JPH05274170A - 情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログラムの表示方法 - Google Patents

情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログラムの表示方法

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JPH05274170A
JPH05274170A JP4065596A JP6559692A JPH05274170A JP H05274170 A JPH05274170 A JP H05274170A JP 4065596 A JP4065596 A JP 4065596A JP 6559692 A JP6559692 A JP 6559692A JP H05274170 A JPH05274170 A JP H05274170A
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JP
Japan
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peripheral device
test
test program
peripheral
program
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JP4065596A
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English (en)
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Hidekazu Shimizu
英一 清水
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 情報処理装置に接続されている周辺装置につ
いて用意されている試験プログラム名を容易に表示可能
とする。 【構成】 情報処理装置に接続されている周辺装置につ
いて個別に付与されている周辺装置識別子とチャネル番
号とを対応づけて記憶する構成記憶部15と、周辺装置
識別子とこの識別子に該当して予め作成されている試験
プログラムのプログラム名とを対応づけて記憶している
試験プログラム管理手段14とを情報処理装置内に設け
る。予め定められたすべての試験プログラムを表示する
ための命令を試験制御手段11に加え、試験制御手段1
1により構成記憶部15内のチャネル番号とこれに対応
する周辺装置識別子とを1組ごとに読み出し、読み出し
た周辺装置識別子に対応する試験プログラム名を試験制
御手段11により試験プログラム管理手段14を参照さ
せて読み出し編集して表示部に出力させる動作をすべて
の試験プログラムについて行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置に接続さ
れた周辺装置の試験プログラムの表示方法に関し、特
に、コンピュータなどの情報処理装置に接続されている
各周辺装置についての試験を行うプログラム名を、表示
させる情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログ
ラムの表示方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の情報処理装置用周辺装置
の試験を予め作成してある各周辺装置に対する試験プロ
グラムについてこれを見出す方法は情報処理装置に接続
されている周辺装置の構成を知り、しかも装置に対応し
た試験プログラムの存在とその試験プログラム名をあら
かじめ知っている操作員によって、試験対象装置に対応
して作成された試験プログラムを選択し、実行してい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の周辺装
置の試験についての試験プログラムを見出す方法では、
操作員は試験対象システムの装置構成に対する知識が不
十分である場合や、試験対象装置に対応した試験プログ
ラムを選択し実行するスキルが十分ではない場合には、
試験を行おうとする周辺装置についての試験プログラム
名を見出すのに長時間を要し、また、場合によっては誤
った試験プログラムを選択してしまうという事態を生じ
易いという欠点を有している。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の情報処理装置に
接続された周辺装置の試験プログラムの表示方法は、情
報処理装置に接続された1以上の周辺装置について前記
情報処理装置がその内部に予め前記周辺装置のそれぞれ
についての試験プログラムを備え、前記試験プログラム
中から所望のプログラムを選択して実行し対象とする周
辺装置の機能を試験するとき所望のプログラムを選択表
示させる表示処理装置に接続された周辺装置の試験プロ
グラムの表示方法において、前記各周辺装置に与えられ
ているチャネル番号とこれら各周辺装置に与えられてい
る周辺装置識別子とを対応づけて予め記憶しておく構成
記憶部と、前記各周辺装置識別子とこれら周辺装置識別
子に対応する前記周辺装置に対して使用される前記試験
プログラムのプログラム名とを対応づけて記憶している
試験プログラム管理手段と、予め定められた命令に従っ
た処理を行いその結果を表示部に出力する試験制御手段
とを前記情報処理装置内に設けておき、前記すべてのプ
ログラムを表示する予め定められた命令を前記試験制御
手段に加え、前記試験制御手段により前記構成記憶部内
に記憶されている周辺装置識別子に対応するチャネル番
号とを一つづつすべて読み出し、読み出した周辺装置識
別子に対応する前記プログラム名を前記試験管理手段よ
り読み出し、前記読み出した周辺装置識別子とこの周辺
装置識別子に対応するチャネル番号および試験プログラ
ム名とを対応付けそれぞれ表示部に出力させる方法を備
えている。
【0005】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0006】図1は本発明の情報処理装置に接続された
周辺装置の試験プログラムの表示方法を適用した情報処
理システムの一例を示すブロック図であり、図2は図1
の情報処理システムで使用する試験プログラム管理手段
のフォーマットについての説明図であり、図3は本発明
の情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログラム
の表示方法の一実施例を示すフローチャートであり、図
4は図3とは別の本発明の実施例を示すフローチャート
であり、図5は図3および図4に示したものとは別の本
発明の実施例を示すフローチャートである。図1の情報
処理システムは、中央処理装置1と、中央処理装置1上
で動作する試験制御手段11と、磁気ディスク装置用試
験プログラム(TESTDK)12と、磁気テープ装置
用試験プログラム(TESTMT)13と、試験プログ
ラム管理手段14と、周辺装置識別子も含めたシステム
全体のハードウェアの構成情報を格納している構成記憶
部15と、磁気ディスク装置用I/Oコントローラ(I
OC)16と、磁気テープ装置用I/Oコントローラ
(IOC)17と、磁気ディスク用I/Oコントローラ
16に接続された磁気ディスク装置161と、磁気テー
プ用I/Oコントローラ17に接続された磁気テープ装
置171からなる。磁気ディスク装置161には周辺装
置識別子としてDKが与えられている。また、磁気テー
プ装置171には周辺装置識別子としてMTが与えられ
ている。図2は図1で示されている試験プログラム管理
手段14のフォーマットを示しており、行23と24が
それぞれ周辺装置識別子に対する記憶単位であることを
示し、列21が周辺装置識別子の記述位置であり、列2
2が試験プログラム名の記述位置であることを示してい
る。
【0007】次に、図3を参照して、本発明の動作を説
明する。ステップ(以下Sと略称する)31で試験制御
手段11に対して図1中に示されていないキーボードを
用いて予め定められている全試験プログラムの表示命令
を試験制御手段11に対して入力する。次に試験制御手
段11はシステム内にある構成記憶部15を参照し、シ
ステム内に接続されている周辺装置のチャネル番号と対
応する周辺装置識別子を1対づつ読み出す(S32)。
次に、試験制御手段11は試験プログラム管理手段14
を参照して読み出した周辺装置識別子に対応する試験プ
ログラム名を読み出す(S33)、つまり、図2の列2
1の位置にある周辺装置識別子と前述のS32で得られ
た周辺装置識別子が一致する周辺装置識別子に対応する
プログラム名を読み出す。試験制御手段11は上述の読
み出した周辺装置識別子と対応するチャネル番号および
試験プログラム名とを予め定められた表示様式に編集し
表示出力として出力する(S34)。次に、システムに
接続されている全ての周辺装置に対して対象試験プログ
ラム名を読み出したか否かを判断し(S35)、終了し
ていなければ処理S32に戻る。その結果、図1に示さ
れた情報処理システムにおいては、磁気ディスク装置1
61のチャネル番号と、周辺装置識別子DKおよび対象
試験プログラム名であるTESTDKが表示され、さら
に磁気テープ装置161のチャネル番号と、周辺装置識
別子MTおよび対象試験プログラム名であるTESTM
Tが表示される。このようにして周辺装置に対して使用
することができる試験プログラム名を装置識別子および
そのチャネル番号と対応づけですべて表示させることが
できる。
【0008】図4を参照して、図1の情報処理システム
に対して適用した本発明の別の実施例の動作を説明す
る。図1に示す試験制御手段11に対し周辺装置に予め
与えられているチャネル番号を指定した予め定められた
表示命令を入力する(S41)。たとえば、磁気ディス
ク装置161に与えられているチャネル番号を入力した
とする。試験制御手段11はシステム内にある構成記憶
部15を参照し、指定されたチャネル番号に対応する周
辺装置識別子を読み出す(S42)。試験制御手段11
は試験プログラム管理手段14を参照してすでに読み出
した周辺装置識別子に対応する試験プログラム名を読み
出す(S43)。次に試験制御手段11は指定されたチ
ャネル番号と、読み出した周辺装置識別子DKと対象試
験プログラム名であるTESTDKを予め定められた表
示様式に編集し表示出力として表示部へ出力する。
【0009】次に図5を参照して、図1に示されている
情報処理システムに適用した本発明の別の実施例の動作
を説明する。図1に示す試験制御手段11に対してシス
テムに存在する全周辺装置の内、試験の対象とする周辺
装置に与えられている周辺装置識別子を指定した予め定
められた表示部命令を入力する(S51)。たとえば装
置識別子をDKを入力したとする。次に、試験制御手段
11は試験プログラム管理手段14を参照して、指定さ
れた装置識別子に対応する試験プログラム名を読み出す
(S52)。次に、試験制御手段11は、システム内に
ある構成記憶部15を参照し、指定された周辺装置識別
子に対応する周辺装置のチャネル番号を読み出す(S5
3)。次に、試験制御手段11は予め定められた編集様
式に従って編集を行いその結果を表示部に出力する(S
54)。編集出力の対象となるのは周辺装置のチャネル
番号と、周辺装置識別子と、対象試験プログラム名であ
る。その結果、磁気ディスク装置161のチャネル番号
と、周辺装置識別子DKおよび対象試験プログラム名で
あるTESTDKが表示される。
【0010】本発明の動作は、システムの装置構成に応
じて自在に対応できるものであることは、ここまで説明
したことから明らかであり、たとえば図3に示した実施
例のように操作員がシステムの装置構成及び試験プログ
ラム名及び装置識別子を知らなくても、試験プログラム
の選択が可能となる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の情報処理
装置に接続された周辺装置のプログラム表示方法は、そ
れぞれの周辺装置を試験するための試験プログラム名を
知らなくとも、周辺装置別に与えられたチャネル番号と
周辺装置識別子を対応づけた構成記憶部と周辺装置識別
子と対応づけられた試験プログラム名を記憶している試
験プログラム管理手段を参照することにより、情報処理
装置に予め記憶されている周辺装置を試験する試験プロ
グラムのプログラム名を知らないでも、所望の試験対象
である周辺装置に対応する試験プログラム名を短時間の
内に容易に誤りなく表示させることができるという効果
を有する。従ってこのように表示させた試験プログラム
名を選択して誤りなく周辺装置の試験に移行できるとい
う効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の情報処理装置に接続された周辺装置の
試験プログラムの表示方法を適用した情報処理システム
の一例を示すブロック図である。
【図2】図1に示された試験プログラム管理手段のフォ
ーマットを示す説明図である。
【図3】図1に示す情報処理システムに適用した本発明
の一実施例を示すフローチャートである。
【図4】図1に示す情報処理システムに適用した本発明
の別の実施例を示すフローチャートである。
【図5】図1に示す情報処理システムに適用した本発明
の他の実施例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 中央処理装置 11 試験制御手段 12 磁気ディスク装置用試験プログラム 13 磁気テープ装置用試験プログラム 14 試験プログラム管理手段 15 構成記憶部 16 磁気ディスク装置用I/Oコントローラ 17 磁気テーブ装置用I/Oコントローラ 161 磁気ディスク装置 171 磁気テープ装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 情報処理装置に接続された1以上の周辺
    装置について前記情報処理装置がその内部に予め前記周
    辺装置のそれぞれについての試験プログラムを備え、前
    記試験プログラム中から所望のプログラムを選択して実
    行し対象とする周辺装置の機能を試験するとき所望のプ
    ログラムを選択表示させる表示処理装置に接続された周
    辺装置の試験プログラムの表示方法において、前記各周
    辺装置に与えられているチャネル番号とこれら各周辺装
    置に与えられている周辺装置識別子とを対応づけて予め
    記憶しておく構成記憶部と、前記各周辺装置識別子とこ
    れら周辺装置識別子に対応する前記周辺装置に対して使
    用される前記試験プログラムのプログラム名とを対応づ
    けて記憶している試験プログラム管理手段と、予め定め
    られた命令に従った処理を行いその結果を表示部に出力
    する試験制御手段とを前記情報処理装置内に設けてお
    き、前記すべてのプログラムを表示する予め定められた
    命令を前記試験制御手段に加え、前記試験制御手段によ
    り前記構成記憶部内に記憶されている周辺装置識別子と
    対応するチャネル番号とを一つづつすべて読み出し、読
    み出した周辺装置識別子に対応する前記プログラム名を
    前記試験管理手段より読み出し、前記読み出した周辺装
    置識別子とこの周辺装置識別子に対応するチャネル番号
    および試験プログラム名とを対応付けそれぞれ表示部に
    出力させることを特徴とする情報処理装置に接続された
    周辺装置の試験プログラムの表示方法。
  2. 【請求項2】 情報処理装置に接続された1以上の周辺
    装置について前記情報処理装置がその内部に予め前記周
    辺装置のそれぞれについての試験プログラムを備え、前
    記試験プログラム中から所望のプログラムを選択して実
    行し対象とする周辺装置の機能を試験するとき前記試験
    の実行に先立ち所望のプログラムを選択表示させる情報
    処理装置に接続された周辺装置の試験プログラムの表示
    方法において、前記各周辺装置に与えられているチャネ
    ル番号とこれら各周辺装置に与えられている周辺装置識
    別子とを対応づけて予め記憶しておく構成記憶部と、前
    記各周辺装置識別子とこれら周辺装置識別子に対応する
    前記周辺装置に対して使用される前記試験プログラムの
    プログラム名と対応づけて予め記憶している試験プログ
    ラム管理手段と、予め定められた命令に従った処理を行
    いその結果を表示部に出力する試験制御手段とを前記情
    報処理装置内に設けておき、前記周辺装置識別子の内の
    一つを前記試験制御手段に入力し、前記試験制御手段に
    入力した周辺装置識別子に対応するチャネル番号を前記
    構成記憶部を参照して読み出し、かつ、前記試験プログ
    ラム管理手段を参照して前記入力した周辺装置識別子に
    対応する試験プログラムを読み出し、前記入力した周辺
    装置識別子と前記読み出したチャネル番号および試験プ
    ログラム名とを対応させて表示部に出力することを特徴
    とする情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログ
    ラムの表示方法。
  3. 【請求項3】 情報処理装置に接続された1以上の周辺
    装置について前記情報処理装置がその内部に予め前記周
    辺装置のそれぞれについての試験プログラムを備え、前
    記試験プログラム中から所望のプログラムを選択して実
    行し対象とする周辺装置の機能を試験するとき前記試験
    の実行に先立ち所望のプログラムを選択表示させる情報
    処理装置に接続された周辺装置の試験プログラムの表示
    方法において、前記各周辺装置に与えられているチャネ
    ル番号とこれら各周辺装置に与えられている周辺装置識
    別子とを対応づけて予め記憶しておく構成記憶部と、前
    記各周辺装置識別子とこれら周辺装置識別子に対応する
    前記周辺装置に対して使用される前記試験プログラムの
    プログラム名とを対応づけけ予め記憶している試験プロ
    グラム管理手段と、予め定められた命令に従った処理を
    行いその結果を表示部に出力する試験制御手段とを前記
    情報処理装置内に設けておき、前記チャネル番号の内の
    一つを前記試験制御手段に入力し、前記試験制御手段に
    入力したチャネル番号に対応する周辺装置識別子を前記
    構成記憶部を参照して読み出し、前記試験プログラム管
    理手段を参照して前記読み出した周辺装置識別子に対応
    する試験プログラムを読み出し、前記入力したチャネル
    番号と前記読み出した周辺装置識別子および試験プログ
    ラム名とを対応させて表示部に出力することを特徴とす
    る情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログラム
    の表示方法。
JP4065596A 1992-03-24 1992-03-24 情報処理装置に接続された周辺装置の試験プログラムの表示方法 Withdrawn JPH05274170A (ja)

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