JPH05264660A - テストデータ作成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電子回路の機能動作の検証に必要なテストデ
ータの作成方法に関し、テストデータの一部を構成する
外部端子の情報を自動的に作成することを目的とする。 【構成】 電子回路の回路図または機能図を作成するた
めの回路情報２を入力したときに編集処理部３が該回路
情報を編集して出力情報記憶部６に回路図／機能図デー
タ４を出力する回路図／機能図編集プログラム１内に、
変更が確認された外部端子の情報を抽出し、外部端子変
更情報７として出力情報記憶部に出力する外部端子変更
情報抽出手段５と、回路情報とともに入力されるテスト
データ名８をテストデータ指定情報10として出力情報記
憶部に出力するテストデータ名転送手段９を備え、テス
トデータ作成更新手段11がテストデータ指定情報により
定められたテストデータ記憶手段12内のテストデータ領
域13に、外部端子の情報を外部端子情報14として記憶さ
せるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子回路の機能動作の
検証に必要なテストデータの作成方法に関する。

【０００２】近年、電子回路の設計は人手のみで行わず
に、コンピュータシステムを利用して行うのが常識とな
っている。例えば、実際に使用できる回路素子に制約さ
れることなく機能単位の論理回路で電子回路を構成した
機能図や、実際に使用可能な回路素子により電子回路を
構成した回路図等は、回路情報を例えば回路図／機能図
エディタと呼ばれるプログラムに入力して作成する。ま
た、機能図から回路図を作成したり、回路図の冗長箇所
を整理するなどの場合には論理合成プログラム等を用い
る。

【０００３】一方、上記によって作成された回路図また
は機能図を持つ電子回路の機能動作は、別に作成したシ
ミュレーションプログラムやテストプログラムにより確
認する。このうち、シミュレーションプログラムは電子
回路の内部の状態までを対象として論理動作を検証する
ものであるが、テストプログラムは外部端子に入出力さ
れる信号を確認することによって電子回路の機能動作を
検証するものである。

【０００４】このテストプログラムの処理部分はテスト
プログラム作成用プログラムを用いて作成されることも
あるが、人手により作成されるのが一般的である。ま
た、テストプログラムを作成するに当たっては各種の試
験条件をテストデータとして設定する必要があるが、テ
ストプログラムは前記のようにすべての試験が外部端子
を用いて行われるため、試験対象の電子回路の全外部端
子の名称と、各外部端子の属性、即ち、その端子が入力
端子、出力端子または入出力（双方向）端子の何れであ
るかを示す情報をテストデータに入力しておくことは常
に必要となる。

【０００５】従来、テストデータ作成の一環としての外
部端子の名称及び属性の入力はすべて人手により行われ
ているため、電子回路を新規に設計したときは勿論、回
路図や機能図が変更される都度、外部端子の情報を入力
または更新しなければならなかった。この作業は人手に
よるため、多くの手間を要するのみでなく、ミスを生じ
易いと言う問題を有している。

【０００６】このため、回路図や機能図の作成時または
変更時に自動的に外部端子の情報を抽出してテストデー
タに組み込むテストデータ作成方法が求められている。

【０００７】

【従来の技術】図５は従来技術によるテストデータ作成
方法の説明図である。図５は、コンピュータシステムを
利用して電子回路の機能図や回路図等を作成する手順
と、作成した電子回路の機能動作を検証するテストプロ
グラムに必要なテストデータを作成する手順を合わせて
図示したものである。

【０００８】コンピュータシステムにより電子回路の機
能図または回路図を作成する方法としては図５に示すよ
うに、機能図または回路図を作成するのに必要な回路情
報52を回路図／機能図編集プログラム（以下、エディタ
と記す）51に入力すると、エディタ51内の編集処理部53
が入力された回路情報を編集し、出力として回路図／機
能図データ54を出力する。

【０００９】上記における回路情報52は、通常回路素子
と結線部分などをグラフィック形式で指定する方法で入
力され、出力される回路図／機能図データ54には外部端
子情報、回路素子（通常、セルと呼ばれる）情報、素子
間を接続する結線情報、などが含まれる。この回路図／
機能図データ54は印刷形式で出力することも可能である
が、記憶装置（図示省略）に出力して記憶させるのが普
通である。

【００１０】コンピュータシステムを利用して回路図や
機能図等を作成する方法としては、上記エディタのほか
に、論理合成と呼ばれる方法がある。機能図は通常、実
際に使用できる回路素子に制約されることなく機能単位
の論理回路図として作成されるが、回路図は実際に使用
する部品を用いて作成する。従って、機能図から回路図
を作成するためには機能図の各論理回路を実際に使用す
る部品を用いて再構成する必要がある。

【００１１】図５の論理合成プログラム61は上記の処理
を行うもので、論理合成処理部63がテクノロジ・マッピ
ングと呼ばれる論理合成処理を行う。図５の論理合成処
理部63は、機能図に示された論理回路を指定されたテク
ノロジのセルに置換するなどの処理を行うが、通常スキ
ャンパスを生成する機能などを有しており、その際に外
部端子を追加するような処理も行われる。その他、階層
構造をもつ電子回路などで出力端子の駆動能力が不足す
ることが判明した場合などにも外部端子を増加する変更
が行われる。

【００１２】論理合成プログラム61は機能図データから
回路図データを作成するのに用いられるのが主である
が、回路図データを入力した場合にも回路の冗長箇所が
整理されるため、回路図データが入力される場合もあ
る。このため、図５では入力が回路図／機能図データ6
2、出力が回路図データ（論理合成後）64となってい
る。なお、回路図／機能図データ62にはエディタ51で出
力された回路図／機能図データ52を使用できる。

【００１３】エディタ51または論理合成プログラム61に
より出力された回路図／機能図データ54または回路図デ
ータ（論理合成後）64に従って作成された電子回路の機
能動作の検証はテストプログラムにより行うが、テスト
プログラムの作成に先立ち、試験条件をテストデータに
まとめる必要がある。試験条件には多種類のものがある
が、試験の際に入出力を行う全外部端子の名称と属性を
明確にすることは常に必要である。属性は前記したよう
に各外部端子が入力端子／出力端子／双方向端子（以
下、Ｉ／Ｏ／Ｂと記す）の何れであるかを示すものであ
る。

【００１４】以下、従来技術においてテストデータに外
部端子の情報を入力する方法を図５により説明する。図
５ではテストデータはテストデータファイル70に記憶さ
れている。テストデータはそれぞれ名称を付して複数作
成されることが多いが、図５ではテストデータ71で代表
させている。テストデータ71内に外部端子情報72を記憶
させる処理は外部端子情報入力部69において行われる
が、外部端子情報入力部69における処理は実際には図示
省略された入力機器を用いて人間が図面を見ながら入力
する作業となる。

【００１５】上記の図面としてエディタ51または論理合
成プログラム61によって作成された回路図／機能図デー
タ62または回路図データ（論理合成後）64を用いる場
合、これらが記憶装置（図示省略）内に記憶されている
ときはこれを可視情報に変える必要がなる。この処理は
図５に示すように、回路図／機能図データ62または回路
図データ（論理合成後）64をプリントアウト処理部65に
入力し、それぞれ印刷形式の回路図／機能図66または回
路図（論理合成後）67に変換する。なお、この場合の出
力形式は図形形式またはデータ形式のいずれでもよい。

【００１６】電子回路が新規設計のものであれば、プリ
ントアウトされた回路図／機能図66または回路図（論理
合成後）67に記載されている外部端子はすべて新規端子
となるので、全外部端子の名称と属性を外部端子変更情
報入力部69よりテストデータファイル70に入力し、テス
トデータ71内に外部端子情報72として記録する。

【００１７】電子回路が既設計または設計過程にあるも
ので、回路図／機能図66または回路図（論理合成後）67
が既に作成されたものの修正版である場合には、外部端
子が追加されたか、削除されたか、或いは名称または属
性に変更があったかを確認する必要がある。このため、
テストデータ71内に既に記憶されている外部端子情報72
をプリントアウト処理部65に入力し、外部端子情報（変
更前）68としてプリントアウトする。外部端子変更情報
入力部69においては修正後の回路図／機能図66または回
路図（論理合成後）67に記載されている外部端子をこの
外部端子情報（変更前）68と比較しながら変更された外
部端子の情報を入力し、外部端子情報72を更新する。

【００１８】上記外部端子変更情報入力部69における外
部端子の変更の有無の確認と外部端子情報の入力は前記
したようにすべて人手によって行われるため、テストデ
ータの一部を構成する外部端子情報の作成のみでも多く
の人手が必要となり、また、人手により行うためミスも
生じ易い。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】電子回路のテストデー
タの一部である外部端子情報の作成は、従来、人手によ
り行われているため、大きな労力を要するうえ、ミスが
生じ易いという問題がある。

【００２０】本発明は、テストデータの一部を構成する
外部端子の情報を自動的に作成することを目的とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】図１及び図２は本発明の
原理説明図である。図中、２は電子回路の回路図または
機能図（以下、回路図／機能図と記す）を作成するため
の回路情報、１は該回路情報２を入力したときに出力情
報記憶部６に回路図／機能図データ４を出力する機能図
／回路図編集プログラム、３は該回路図／機能図編集プ
ログラム１内において入力された回路情報２を編集して
回路図／機能図データ４を出力する編集処理部である。

【００２２】５及び９は前記回路図／機能図編集プログ
ラム１内に備えられ、５は前記編集処理部３において変
更が確認された外部端子の情報を抽出し、外部端子変更
情報７として前記出力情報記憶部６に出力する外部端子
変更情報抽出手段、９は前記回路情報２とともに入力さ
れるテストデータ名８をテストデータ指定情報10として
前記出力情報記憶部６に出力するテストデータ名転送手
段である。

【００２３】また、22は論理合成を行う電子回路の回路
図データまたは機能図データ、21は該回路図データまた
は機能図データ22を入力したときに出力情報記憶部６に
論理合成を行った回路図データ24を出力する論理合成プ
ログラム、23は論理合成プログラム21内において入力さ
れた回路図データまたは機能図データ22の論理合成処理
を行って回路図データ（論理合成後）24を出力する論理
合成処理部である。

【００２４】25及び29は前記論理合成プログラム21内に
備えられ、25は前記論理合成処理部23において変更が確
認された外部端子の情報を抽出し、外部端子変更情報27
として前記出力情報記憶部６に出力する外部端子情報抽
出手段、29は前記回路図データまたは機能図データ22と
ともに入力されるテストデータ名28をテストデータ指定
情報30として前記出力情報記憶部６に出力するテストデ
ータ名転送手段である。

【００２５】12はテストデータを記憶するテストデータ
記憶手段、13は前記テストデータ指定情報10及び30によ
りテストデータ記憶手段12内に定められるテストデータ
領域、14は該テストデータ領域13内に記憶される外部端
子情報である。11は前記テストデータ領域13内に前記外
部端子変更情報７及び27に示された外部端子の変更情報
を外部端子情報14として記憶させるテストデータ作成更
新手段である。

【００２６】

【作用】図１において、回路図／機能図データ４を作成
するために回路図／機能図編集プログラム１に回路情報
２を入力すると、回路図／機能図編集プログラム１内の
編集処理部３は入力された回路情報２を編集して回路図
／機能図データ４を作成し、出力情報記憶部６に出力し
て記憶させる。

【００２７】上記編集処理部３における編集処理過程に
おいて外部端子変更情報抽出手段５は編集処理部３にお
いて変更が確認された外部端子の情報を抽出し、外部端
子変更情報７として前記出力情報記憶部６に出力し、記
憶させる。

【００２８】また、回路図／機能図編集プログラム１に
は回路情報２とともにテストデータ名８が入力される
が、回路図／機能図編集プログラム１内のテストデータ
名転送手段９はこのテストデータ名８をテストデータ指
定情報10として前記出力情報記憶部６に出力して記憶さ
せる。

【００２９】テストデータ作成更新手段11は、出力情報
記憶部６に記憶された前記テストデータ指定情報10と外
部端子変更情報を入力し、テストデータ記憶手段12内に
テストデータ領域13を確保し、確保したテストデータ領
域13内に前記外部端子変更情報７の内容を外部端子情報
14として記憶させる。

【００３０】以上のように、図３では回路図／機能図デ
ータ４を作成する際に、その回路図／機能図データ４を
もつ電子回路（図示省略）のテストデータ名と該テスト
データを構成する外部端子の変更情報情報が同時に記憶
され、記憶された情報をテストデータ作成更新手段11が
処理することによりテストデータ記憶手段12にテストデ
ータ領域13が確保され、かつ、確保されたテストデータ
領域13内にテストデータの一部を構成する外部端子の情
報が記憶される。

【００３１】従って、回路図／機能図データとテストデ
ータが同一時期に処理されるため、一元的に管理するこ
とができ、かつテストデータ作成更新手段11の処理によ
り外部端子情報が記録されたテストデータが自動的に作
成できる。

【００３２】図２において、論理合成を行うために論理
合成プログラム21に回路図／機能図データ22を入力する
と、論理合成プログラム21内の論理合成処理部23は論理
合成処理を行って回路図データ（論理合成後）24を作成
し、出力情報記憶部６に出力して記憶させる。

【００３３】上記論理合成処理部23における論理合成処
理過程において外部端子変更情報抽出手段25は論理合成
処理部23において変更が確認された外部端子の情報を抽
出し、外部端子変更情報27として前記出力情報記憶部６
に出力し、記憶させる。

【００３４】また、論理合成プログラム21内のテストデ
ータ名転送手段29は入力されたテストデータ名28をテス
トデータ指定情報30として前記出力情報記憶部６に出力
して記憶させる。

【００３５】テストデータ作成更新手段11は、出力情報
記憶部６に記憶された前記テストデータ指定情報30と外
部端子変更情報27を入力し、テストデータ記憶手段12内
にテストデータ領域13を確保し、確保したテストデータ
領域13内に前記外部端子変更情報７の内容を外部端子情
報14として記憶させる。

【００３６】以上のように、図４では論理合成処理を行
う際にテストデータの情報が同時に記憶され、記憶され
た情報をテストデータ作成更新手段11が処理することに
よりテストデータ記憶手段12にテストデータ領域13が確
保され、外部端子の情報が記憶される。

【００３７】従って、図３におけると同様、論理合成後
の回路図データとテストデータを一元的に管理すること
ができ、かつテストデータ作成更新手段11の処理により
外部端子情報が記録されたテストデータが自動的に作成
できる。

【００３８】

【実施例】図３は本発明の実施例のテストデータ作成方
法の説明図、図４は本発明の実施例の処理フロー図であ
る。

【００３９】図３は図１及び図２の原理説明図に基づく
実施例を合わせて示しているが、全図を通じ同一記号は
同一対象を示し、１はエディタ（回路図／機能図編集プ
ログラム）、11はテストデータ作成更新手段11を実現す
るテストデータ作成更新プログラム、12はテストデータ
記憶手段12の実現形態であるテストデータファイルであ
る。また、13はテストデータであるが、図３では図１及
び図２のテストデータ領域13内に記憶された複数のテス
トデータとして記載されている。

【００４０】以下、図３により、エディタ１が回路図ま
たは機能図を作成する場合について説明するが、エディ
タ１により電子回路の回路図または機能図を作成する方
法は、エディタ１より出力される回路図／機能図データ
４が出力情報記憶部６内に記憶されるようになっている
点（図５では図示省略）を除き、図５により説明した従
来技術と同一であるので重複する説明を省略し、テスト
データ作成方法を主体に説明する。

【００４１】図３における回路情報２は通常グラフィッ
ク形式で入力されるが、回路情報２には回路を構成する
素子名、外部端子の名称と属性（Ｉ／Ｏ／Ｂの別）、素
子間を接続するための結線情報などが含まれる。機能図
と回路図の相違は前記したように、機能図が素子の実際
の構成、例えば、ピン数やビット数が実際の回路素子に
存在しない数値となる場合があるのに対して、回路図は
実際に使用可能な回路素子により構成される点である
が、テストデータ作成の上では両者を区別する必要がな
いので、以下、特に両者を区別しないで説明する。

【００４２】作成しようとしている回路図／機能図が既
設計または設計過程の回路図／機能図を修正するもので
あって、今回の処理において外部端子に変更が生じてい
るとすれば、変更される外部端子は、新たに追加される
端子（追加端子と記し、ＡＤＤの記号を用いる）、削除
される端子（削除端子、ＤＥＬ）、端子名または属性が
変わる端子（変更端子、ＲＥＮ）のいずれかとなる。こ
のため、回路情報２内の外部端子情報には端子の名称
（変更端子の場合は旧端子名と新端子名の両方を含
む）、属性とともに上記変更内容の識別記号が含まれ
る。エディタ２で作成する回路図または機能図が新規の
ものである場合には、すべての外部端子を上記の追加端
子として扱うことにより外部端子情報を一律に取り扱う
ことができる。

【００４３】編集処理部３が回路図／機能図データ４を
作成するために入力の回路情報２を編集する処理を行う
過程において、変更（新規作成の場合の追加端子を含
む）されている外部端子が処理されるとき、外部端子変
更情報抽出処理部５はこの変更外部端子を抽出し、端子
名、変更内容及び属性からなる外部端子変更情報を出力
情報記憶部６内に記憶させる。

【００４４】図３においては、エディタ１により回路図
／機能図データ４を作成または更新する際に、回路情報
２とともに、作成または更新対象の電子回路の検証用の
テストプログラムに使用されるテストデータ名を入力す
る。入力されたテストデータ名８はテストデータ名転送
処理部９によって出力情報記憶部６内にテストデータ名
情報10として記憶される。

【００４５】従って、図３ではエディタ１による回路図
／機能図データの作成更新処理の際にテストデータ名と
テストデータを構成する外部端子の情報が回路図／機能
図データ４とともに記憶部６に出力され、回路図／機能
図データとテストデータが同時に管理されることとな
る。

【００４６】論理合成プログラム21により論理合成を行
う処理も図５により説明した従来技術と同一であるので
重複する説明を省略するが、この場合も論理合成プログ
ラム21より出力される回路図データ（論理合成後）24は
出力情報記憶部６（図５では図示省略）内に記憶され
る。また、論理合成プログラム21による論理合成処理過
程においてテストデータを作成方法はエディタ１により
電子回路の回路図または機能図を作成する場合と類似し
ているので、説明を簡単な内容に留める。

【００４７】外部端子変更情報抽出処理部25は論理合成
処理部23の処理過程において変更が確認された外部端子
の情報を抽出して出力記憶部6 内に外部端子変更情報27
として記憶させる。また、テストデータ名転送処理部29
は入力されたテストデータ名28を出力情報記憶部６に転
送し、外部端子変更情報27として記憶させる。

【００４８】これによって、論理合成の場合も回路図デ
ータ（論理合成後）24とテストデータ関係の情報が同時
に取り扱われる。なお、テストデータの中にはエディタ
１で処理された回路図／機能図データ４のテストデータ
と共通のものが含まれる。

【００４９】これら出力情報記憶部６に記憶されたテス
トデータ関係情報はテストデータ作成更新プログラム11
によって処理されるが、以下、図４によりテストデータ
作成更新プログラム11の処理フローを説明する。なお、
エディタ１より出力されたテストデータ名情報10及び外
部端子変更情報７の処理と、論理合成プログラム21より
出力されたテストデータ名情報30及び外部端子変更情報
27の処理は同一であるので、以下においてはテストデー
タ名情報10及び外部端子変更情報７を対象とし、図３を
併用して説明する。また、Ｓ１〜Ｓ15は図４中の各ステ
ップを識別する記号である。

【００５０】テストデータ作成更新プログラム11は先ず
出力情報記憶部６よりテストデータ名情報10と外部端子
変更情報７を入力する（Ｓ１）。テストデータ名が複数
ある場合は、テストデータ名情報10より最初のテストデ
ータ名を読み込む（Ｓ２）。

【００５１】テストデータ名が新規のものである場合は
テストデータ新規作成処理に移り、外部端子変更情報７
より最初の外部端子情報を読み込む（Ｓ３→Ｓ４）。こ
の外部端子情報をテストデータ名とともにテストデータ
ファイル12に送り、新たなテストデータ13を登録すると
ともに、登録したテストデータ13の記憶領域内に前記最
初の外部端子情報を外部端子情報14として記憶させる。
次いで、次の外部端子の処理に移り、前記外部端子情報
14にこの外部端子情報を記憶させ、以下、未記憶の外部
端子がなくなるまで同様な処理を行う（Ｓ５，Ｓ６→Ｓ
４〜Ｓ６）。なお、テストデータ名の登録は２番目以降
の外部端子情報の際には不要である。全外部端子の記憶
を終了すると、次のテストデータの処理に移る（Ｓ６→
Ｓ14）。

【００５２】テストデータ名がすでに登録済みのもので
ある場合には、外部端子変更情報７に変更のあった外部
端子が記憶されているか否かを確認し（Ｓ７）、なけれ
ば次のテストデータの処理に移行する（Ｓ７→Ｓ14）
が、変更外部端子があれば、テストデータ更新処理に移
る。

【００５３】テストデータ更新処理では外部端子変更情
報７より最初の外部端子変更情報を読み込んで変更内容
を確認し（Ｓ７〜Ｓ９）、追加端子（ＡＤＤ）であれ
ば、その端子名と属性をテストデータファイル12の該当
するテストデータ13内の外部端子情報14に追加する（Ｓ
10) 。また、変更端子（ＲＥＮ）であって端子名が変更
される場合には前記外部端子情報14の旧端子名を新端子
名に変更し、属性変更の場合は外部端子情報14の該当外
部端子の属性を変更する（Ｓ11) 。削除端子（ＤＥＬ）
であれば前記外部端子情報14よりこの外部端子を削除す
る（Ｓ12) 。

【００５４】変更処理を終了すると、次の外部端子の有
無を調べ、更新未了の外部端子があれば、前記の処理を
繰り返す（Ｓ13→Ｓ８〜Ｓ13) 。同一テストデータに対
して全外部端子の更新を終了すると、次のテストデータ
の処理に移行する（Ｓ14→Ｓ２）。未処理のテストデー
タがなくなるとテストデータ作成更新処理を終了する
（Ｓ14→Ｓ15) 。

【００５５】以上、図３及び図４により本発明の実施例
を説明したが、図３及び図４はあくまで本発明の一実施
例を示したものに過ぎず、本発明が図示されたものに限
定されないことは言うまでもない。

【００５６】例えば、上記の説明においては、外部端子
の変更情報は入力される回路情報２または回路図／機能
図データ22の中に含まれているとしたが、入力情報に変
更情報が含まれていない場合でも公知の技術を利用して
外部端子変更情報を抽出することが可能である。以下、
エディタ１による処理を例に説明する。

【００５７】エディタ１はテストデータ名８を受信する
と、受信したテストデータが記憶されているテストデー
タファイル12にアクセスし、該当するテストデータ13内
の外部端子情報14を適当な記憶装置を経てエディタ１に
入力し、外部端子変更情報抽出処理部５が編集処理部３
で処理される全外部端子の情報を逐次入力してテストデ
ータファイル12に記憶されていた外部端子情報と端子名
及び属性を比較し、変化を検出した外部端子の情報を外
部端子変更情報７として出力情報記憶部６内に記憶させ
る。この方法によって本発明の効果が変わらないことは
明らかである。

【００５８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
回路図／機能図データの作成或いは論理合成処理を行う
際に、その回路図／機能図データをもつ電子回路のテス
トデータ名と該テストデータを構成する外部端子の変更
情報が同時に出力されるため、回路，機能の変更の際に
テストデータの変更が自動的に行われることとなり、回
路図／機能図とテストデータが一元的に管理できる。

【００５９】また、出力された回路図／機能図データと
テストデータ情報をテストデータ作成更新プログラムに
より処理することによりテストデータファイル内にテス
トデータの一部を構成する外部端子の情報が記憶された
テストデータを作成することができる。

【００６０】従って、回路図／機能図データの作成とテ
ストデータ作成が独立して行われ、かつ、テストデータ
の外部端子情報を人手により入力する従来の方法に比し
てはるかに少ない労力でテストデータを作成することが
できるほか、自動的に処理されるためミスの発生を防止
することができる。また、回路図／機能図を変更した際
にテストデータを修正しないまま残したためにそのテス
トデータを用いて行われる検証試験に影響が生ずるとい
う問題を防止することができる。

【００６１】以上の如く、本発明は電子回路のテストデ
ータの作成効率の向上に資するところが極めて大きい。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の原理説明図（１）

【図２】 本発明の原理説明図（２）

【図３】 本発明の実施例テストデータ作成方法説明図

【図４】 本発明の実施例処理フロー図

【図５】 従来技術のテストデータ作成方法説明図

【符号の説明】

１ 回路図／機能図編集プログラム ２ 回路情報 ３ 編集処理部 ４、22 回路図／機能図データ ５、25 外部端子変更情報抽出手段 ６ 出力情報記憶部 ７、27 外部端子変更情報 ８、28 テストデータ名 ９、29 テストデータ名転送手段 10、30 テストデータ指定情報 11 テストデータ作成更新手段 12 テストデータ記憶手段 13 テストデータ領域 14 外部端子情報 21 論理合成プログラム 23 論理合成処理部 24 回路図データ（論理合成後）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子回路の回路図または機能図を作成す
   るための回路情報(2) を入力したときに編集処理部(3)
   が該回路情報(2) を編集して出力情報記憶部(6) に回路
   図／機能図データ(4) を出力する回路図／機能図編集プ
   ログラム(1)内に、 前記編集処理部(3) において変更が確認された外部端子
   の情報を抽出し、外部端子変更情報(7) として前記出力
   情報記憶部(6) に出力する外部端子変更情報抽出手段
   (5) と、 前記回路情報(2) とともに入力されるテストデータ名
   (8) をテストデータ指定情報(10)として前記出力情報記
   憶部(6) に出力するテストデータ名転送手段(9)を備
   え、 テストデータ作成更新手段(11)が、前記テストデータ指
   定情報(10)により定められたテストデータ記憶手段(12)
   内のテストデータ領域(13)に、前記外部端子変更情報
   (7) に示された外部端子の情報を外部端子情報(14)とし
   て記憶させることを特徴とするテストデータ作成方法。
2. 【請求項２】 電子回路の回路図データまたは機能図デ
   ータ(22)を入力したときに論理合成処理部(23)が該回路
   図データまたは機能図データ(22)の論理合成処理を行っ
   て出力情報記憶部(6) に回路図データ(24)を出力する論
   理合成プログラム(21)内に、 前記論理合成処理部(23)において変更が確認された外部
   端子の情報を抽出し、外部端子変更情報(27)として前記
   出力情報記憶部(6) に出力する外部端子情報抽出手段(2
   5)と、 前記回路図データまたは機能図データ(22)とともに入力
   されるテストデータ名(28)をテストデータ指定情報(30)
   として前記出力情報記憶部(6) に出力するテストデータ
   名転送手段(29)を備え、 テストデータ作成更新手段(11)が、前記テストデータ指
   定情報(30)により定められたテストデータ記憶手段(12)
   内のテストデータ領域(13)に、前記外部端子変更情報(2
   7)に示された外部端子の情報を外部端子情報(14)として
   記憶させることを特徴とするテストデータ作成方法。