JPH05277942A - 遊離微粒子噴射加工方法 - Google Patents

遊離微粒子噴射加工方法

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JPH05277942A
JPH05277942A JP10543792A JP10543792A JPH05277942A JP H05277942 A JPH05277942 A JP H05277942A JP 10543792 A JP10543792 A JP 10543792A JP 10543792 A JP10543792 A JP 10543792A JP H05277942 A JPH05277942 A JP H05277942A
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JP
Japan
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gas
mask
hard mask
powder
processing
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Application number
JP10543792A
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English (en)
Inventor
Seiji Muramatsu
成治 村松
Akio Mishima
彰生 三島
Shigeo Matsumoto
茂雄 松本
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 [目的] 耐久性の高いレジストマスクで被加工物を覆
い、従来よりも高精度の遊離微粒子による噴射加工が可
能な方法を提供することを目的とする。 [構成] 被加工物26上にフォトレジスト33から成
る軟質のマスクを形成するとともに、その上にポリマの
粉末をバインダとしてセラミック粉末から成る層によっ
て硬質のマスク34を形成するようにし、その上から遊
離微粒子とガスとの固気2相流を噴射して加工を行な
う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は遊離微粒子噴射加工方法
に係り、とくに遊離微粒子とガスとの固気2相流を被加
工物に噴射して加工を行なうようにした加工方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】遊離微粒子を圧縮空気や窒素ガスととも
に固気2相流として被加工物の表面に噴射し、これによ
って被加工物上に溝加工を行なったり穴加工を行なった
りすることが知られている。このような方法において
は、図10に示すように被加工物1上に予めマスク2を
形成しておき、このマスク2の上からノズルによって遊
離微粒子とガスとの固気2相流を被加工物上に噴射する
ようにしている。従ってマスク2が存在しない部分にお
いて、被加工物1の表面に遊離微粒子によって加工が行
なわれる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような遊離微粒子
とガスとの固気2相流を被加工物に噴射して加工を行な
う場合において、パターンニングのためにフォトレジス
トから成るレジストマスク2を用いるようにしている。
ところがレジストマスク2は十分な耐久性を有しておら
ず、このために図11に示すように、パターンの形状や
寸法不良を引起し易く、これによってエッチングの寸法
精度が悪くなり、あるいはまたより深い加工が不可能に
なっていた。
【0004】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであって、レジストマスクの耐久性を向上させる
とともに、遊離微粒子とガスとの固気2相流による噴射
加工の精度を高め、あるいはまたより深い加工を可能に
するようにした遊離微粒子噴射加工方法を提供すること
を目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、遊離微粒
子とガスとの固気2相流を被加工物上に噴射して加工を
行なうようにした方法において、前記被加工物上に軟質
のマスクを形成し、次いでその上に硬質のマスクを形成
するようにし、前記硬質のマスクの上から前記固気2相
流を噴射するようにしたことを特徴とする遊離微粒子噴
射加工方法に関するものである。
【0006】また第2の発明は、上記第1の発明におい
て、前記軟質のマスクがフォトレジストから構成される
とともに、ポリマをバインダとしてセラミックの粉末に
よって前記硬質のマスクを前記軟質のマスクの上に形成
するようにしたことを特徴とする遊離微粒子噴射加工方
法に関するものである。
【0007】
【作用】第1の発明によれば、被加工物上には軟質のマ
スクが形成されるとともに、その上に硬質のマスクが形
成されるようになり、この硬質のマスクが外表面に臨む
ようになる。従って遊離微粒子とガスとの固気2相流は
硬質のマスクの上から被加工物上に噴射されることにな
る。
【0008】第2の発明によれば、被加工物上にはまず
フォトレジストから成るマスクが形成されるとともに、
その上にはポリマをバインダとしでセラミック粉末によ
って形成された硬質のマスクが被覆されることなる。
【0009】
【実施例】図5は本発明の一実施例に係る遊離微粒子噴
射加工方法のための装置の全体の概略を示すものであっ
て、この装置はコンプレッサ10を備えている。そして
コンプレッサ10の吐出側はエア供給パイプ11に接続
されている。このエア供給パイプ11には上流側から下
流側に向って順次圧力調整弁12、電子弁13、圧力調
整弁14がそれぞれ接続されている。そしてこの圧力調
整弁14の下流側はエゼクタ15に接続されている。
【0010】エゼクタ15には側方に分岐するように微
粒子送出パイプ18の先端部が接続されている。この微
粒子送出パイプ18の上流側は微粒子タンク19に接続
されるとともに、送出パイプ18にはその途中に微粒子
送出調整弁20が接続されている。そして微粒子タンク
19はサイクロン21の下側に接続されるようになって
いる。
【0011】サイクロン21は還元パイプ24に接続さ
れるようになっており、この還元パイプ24を介して加
工室25と接続されている。加工室25内には被加工物
26がノズル27の先端部に対向するように配されるよ
うになっている。またサイクロン21には排気パイプ2
8が接続されるようになっている。この排気パイプ28
の先端側は排風機29に接続されている。
【0012】図5に示す加工室25内で加工される被加
工物26上には、図1に示すように、軟質のマスクを構
成するフォトレジスト33と、その上の硬質のマスク3
4とが2層に形成されている。すなわち本実施例に係る
遊離微粒子噴射加工方法に用いられるレジストマスク
は、被加工物26上の第1層として従来用いられている
レジスト33と、その上の第2層目としてのSiCに代
表される砥粒等の耐摩耗性の高い粉末の層を塩化ビニル
等のポリマをバインダとして形成するようにしており、
軟層と硬層の2層構造のレジストマスクを特徴としてい
る。
【0013】図2は被加工物26上にフォトレジスト3
3を形成した後に、さらにその上に硬質マスク34を施
すための装置を示している。この装置はセラミック粉末
用タンク35とポリマ粉末用タンク36とを備えてお
り、これらのタンク35、36がそれぞれ電磁弁37、
38を介してエゼクタ39に接続されるようになってい
る。エゼクタ39はその上部に圧縮空気供給口42を備
えるとともに、吸引部43において一対のタンク35、
36と接続されている微粒子供給管が接続されている。
また吸引部43の下端側にはノズル44が連設されてお
り、このノズル44によって被加工物26上に噴射を行
なうようにしている。
【0014】エゼクタ39に圧縮空気供給管42によっ
て圧縮空気を供給すると、吸引部43において左右のタ
ンク35、36からそれぞれセラミック粉末とポリマ粉
末とを吸引することになる。従ってノズル44からは、
セラミックの粉末とポリマの粉末と空気とが固気2相流
として被加工物26上に噴射されることになる。
【0015】図3に示すように、被加工物26上にパタ
ーンニングをしたフォトレジスト33を形成するととも
に、その上に平均粒径が例えば30μmのSiCの粉末
とともに、それと同程度かそれ以下の大きさの塩化ビニ
ルの粉末を約1%混合して噴射する。このときに弾性の
高いフォトレジスト33上には塩化ビニル粉末がバイン
ダとなってSiCの粉末が吸着されていく。これによっ
てフォトレジスト33上には図4に示すように硬質のマ
スク34が形成され、これによってフォトレジスト33
の耐久性を改善する。ところがパターンニングによって
露出している被加工物26はセラミックから構成されて
おり、脆いので削られることになり、この被加工物上に
は直接硬質のマスク34が形成されることはない。
【0016】このようにして得られた2層構造のレジス
トマスク(図1および図4参照)を有する被加工物によ
って、図5に示す装置で、SiCの粉末のみの噴射加工
を行なう。なおこの状態は図6に示される。また図7は
この加工が完了した状態を示している。
【0017】以上のような構成において、図5に示すコ
ンプレッサ10からは圧縮空気または窒素ガスが供給さ
れるようになっており、このガスの供給が電磁弁13に
よって制御されるようになっている。またガスの圧力は
圧力調整弁12、14によって行なわれるようになって
いる。
【0018】エゼクタ15はエア供給パイプ11を通し
て供給されるガスによって微粒子送出パイプ18を通し
て、微粒子タンク19からSiCの遊離微粒子を吸引す
るようにしている。なお遊離微粒子の供給量は、調整弁
20によって調整されるようになっている。そしてノズ
ル27の先端側からガスと遊離微粒子との固気2相流が
被加工物26の表面に向けて噴射されるようになってい
る。このような遊離微粒子とガスとの固気2相流によっ
て、被加工物26上に所定の加工、例えば穴加工や溝加
工が行なわれる。
【0019】そして固気2相流は加工室25内に散乱す
るとともに、還元パイプ24によってサイクロン21に
戻され、このサイクロン21によってガスと遊離微粒子
との分離が行なわれる。遊離微粒子はサイクロン21の
下側に接続されている微粒子タンク19に戻される。こ
れに対して分離されたガスは排気パイプ28および排風
機29によって回収される。
【0020】以上のような加工において、硬質のマスク
34を図2に示す装置で形成するようにしているが、こ
のような方法に代えて、2種類の粉末を予め混合して単
一のタンク内に入れておくようにしてもよい。
【0021】あるいはまた図8に示すように、SiC粉
末の研削能力を利用して目的の加工の噴射加工の前にま
ず塩化ビニル塊51に噴射して削り取って粉末とし、こ
れを回収して利用するようにしてもよい。この装置は補
助加工室48を備え、この補助加工室48内にエゼクタ
49を設けるようにするとともに、このエゼクタ49の
先端部にノズル50を配するようにしている。そしてノ
ズル50と対向するようにポリマ塊51を配している。
【0022】補助加工室48は微粒子送出パイプ52に
よってサイクロン53に接続されている。そしてこのサ
イクロン53の下側が微粒子用タンク54に接続されて
いる。そして微粒子用タンク54は微粒子送出パイプ5
5によって加工室56に接続されている。この加工室5
6内にエゼクタ57が取付けられている。そしてこのエ
ゼクタ57の先端にノズル58が設けられている。
【0023】エゼクタ49によって圧縮空気とSiCの
粉末との固気2相流を形成し、ノズル50から噴射する
と、ポリマ塊51がSiCの微粒子によって削られてS
iCの微粒子とポリマの粉末とが得られる。このような
粉末は微粒子送出パイプ52によってサイクロン53に
送られ、ガスと粉体とが分離され、粉体が微粒子用タン
ク54に貯えられる。すなわちここでは微粒子用タンク
54にポリマの粉末を混入したSiCの粉末が貯えられ
ることになる。
【0024】このような混合粉末は加工室56内のエゼ
クタ57によって吸引され、圧縮空気とともにノズル5
8によって被加工物26のフォトレジスト33上に噴射
され、フォトレジスト33に硬質のマスク34を形成す
ることになる。
【0025】図9ははさらに別の例を示しており、ここ
ではセラミック粉体62の外表面を被膜するようにポリ
マ被膜63を形成しておき、このようなポリマ被膜63
が形成されたセラミック粉体62を被加工物26のフォ
トレジスト33に噴射することによって硬質のマスク3
4を形成するようにしている。
【0026】このように本実施例においては、被加工物
26上に形成されている軟らかいフォトレジスト33上
に、耐摩耗性の高いSiC等の粉末およびバインダとし
てのポリマから成る硬質のマスク34を形成し、これに
よってマスクを軟質のマスク33と硬質のマスク34の
2層とした粉体噴射加工用レジストマスクを用いて遊離
微粒子の噴射加工を行なうようにしたものである。
【0027】このような方法によると、遊離微粒子の噴
射加工のためのレジストマスクの耐久性が向上するよう
になり、これによってエッチングの寸法精度が改善され
る。すなわち従来の通常のレジストマスクを使用した場
合に比べて約3倍の加工精度が得られるようになる。ま
たレジストマスクの耐久性が改善されることから、より
深い加工が可能になる。また1層目を軟らかなフォトレ
ジスト33によって構成することにより、硬質のマスク
34や粉体が加工領域内の被加工物26の表面を傷つけ
ることを防止できるようになる。
【0028】なお硬質のマスク34を形成するための粉
体としては、アルミナ、炭化珪素、炭化ボロン等のセラ
ミックスやステンレス、銅、錫等の金属、あるいはガラ
ス等の材料が用いられる。またこのような微粒子の大き
さは平均粒径が1〜100μm程度であってよい。また
このような粉末と混合されるバインダは、塩化ビニル、
ポリウレタン、ポリエチレン、ナイロン等の各種の樹脂
が用いられてよい。なお硬質のマスク34の下側に形成
されるフォトレジスト33は、一般のフォトレジスト、
シートレジスト等でよく、上記の粉体の直径以上の厚み
があればよい。
【0029】
【発明の効果】第1の発明は、被加工物上に軟質のマス
クを形成し、次いでその上に硬質のマスクを形成するよ
うにし、硬質のマスクの上から固気2相流を噴射するよ
うにしたものである。従ってとくに上側の硬質のマスク
によってレジストマスクの耐久性が向上し、エッチング
の寸法精度が改善されるようになり、より深い加工が可
能になる。
【0030】第2の発明は、軟質のマスクがフォトレジ
ストから構成されるとともに、ポリマをバインダとして
セラミックの粉末によって硬質のマスクを上記軟質のマ
スクの上に形成するようにしたものである。従ってこの
ような2層構造のレジストマスクの上から遊離微粒子と
ガスとの固気2相流の噴射加工を行なうと、とくに硬質
のマスクによって高い耐久性が付与され、従来のものに
比べてはるかに高い加工精度が得られるようになる。ま
た被加工物の加工領域以外の部分はフォトレジストのみ
と接触することになり、これによって表面の保護が図ら
れ、硬質のマスクやゼラミック粉末による加工領域以外
の表面の傷つきを防止することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る噴射加工方法を示す配
管図である。
【図2】硬質のマスクを形成する装置を示す縦断面図で
ある。
【図3】硬質のマスクを形成する状態を示す要部断面図
である。
【図4】硬質のマスクが形成された状態の要部断面図で
ある。
【図5】遊離微粒子の噴射加工装置の全体の構造を示す
配管図である。
【図6】遊離微粒子による噴射加工の状態を示す要部断
面図である。
【図7】噴射加工を終った状態の縦断面図である。
【図8】硬質のマスクを形成するための変形例に係る装
置の配管図である。
【図9】硬質のマスクを形成するためのセラミック粉末
の断面図である。
【図10】従来の遊離微粒子による噴射加工方法を示す
要部断面図である。
【図11】噴射加工を終った状態の要部断面図である。
【符号の説明】
10 コンプレッサ 11 エア供給パイプ 12 圧力調整弁 13 電磁弁 14 圧力調整弁 15 エゼクタ 18 微粒子送出パイプ 19 微粒子タンク 20 微粒子送出調整弁 21 サイクロン 24 還元パイプ 25 加工室 26 被加工物 27 ノズル 28 排気パイプ 29 排風機 33 フォトレジスト(軟質のマスク) 34 硬質のマスク 35 セラミック粉末用タンク 36 ポリマ粉末用タンク 37、38 電磁弁 39 エゼクタ 42 圧縮空気供給孔 43 吸引部 44 ノズル 48 補助加工室 49 エゼクタ 50 ノズル 51 ポリマ塊 52 微粒子送出パイプ 53 サイクロン 54 微粒子用タンク 55 微粒子送出パイプ 56 加工室 57 エゼクタ 58 ノズル 62 セラミック粉体 63 ポリマ被膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 遊離微粒子とガスとの固気2相流を被加
    工物上に噴射して加工を行なうようにした方法におい
    て、 前記被加工物上に軟質のマスクを形成し、次いでその上
    に硬質のマスクを形成するようにし、 前記硬質のマスクの上から前記固気2相流を噴射するよ
    うにしたことを特徴とする遊離微粒子噴射加工方法。
  2. 【請求項2】 前記軟質のマスクがフォトレジストから
    構成されるとともに、ポリマをバインダとしてセラミッ
    クの粉末によって前記硬質のマスクを前記軟質のマスク
    の上に形成するようにしたことを特徴とする請求項1に
    記載の遊離微粒子噴射加工方法。
JP10543792A 1992-03-31 1992-03-31 遊離微粒子噴射加工方法 Pending JPH05277942A (ja)

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