JPH05273236A - プローブ組立体 - Google Patents

プローブ組立体

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JPH05273236A
JPH05273236A JP9599492A JP9599492A JPH05273236A JP H05273236 A JPH05273236 A JP H05273236A JP 9599492 A JP9599492 A JP 9599492A JP 9599492 A JP9599492 A JP 9599492A JP H05273236 A JPH05273236 A JP H05273236A
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JP
Japan
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auxiliary
probe
probes
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main
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JP9599492A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Funamizu
浩 船水
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NIPPON MAIKURONIKUSU KK
Original Assignee
NIPPON MAIKURONIKUSU KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 平行度確認用の電流に起因する表示パネルの
電極の焼損を防止することにある。 【構成】 一方向へ伸びる縁部を有する基板と、前記縁
部に該縁部の方向に間隔をおいて配置された複数の主プ
ローブと、前記縁部に前記主プローブから前記縁部の方
向に間隔をおいて配置された第1及び第2の補助プロー
ブとを含み、前記第1の補助プローブは表示パネルに接
触される接触部を有すると共に弾性変形可能であり、前
記第1及び第2の補助プローブは前記第1の補助プロー
ブの弾性変形により互いに接触可能に前記基板の厚さ方
向に間隔をおいて配置されていることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、表示パネルの電気的検
査及び点灯試験(以下、電気的検査に含める。)等に用
いられるプローブ組立体に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示パネルの電気的検査には、プロ
ーブ組立体が用いられる。プローブ組立体は、基板の縁
部に該縁部の方向に間隔をおいて配置された複数の主プ
ローブと、前記縁部の方向に間隔をおいた少なくとも2
箇所のそれぞれに配置された一対の補助プローブとを備
える。各主プローブは、画素の電気的検査のために用い
られ、また表示パネルの電極に接触される。これに対
し、補助プローブは、表示パネルに対するプローブ組立
体の平行度、特に主プローブ先端と検査すべき電極との
平行度の確認のために用いられ、また一対の補助プロー
ブ毎に同じ電極に接触される。図7に示すように、平行
度を確認するとき、一対の補助プローブ100,102
は、発光ダイオード104、直流電源106及び抵抗器
108を直列に接続された平行度確認用回路に接続され
る。補助プローブ100,102が表示パネルの共通の
電極110に接触すると、補助プローブ100,102
がその電極110によって電気的に短絡されるから、一
方の補助プローブ100からその電極110を介して他
方の補助プローブ102に電流が流れ、発光ダイオード
104が点灯される。これにより、平行であることの確
認が行われる。しかし、従来のプローブ組立体では、発
光ダイオード104を経る平行度確認用の電流により、
電極110のうち、補助プローブ100,102との接
触部間の部位(図7において、符号112で示す範囲)
が焼損するという事例がたびたび発生した。
【0003】
【解決しようとする課題】本発明の目的は、平行度確認
用の電流に起因する表示パネルの電極の焼損を防止する
ことにある。
【0004】
【解決手段、作用、効果】本発明のプローブ組立体は、
一方向へ伸びる縁部を有する基板と、前記縁部に該縁部
の方向に間隔をおいて配置された複数の主プローブと、
前記縁部に前記主プローブから前記縁部の方向に間隔を
おいて配置された第1及び第2の補助プローブとを含
み、前記第1の補助プローブは表示パネルに接触される
接触部を有すると共に弾性変形可能であり、前記第1及
び第2の補助プローブは前記第1の補助プローブの弾性
変形により互いに接触可能に前記基板の厚さ方向に間隔
をおいて配置されていることを特徴とする。
【0005】表示パネルの検査時、プローブ組立体は、
各主プローブが表示パネルの電極に接触された状態で、
表示パネルに押圧される。これにより、第1の補助プロ
ーブの接触部が表示パネルに押圧されるから、第1の補
助プローブは第2の補助プローブの側に弾性変形され、
第1及び第2の補助プローブは互いに接触し、第1及び
第2の補助プローブは電気的に短絡される。平行度の確
認時、第1の補助プローブは、表示パネルの電極に接触
させてもよいし、電極以外の箇所に接触させてもよい。
いずれの場合も、平行度の確認は第1及び第2の補助プ
ローブが電気的に短絡されたことにより行うことがで
き、また平行度の確認時における電極の焼損はその電極
に平行度確認用の電流が流れないことにより防止され
る。
【0006】上記のように、本発明によれば、第1の補
助プローブの弾性変形により第1及び第2の補助プロー
ブが電気的に短絡されるから、平行度確認用の電流に起
因する電極の焼損が防止される。
【0007】前記第1及び第2の補助プローブをほぼ平
行に伸ばし、前記第1の補助プローブの先端部を前記第
2の補助プローブの側と反対の側に屈曲させ、屈曲され
た部位を前記接触部とすることができる。さらに、前記
縁部に前記主プローブ並びに前記第1及び第2の補助プ
ローブから前記縁部の方向に間隔をおいて配置された第
3及び第4の補助プローブとを含むことができる。この
場合、前記第3の補助プローブは前記表示パネルに接触
される接触部を有すると共に弾性変形可能であり、前記
第3及び第4の補助プローブは前記第3の補助プローブ
の弾性変形により互いに接触可能に前記基板の厚さ方向
に間隔をおいて配置される。前記第3及び第4の補助プ
ローブをほぼ平行に伸ばし、前記第3の補助プローブの
先端部を前記第4の補助プローブの側と反対の側に屈曲
させ、屈曲された部位を前記接触部とすることができ
る。
【0008】
【実施例】図1を参照するに、検査用器具10は、液晶
表示パネル12を電気的に検査する器具として用いられ
る。器具10は、複数のプローブ組立体14を長方形状
の取付板16に装着している。取付板16は、その中央
部に長方形状の穴18を有しており、この穴18が表示
パネル12と合うように図示しない検査機械により位置
決められる。
【0009】なお、以下の説明では、表示パネル12が
検査用器具10の下側に配置されるものとするが、本願
発明はこれに限定されない。
【0010】各プローブ組立体14は、長方形状の基板
20と、該基板の一縁部に該一縁部の方向へ互いに間隔
をおいて配置された複数の主プローブ22と、前記一縁
部の両端のそれぞれに配置された一組の補助プローブ2
4,26とを備える。主プローブ22は、表示パネル1
2の画素の電気的検査を行うためのプローブであり、ま
た図2に示すように表示パネル12に向けて突出するよ
うに取付体28により基板20に装着されている。各主
プローブ22の先端部は表示パネル12の電極に接触さ
れるように図2において下方に曲げられており、各主プ
ローブの後端部は基板20に形成された端子部30に接
続されている。取付体28は、図示しない複数のねじに
より基板20に取り付けられている。
【0011】補助プローブ24,26は、表示パネル1
2の電極面に対する主プローブ24の平行度を確認する
ためのものであり、また図3に示すように取付体28に
より基板20に装着されている。各一対の補助プローブ
24,26は、図3、図5及び図6に示すように、ほぼ
平行に、表示パネル12に向けて伸びており、また基板
20の厚さ方向(図示の例では、上下方向)に隔てられ
ている。
【0012】各補助プローブ24の先端部は表示パネル
12の上面に接触される接触部24aとして作用するよ
うに対応する補助プローブ26の側と反対の側に向けて
曲げられており、各補助プローブ24の後端部は基板2
0上に設けられた端子32から取付体28及び基板20
に形成された切欠部を介して基板20の下方に伸びるリ
ード線34に接続されている。
【0013】各補助プローブ26は、図3〜図6に示す
ように、表示パネル12の電極に接触しないように直線
的に伸びており、各補助プローブ26の後端部は基板2
0上に設けられた端子36から取付体28及び基板20
に形成された切欠部を介して基板20の下方に伸びるリ
ード線38に接続されている。
【0014】主プローブ22及び補助プローブ24,2
6は、弾性変形可能の導電性材料からなる。図6に示す
ように、各一対の補助プローブ24,26は、発光ダイ
オード50、直流電源52及び抵抗器54を直列に接続
した平行度確認用回路に端子32,36を介して接続さ
れる。
【0015】検査時、プローブ組立体14は、各主プロ
ーブ22が表示パネル12の電極に接触された状態で、
表示パネル12に押圧される。これにより、各補助プロ
ーブ24の接触部24aが表示パネル12に押圧される
から、一方の各補助プローブ24は図6に破線で示すよ
うに対応する他の補助プローブ26の側に弾性変形さ
れ、その結果補助プローブ24,26は互いに接触して
電気的に短絡される。
【0016】平行度の確認は、補助プローブ24,26
は互いに接触して電気的に短絡されたことにより、確認
用の電流が発光ダイオード50に流れ、発光ダイオード
50が点灯されたことにより行うことができる。
【0017】平行度の確認時、補助プローブ24の接触
部24aは、表示パネル12の電極に接触させてもよい
し、電極以外の箇所に接触させてもよい。平行度の確認
時における電極の焼損は、補助プローブ24の接触部2
4aが表示パネル12の電極に接触される場合、両補助
プローブ24,26が電気的に短絡されると共に補助プ
ローブ26画素の電極に接触せず、その電極に平行度確
認用の電流が流れないことにより防止され、また、補助
プローブ24の接触部24aが表示パネル12の電極以
外の箇所に接触される場合、その電極に平行度確認用の
電流が流れないことにより防止される。
【0018】なお、各一対の補助プローブを基板20の
一縁部の端部に配置する代わりに、各一対の補助プロー
ブの組を前記一縁部の方向における途中に配置してもよ
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】検査用器具の一実施例を示す平面図である。
【図2】図1の2−2線に沿って得たプローブ組立体の
拡大断面図である。
【図3】図1の3−3線に沿って得たプローブ組立体の
拡大側面図である。
【図4】一対の補助プローブの一実施例を示す側面図で
ある。
【図5】図4に示す一対の補助プローブの正面図であ
る。
【図6】一対の補助プローブを平行度確認用回路に接続
した状態を示す電気回路図である。
【図7】従来の一対の補助プローブ平行度確認用回路に
接続した状態を示す電気回路図である。
【符号の説明】
10 検査用器具 12 液晶表示パネル 14 プローブ組立体 16 取付板 20 基板 22 主プローブ 24,26 補助プローブ 28 取付体 24a 接触部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表示パネル検査用のプローブ組立体であ
    って、一方向へ伸びる縁部を有する基板と、前記縁部に
    該縁部の方向に間隔をおいて配置された複数の主プロー
    ブと、前記縁部に前記主プローブから前記縁部の方向に
    間隔をおいて配置された第1及び第2の補助プローブと
    を含み、前記第1の補助プローブは前記表示パネルに接
    触される接触部を有すると共に弾性変形可能であり、前
    記第1及び第2の補助プローブは前記第1の補助プロー
    ブの弾性変形により互いに接触可能に前記基板の厚さ方
    向に間隔をおいて配置されている、プローブ組立体。
  2. 【請求項2】 前記第1及び第2の補助プローブはほぼ
    平行に伸びており、前記第1の補助プローブの先端部は
    前記第2の補助プローブの側と反対の側に屈曲されて前
    記接触部を構成している、請求項1に記載のプローブ組
    立体。
  3. 【請求項3】 さらに、前記縁部に前記主プローブ並び
    に前記第1及び第2の補助プローブから前記縁部の方向
    に間隔をおいて配置された第3及び第4の補助プローブ
    とを含み、前記第3の補助プローブは前記表示パネルに
    接触される接触部を有すると共に弾性変形可能であり、
    前記第3及び第4の補助プローブは前記第3の補助プロ
    ーブの弾性変形により互いに接触可能に前記基板の厚さ
    方向に間隔をおいて配置されている、請求項1または2
    に記載のプローブ組立体。
  4. 【請求項4】 前記第3及び第4の補助プローブはほぼ
    平行に伸びており、前記第3の補助プローブの先端部は
    前記第4の補助プローブの側と反対の側に屈曲されて前
    記接触部を構成している、請求項3に記載のプローブ組
    立体。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011053203A (ja) * 2009-08-04 2011-03-17 Micronics Japan Co Ltd プローブユニット及びこれを用いる試験装置

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