JPH0526944A - 導電パターンの検査装置 - Google Patents
導電パターンの検査装置Info
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- JPH0526944A JPH0526944A JP3207336A JP20733691A JPH0526944A JP H0526944 A JPH0526944 A JP H0526944A JP 3207336 A JP3207336 A JP 3207336A JP 20733691 A JP20733691 A JP 20733691A JP H0526944 A JPH0526944 A JP H0526944A
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- measurement
- frequency
- conductive pattern
- signal
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/304—Contactless testing of printed or hybrid circuits
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 窓ガラスアンテナのパターン等の導電パター
ンの断線ならびにパターン間短絡不良を自動的に検出す
ることのできる検査装置を提供する。 【構成】 測定用導電部Ｑと供試導電パターンＰとの間
で形成されるインピーダンスもしくは、供試導電パター
ンからの反射信号のレベルを所定の周波数範囲に亘って
測定する装置４，１１，５０と、供試導電パターンの周
波数特性と予め取得した基準導電パターンの周波数特性
とに基づいて良否を判定する判定装置５を備える。
ンの断線ならびにパターン間短絡不良を自動的に検出す
ることのできる検査装置を提供する。 【構成】 測定用導電部Ｑと供試導電パターンＰとの間
で形成されるインピーダンスもしくは、供試導電パター
ンからの反射信号のレベルを所定の周波数範囲に亘って
測定する装置４，１１，５０と、供試導電パターンの周
波数特性と予め取得した基準導電パターンの周波数特性
とに基づいて良否を判定する判定装置５を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、窓ガラスアンテナの
パターン等の導電パターンの断線ならびに短絡を検査す
る装置に関する。
パターン等の導電パターンの断線ならびに短絡を検査す
る装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図９は導通試験器を用いた従来の検査装
置の説明図である。導通試験器１０１を用いた検査装置
は、窓ガラス１０２の表面に形成されたアンテナパター
ン１０３の断線をチェックするのに適用されている。
置の説明図である。導通試験器１０１を用いた検査装置
は、窓ガラス１０２の表面に形成されたアンテナパター
ン１０３の断線をチェックするのに適用されている。
【０００３】導通試験器１０１の一方のプローブ１０４
をアンテナパターンの接続端子１０５へ接触させ、他方
のプローブ１０５を各分岐パターンの先端部Ｐ１〜Ｐ６
へ順次接触させることで、アンテナパターン１０３の全
体について断線の有無をチェックする。導通試験器１０
１としては、１対のプローブ１０４，１０５間の抵抗値
が所定値以下であればブザー鳴音等による可聴表示を行
なうものを用いることが多い。
をアンテナパターンの接続端子１０５へ接触させ、他方
のプローブ１０５を各分岐パターンの先端部Ｐ１〜Ｐ６
へ順次接触させることで、アンテナパターン１０３の全
体について断線の有無をチェックする。導通試験器１０
１としては、１対のプローブ１０４，１０５間の抵抗値
が所定値以下であればブザー鳴音等による可聴表示を行
なうものを用いることが多い。
【０００４】図１０はＱメータを用いた従来の他の検査
装置の説明図である。Ｑメータ１１１を用いた検査装置
は、合せガラス１１２の接合面に形成したアンテナパタ
ーン１１３の断線をチェックするのに適用されている。
アンテナパターン１１３が露出していないため前述の導
通試験を適用できないためである。
装置の説明図である。Ｑメータ１１１を用いた検査装置
は、合せガラス１１２の接合面に形成したアンテナパタ
ーン１１３の断線をチェックするのに適用されている。
アンテナパターン１１３が露出していないため前述の導
通試験を適用できないためである。
【０００５】Ｑメータ１１１のプローブ１１４をアンテ
ナパターン１１３の接続端子１１５へ接続した状態で、
Ｑメータ１１１の針１１６の振れが最大または最小にな
るようＱメータ１１１の周波数調節つまみ１１７を操作
して共振を取る。共振を取った後に、合せガラス１１２
の表面からアンテナパターン１１３の先端部１１８へ試
験者の指を触れる。アンテナパターン１１３が断線して
いなければ、パターンの先端部１１８に容量が結合され
た状態となり、共振周波数がずれるので、Ｑメータ１１
１の針１１６は先に共振を取った位置から変化する。断
線している場合は、針１１６は変化しない。このような
指針１１６の振れに基づいて断線のチェックを行なって
いた。
ナパターン１１３の接続端子１１５へ接続した状態で、
Ｑメータ１１１の針１１６の振れが最大または最小にな
るようＱメータ１１１の周波数調節つまみ１１７を操作
して共振を取る。共振を取った後に、合せガラス１１２
の表面からアンテナパターン１１３の先端部１１８へ試
験者の指を触れる。アンテナパターン１１３が断線して
いなければ、パターンの先端部１１８に容量が結合され
た状態となり、共振周波数がずれるので、Ｑメータ１１
１の針１１６は先に共振を取った位置から変化する。断
線している場合は、針１１６は変化しない。このような
指針１１６の振れに基づいて断線のチェックを行なって
いた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】導通試験器を用いる場
合は、導電パターンの分岐数が多くなるにしたがってチ
ェック箇所が増加するためチェックに時間がかかる。
合は、導電パターンの分岐数が多くなるにしたがってチ
ェック箇所が増加するためチェックに時間がかかる。
【０００７】Ｑメータを使用する場合は、共振をとる操
作が必要であり、その操作が煩わしい。
作が必要であり、その操作が煩わしい。
【０００８】また、いずれの試験器を用いても、断線以
外のパターン間短絡を検出することができない。
外のパターン間短絡を検出することができない。
【０００９】この発明はこのような課題を解決するため
なされたもので、その目的は断線ならびにパターン間短
絡不良を自動的に検出することのできる検査装置を提供
することにある。
なされたもので、その目的は断線ならびにパターン間短
絡不良を自動的に検出することのできる検査装置を提供
することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
請求項１に係る検査装置は、測定用導電部と、この測定
用導電部に対して所定の位置関係で配置された供試導電
パターンとの間で形成されるインピーダンスを所定の周
波数範囲に亘って測定するインピーダンス測定装置を備
えるとともに、測定によって得られたインピーダンスの
周波数特性と予め取得した基準導電パターンにおけるイ
ンピーダンスの周波数特性とに基づいて前記導電パター
ンの良否を判定する判定装置を備えたことを特徴とす
る。
請求項１に係る検査装置は、測定用導電部と、この測定
用導電部に対して所定の位置関係で配置された供試導電
パターンとの間で形成されるインピーダンスを所定の周
波数範囲に亘って測定するインピーダンス測定装置を備
えるとともに、測定によって得られたインピーダンスの
周波数特性と予め取得した基準導電パターンにおけるイ
ンピーダンスの周波数特性とに基づいて前記導電パター
ンの良否を判定する判定装置を備えたことを特徴とす
る。
【００１１】請求項２に係る検査装置は、供試導電パタ
ーンへ供給する高周波信号の周波数を予め設定した範囲
に亘って可変する可変周波数信号供給装置と、供試導電
パターンで反射された信号の量を測定する反射信号測定
装置と、測定によって得られた反射信号の周波数特性と
予め取得した基準導電パターンにおける反射信号の周波
数特性とに基づいて前記導電パターンの良否を判定する
判定装置を備えたことを特徴とする。
ーンへ供給する高周波信号の周波数を予め設定した範囲
に亘って可変する可変周波数信号供給装置と、供試導電
パターンで反射された信号の量を測定する反射信号測定
装置と、測定によって得られた反射信号の周波数特性と
予め取得した基準導電パターンにおける反射信号の周波
数特性とに基づいて前記導電パターンの良否を判定する
判定装置を備えたことを特徴とする。
【００１２】なお、反射信号測定装置は、可変周波数信
号供給装置から出力される高周波信号を信号分配器およ
び方向性結合器を介して供試導電パターンへ供給すると
ともに、信号分配器を介して取り出した高周波信号と方
向性結合器を介して取り出した反射信号との比を求める
演算手段を備えるのが望ましい。
号供給装置から出力される高周波信号を信号分配器およ
び方向性結合器を介して供試導電パターンへ供給すると
ともに、信号分配器を介して取り出した高周波信号と方
向性結合器を介して取り出した反射信号との比を求める
演算手段を備えるのが望ましい。
【００１３】また、判定装置は、供試導電パターンの周
波数特性および予め取得した基準導電パターンの周波数
特性における谷点の周波数のずれに基づいて良否を判定
するのが望ましい。
波数特性および予め取得した基準導電パターンの周波数
特性における谷点の周波数のずれに基づいて良否を判定
するのが望ましい。
【００１４】
【作用】請求項１に係る導電パターンの検査装置は、供
試導電パターンと測定用導電部との間のインピーダンス
の周波数特性を求め、その周波数特性と予め取得した基
準周波数特性とに基づいて良否を判定するので、良否判
定を自動化することができる。
試導電パターンと測定用導電部との間のインピーダンス
の周波数特性を求め、その周波数特性と予め取得した基
準周波数特性とに基づいて良否を判定するので、良否判
定を自動化することができる。
【００１５】請求項２に係る導電パターンの検査装置
は、供試導電パターンからの反射信号の周波数特性と予
め取得した基準周波数特性とに基づいて良否を判定する
ので、良否判定を自動化することができる。
は、供試導電パターンからの反射信号の周波数特性と予
め取得した基準周波数特性とに基づいて良否を判定する
ので、良否判定を自動化することができる。
【００１６】なお、反射信号測定装置は、供試導電パタ
ーンへ供給する交流信号の一部と反射信号との比を求め
る構成であるから、交流信号の大きさが変動してもその
影響を受けずに正確な判定を行なうことができる。
ーンへ供給する交流信号の一部と反射信号との比を求め
る構成であるから、交流信号の大きさが変動してもその
影響を受けずに正確な判定を行なうことができる。
【００１７】また、周波数特性の谷点の周波数に着目し
て良否判定を行なうことで、導電パターンのわずかな相
違を検出して判定することができる。
て良否判定を行なうことで、導電パターンのわずかな相
違を検出して判定することができる。
【００１８】
【実施例】以下、この発明の実施例を添付図面に基づい
て説明する。図１は請求項１に係る導電パターンの検査
装置のブロック構成図である。この導電パターンの検査
装置１は、自動車用の窓ガラス２に形成されたアンテナ
パターンＰの断線・短絡を自動的に判定するもので、測
定台３と、インピーダンス測定装置４と、判定装置５と
からなる。
て説明する。図１は請求項１に係る導電パターンの検査
装置のブロック構成図である。この導電パターンの検査
装置１は、自動車用の窓ガラス２に形成されたアンテナ
パターンＰの断線・短絡を自動的に判定するもので、測
定台３と、インピーダンス測定装置４と、判定装置５と
からなる。
【００１９】測定台３は、窓ガラス２を所定の位置に載
置するための複数の位置決めガイドＧと、測定用導電部
Ｑを備える。図１において、測定用導電部Ｑは供試用の
導電パターンに相当するアンテナパターンＰの外側を取
囲むよう形成しているが、必ずしもアンテナパターンＰ
を取囲む必要はない。また、窓ガラス２の板厚方向へ所
定の間隔を隔てて測定用導電部Ｑを設けてもよい。さら
に、測定台３を例えば鉄板等の導電性材料で形成し、窓
ガラス２を載置する部分もしくは供試用導電パターンと
鉄板との間に所定の間隔が保てるように鉄板をくりぬい
て、測定台３を測定用導電部Ｑとして兼用してもよい。
置するための複数の位置決めガイドＧと、測定用導電部
Ｑを備える。図１において、測定用導電部Ｑは供試用の
導電パターンに相当するアンテナパターンＰの外側を取
囲むよう形成しているが、必ずしもアンテナパターンＰ
を取囲む必要はない。また、窓ガラス２の板厚方向へ所
定の間隔を隔てて測定用導電部Ｑを設けてもよい。さら
に、測定台３を例えば鉄板等の導電性材料で形成し、窓
ガラス２を載置する部分もしくは供試用導電パターンと
鉄板との間に所定の間隔が保てるように鉄板をくりぬい
て、測定台３を測定用導電部Ｑとして兼用してもよい。
【００２０】インピーダンス測定装置４は、予め設定し
た複数の周波数ポイントでインピーダンスの測定を順次
行ない、その測定結果をＧＰ−ＩＢ等のインタフェース
バスを介して外部機器へ出力できるもの（例えば高周波
用のＬＣＲメータ等）を用いている。測定用プローブの
一端４ａは窓ガラス２の端部等に形成されたアンテナパ
ターンＰとの接続端子部ａへ接続され、測定用プローブ
の他端４ｂは測定用導電部Ｑへ接続される。
た複数の周波数ポイントでインピーダンスの測定を順次
行ない、その測定結果をＧＰ−ＩＢ等のインタフェース
バスを介して外部機器へ出力できるもの（例えば高周波
用のＬＣＲメータ等）を用いている。測定用プローブの
一端４ａは窓ガラス２の端部等に形成されたアンテナパ
ターンＰとの接続端子部ａへ接続され、測定用プローブ
の他端４ｂは測定用導電部Ｑへ接続される。
【００２１】基準となる良品の窓ガラス２を測定台３に
セットし、アンテナパターンＰと測定用導電部Ｑとの間
のインピーダンスを詳細に測定し、その周波数特性の山
や谷の特徴部分（インピーダンスの変化が急峻な部分）
を的確にとらえられるようインピーダンスの測定ポイン
トを設定している。
セットし、アンテナパターンＰと測定用導電部Ｑとの間
のインピーダンスを詳細に測定し、その周波数特性の山
や谷の特徴部分（インピーダンスの変化が急峻な部分）
を的確にとらえられるようインピーダンスの測定ポイン
トを設定している。
【００２２】判定装置５は、基準となる各周波数ポイン
トのデータを記憶した基準データ記憶手段５ａと、イン
ピーダンス測定装置４から出力される測定結果データ４
ｃを一時記憶する測定データ記憶手段５ｂと、各記憶手
段５ａ，５ｂからデータを読み出して良否判定を行なう
判定手段５ｃと、判定手段５ｃの判定出力に基づいて良
否を表示する判定結果表示手段５ｄを備える。
トのデータを記憶した基準データ記憶手段５ａと、イン
ピーダンス測定装置４から出力される測定結果データ４
ｃを一時記憶する測定データ記憶手段５ｂと、各記憶手
段５ａ，５ｂからデータを読み出して良否判定を行なう
判定手段５ｃと、判定手段５ｃの判定出力に基づいて良
否を表示する判定結果表示手段５ｄを備える。
【００２３】基準データ記憶手段５ａは、バッテリバッ
クアップされたＲＡＭ等用い、図示しないデータ入力手
段から基準データを書き込めるよう構成している。な
お、インピーダンス測定装置４で基準となる良品の窓ガ
ラス２の測定を行ない、その測定データを基準データ記
憶手段５ａへ直接書き込むようにしてもよい。測定デー
タ記憶手段５ｂは、ＲＡＭ等で構成している。
クアップされたＲＡＭ等用い、図示しないデータ入力手
段から基準データを書き込めるよう構成している。な
お、インピーダンス測定装置４で基準となる良品の窓ガ
ラス２の測定を行ない、その測定データを基準データ記
憶手段５ａへ直接書き込むようにしてもよい。測定デー
タ記憶手段５ｂは、ＲＡＭ等で構成している。
【００２４】判定手段５ｃは、インピーダンス測定装置
４から各測定ポイントの測定が完了した時点で出力され
る判定開始指令４ｄを受けると、判定動作を開始する。
この判定手段５ｃは、各測定周波数ポイント毎に測定デ
ータと基準データとを比較し、その差が予め設定した許
容差を超えている場合は不良と判定するよう構成してい
る。
４から各測定ポイントの測定が完了した時点で出力され
る判定開始指令４ｄを受けると、判定動作を開始する。
この判定手段５ｃは、各測定周波数ポイント毎に測定デ
ータと基準データとを比較し、その差が予め設定した許
容差を超えている場合は不良と判定するよう構成してい
る。
【００２５】また、測定データの周波数特性が谷点とな
る周波数を検出し、その周波数と基準データの谷点の周
波数との差が予め設定した許容差を超える場合は不良と
判定するよう構成している。
る周波数を検出し、その周波数と基準データの谷点の周
波数との差が予め設定した許容差を超える場合は不良と
判定するよう構成している。
【００２６】以上の構成であるから試料である窓ガラス
２を測定台３上の所定の位置へセットした後に、図示し
ない測定開始スイッチ等を操作すると、インピーダンス
測定装置４はアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑ間の
インピーダンスを登録した周波数ポイント毎に測定し出
力する。判定装置５は、出力された測定データを測定デ
ータ記憶手段５ｂに一時記憶し、インピーダンス測定装
置４から判定開始指令４ｄを受けると、判定動作を開始
し、判定結果を判定結果表示手段５ｄへ表示する。
２を測定台３上の所定の位置へセットした後に、図示し
ない測定開始スイッチ等を操作すると、インピーダンス
測定装置４はアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑ間の
インピーダンスを登録した周波数ポイント毎に測定し出
力する。判定装置５は、出力された測定データを測定デ
ータ記憶手段５ｂに一時記憶し、インピーダンス測定装
置４から判定開始指令４ｄを受けると、判定動作を開始
し、判定結果を判定結果表示手段５ｄへ表示する。
【００２７】図２は請求項１に係る他の導電パターンの
検査装置のブロック構成図である。この導電パターンの
検査装置１０は、インピーダンスブリッジ１２の一辺に
試料であるアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑを接続
し、インピーダンスブリッジ１２の端子１２ａ，１２ｂ
間に発生する電圧に基づいてインピーダンスに相当する
出力信号を得るインピーダンス測定装置１１を用いて評
価を行なうようにしたものである。
検査装置のブロック構成図である。この導電パターンの
検査装置１０は、インピーダンスブリッジ１２の一辺に
試料であるアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑを接続
し、インピーダンスブリッジ１２の端子１２ａ，１２ｂ
間に発生する電圧に基づいてインピーダンスに相当する
出力信号を得るインピーダンス測定装置１１を用いて評
価を行なうようにしたものである。
【００２８】インピーダンスブリッジ１２の他の３辺の
インピーダンスＺａ，Ｚｂ，Ｚｃのいずれかを可変して
ブリッジの平衡をとらずに、発生した電圧を試料である
窓ガラス２のアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑとの
間のインピーダンスに係る値をして評価するため、測定
時間の短縮を図ることができる。
インピーダンスＺａ，Ｚｂ，Ｚｃのいずれかを可変して
ブリッジの平衡をとらずに、発生した電圧を試料である
窓ガラス２のアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑとの
間のインピーダンスに係る値をして評価するため、測定
時間の短縮を図ることができる。
【００２９】測定周波数制御部１３は、測定開始指令が
与えられると可変周波数発振回路１４の発振周波数を指
定するための周波数指定情報１３ａを予め登録した順序
で出力し、一連の周波数掃引が終了すると判定開始指令
１１ｄを出力するよう構成している。
与えられると可変周波数発振回路１４の発振周波数を指
定するための周波数指定情報１３ａを予め登録した順序
で出力し、一連の周波数掃引が終了すると判定開始指令
１１ｄを出力するよう構成している。
【００３０】可変周波数発振回路１４は、周波数指定情
報１３ａで指定された周波数の高周波信号を所定のレベ
ルで出力する。可変周波数発振回路１４に電圧制御型の
発振器を用いる場合、測定周波数制御部１３は周波数指
定情報１３ａとして電圧信号を出力する。デジタル分周
式の発振回路を用いる場合は、周波数指定情報１３ａと
して分周数指定情報を供給するよう構成する。
報１３ａで指定された周波数の高周波信号を所定のレベ
ルで出力する。可変周波数発振回路１４に電圧制御型の
発振器を用いる場合、測定周波数制御部１３は周波数指
定情報１３ａとして電圧信号を出力する。デジタル分周
式の発振回路を用いる場合は、周波数指定情報１３ａと
して分周数指定情報を供給するよう構成する。
【００３１】インピーダンスブリッジ１２の端子１２
ａ，１２ｂ間の発生した高周波電圧信号は、高周波同調
増幅器１５で選択増幅され、検波整流回路１６で検波な
らびに整流されて直流信号に変換され、Ａ／Ｄ変換器１
７でデジタル信号１１ｃへ変換されて判定装置５へ供給
される。
ａ，１２ｂ間の発生した高周波電圧信号は、高周波同調
増幅器１５で選択増幅され、検波整流回路１６で検波な
らびに整流されて直流信号に変換され、Ａ／Ｄ変換器１
７でデジタル信号１１ｃへ変換されて判定装置５へ供給
される。
【００３２】高周波同調増幅器１５は、測定周波数制御
部１３から出力される周波数指定情報１３ａに基づいて
指定された周波数の信号を選択的に増幅するよう構成し
ており、これにより雑音成分の混入を軽減させ、測定精
度を向上させている。
部１３から出力される周波数指定情報１３ａに基づいて
指定された周波数の信号を選択的に増幅するよう構成し
ており、これにより雑音成分の混入を軽減させ、測定精
度を向上させている。
【００３３】判定装置５は、各記憶手段５ａ，５ｂにＡ
／Ｄ変換された電圧に係るデジタルデータが登録および
一時記憶される点を除いては、図１に示したものと基本
的に同じ構成である。
／Ｄ変換された電圧に係るデジタルデータが登録および
一時記憶される点を除いては、図１に示したものと基本
的に同じ構成である。
【００３４】以上の構成であるから、測定用導電部Ｑに
対して所定の位置にセットされた窓ガラス２のアンテナ
パターンＰの接続端子２ａと測定用導電部Ｑへ測定用プ
ローブ１１ａ，１１ｂをそれぞれ接続し、図示しない測
定開始スイッチ等を操作すると、インピーダンス測定装
置１１はアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑ間のイン
ピーダンスを登録した周波数ポイント毎に測定し、イン
ピーダンスに相当するデジタル信号を測定データ１１ｃ
としてを出力する。判定装置５は、出力された測定デー
タ１１ｃを測定データ記憶手段５ｂに一時記憶し、判定
開始指令１１ｄを受けると、判定動作を開始し、判定結
果を判定結果表示手段５ｄへ表示する。
対して所定の位置にセットされた窓ガラス２のアンテナ
パターンＰの接続端子２ａと測定用導電部Ｑへ測定用プ
ローブ１１ａ，１１ｂをそれぞれ接続し、図示しない測
定開始スイッチ等を操作すると、インピーダンス測定装
置１１はアンテナパターンＰと測定用導電部Ｑ間のイン
ピーダンスを登録した周波数ポイント毎に測定し、イン
ピーダンスに相当するデジタル信号を測定データ１１ｃ
としてを出力する。判定装置５は、出力された測定デー
タ１１ｃを測定データ記憶手段５ｂに一時記憶し、判定
開始指令１１ｄを受けると、判定動作を開始し、判定結
果を判定結果表示手段５ｄへ表示する。
【００３５】図３は請求項２に係る導電パターンの検査
装置のブロック構成図である。この導電パターンの検査
装置３０は、可変周波数信号供給手段４０と、反射信号
測定装置５０と、判定装置５からなる。
装置のブロック構成図である。この導電パターンの検査
装置３０は、可変周波数信号供給手段４０と、反射信号
測定装置５０と、判定装置５からなる。
【００３６】可変周波数信号供給手段４０は、測定周波
数制御部１３と、可変周波数発振回路１４と、電力増幅
器４１とからなる。電力増幅器４１は、可変周波数発振
回路１４から出力される高周波信号を所定のレベルに電
力増幅して反射信号測定装置５０へ供給する。測定周波
数制御部１３および可変周波数発振回路１４の構成は図
２に示したものと同じである。
数制御部１３と、可変周波数発振回路１４と、電力増幅
器４１とからなる。電力増幅器４１は、可変周波数発振
回路１４から出力される高周波信号を所定のレベルに電
力増幅して反射信号測定装置５０へ供給する。測定周波
数制御部１３および可変周波数発振回路１４の構成は図
２に示したものと同じである。
【００３７】反射信号測定装置５０は、信号分配器５１
と、方向性結合器５２と、演算手段５３とを備える。信
号分配器５１は、電力増幅器４１から供給された高周波
信号を予め設定した所定の比率で分配する。分配された
高周波信号は、演算手段５３の一方に入力端子５３ａお
よび方向性結合器５２へそれぞれ供給される。
と、方向性結合器５２と、演算手段５３とを備える。信
号分配器５１は、電力増幅器４１から供給された高周波
信号を予め設定した所定の比率で分配する。分配された
高周波信号は、演算手段５３の一方に入力端子５３ａお
よび方向性結合器５２へそれぞれ供給される。
【００３８】方向性結合器５２は、信号分配器５１から
出力された高周波信号を窓ガラス２のアンテナパターン
Ｐの接続端子２ａへ供給するとともに、アンテナパター
ンＰで反射された高周波信号を演算手段５３の他方の入
力端子５３ｂへ供給する。
出力された高周波信号を窓ガラス２のアンテナパターン
Ｐの接続端子２ａへ供給するとともに、アンテナパター
ンＰで反射された高周波信号を演算手段５３の他方の入
力端子５３ｂへ供給する。
【００３９】演算手段５３は、一方の入力端子５３ａに
印加された高周波信号のレベルと他方の入力端子５３ｂ
に印加された反射信号のレベルとの比を演算し、その演
算結果をデジタル信号の測定データ５０ａとして出力す
るよう構成している。
印加された高周波信号のレベルと他方の入力端子５３ｂ
に印加された反射信号のレベルとの比を演算し、その演
算結果をデジタル信号の測定データ５０ａとして出力す
るよう構成している。
【００４０】判定装置５の構成は先に示したものと同じ
である。なお、この実施例では測定用導電部Ｑを接地し
ている。
である。なお、この実施例では測定用導電部Ｑを接地し
ている。
【００４１】以上の構成であるから、測定用導電部Ｑに
対して所定の位置にセットされた窓ガラス２のアンテナ
パターンＰとの接続端子２ａＱへ測定用プローブ１１ａ
を接続し、図示しない測定開始スイッチ等を操作する
と、可変周波数信号供給装置４０は予め登録した周波数
ポイント毎に測定用の高周波信号を反射信号測定装置５
０へ順次供給する。反射信号測定装置５０は、アンテナ
パターンＰへの供給信号レベルとアンテナパターンＰか
らの反射信号レベルの比に相当する測定データ５０ａを
出力する。判定装置５は測定データ５０ａを測定データ
記憶手段５ｂに一時記憶し、判定開始指令４０ａが与え
られると判定動作を開始し、判定結果を判定結果表示手
段５ｄへ表示する。
対して所定の位置にセットされた窓ガラス２のアンテナ
パターンＰとの接続端子２ａＱへ測定用プローブ１１ａ
を接続し、図示しない測定開始スイッチ等を操作する
と、可変周波数信号供給装置４０は予め登録した周波数
ポイント毎に測定用の高周波信号を反射信号測定装置５
０へ順次供給する。反射信号測定装置５０は、アンテナ
パターンＰへの供給信号レベルとアンテナパターンＰか
らの反射信号レベルの比に相当する測定データ５０ａを
出力する。判定装置５は測定データ５０ａを測定データ
記憶手段５ｂに一時記憶し、判定開始指令４０ａが与え
られると判定動作を開始し、判定結果を判定結果表示手
段５ｄへ表示する。
【００４２】反射信号測定装置５０内の演算手段５３
は、試料であるアンテナパターンＰへの信号供給レベル
と反射信号レベルの比を測定データとして出力するの
で、可変周波数信号供給装置４０から供給される高周波
信号のレベルが変動しても、その影響を受けずに精度の
高い測定を行なうことができる。なお、窓ガラス２を所
定の位置にセットすることにより、アンテナパターンＰ
との接続端子２ａと測定用プローブ１１ａが接触するよ
う構成してもよい。
は、試料であるアンテナパターンＰへの信号供給レベル
と反射信号レベルの比を測定データとして出力するの
で、可変周波数信号供給装置４０から供給される高周波
信号のレベルが変動しても、その影響を受けずに精度の
高い測定を行なうことができる。なお、窓ガラス２を所
定の位置にセットすることにより、アンテナパターンＰ
との接続端子２ａと測定用プローブ１１ａが接触するよ
う構成してもよい。
【００４３】次にこの発明に係る導電パターンの検査装
置の測定例を図４〜図８を参照に説明する。図４は試料
に用いた窓ガラスアンテナのアンテナパターン形状を示
す説明図である。図４に示す窓ガラスアンテナ６０は、
２つの分岐パターン６０ａ，６０ｂと、接続端子６０ｃ
を備える。
置の測定例を図４〜図８を参照に説明する。図４は試料
に用いた窓ガラスアンテナのアンテナパターン形状を示
す説明図である。図４に示す窓ガラスアンテナ６０は、
２つの分岐パターン６０ａ，６０ｂと、接続端子６０ｃ
を備える。
【００４４】図５は分岐パターン６０ａの先端部から約
７ｍｍの点Ａで導電パターンを断線させた場合の測定結
果を示すグラフである。横軸は測定周波数を、縦軸は図
３に示した反射信号測定装置５０の測定データ出力５０
ａの値を示す。縦軸の値が大きいほど反射信号が大きい
ことを示す。
７ｍｍの点Ａで導電パターンを断線させた場合の測定結
果を示すグラフである。横軸は測定周波数を、縦軸は図
３に示した反射信号測定装置５０の測定データ出力５０
ａの値を示す。縦軸の値が大きいほど反射信号が大きい
ことを示す。
【００４５】図６は分岐パターン６０ａの先端部から約
５０ｍｍの点Ｂで断線させた場合の測定結果を示すグラ
フ、図７は分岐パターン６０ａを接続端子６０Ｃから約
１００ｍｍの点Ｃで断線させた場合の測定結果を示すグ
ラフ、図８は分岐パターン６０ｂの先端部から約１０ｍ
ｍの点Ｄで断線させた場合の測定結果を示すグラフであ
る。なお、図５〜図８では基準となる良品のガラスアン
テナの周波数特性を実線で、断線した試料の周波数特性
を点線で示している。
５０ｍｍの点Ｂで断線させた場合の測定結果を示すグラ
フ、図７は分岐パターン６０ａを接続端子６０Ｃから約
１００ｍｍの点Ｃで断線させた場合の測定結果を示すグ
ラフ、図８は分岐パターン６０ｂの先端部から約１０ｍ
ｍの点Ｄで断線させた場合の測定結果を示すグラフであ
る。なお、図５〜図８では基準となる良品のガラスアン
テナの周波数特性を実線で、断線した試料の周波数特性
を点線で示している。
【００４６】各グラフからわかるように、アンテナパタ
ーン６０ａ，６０ｂに断線が生じていると周波数特性が
変化する。特に谷点の周波数の変化に着目すると、断線
位置が分岐パターンの先端からわずかな距離であって
も、これを検出することができる。
ーン６０ａ，６０ｂに断線が生じていると周波数特性が
変化する。特に谷点の周波数の変化に着目すると、断線
位置が分岐パターンの先端からわずかな距離であって
も、これを検出することができる。
【００４７】また、パターン間の短絡が生じた場合、周
波数特性は大きく変化するのでこれを容易に検出でき
る。なお、測定に用いる周波数は、試料であるアンテナ
の受信帯域よりも広い範囲、特に高い方へ広くとった方
が、微小なパターンの変化を検出できることが多い。ま
た、アンテナパターンＰの形状に応じて測定用導電部Ｑ
の形状および配設位置関係を工夫することにより、断線
しやすい箇所の特性変化が顕著に表われるようにするこ
ともできる。
波数特性は大きく変化するのでこれを容易に検出でき
る。なお、測定に用いる周波数は、試料であるアンテナ
の受信帯域よりも広い範囲、特に高い方へ広くとった方
が、微小なパターンの変化を検出できることが多い。ま
た、アンテナパターンＰの形状に応じて測定用導電部Ｑ
の形状および配設位置関係を工夫することにより、断線
しやすい箇所の特性変化が顕著に表われるようにするこ
ともできる。
【００４８】以上、窓ガラスアンテナを例に説明した
が、この発明に係る導電パターンの検査装置は、印刷配
線板や液晶表示器等の導電パターンのチェックにも適用
することができる。
が、この発明に係る導電パターンの検査装置は、印刷配
線板や液晶表示器等の導電パターンのチェックにも適用
することができる。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように請求項１に係る導電
パターンの検査装置は、供試導電パターンと測定用導電
部との間のインピーダンスの周波数特性を求め、その周
波数特性と予め取得した基準周波数特性とに基づいて良
否を判定するので、良否判定を自動化することができ
る。
パターンの検査装置は、供試導電パターンと測定用導電
部との間のインピーダンスの周波数特性を求め、その周
波数特性と予め取得した基準周波数特性とに基づいて良
否を判定するので、良否判定を自動化することができ
る。
【００５０】請求項２に係る導電パターンの検査装置
は、供試導電パターンからの反射信号の周波数特性と予
め取得した基準周波数特性とに基づいて良否を判定する
ので、良否判定を自動化することができる。
は、供試導電パターンからの反射信号の周波数特性と予
め取得した基準周波数特性とに基づいて良否を判定する
ので、良否判定を自動化することができる。
【００５１】なお、反射信号測定装置は、供試導電パタ
ーンへ供給する交流信号の一部と反射信号との比を求め
る構成であるから、交流信号の大きさが変動してもその
影響を受けずに正確な判定を行なうことができる。
ーンへ供給する交流信号の一部と反射信号との比を求め
る構成であるから、交流信号の大きさが変動してもその
影響を受けずに正確な判定を行なうことができる。
【００５２】また、周波数特性の谷点の周波数に着目し
て良否判定を行なうことで、導電パターンのわずかな相
違を検出して判定することができる。
て良否判定を行なうことで、導電パターンのわずかな相
違を検出して判定することができる。
【図１】請求項１に係る導電パターンの検査装置のブロ
ック構成図
ック構成図
【図２】請求項１に係る他の導電パターンの検査装置の
ブロック構成図
ブロック構成図
【図３】請求項２に係る導電パターンの検査装置のブロ
ック構成図
ック構成図
【図４】試料に用いた窓ガラスアンテナのアンテナパタ
ーン形状を示す説明図
ーン形状を示す説明図
【図５】パターン断線時の周波数特性の変化を示すグラ
フ（断線点Ａ）
フ（断線点Ａ）
【図６】パターン断線時の周波数特性の変化を示すグラ
フ（断線点Ｂ）
フ（断線点Ｂ）
【図７】パターン断線時の周波数特性の変化を示すグラ
フ（断線点Ｃ）
フ（断線点Ｃ）
【図８】パターン断線時の周波数特性の変化を示すグラ
フ（断線点Ｄ）
フ（断線点Ｄ）
【図９】導通試験器を用いた従来の検査装置の説明図
【図１０】Ｑメータを用いた従来の検査装置の説明図
１，１０，３０…導電パターンの検査装置、２，６０…
窓ガラス、３…測定台、４，１１…インピーダンス測定
装置、４ｃ，１１ｃ，５０ｃ…測定データ、５…判定手
段、５ａ…基準データ記憶手段、５ｂ…測定データ記憶
手段、５ｃ…判定手段、５ｄ…判定結果表示手段、１２
…インピーダンスブリッジ、１３…測定周波数制御部、
１４…可変周波数発振回路、４０…可変周波数信号供給
装置、４０ａ…判定開始指令、５０…反射信号測定装
置、５１…信号分配器、５２…方向性結合器、５３…演
算手段、Ｐ…アンテナパターン、Ｑ…測定用導電部。
窓ガラス、３…測定台、４，１１…インピーダンス測定
装置、４ｃ，１１ｃ，５０ｃ…測定データ、５…判定手
段、５ａ…基準データ記憶手段、５ｂ…測定データ記憶
手段、５ｃ…判定手段、５ｄ…判定結果表示手段、１２
…インピーダンスブリッジ、１３…測定周波数制御部、
１４…可変周波数発振回路、４０…可変周波数信号供給
装置、４０ａ…判定開始指令、５０…反射信号測定装
置、５１…信号分配器、５２…方向性結合器、５３…演
算手段、Ｐ…アンテナパターン、Ｑ…測定用導電部。
Claims (4)
- 【請求項１】 絶縁材料からなる基板に形成された所定
の形状の導電パターンとこの導電パターンから予め設定
した間隔で配置された測定用導電部との間のインピーダ
ンスを予め設定した周波数範囲に亘って自動測定するイ
ンピーダンス測定装置と、測定によって得られたインピ
ーダンスの周波数特性と予め取得した基準導電パターン
におけるインピーダンスの周波数特性とに基づいて前記
導電パターンの良否を判定する判定装置を備えたことを
特徴とする導電パターンの検査装置。 - 【請求項２】 絶縁材料からなる基板に形成された所定
の形状の導電パターンへ供給する高周波信号の周波数を
予め設定した範囲に亘って可変する可変周波数信号供給
装置と、前記導電パターンで反射された信号の量を測定
する反射信号測定装置と、測定によって得られた反射信
号の周波数特性と予め取得した基準導電パターンにおけ
る反射信号の周波数特性とに基づいて前記導電パターン
の良否を判定する判定装置を備えたことを特徴とする導
電パターンの検査装置。 - 【請求項３】 前記反射信号測定手段は、前記高周波信
号を前記導電パターン側へ供給するとともに導電パター
ン側からの反射信号を分離出力する方向性結合器と、こ
の方向性結合器の前段側に設けられた信号分配器とを備
え、この信号分配器を介して取り出した高周波信号と前
記方向性結合器を介して取り出した反射信号との比を求
めて出力する演算手段を備えたことを特徴とする請求項
２記載の導電パターンの検査装置。 - 【請求項４】 前記判定装置は測定によって得られた周
波数特性における谷点の周波数と予め取得した基準周波
数特性の谷点の周波数とのずれに基づいて良否を判定す
ることを特徴とする請求項１および２記載の導電パター
ンの検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3207336A JPH0526944A (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | 導電パターンの検査装置 |
| EP92306812A EP0524837A1 (en) | 1991-07-24 | 1992-07-24 | System for inspecting electrically conductive pattern |
| US07/919,532 US5337004A (en) | 1991-07-24 | 1992-07-24 | System for inspecting electrically conductive patterns such as antenna patterns on window glass |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3207336A JPH0526944A (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | 導電パターンの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0526944A true JPH0526944A (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=16538061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3207336A Withdrawn JPH0526944A (ja) | 1991-07-24 | 1991-07-24 | 導電パターンの検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5337004A (ja) |
| EP (1) | EP0524837A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0526944A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030008594A (ko) * | 2001-07-19 | 2003-01-29 | 한국세큐리트 주식회사 | 자동차용 유리의 안테나 단선 검사장치 및 방법 |
| JP2005345470A (ja) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Samsung Techwin Co Ltd | 電子デバイスの検査装置 |
| KR100587794B1 (ko) * | 2005-05-25 | 2006-06-12 | 주식회사 대우일렉트로닉스 | 자동차용 안테나의 고장 진단 장치 |
| JP2009148431A (ja) * | 2007-12-20 | 2009-07-09 | Ito Chotanpa Kk | 電子治療器及び、電子治療器の断線スパーク検出回路 |
| JP2011038934A (ja) * | 2009-08-12 | 2011-02-24 | Fujitsu Ltd | バックプレーン試験システム、バックプレーン試験ボード |
| JP2014011746A (ja) * | 2012-07-02 | 2014-01-20 | Sharp Corp | アンテナ部材、通信装置および導通検査方法 |
| JP2016054465A (ja) * | 2014-09-04 | 2016-04-14 | 富士通コンポーネント株式会社 | 無線モジュール、電子モジュール及び測定方法 |
Families Citing this family (5)
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|---|---|---|---|---|
| DE19627391C1 (de) * | 1996-07-06 | 1997-12-11 | Flachglas Automotive Gmbh | Diagnoseverfahren und Diagnosesystem für Kfz-Antennenscheiben |
| DE19913954A1 (de) | 1999-03-26 | 2000-09-28 | Nokia Mobile Phones Ltd | Verfahren zur Ermittlung der Position einer in einem Antennenpfad vorhandenen Fehlstelle sowie Kommunikationsvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| US8362783B2 (en) * | 2008-08-27 | 2013-01-29 | Agc Automotive Americas Co. | Method for verifying a completeness of an antenna |
| US9885799B1 (en) | 2016-07-25 | 2018-02-06 | Hm Electronics, Inc. | Vehicle detection loop and loop deterioration assessment |
| CN109216880B (zh) * | 2018-09-03 | 2021-07-13 | 北京航天长征飞行器研究所 | 一种适用于长时气动热环境的天线窗组件及其设计方法 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2311903A1 (de) * | 1973-03-09 | 1974-09-12 | Siemens Ag | Verfahren und einrichtung zur ortung von kurzschluessen in mehrlagenverdrahtungen |
| US4276509A (en) * | 1979-03-08 | 1981-06-30 | Ppg Industries, Inc. | Probe for testing conductor of an antenna windshield |
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| US4565966A (en) * | 1983-03-07 | 1986-01-21 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method and apparatus for testing of electrical interconnection networks |
| WO1984004819A1 (en) * | 1983-05-25 | 1984-12-06 | Battelle Memorial Institute | Method for inspecting and testing an electric device of the printed or integrated circuit type |
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| US4743847A (en) * | 1985-04-01 | 1988-05-10 | International Business Machines Corporation | Printed circuit conductor test system |
| FR2585557B1 (fr) * | 1985-08-02 | 1987-11-06 | Centre Nat Rech Scient | Dispositif de mesure de caracteristiques electriques de tissus vivants, et en particulier de la temperature pour hyperthermie capacitive ou radiative |
| US4939469A (en) * | 1988-08-01 | 1990-07-03 | Hughes Aircraft Company | Non-destructive method for evaluation of printed wiring boards |
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-
1991
- 1991-07-24 JP JP3207336A patent/JPH0526944A/ja not_active Withdrawn
-
1992
- 1992-07-24 US US07/919,532 patent/US5337004A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-07-24 EP EP92306812A patent/EP0524837A1/en not_active Withdrawn
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0524837A1 (en) | 1993-01-27 |
| US5337004A (en) | 1994-08-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981008 |