JPH05265810A - 電子機器の試験メッセージ出力方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電子機器の機能試験の試験結果の出力方法に関
し、プログラム試験中に発生するメッセージを一般メッ
セージとエラーメッセージに分けて出力し、且つ、その
メッセージを表示するか、蓄積するかを指定することを
目的とする。 【構成】試験データ送出手段１０と、応答信号受信手段
２０と、記憶手段３０と、表示手段４０よりなる試験シ
ステムにおいて、試験モード設定手段５０と、試験モー
ド判定手段６０を設け、試験データ送出手段１０の送出
するデータで動作し、その応答信号を応答信号受信手段
２０で受信し、電子機器１００の試験を行うとき、試験
モード設定手段５０で、連続試験／通常試験を設定して
おき、出力すべきメッセージが発生した場合、試験モー
ド判定手段６０で何れの設定であるかを判定し、連続試
験の設定の場合には、エラーメッセージのみを出力し、
通常試験の設定の場合には、すべてのメッセージを出力
するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は電子機器の機能試験の試
験メッセージの出力方法に関する。図６は電子機器の検
査工程を説明する図である。一般的に電子機器の検査は
目視による外観的な検査と、試験機を使用する電気的な
試験がある。

【０００２】例えば、複数のプリント板パッケージを搭
載するシェルフの試験では、シェルフの機能を試験する
単体試験を行った後、シェルフを架に搭載し、架として
の機能試験を行っている。

【０００３】かかる機能試験は、電子機器の機能が高度
化、複雑化してくるに伴い、人手による試験は不可能と
なり、試験プログラムを使用しての試験が行われてい
る。図７は電子機器の試験システムの構成を説明する図
である。図中の１００は被試験体の電子機器であり、２
００は中央処理装置、３００は記憶装置、４００は入出
力装置である。

【０００４】図の構成において、入出力装置４００から
電子機器１００を試験するためのテストコマンドを投入
すると、中央処理装置２００は記憶装置３００内に格納
されているプログラムを読み出し、テストデータを作成
し、電子機器１００に対して、そのテストデータを送出
する。

【０００５】電子機器１００はそのテストデータに指定
される動作を実行し、その結果の応答信号（以下アンサ
データと称する）を返送し、中央処理装置２００はその
アンサデータと前以て準備している正解データと一致し
ているか否かチェックすることで、電子機器１００の正
常性を判断し、その試験についてのメッセージを入出力
装置４００に出力する。

【０００６】このような、電子機器の試験を効率的に行
うための試験メッセージの出力方法が要求されている。

【０００７】

【従来の技術】図８、図９は従来例のフローチャート
（１）、（２）を示す。フローチャートにより従来例の
動作を説明する。フローチャート中の丸付きアルファベ
ットは同じ丸付きアルファベットに接続される。

【０００８】 図７の構成において、入出力装置４０
０より試験プログラムを記憶装置３００に読み込み、試
験の開始コマンドを入力して試験開始を指示する。 −１〜−２ 中央処理装置２００は試験開始メッセ
ージを入出力装置４００に表示するとともに、フェーズ
（試験の単位となるテストデータ群）番号、テスト番号
を指定し、電子機器１００の試験を開始する。

【０００９】 中央処理装置２００はフェーズ開始メ
ッセージを入出力装置４００に表示する。 −１〜−２ 中央処理装置２００は記憶装置３００
に格納されたテストデータを取り出して解析し、コマン
ドを組み立てて、テストオーダを電子機器１００へ送出
する。

【００１０】−１〜−５ 起動が正常の場合には、
電子機器１００は指定の動作を実行し、アンサデータを
返送する。起動が異常の場合には、電子機器１００の動
作停止を指示し、−２に進む。

【００１１】−１〜−３ 中央処理装置２００は電
子機器１００からのアンサデータと予め記憶装置３００
に格納しておいた正解データと照合し、照合結果が一致
であれば、テスト正常とみなし、へ進み、照合結果が
不一致であれば不良とみなし、入出力装置４００にエラ
ーメッセージを出力し、へ進み試験終了メッセージを
出力する。

【００１２】−１〜−２ 中央処理装置２００は、
フェーズ内のすべての試験項目が終了か否かを判断し、
終了時にはフェーズ終了メッセージを入出力装置４００
に表示する。フェーズが未了の場合には、に戻り、次
のテストデータにより試験を実行する。

【００１３】−１〜−２ 中央処理装置２００は、
全フェーズの試験終了か否かを判断し、終了時は試験終
了メッセージを入出力装置４００に表示し、未了時は
へ戻り、次のフェーズの試験を実行する。

【００１４】以上のフローチャートにしたがって、電子
機器１００の試験プログラムによる試験を行い、試験終
了後に、試験者は入出力装置４００に出力されたエラー
メッセージをもとに障害を探索・修復し、再度プログラ
ム試験を実行し、障害修復を確認する。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】上述の従来例において
は、試験の実行に伴って発生する各種のメッセージをメ
ッセージが発生する都度、入出力装置４００への表示を
行うので下記の問題点がある。

【００１６】・通常の一般メッセージとエラーメッセー
ジが混在して表示されるため、試験者は全メッセージを
チェックし、そのメッセージよりエラー箇所を検出する
ので、エラー箇所の検出に長時間を要するとともに、エ
ラー箇所の検出を誤ることもある。

【００１７】・メッセージを常時出力しているので、紙
切れの場合には入出力装置４００の異常と判断するの
で、連続試験、エージング試験等の無人試験が不可能で
ある。本発明はプログラム試験中に発生するメッセージ
を一般メッセージとエラーメッセージに分けて出力し、
且つ、そのメッセージを表示するか、蓄積するかを指定
する電子機器の試験結果出力方法を実現しようとする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理を説
明するブロック図である。図中の１００は電子機器であ
り、１０は電子機器１００を試験するための試験データ
を送出する試験データ送出手段であり、２０は試験デー
タ送出手段１０が送出した試験データの指示にしたがっ
て、電子機器１００が動作した結果で発生する応答信号
を受信し、応答信号と正解データとを比較して電子機器
１００の動作の正常性を確認する応答信号受信手段であ
り、３０は試験メッセージを蓄積する記憶手段であり、
４０は試験メッセージを表示する表示手段である。

【００１９】また、５０は連続試験と通常試験とを指定
する試験モード設定手段であり、６０は試験モード設定
手段５０の設定が連続試験と通常試験の何れであるかを
判定する試験モード判定手段であり、試験データ送出手
段１０の送出するデータで指定の動作を行い、その応答
信号を応答信号受信手段２０で受信し、電子機器１００
の動作の正常性を確認する試験を行うとき、試験開始前
に、試験モード設定手段５０で、連続試験／通常試験を
設定しておき、試験中に出力すべきメッセージが発生し
た場合、試験モード判定手段６０で何れの設定であるか
を判定し、連続試験の設定の場合には、エラーメッセー
ジのみを出力し、通常試験の設定の場合には、すべての
メッセージを出力する。

【００２０】

【作用】試験データ送出手段１０より試験データを送出
し、電子機器１００は試験データの指定する条件にした
がって動作を行い、その結果発生する応答信号を送出す
る。

【００２１】応答信号受信手段２０は応答信号を受信
し、受信した応答信号と正解データを比較して電子機器
１００の動作の正常性を判定する。この試験に先立っ
て、試験モード設定手段５０で、連続試験／通常試験の
何れかを設定しておき、電子機器１００の試験に伴い出
力すべきメッセージが発生した場合、試験モード判定手
段６０で試験モードの判定を行い、連続試験の設定の場
合には、エラーメッセージのみを出力し、通常試験の設
定の場合には、すべてのメッセージを出力する。

【００２２】また、メッセージは表示モード設定手段に
より、記憶手段３０に蓄積するか、表示手段４０に表示
するかを指定しておき、電子機器１００の試験に伴い出
力すべきメッセージが発生した場合、表示モード判定手
段で表示モードの判定を行い、蓄積設定の場合には、メ
ッセージを記憶手段３０に蓄積し、表示設定の場合に
は、メッセージを表示手段４０に出力する。

【００２３】

【実施例】図２、図３、図４は本発明の実施例のフロー
チャート（１）、（２）、（３）である。本実施例は、
試験モードの設定と表示モードの設定を同時に行う例で
ある。フローチャート中、丸付きアルファベットは同じ
丸付きアルファベットに接続される。

【００２４】また、試験システムの構成は図７と同一の
ものとする。フローチャートの基本的な流れは図８、図
９で説明した従来例のフローチャートと同じであるが、
′として、試験開始に先立って、試験モード、表示モ
ードの設定を行うステップと、として、出力すべきメ
ッセージが発生した場合にメッセージ処理のサブルーチ
ンとを設けてある。

【００２５】さらに、試験終了の後に通常試験／連続試
験の判定を行うステップ（ａ）〜（ｄ）を設け、連続試
験の情報を表示するようにしている。以下、フローチャ
ートの要点を説明する。

【００２６】′ 試験開始に先立って、試験モード、
表示モードの設定を行うステップであり、詳細について
は後述する。 （ａ） 試験終了後、通常試験か連続試験かを判定す
る。通常試験の場合には、その状態で終了となる。連続
試験の場合には（ｂ）に進む。

【００２７】（ｂ） 障害の有無を判定する。 （ｃ） 障害がある場合には、入出力装置４００に試験
異常終了を表示し、終了となる。

【００２８】（ｄ） 障害がない場合には、入出力装置
４００に試験正常終了を表示し、終了となる。 図４は本発明の実施例の中のメッセージ処理のサブルー
チンを示す。以下フローチャートにしたがってサブルー
チンの説明を行う。

【００２９】 サブルーチン処理に入るので、サブル
ーチン処理終了後の戻りアドレスを算出する。 試験モードの判定を行い、連続の場合にはに進
み、通常の場合にはへ進む。

【００３０】 表示モードを判定する。 −１、−２ で表示モードを判定し、出力設定の
場合は通常試験であるので、全てのメッセージを入出力
装置４００に出力し、蓄積設定の場合には全てのメッセ
ージを記憶装置３００に蓄積し、の戻りアドレスに指
定されるアドレスにリターンする。

【００３１】 連続試験でメッセージが一般情報の場
合には出力する必要がないので、リターンする。 で障害情報と判定された場合は、次いで表示モー
ドを判定する。

【００３２】−１、−２ で表示モードを判定
し、出力設定の場合はエラーメッセージを入出力装置４
００に出力し、蓄積設定の場合にはエラーメッセージを
記憶装置３００に蓄積する。

【００３３】 試験異常終了を表示し、リターンす
る。 上述のフローチャートにより、試験モードの設定によ
り、通常試験／連続試験の実行が可能となり、さらに、
試験の実行に伴い出力するメッセージを記憶装置３００
に蓄積するか、入出力装置４００に出力するかを指定す
ることができる。

【００３４】次に、試験モード、表示モードの設定の例
を示す。 ￥ＲＥＧ Ｐ１，Ｐ２／ Ｐ１；試験モード Ｎ；通常試験（Normal) 通常の試験に使用し、装置の正常性確認、障害探索を行
い試験者が常に監視している。メッセージはすべて出力
する。

【００３５】Ｃ；連続試験 (Continuous) 装置の連続試験、エージング試験等に使用し、同じ試験
を複数回実行し、試験者が一定間隔で監視するか、無人
運転とする。メッセージは障害情報のみ出力する。

【００３６】Ｐ２；表示モード Ｔ；表示(Type Out) 各種メッセージを入出力装置４００に表示する。

【００３７】Ｓ；蓄積(Save) 各種メッセージを入出力装置４００または記憶装置３０
０に蓄積する。

【００３８】省略；Ｔに同じ また、出力するメッセージの例を次に示す。 試験開始 ＃＃ ＨＤ ＴＳＴ ＳＴＡＲＴ ＃＃ ＨＤ；電子機器名 試験中断 ＨＤ ＴＳＴ ＳＴＯＰ （ＥＲＲ ＣＯＤ＝００） ００；中断時のエラーコード 試験終了 ＃＃ ＨＤ ＴＳＴ ＥＮＤ ＃＃ フェーズ開始 ＃ ＰＨＡＳＥ ０１ ＳＴＡＲＴ ＃ フェーズ終了 ＃ ＰＨＡＳＥ ０１ ＧＯＯＤ ＃ （正常時） ＃ ＰＨＡＳＥ ０１ ＮＧ ＃ （異常時） エラーメッセージ ＥＲＲ−０１０１０００１ ０１０１０００１；エラー番号 ＣＯＲ；ＸＸＸＸＸＸＸＸ （正解データ） ＲＳＬ；ＸＸＸＸＸＸＸＸ （アンサデータ） 図５は本発明の実施例の一般メッセージとエラーメッセ
ージの区分方法を示す図である。

【００３９】メッセージは１バイト（８ビット）単位で
構成され、記憶装置３００上に準備しておき、そのデー
タを入出力装置４００に出力することで、メッセージと
して表示する。

【００４０】ここで、メッセージの１バイトの中の７ビ
ットをデータとして使用し、未使用の最上位ビットを一
般メッセージとエラーメッセージの切り分けに使用す
る。例えば、メッセージとして０、０、０、１を出力す
るとき、バイト構成は３０、３０、３０、３１（例え
ば、ＡＳＣIIコード）となるが、最上位のビットは使用
していないので、ここに、「０」を指定することにより
一般メッセージとし、「１」を指定することによりエラ
ーメッセージとして、メッセージの切り分けを容易に行
うことができる。

【００４１】

【発明の効果】本発明によれば、試験プログラムを使用
して電子機器の試験を行うとき、試験モードを設定する
ことにより、通常の有人試験と連続試験等の無人試験が
可能となる。

【００４２】また、メッセージを表示と蓄積の何れかを
設定することにより、蓄積する場合はプリンタの出力用
紙の使用量を低減できる。さらに、メッセージの先頭バ
イトの先頭１ビットを使用して、障害メッセージ、一般
メッセージのの切り分けを、容易に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の原理を説明するブロック図

【図２】 本発明の実施例のフローチャート（１）

【図３】 本発明の実施例のフローチャート（２）

【図４】 本発明の実施例のフローチャート（３）

【図５】 本発明の実施例の一般メッセージとエラーメ
ッセージの区分方法

【図６】 電子機器の検査工程を説明する図

【図７】 電子機器の試験システムの構成を説明する図

【図８】 従来例のフローチャート（１）

【図９】 従来例のフローチャート（２）

【符号の説明】

１０ 試験データ送出手段 ２０ 応答
信号受信手段 ３０ 記憶手段 ４０ 表示
手段 ５０ 試験モード設定手段 ６０ 試験
モード判定手段 １００ 電子機器 ２００ 中
央処理装置 ３００ 記憶装置 ４００ 入
出力装置

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子機器（１００）の試験結果を出力す
   る方法であって、 前記電子機器（１００）を試験するための試験データを
   送出する試験データ送出手段（１０）と、 前記試験データ送出手段（１０）が送出した試験データ
   の指示にしたがって、前記電子機器（１００）が動作し
   た結果で発生する応答信号を受信し、応答信号と正解デ
   ータとを比較して前記電子機器（１００）の動作の正常
   性を確認する応答信号受信手段（２０）と、 前記試験メッセージを蓄積する記憶手段（３０）と、 前記試験メッセージを表示する表示手段（４０）よりな
   る試験システムにおいて、 連続試験と通常試験とを指定する試験モード設定手段
   （５０）と、 前記試験モード設定手段（５０）の設定が連続試験と通
   常試験の何れであるかを判定する試験モード判定手段
   （６０）を設け、 前記試験データ送出手段（１０）の送出するデータで動
   作し、その応答信号を応答信号受信手段（２０）で受信
   し、前記電子機器（１００）の動作の正常性を確認する
   試験を行うとき、試験開始前に、前記試験モード設定手
   段（５０）で、連続試験／通常試験を設定しておき、試
   験中に出力すべきメッセージが発生した場合、前記試験
   モード判定手段（６０）で何れの設定であるかを判定
   し、連続試験の設定の場合には、エラーメッセージのみ
   を出力し、通常試験の設定の場合には、すべてのメッセ
   ージを出力することを特徴とする電子機器の試験メッセ
   ージ出力方法。
2. 【請求項２】 前項記載の試験システムにおいて、 試験中に発生するメッセージを前記記憶手段（３０）に
   蓄積するか、前記表示手段（４０）に表示するかを指定
   する表示モード設定手段と、 前記表示モード設定手段の設定が前記記憶手段（３０）
   への蓄積、前記表示手段（４０）への表示のいずれであ
   るかを判定する表示モード判定手段を設け、 試験開始前に、前記表示モード設定手段で、前記記憶手
   段（３０）への蓄積、前記表示手段（４０）への表示の
   何れかを設定しておき、試験中に出力すべきメッセージ
   が発生した場合、前記表示モード判定手段で何れの設定
   であるかを判定し、前記記憶手段（３０）への蓄積設定
   の場合には、メッセージを前記記憶手段（３０）に蓄積
   し、前記表示手段（４０）への出力設定の場合には、メ
   ッセージを前記表示手段（４０）に出力することを特徴
   とする請求項１記載の電子機器の試験メッセージ出力方
   法。
3. 【請求項３】 前項記載の試験システムにおいて、 メッセージの先頭バイトの先頭の１ビットを一般メッセ
   ージとエラーメッセージの切り分けに使用することを特
   徴とする請求項１記載の電子機器の試験メッセージ出力
   方法。