JPH05264912A - 走査光ビーム位置検出装置 - Google Patents

走査光ビーム位置検出装置

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JPH05264912A
JPH05264912A JP9387592A JP9387592A JPH05264912A JP H05264912 A JPH05264912 A JP H05264912A JP 9387592 A JP9387592 A JP 9387592A JP 9387592 A JP9387592 A JP 9387592A JP H05264912 A JPH05264912 A JP H05264912A
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JP
Japan
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light beam
scanning
optical fiber
scanning light
fluorescent optical
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Pending
Application number
JP9387592A
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English (en)
Inventor
Jun Nonaka
純 野中
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 安定した精度で走査光ビームの位置検出を行
うことができ、また、部品コストを低く押えることがで
きる走査光ビーム位置検出装置を提供する。 【構成】 走査方向Bに沿って複数の透光孔21が列設
されたスリット20に走査光ビームL2を入射させ、透
光孔21を透過した走査光ビームL2を蛍光性光ファイ
バ90の周面92に入射させ、その両端面91に導光さ
れた走査光ビームL2を受光素子100で受光するに際
して、蛍光性光ファイバ90を、走査光ビームL2の受
光時に受光素子100から出力される信号のレベルが、
走査方向Bにおける走査光ビームL2の蛍光性光ファイ
バ90への入射位置に関わらず常に所定値以上となる長
さとし、スリット20と蛍光性光ファイバ90の間に、
透光孔21を透過する走査光ビームL2を蛍光性光ファ
イバ90の周面92に集束させる集束レンズ80を配設
した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、所定方向に走査移動す
る走査光ビームの位置を検出する装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来より、図2に示すように、一般的な
レーザフォトプロッタにおける走査光学系10において
は、印刷情報で変調された光源11からの光ビームL1
0をビームスプリッタ17を介してポリゴンミラー12
に入射させて主走査方向Aに走査偏向させ、走査偏向さ
れた走査光ビームL1をfθレンズ13及び反射ミラー
14を介してコンデンサレンズ15に導き、このコンデ
ンサレンズ15により前記走査光ビームL1が走査対象
16の走査面に垂直に入射されるようにしている。
【0003】また、図2の走査光学系10では、前記主
走査方向Aにおける走査光ビームL1の位置検出を行う
ために、前記光源11とは別の案内光ビームL20を常
時出力する光源18を設けており、光源18からの案内
光ビームL20をビームスプリッタ17を介してポリゴ
ンミラー12に入射させて走査偏向させ、走査偏向され
た走査光ビームL2を反射ミラー14で反射させた後
に、前記走査光ビームL1が入射されない位置に配設さ
れた反射ミラー19で再度反射させている。
【0004】そして、反射後の走査光ビームL2の走査
方向Bに沿って複数の透光孔21が列設されたスリット
20に走査光ビームL2を導き、走査方向Bへの移動に
伴って各透光孔21を透過する走査光ビームL2をスリ
ット20の背面側で検出して、その検出数をカウントす
ることにより主走査方向Aにおける走査光ビームL1の
位置を検出するようにしている。
【0005】図3は、スリット20の背面側で各透光孔
21を透過する走査光ビームL2を検出するための従来
構成例を示すもので、図3の構成では、スリット20の
背面側に、走査光ビームL2の走査方向Bにおいてスリ
ット20と略同一長の蛍光性光ファイバ50をスリット
20と並行して配設し、この蛍光性光ファイバ50の両
端面51に受光素子70の受光面71を臨ませて、各透
光孔21を透過する走査光ビームL2を蛍光性光ファイ
バ50の周面52に入射させて該蛍光性光ファイバ50
により両受光素子70の受光面71に導光している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図3に示す従
来構成では、スリット20と略同一長の蛍光性光ファイ
バ50を必要とするため、走査光ビームL2の走査範囲
が広い場合には、スリット20の両端に近い透光孔21
を透過する走査光ビームL2と、スリット20の中央に
近い透光孔21を透過する走査光ビームL2とでは、蛍
光性光ファイバ50内を導光される距離にかなりの差が
生じ、走査方向Bにおける走査光ビームL2の位置によ
って蛍光性光ファイバ50内を導光される走査光ビーム
L2の減衰率が異なることから、走査光ビームL2を受
光する受光素子70の受光レベルが大きくばらついて、
走査光ビームL1の位置検出に狂いが生じる場合がある
と共に、走査方向Bにおけるスリット20の長さと略同
一長の長尺で傷のない蛍光性光ファイバが必要となり、
高価な部品となる不具合があった。
【0007】本発明は上述の問題に鑑みてなされたもの
で、走査光ビームの走査範囲が広い場合にも走査光ビー
ムの位置を正確に検出することができ、また、部品コス
トを低く押えることができる走査光ビーム位置検出装置
を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、走査光ビームの光路上に配設され、該走査
光ビームを透過させる透光孔が前記走査光ビームの走査
方向に沿って複数設けられたスリットと、前記スリット
を透過した走査光ビームが通過する箇所に前記走査光ビ
ームの走査方向に沿って延設され、前記走査光ビームが
その周面から入射される蛍光性光ファイバと、前記蛍光
性光ファイバの周面から入射された前記走査光ビームを
該蛍光性光ファイバの端面において受光する受光素子と
を備える走査光ビーム位置検出装置であって、前記蛍光
性光ファイバを、該蛍光性光ファイバの周面から入射さ
れて前記受光素子に受光される前記走査光ビームの光量
が蛍光性光ファイバの長さ方向の全域で所定値以上とな
る長さで形成し、前記スリットと前記長さの蛍光性光フ
ァイバとの間に、前記スリットを透過する走査光ビーム
を該蛍光性光ファイバの周面に集束させる集束レンズを
配設したことを特徴とする。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面に基づい
て説明する。図1は、図2の構成による走査光学系10
に適用される、本発明の一実施例による走査光ビーム位
置検出装置の要部構成を示す説明図であり、図1中図2
と同一の要素には図2で付したものと同一の引用符号を
付し、その説明を省略する。
【0010】そして、図1に示す本実施例の走査光ビー
ム位置検出装置では、スリット20の背面側に、該スリ
ット20と略同一長の集束レンズ80をスリット20と
並行して配設し、この集束レンズ80がスリット20と
の間に位置するように蛍光性光ファイバ90をスリット
20と並行して配設している。また、蛍光性光ファイバ
90の両端面91には、蛍光性光ファイバ90の周面9
2から入射されて両端面91に導光された走査光ビーム
L2の受光時に信号を出力する受光素子100の受光面
101を臨ませており、この受光素子100には、受光
素子100から出力される所定レベル以上の信号のカウ
ント数に基づいて走査光ビームL1の位置を検出する検
出部(図示せず)が接続されている。
【0011】尚、走査光ビームL2の走査方向Bにおけ
る蛍光性光ファイバ90の長さは、走査光ビームL2の
受光時に受光素子100から出力される信号のレベル
が、走査光ビームL2の走査方向Bにおける該走査光ビ
ームL2の蛍光性光ファイバ90への入射位置に関わら
ず常に前記所定レベル以上となる長さで形成されてお
り、本実施例では、前記スリット20が走査光ビームL
2の走査方向Bに700mm程度の長さを有しているの
に対して、蛍光性光ファイバ90は前記走査方向Bにお
ける長さが約100mm程度とされている。
【0012】このような構成による本実施例の走査光ビ
ーム位置検出装置では、走査方向Bへの移動に伴って各
透光孔21を透過する走査光ビームL2が集束レンズ8
0により蛍光性光ファイバ90の周面92に集束され、
蛍光性光ファイバ90の周面92に入射された走査光ビ
ームL2が蛍光性光ファイバ90を導光されて両端面9
1に至り、この両端面91に配置された受光素子100
の受光面101に入射される。
【0013】そして、図1に示すような構成とすること
により、蛍光性光ファイバ90の周面92に入射されて
両端面91に導光された走査光ビームL2を受光した時
の受光素子100の出力信号レベルを、常に検出に支障
のない信号レベルとすることができ、よって、走査光ビ
ームL1や走査光ビームL2の走査範囲が広い場合に
も、走査光ビームL1の位置を正確に検出することがで
きる。また、走査方向Bにおける長さがスリット20に
比べてかなり短い100mm程度の蛍光性光ファイバ9
0を用いることができるので、蛍光性光ファイバ90の
部品コストを低く押えることができる。
【0014】尚、集束レンズ80としては例えばフレネ
ルレンズ等が適用される。また、本発明が適用される走
査光学系は図2に示す構成のものに限定されず、例えば
レーザプリンタ等における走査光学系のようにコンデン
サレンズ15が省略された走査光学系であってもよい。
【0015】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、走査光
ビームの走査方向に沿って複数の透光孔が設けられたス
リットに前記走査光ビームを入射させ、前記スリットを
透過した走査光ビームを蛍光性光ファイバの周面に入射
させ、入射した走査光ビームを前記蛍光性光ファイバの
端面に導光して受光素子で受光するに際して、前記スリ
ットを透過する走査光ビームを集束レンズで蛍光性光フ
ァイバの周面に集束させるようにしたので、スリットの
長さに合わせた長尺で傷のない蛍光性光ファイバが不要
となり、走査光ビームの主走査範囲に比べて短い長さの
蛍光性光ファイバを用いることができ、よって、蛍光性
光ファイバの部品コストを低く押えることができる。
【0016】そして、集束レンズで集束された走査光ビ
ームが周面から入射される前記蛍光性光ファイバを、該
蛍光性光ファイバの周面から入射されて前記受光素子に
受光される前記走査光ビームの光量が蛍光性光ファイバ
の長さ方向の全域で所定値以上となる長さで形成するこ
とにより、前記走査光ビームを蛍光性光ファイバの端面
で受光する受光素子の出力信号レベルを、走査光ビーム
の走査方向における位置によらず常に検出に支障のない
信号レベルとすることができるので、走査光ビームの位
置を正確に検出することができる。
【0017】また、集束レンズは、スリットを透過する
走査光ビームを蛍光性光ファイバの周面に集束させれば
よいので、精度の高いレンズを用いなくてもよいという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による走査光ビーム位置検出
装置の要部構成を示す説明図である。
【図2】図1の走査光ビーム位置検出装置が適用される
一般的なレーザフォトプロッタにおける走査光学系の構
成の一例を示す説明図である。
【図3】従来の走査光ビーム位置検出装置における要部
構成の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
20 スリット 21 透光孔 80 集束レンズ 90 蛍光性光ファイバ 91 蛍光性光ファイバ端面 92 蛍光性光ファイバ周面 100 受光素子 B 走査光ビーム走査方向 L2 走査光ビーム

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 走査光ビームの光路上に配設され、該走
    査光ビームを透過させる透光孔が前記走査光ビームの走
    査方向に沿って複数設けられたスリットと、 前記スリットを透過した走査光ビームが通過する箇所に
    前記走査光ビームの走査方向に沿って延設され、前記走
    査光ビームがその周面から入射される蛍光性光ファイバ
    と、 前記蛍光性光ファイバの周面から入射された前記走査光
    ビームを該蛍光性光ファイバの端面において受光する受
    光素子とを備える走査光ビーム位置検出装置であって、 前記蛍光性光ファイバを、該蛍光性光ファイバの周面か
    ら入射されて前記受光素子に受光される前記走査光ビー
    ムの光量が蛍光性光ファイバの長さ方向の全域で所定値
    以上となる長さで形成し、 前記スリットと前記長さの蛍光性光ファイバとの間に、
    前記スリットを透過する走査光ビームを該蛍光性光ファ
    イバの周面に集束させる集束レンズを配設した、 ことを特徴とする走査光ビーム位置検出装置。
JP9387592A 1992-03-19 1992-03-19 走査光ビーム位置検出装置 Pending JPH05264912A (ja)

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