JPS61167875A - 信号処理装置 - Google Patents
信号処理装置Info
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- JPS61167875A JPS61167875A JP60007175A JP717585A JPS61167875A JP S61167875 A JPS61167875 A JP S61167875A JP 60007175 A JP60007175 A JP 60007175A JP 717585 A JP717585 A JP 717585A JP S61167875 A JPS61167875 A JP S61167875A
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- Japan
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- voltage
- amplifier
- gain
- converter
- output voltage
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、マルチプレクサを介して選択的にアンプに取
り込まれた複数のアナログ測定電圧を増幅して積分形の
Ａ／Ｄ変換器に加え、デジタル信号に変換するように構
成された信号処理装置に関するものである。
り込まれた複数のアナログ測定電圧を増幅して積分形の
Ａ／Ｄ変換器に加え、デジタル信号に変換するように構
成された信号処理装置に関するものである。
（従来の技術）
第２図は、従来のこのような信号処理装置の一例の要部
を示す構成構成図であり、記録計の例を示している。第
２図において、Ｈ、Ｌは熱電対ヤ直流電圧などの入力端
子であり、Ｈ端子は抵抗Ｒ１およびスイッチｓｗＩを介
してアンプ１に接続され、し端子は共通電位点に接続さ
れている。２は熱雷対の冷接点温度を補償するための温
度信号を出力する温度センサであり、その出力端子はス
イッチＳ Ｗ ２を介してアンプ１に接続されている。
を示す構成構成図であり、記録計の例を示している。第
２図において、Ｈ、Ｌは熱電対ヤ直流電圧などの入力端
子であり、Ｈ端子は抵抗Ｒ１およびスイッチｓｗＩを介
してアンプ１に接続され、し端子は共通電位点に接続さ
れている。２は熱雷対の冷接点温度を補償するための温
度信号を出力する温度センサであり、その出力端子はス
イッチＳ Ｗ ２を介してアンプ１に接続されている。
このような温度センサ２としては、例えばトランジスタ
のＶｂｅの温度変化を利用したものが、用いｂれる。Ｒ
ｔは３端子Ａ、Ｂ、ｂを有する測温抵抗体であり、端子
Ａには基準電流を加える定電流源３が接続され、端子す
は抵抗Ｒ２を介して共通電位点に接続されている。４は
ｍｍｍ抵抗体動の端子Ａ 、Ｂｆｉｌの電位差に基づ
いて抵抗値（Ω）を温度値（’Ｃ）に変換する信号変換
回路であり、その出力端子はスイッチＳ Ｗ ３を介し
てアンプ１に接続されている。ＳＷ４は共通電位点をア
ンプ１に接続するためのスイッチである。これらスイッ
チＳ Ｗ ＋〜ＳＷ４はアンプ１の入力を切り換えるマ
ルチプレクサを構成している。アンプ１の出力は抵抗Ｒ
３および加算器５を介して例えば積分形のＡ／Ｄ変換器
６に加えられ、デジタル信号に変換される。７は正極性
の基準電圧を出力する基準電圧源であり、８は負極性の
基準電圧を出力する基準電圧源である。基準電圧源７の
出力電圧はＡ／Ｄ変換器６の積分器の放電電流を設定す
る基準としてＡ／Ｄ変換器６に加えられるとともに、基
準電圧源８の出力電圧の基準として基準電圧′ａ８に加
えられている。基準電圧源８の出力電圧は抵抗Ｒ４およ
び加算器５を介してＡ／Ｄ変換器６に加・えられ、Ａ／
Ｄ変換器６を電圧零を中心とする正極性および負極性の
電圧に対応させるためのオフセット電流を設定する基準
として用いられている。
のＶｂｅの温度変化を利用したものが、用いｂれる。Ｒ
ｔは３端子Ａ、Ｂ、ｂを有する測温抵抗体であり、端子
Ａには基準電流を加える定電流源３が接続され、端子す
は抵抗Ｒ２を介して共通電位点に接続されている。４は
ｍｍｍ抵抗体動の端子Ａ 、Ｂｆｉｌの電位差に基づ
いて抵抗値（Ω）を温度値（’Ｃ）に変換する信号変換
回路であり、その出力端子はスイッチＳ Ｗ ３を介し
てアンプ１に接続されている。ＳＷ４は共通電位点をア
ンプ１に接続するためのスイッチである。これらスイッ
チＳ Ｗ ＋〜ＳＷ４はアンプ１の入力を切り換えるマ
ルチプレクサを構成している。アンプ１の出力は抵抗Ｒ
３および加算器５を介して例えば積分形のＡ／Ｄ変換器
６に加えられ、デジタル信号に変換される。７は正極性
の基準電圧を出力する基準電圧源であり、８は負極性の
基準電圧を出力する基準電圧源である。基準電圧源７の
出力電圧はＡ／Ｄ変換器６の積分器の放電電流を設定す
る基準としてＡ／Ｄ変換器６に加えられるとともに、基
準電圧源８の出力電圧の基準として基準電圧′ａ８に加
えられている。基準電圧源８の出力電圧は抵抗Ｒ４およ
び加算器５を介してＡ／Ｄ変換器６に加・えられ、Ａ／
Ｄ変換器６を電圧零を中心とする正極性および負極性の
電圧に対応させるためのオフセット電流を設定する基準
として用いられている。
Ａ／Ｄ変換器６で変換されたデジタル信号は、フォトカ
プラなどの信号絶縁回路９を介してマイクロプロセッサ
やデジタル回路などで構成された演算回路１０に加えら
れる。演算回路１０は、例えばＳＷ４をオンにした状態
でのＡ／Ｄ変換器６のデジタル信号出力を基準にした測
定結果に対するソフトウェアによる自動零点補償や熱電
対の出力電圧の温度信号への変換、測定信号に対するリ
ニヤライズなどの必要な演算処理を行う。このようにし
て演算された結果は、図示しない記録部に加えられて記
録される。
プラなどの信号絶縁回路９を介してマイクロプロセッサ
やデジタル回路などで構成された演算回路１０に加えら
れる。演算回路１０は、例えばＳＷ４をオンにした状態
でのＡ／Ｄ変換器６のデジタル信号出力を基準にした測
定結果に対するソフトウェアによる自動零点補償や熱電
対の出力電圧の温度信号への変換、測定信号に対するリ
ニヤライズなどの必要な演算処理を行う。このようにし
て演算された結果は、図示しない記録部に加えられて記
録される。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、このような従来の構成によれば、Ａ／Ｄ変換器
６のスパンを基準電圧源７．８の出力電圧に従って設定
しているために、これら基準電圧源７．８を含む周辺回
路を長期間にわたって高精度、高安定度を保たなければ
ならず、回路構成が複雑になるとともに高価な回路部品
を用いなければならないことからコストが轟くなるとい
う欠点がある。
６のスパンを基準電圧源７．８の出力電圧に従って設定
しているために、これら基準電圧源７．８を含む周辺回
路を長期間にわたって高精度、高安定度を保たなければ
ならず、回路構成が複雑になるとともに高価な回路部品
を用いなければならないことからコストが轟くなるとい
う欠点がある。
本発明は、このような点に着目したものであって、その
目的は、比較的簡単な回路構成で精度の高い測定が行え
る信号処理装置を提供することにある。
目的は、比較的簡単な回路構成で精度の高い測定が行え
る信号処理装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
このような目的を達成する本発明は、マルチプレクサを
介して選択的にアンプに取り込まれた複数のアナログ測
定電圧ｖ１を増幅して積分形のＡ／Ｄ変換器に加え、デ
ジタル信号に変換するように構成された信号処理装置に
おいて、複数のアナログ測定電圧Ｖｉとともに共通電位
点の電圧ＶＺおよびＡ／Ｄ変換器のフルスパンに対応し
た既知の基準電圧ＶＦをマルチプレクサを介して選択的
にアンプに加え、アンプのゲインを第１のゲインＧ１に
設定してＶＺ ＋ＶＦを測定するとともに第２のゲイ
ンＧ２に設定してＶｉ、ＶＺを測定し、これら各測定結
果ＶＺ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇｌ）、Ｖｉ （Ｇ２）
、ＶＺ （Ｇ２）に基づイテＶｉ ＝［（Ｖｉ
（Ｇ２） ＶＺ （Ｇ２））／（ＶＦ （Ｇ１
）−ＶＺ （Ｇ１））］ＶＦで表わされる演算を行う
ことを特徴とする。
介して選択的にアンプに取り込まれた複数のアナログ測
定電圧ｖ１を増幅して積分形のＡ／Ｄ変換器に加え、デ
ジタル信号に変換するように構成された信号処理装置に
おいて、複数のアナログ測定電圧Ｖｉとともに共通電位
点の電圧ＶＺおよびＡ／Ｄ変換器のフルスパンに対応し
た既知の基準電圧ＶＦをマルチプレクサを介して選択的
にアンプに加え、アンプのゲインを第１のゲインＧ１に
設定してＶＺ ＋ＶＦを測定するとともに第２のゲイ
ンＧ２に設定してＶｉ、ＶＺを測定し、これら各測定結
果ＶＺ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇｌ）、Ｖｉ （Ｇ２）
、ＶＺ （Ｇ２）に基づイテＶｉ ＝［（Ｖｉ
（Ｇ２） ＶＺ （Ｇ２））／（ＶＦ （Ｇ１
）−ＶＺ （Ｇ１））］ＶＦで表わされる演算を行う
ことを特徴とする。
（実施例）
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例の要部を示す構成説明図で
あり、第２図と同一部分には同一符号を付けている。第
１図において、測温抵抗体Ｒｔの端子Ａは抵抗Ｒ５を介
して電圧−■が加えられる端子１１に接続されるととも
に抵抗Ｒ６およびスイッチＳ Ｗ ｓを介してアンプ１
に接続され、端子Ｂは抵抗Ｒ７およびスイッチＳ Ｗ
ｅを介してアンプ１に接続され、端子すは抵抗Ｒｓを介
して共通電位点に接続されるとともに抵抗Ｒｅおよびス
イッチＳ Ｗ ？を介してアンプ１に接続されている。
あり、第２図と同一部分には同一符号を付けている。第
１図において、測温抵抗体Ｒｔの端子Ａは抵抗Ｒ５を介
して電圧−■が加えられる端子１１に接続されるととも
に抵抗Ｒ６およびスイッチＳ Ｗ ｓを介してアンプ１
に接続され、端子Ｂは抵抗Ｒ７およびスイッチＳ Ｗ
ｅを介してアンプ１に接続され、端子すは抵抗Ｒｓを介
して共通電位点に接続されるとともに抵抗Ｒｅおよびス
イッチＳ Ｗ ？を介してアンプ１に接続されている。
ここで、抵抗Ｒ８としては、抵抗値が既知で測定物理量
による抵抗値の変化が少ない安定度の高い抵抗体を用い
るようにする。また、アンプ１には、スイッチＳＷｅを
介してＡ／Ｄ変換器６のフルスパン入力に対応した基準
電圧ＶＦを発生する基準電圧源１２が接続されている。
による抵抗値の変化が少ない安定度の高い抵抗体を用い
るようにする。また、アンプ１には、スイッチＳＷｅを
介してＡ／Ｄ変換器６のフルスパン入力に対応した基準
電圧ＶＦを発生する基準電圧源１２が接続されている。
Ａ／Ｄ変換器６には従来の基準電圧源７の代わりに電圧
子Ｖが加えられる端子１３が接続され、加算器５には従
来の基準電圧ＷＡ８の代わりに切換スイッチＳ Ｗ ｓ
および抵抗Ｒｓ ＋Ｒ＋。を介して電圧−■が加えら
れる端子１４が接続されている。ここで、スイッチＳＷ
Ｉ〜ＳＷｓはマルチプレクサを構成している。
子Ｖが加えられる端子１３が接続され、加算器５には従
来の基準電圧ＷＡ８の代わりに切換スイッチＳ Ｗ ｓ
および抵抗Ｒｓ ＋Ｒ＋。を介して電圧−■が加えら
れる端子１４が接続されている。ここで、スイッチＳＷ
Ｉ〜ＳＷｓはマルチプレクサを構成している。
このように構成された装置の動作について説明する。
まず、直流電圧みよび熱電対の出力電圧ｖｉの測定にあ
たっては、アンプ１のゲインを第１のゲインＧ１（例え
ば１）に設定した状態でスイッチＳＷ４およびＳＷ日を
順次選択的にオンにして共通電位点の電圧ＶＺおよび基
準電圧源１２の出力電圧ＶＦを測定するとともに、アン
プ１のゲインを直流電圧および熱雷対の出力電圧Ｖ：の
測定に必要な第２のゲインＧ２に設定した状態でスイッ
チＳ Ｗ ＋およびＳ Ｗ ａを順次選択的にオンにし
て直流電圧または熱雷対の出力電圧Ｖｔｌ３よびアンプ
１のオフセットを補償するための共通電位点の電圧ＶＺ
を測定し、これら各測定結果ＶＺ（Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ
１） 、Ｖｉ （Ｇ２） 、ＶＺ （Ｇ２）を演算回路
１０に格納する。そして、演算回路１ｏにおいて、これ
ら各測定結果ＶＺ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ１）、Ｖｉ
（Ｇ２）、ＶＦ （Ｇ２）ｊ５Ｊ：ｔＦ既知の基準
電圧源１２の出力電圧値ＶＦに基づいて第（１）式で示
すような演算を行う。
たっては、アンプ１のゲインを第１のゲインＧ１（例え
ば１）に設定した状態でスイッチＳＷ４およびＳＷ日を
順次選択的にオンにして共通電位点の電圧ＶＺおよび基
準電圧源１２の出力電圧ＶＦを測定するとともに、アン
プ１のゲインを直流電圧および熱雷対の出力電圧Ｖ：の
測定に必要な第２のゲインＧ２に設定した状態でスイッ
チＳ Ｗ ＋およびＳ Ｗ ａを順次選択的にオンにし
て直流電圧または熱雷対の出力電圧Ｖｔｌ３よびアンプ
１のオフセットを補償するための共通電位点の電圧ＶＺ
を測定し、これら各測定結果ＶＺ（Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ
１） 、Ｖｉ （Ｇ２） 、ＶＺ （Ｇ２）を演算回路
１０に格納する。そして、演算回路１ｏにおいて、これ
ら各測定結果ＶＺ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ１）、Ｖｉ
（Ｇ２）、ＶＦ （Ｇ２）ｊ５Ｊ：ｔＦ既知の基準
電圧源１２の出力電圧値ＶＦに基づいて第（１）式で示
すような演算を行う。
Ｖｉ−［（Ｖｉ （Ｇ２）−ＶＺ （Ｇ２）］／（Ｖ
Ｆ （Ｇ１）−ＶＺ （Ｇｌ））］ＶＦ （１）
このように構成することにより、基準電圧源１２以外の
各回路は、これら４カ所の電圧を測定する・期間におい
てのみ特性が変化しなければよく、比較的簡単な回路構
成とすることができ、回路部品も安価なものを用いるこ
とができることからコストの低減も図れる。
Ｆ （Ｇ１）−ＶＺ （Ｇｌ））］ＶＦ （１）
このように構成することにより、基準電圧源１２以外の
各回路は、これら４カ所の電圧を測定する・期間におい
てのみ特性が変化しなければよく、比較的簡単な回路構
成とすることができ、回路部品も安価なものを用いるこ
とができることからコストの低減も図れる。
また、熱電対の冷接点濃度を補償するための温度センサ
２の出力電圧ＶＪの測定にあたっては、前述と同様にア
ンプ１のゲインを１にしてＶＺ（Ｇｌ）、ＶＦ （Ｇ
１）を測定するとともに、アンプ１のゲインを温度セン
サ２の出力電圧の測定に必要なゲインＧに設定した状態
でスイッチｓｗ２およびＳＷ４を順次選択的にオンにし
て温度センＩＪ−２の出力電圧ＶＪおよびアンプ１のオ
フセットを補償するための共通電位点の電圧ＶＺを測定
し、これら各測定結果ＶＺ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ１
）、ＶＪ （Ｇ２）、ＶＺ （Ｇ２）を演算回路１０に
格納する。そして、演算回路１ｏはこれら各測定結果Ｖ
Ｚ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ１）、ＶＪ （Ｇ２）、
ＶＦ （Ｇ２）および既知の基準電圧源１２の出力電
圧１直ＶＦに基づいて第（２）式で示すような演算を行
う。
２の出力電圧ＶＪの測定にあたっては、前述と同様にア
ンプ１のゲインを１にしてＶＺ（Ｇｌ）、ＶＦ （Ｇ
１）を測定するとともに、アンプ１のゲインを温度セン
サ２の出力電圧の測定に必要なゲインＧに設定した状態
でスイッチｓｗ２およびＳＷ４を順次選択的にオンにし
て温度センＩＪ−２の出力電圧ＶＪおよびアンプ１のオ
フセットを補償するための共通電位点の電圧ＶＺを測定
し、これら各測定結果ＶＺ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ１
）、ＶＪ （Ｇ２）、ＶＺ （Ｇ２）を演算回路１０に
格納する。そして、演算回路１ｏはこれら各測定結果Ｖ
Ｚ （Ｇ１）、ＶＦ （Ｇ１）、ＶＪ （Ｇ２）、
ＶＦ （Ｇ２）および既知の基準電圧源１２の出力電
圧１直ＶＦに基づいて第（２）式で示すような演算を行
う。
ＶＪ ＝ ［（ＶＪ （Ｇ２） ＶＺ （Ｇ２））
／（ＶＦ （Ｇ１）−ＶＺ （Ｇ１））］ＶＦ
（２）ざらに演算回路１０は、このようにして演算され
た電圧ｖＪ＠温度信号（’Ｃ）に変換する。
／（ＶＦ （Ｇ１）−ＶＺ （Ｇ１））］ＶＦ
（２）ざらに演算回路１０は、このようにして演算され
た電圧ｖＪ＠温度信号（’Ｃ）に変換する。
次に、測温抵抗体Ｒ１による温度測定について説明する
。８１瀾抵抗体Ｒｔには、端子１１から一定の電圧−■
を加える。この状態で、アンプ１のゲインを一定に保ら
ながらスイッチＳ Ｗ ｓ 、 Ｓ Ｗ ６、 Ｓ
Ｗ ｙ 、 Ｓ Ｗ ａを順次選択的にオンにし、測
温抵抗体Ｒｔの各端子Ａ、Ｂ、ｂ（１）電圧ＶＡ 、Ｖ
ａ、ｖｂおよび共通電位点の電圧ＶＺを測定してこれら
各測定結果Ｖ＾ 、Ｖａ 、ｖｂ、ｖ、を演算回路１
０に格納する。そして、演算回路１０において、これら
各測定結果Ｖ＾ 、ｖＢ ｅＶｂ−ＶＺおよび既知の
抵抗値Ｒｓに基づいて第（３）式で示ずような演算を行
う。
。８１瀾抵抗体Ｒｔには、端子１１から一定の電圧−■
を加える。この状態で、アンプ１のゲインを一定に保ら
ながらスイッチＳ Ｗ ｓ 、 Ｓ Ｗ ６、 Ｓ
Ｗ ｙ 、 Ｓ Ｗ ａを順次選択的にオンにし、測
温抵抗体Ｒｔの各端子Ａ、Ｂ、ｂ（１）電圧ＶＡ 、Ｖ
ａ、ｖｂおよび共通電位点の電圧ＶＺを測定してこれら
各測定結果Ｖ＾ 、Ｖａ 、ｖｂ、ｖ、を演算回路１
０に格納する。そして、演算回路１０において、これら
各測定結果Ｖ＾ 、ｖＢ ｅＶｂ−ＶＺおよび既知の
抵抗値Ｒｓに基づいて第（３）式で示ずような演算を行
う。
Ｒｊ ＝ ［（ＶＡ ＋Ｖｂ −２Ｖａ ） ／ （Ｖ
ｂ ＶＺ）］Ｒｓ （３） そしてさらに、演算回路１０は、このようにして演算さ
れた抵抗値Ｒｔ （Ω）を湯度信号（’Ｃ）に変換す
る。
ｂ ＶＺ）］Ｒｓ （３） そしてさらに、演算回路１０は、このようにして演算さ
れた抵抗値Ｒｔ （Ω）を湯度信号（’Ｃ）に変換す
る。
このように構成することにより、従来の測温抵抗体Ｒ（
を用いた温度測定装置に必要であった測温抵抗体Ｒｔに
基準電流を加えるための定電流源および測温抵抗体Ｒｔ
の端子Ａ 、８間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を
濃度値（’Ｃ）に変換する信号変換回路は不要になり、
回路構成が比較的簡単になるとともに、長期間にわたっ
て高精度“、高安定度が必要な回路部品も少なくてよく
、コストの低減を図ることができる。
を用いた温度測定装置に必要であった測温抵抗体Ｒｔに
基準電流を加えるための定電流源および測温抵抗体Ｒｔ
の端子Ａ 、８間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を
濃度値（’Ｃ）に変換する信号変換回路は不要になり、
回路構成が比較的簡単になるとともに、長期間にわたっ
て高精度“、高安定度が必要な回路部品も少なくてよく
、コストの低減を図ることができる。
ところで、第１図の構成において、測温抵抗体の抵抗値
測定動作時の測定電圧ｖＡ 、ＶＢ 、ｖｂ。
測定動作時の測定電圧ｖＡ 、ＶＢ 、ｖｂ。
ＶＺに関連したアンプ１の出力は、零から正極性の範囲
のみになる。これは、Ａ／Ｄ変換器６がフルスパンで正
、負の両極性の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号
に変換できるように構成されている場合、１／２の分解
能で変換することになってしまう。そこで、第１図の装
置では、切換スイッチＳ Ｗ ｓにより抵抗Ｒｓまたは
Ｒ＋ｏを選択的に加算器５に接続してＡ／Ｄ変換器６に
加えるオフセット量を変えるようにしている。すなわち
、例えば抵抗Ｒｓを接続した場合にはＡ／Ｄ変換器６は
フルスパンで零を中心にして正、負両極性の範囲のアナ
ログ入力信号をデジタル信号に変換することができ、例
えば抵抗ＲＩＧを接続した場合にはＡ／Ｄ変換器６はフ
ルスパンで零から正極性の範囲のアナログ入力信号をデ
ジタル信号に変換できて、分解能を高めることができる
。
のみになる。これは、Ａ／Ｄ変換器６がフルスパンで正
、負の両極性の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号
に変換できるように構成されている場合、１／２の分解
能で変換することになってしまう。そこで、第１図の装
置では、切換スイッチＳ Ｗ ｓにより抵抗Ｒｓまたは
Ｒ＋ｏを選択的に加算器５に接続してＡ／Ｄ変換器６に
加えるオフセット量を変えるようにしている。すなわち
、例えば抵抗Ｒｓを接続した場合にはＡ／Ｄ変換器６は
フルスパンで零を中心にして正、負両極性の範囲のアナ
ログ入力信号をデジタル信号に変換することができ、例
えば抵抗ＲＩＧを接続した場合にはＡ／Ｄ変換器６はフ
ルスパンで零から正極性の範囲のアナログ入力信号をデ
ジタル信号に変換できて、分解能を高めることができる
。
なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度を測定物
理量とする測部抵抗体を用いる例を示したが、圧力や歪
に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗体などであっても
よく、これら変換抵抗体よりなる測定系統を複数設けて
おいてマルチプレクサで切り換えるようにしてもよい。
理量とする測部抵抗体を用いる例を示したが、圧力や歪
に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗体などであっても
よく、これら変換抵抗体よりなる測定系統を複数設けて
おいてマルチプレクサで切り換えるようにしてもよい。
また、上記実施例では、信号処理装置を記録計に組み込
んだ例について説明したが、データロガ−などにも組み
込むことができるものである。
んだ例について説明したが、データロガ−などにも組み
込むことができるものである。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な回
路構成で精度の高い測定が行える信号処理装置が実現で
きる。
路構成で精度の高い測定が行える信号処理装置が実現で
きる。
第１図は本発明の一実施例を用いた記録計の要部を示す
構成説明図、第２図は従来の信号処理装置を用いた記録
計の一例の要部を示す構成構成図である。 １・・・アンプ、２・・・温度センサ、５・・・加算器
、６・・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・信号絶縁回路、１０
・・・演算回路、１２・・・基準電圧源、Ｒｔ・・・測
温抵抗体、Ｒ３・・・基準抵抗。
構成説明図、第２図は従来の信号処理装置を用いた記録
計の一例の要部を示す構成構成図である。 １・・・アンプ、２・・・温度センサ、５・・・加算器
、６・・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・信号絶縁回路、１０
・・・演算回路、１２・・・基準電圧源、Ｒｔ・・・測
温抵抗体、Ｒ３・・・基準抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 マルチプレクサを介して選択的にアンプに取り込まれた
複数のアナログ測定電圧Ｖｉを増幅して積分形のＡ／Ｄ
変換器に加え、デジタル信号に変換するように構成され
た信号処理装置において、複数のアナログ測定電圧Ｖｉ
とともに共通電位点の電圧Ｖ＿ＺおよびＡ／Ｄ変換器の
フルスパンに対応した既知の基準電圧Ｖ＿Ｆをマルチプ
レクサを介して選択的にアンプに加え、アンプのゲイン
を第１のゲインＧ１に設定してＶ＿Ｚ、Ｖ＿Ｆを測定す
るとともに第２のゲインＧ２に設定してＶｉ、Ｖ＿Ｚを
測定し、これら各測定結果Ｖ＿Ｚ（Ｇ１）、Ｖ＿Ｆ（Ｇ
１）、Ｖｉ（Ｇ２）、Ｖ＿Ｚ（Ｇ２）に基づいて Ｖｉ＝［｛Ｖｉ（Ｇ２）−Ｖ＿Ｚ（Ｇ２）｝／（Ｖ＿Ｆ
（Ｇ１）−Ｖ＿Ｚ（Ｇ１）｝］Ｖ＿Ｆで表わされる演算
を行うことを特徴とする信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60007175A JPH063465B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60007175A JPH063465B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61167875A true JPS61167875A (ja) | 1986-07-29 |
| JPH063465B2 JPH063465B2 (ja) | 1994-01-12 |
Family
ID=11658736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60007175A Expired - Fee Related JPH063465B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063465B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004245851A (ja) * | 2004-05-17 | 2004-09-02 | Shimadzu Corp | 検出信号処理装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5632211U (ja) * | 1979-08-18 | 1981-03-30 | ||
| JPS5645756U (ja) * | 1979-09-19 | 1981-04-24 | ||
| JPS5750783Y2 (ja) * | 1977-07-25 | 1982-11-06 |
-
1985
- 1985-01-18 JP JP60007175A patent/JPH063465B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5750783Y2 (ja) * | 1977-07-25 | 1982-11-06 | ||
| JPS5632211U (ja) * | 1979-08-18 | 1981-03-30 | ||
| JPS5645756U (ja) * | 1979-09-19 | 1981-04-24 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH063465B2 (ja) | 1994-01-12 |
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