS645360B2 (ja) | ||
| EP0178368B1 (en) | Process variable transmitter and method for correcting its output signal | |
| US4201088A (en) | Differential measuring system | |
| JPH0313535B2 (ja) | ||
| JPH0664678B2 (ja) | アナログ入力装置 | |
| JPS6197543A (ja) | 半導体圧力センサの補償回路 | |
| JPS60165527A (ja) | 温度計測回路 | |
| JPS62170827A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH11160347A (ja) | センサ回路 | |
| JP2588391B2 (ja) | デジタル指示計におけるゲインの初期較正方法 | |
| JPS5937710Y2 (ja) | 温度測定装置 | |
| SU968633A1 (ru) | Устройство дл измерени разности температур | |
| JP3195639B2 (ja) | 熱電対温度計 | |
| JPS62165117A (ja) | トランスデユ−サ | |
| JPH05500590A (ja) | 自動利得制御を有する計測増幅器 | |
| SU954907A1 (ru) | Устройство дл измерени магнитной индукции посто нного магнитного пол | |
| SU682827A1 (ru) | Мостовое измерительное устройство | |
| JPH05231953A (ja) | 熱電対温度計 | |
| JPS61167876A (ja) | 信号処理装置 | |
| JPH0743219A (ja) | 温度測定装置 | |
| KR830001352B1 (ko) | 영점 온도보상을 갖는 반도체 압력검출장치 | |
| KR800000451Y1 (ko) | 디지탈온도계 특성 보정회로 | |
| Harrison | Temperature-compensated meteorological barometer | |
| JPS5925964B2 (ja) | 測温抵抗体による温度測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |