JPH06162127A - Cadデータの検証装置 - Google Patents

Cadデータの検証装置

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JPH06162127A
JPH06162127A JP4318622A JP31862292A JPH06162127A JP H06162127 A JPH06162127 A JP H06162127A JP 4318622 A JP4318622 A JP 4318622A JP 31862292 A JP31862292 A JP 31862292A JP H06162127 A JPH06162127 A JP H06162127A
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JP
Japan
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verification
circuit diagram
item
search key
keyword
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Pending
Application number
JP4318622A
Other languages
English (en)
Inventor
Jinichi Kawashima
仁一 川島
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP4318622A priority Critical patent/JPH06162127A/ja
Publication of JPH06162127A publication Critical patent/JPH06162127A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 CADで作成された回路図を各回路図毎の専
用の検証プログラム等を使用せずに効率的に検証する。 【構成】回路図2aの検証を行うための複数の検証項目
6aと各検証項目6a毎にその検証内容7aを記憶する
検証項目データベース1を設け、作成された回路図2a
からこの回路図2aに必要な検証項目6aを選択し、回
路図2aに対して選択された検証項目6aに対応する検
証項目データベース1の検証内容7aを用いて検証す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CADで作成された回
路図を効率的に検証するCADデータの検証装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、CADで作成された回路図に対
して、各接続端子に接続線が正しく接続されているか、
また、該当接続線に正しい信号が入力されるか、回路素
子に対して過大負荷が印加されていないか等の複数の項
目に亘って検証を実行するようにしている。
【0003】この検証内容は、当然CADで作成された
回路図の種類や構成に応じてそれぞれ異なり、作成され
た回路図毎にそれぞれ固有のものである。したがって、
従来においては、各回路毎に、操作者が手作業で回路図
の検証を行っていた。もしくは、ファンアウト(ICの
ピンに接続される部品数のチェック)のように特定の現
象についてのみプログラムをその都度作成しチェックし
ていた。
【0004】この検証作業は非常に繁雑であり、かつ作
成された回路図に対する高度な知識が必要であるので、
予め各回路図毎に該当回路図が必要とする検証内容を含
んだ検証プログラムを作成しておき、CADによって回
路図が作成された時点でこの検証プログラムを起動して
回路図に対する検証を自動的に実行していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように各回路図毎に専用の検証プログラムを用いてC
ADで作成された回路図を検証する場合においては、新
たに電子部品が開発される毎にこの回路図を検証するた
めの検証プログラムを新規作成又は変更する必要が生じ
ていた。また、検証内容を追加する場合においても検証
プログラムを変更する必要が生じていた。
【0006】なお、一般に、診断型ルールベースと称さ
れるものがある。この診断型ルールベースは一つの現象
を起点とした大きなツリー状のルール構成であり、この
ツリー状に構成されルールをツリーの順次に従って順次
実行していく。
【0007】しかし、CADにて作成される回路図にお
いては、使用する部品や複数の部品で組合わされる検証
内容が、相互の関連付けなく非常に多く存在し、診断型
ルールベースでは、検証内容間の接続ができない点と、
使用しない検証内容が多すぎて時間がかかりすぎる点か
ら、実用的な検証処理を実施できなかった。
【0008】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、種々の回路図に対する検証を行うための多
数の検証内容を検証項目毎に整理して検証項目データベ
ースに予め設定しておくことにより、CADにて回路図
が作成される毎に、検証項目データベースに記憶されて
いる検証内容を用いて検証を実施でき、各回路図毎にお
ける検証プログラムの作成又は変更作業を省略でき、検
証処理能率を大幅に向上できるCADデータの検証装置
を提供することを目的とする。
【0009】さらに、検証項目データベース内に回路図
の構成要素と各検証項目との関係をツリー構造で記憶す
ることによって、このツリー構造を利用して作成された
回路図に対して最適の検証内容を選択でき、回路図の検
証処理能率をより一層向上できるCADデータの検証装
置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明のCADデータの検証装置は、回路図の検証を
行うための複数の検証項目と各検証項目毎にその検証内
容を記憶する検証項目データベースと、作成された回路
図からこの回路図に必要な検証項目を選択する検証項目
選択手段と、選択された回路図に対して作成された検証
項目に対応する検証項目データベースの検証内容を用い
て検証する回路図検証手段とを備えたものである。
【0011】また、別の発明のCADデータの検証装置
においては、例えば前記検証項目データベース内に、各
検証項目毎にその検証内容を記憶する検証内容メモリ
と、回路図の回路図データから取出された各キーワード
毎に該当キーワードに対して割付けられた検索キーを記
憶する検索キーメモリと、各検索キーと各検証項目の関
係をツリー構造で記憶する検証項目メモリとが設けられ
ている。
【0012】さらに、作成された回路図からキーワード
を抽出するキーワード抽出手段と、検索キーメモリから
抽出されたキーワードに対応する検索キーを抽出する検
索キー抽出手段と、検証項目メモリのツリー構造に基づ
いて抽出された各検索キーから回路図を検証するための
検証項目のみを選択する検証項目選択手段と、回路図に
対して選択された検証項目に対応する検証内容メモリの
検証内容を用いて検証する回路図検証手段とを備えてい
る。
【0013】
【作用】このように構成されたCADデータの検証装置
であれば、検証項目データベース内に、CADで作成さ
れると予想される各種の回路図を検証するために必要な
各種の検証内容が検証項目が付されて検証項目毎に記憶
されている。
【0014】そして、CADで1つの回路図が作成され
ると、この回路図からこの回路図に必要な検証項目が選
択される。そして、この選択された検証項目に対応する
検証内容が検証項目データベースから読出されて、回路
図に対する検証が実施される。したがって、CADで回
路図が作成される毎に該当回路図に対する専用の検証プ
ログラムを作成する必要がない。また、別の発明におい
ては、検証内容メモリ,検索キーメモリ,各検索キーと
各検証項目の関係をツリー構造で記憶する検証項目メモ
リとが設けられている。
【0015】そして、CADで1つの回路図が作成され
ると、この回路図を構成する各回路図データに対応した
キーワードが抽出され、さらに、このキーワードに対応
する検索キーが抽出される。そして、検索キーから検証
項目メモリのツリー構造に基づいて検証項目が選択され
る。この選択項目の検証内容に従って回路図が自動的に
検証される。
【0016】すなわち、一般に回路図に対する検証内容
は回路図を構成する回路図データ(部品)毎に異なるた
めに、検証項目データベースの検証内容メモリ内には常
に多くの検証項目が存在する。しかし、一つの回路が作
成された時点においては、明らかに検証する必要のない
項目についても、回路図の検証を行ってしまう場合もあ
る。
【0017】そこで、本発明のように検索キーからツリ
ー構造を用いて検証項目を選択することによって、検証
対象の回路図に対して必要十分条件の検証項目が選択さ
れる。
【0018】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。
【0019】図1は実施例のCADデータの検証装置の
概略構成を示すブロック図である。このCADデータの
検証装置は、大きく分けて、各種データを記憶する検証
項目データベース1とCADの回路図データ作成部2か
ら供給される回路図データ2aに対して検証処理を実行
する回路図データ検証部3とで構成されてる。
【0020】回路図データ作成部2においては、図2に
示すように、CAD手法を用いて回路図データ2aが作
成される。この回路図データ2aは図示するように複数
の構成要素4a.4b.4c,4d,…で構成されてい
る。検証項目データベース1内には、図1に示すよう
に、検索キーメモリ5,検証項目メモリ6,検証内容メ
モリ7が形成されている。
【0021】検索キーメモリ5内には、図3に示すよう
に、前記回路図データ作成部2で作成される可能性のあ
る各回路図データ2aを構成する各構成要素4a,4
b,…を示す例えばFlip Flop ,クリアピン,リセット
端子等の部品名称等からなる各キーワード5aに対し
て、それぞれkey a ,key a-1 ,key a-2 ,key b ,ke
yc …等の検索キー5bが割付けられている。
【0022】また、検証項目メモリ6内には、上述した
各検索キー5aとruie1,rule2,…等の検証項目6a
との関係がツリー構造で記憶されている。さらに、検証
内容メモリ7内には、各検証項目6aに対応する検証内
容7aが記憶されている。
【0023】回路図データ検証部3は、プログラムでソ
フト的に構成された4個のタスク(手段)3a〜3d
と、ワークメモリ上に形成された4個の領域8a〜8d
とで構成されている。
【0024】すなわち、キーワード抽出手段3aは、回
路図データ作成部2において作成された図2に示す回路
図データ2aから図3で説明したキーワード5aを抽出
してキーワード領域8aへ格納する。検索キー抽出手段
3bは図3に示す検索キーメモリ5からキーワード領域
8aに格納したキーワード5aに対応する検索キー5b
を抽出して検索キー領域8bへ格納する。
【0025】検証項目選択手段3cは検索キー領域8b
に記憶された検索キー5bを用いて検索項目メモリ6に
おけるツリー構造に分類された各検証項目6aを選択し
て検証項目領域8dへ格納する。回路図データ検証手段
3dは検証項目領域8dに格納されている各検証項目6
aに対応する検証内容7aを検証内容領域8dに一旦格
納した後、この検証内容領域8dから検証内容7aを読
出して、前記回路図データ2aに対する検証を実行す
る。図4は図1の回路図データ検証部3の動作を示す流
れ図である。
【0026】流れ図が開始されると、S(ステップ)1
において、キーワード抽出手段3aが起動して、回路図
データ2aからキーワード5aを抽出してキーワード領
域8aへ格納する。キーワード5aが存在すれば、S2
において、検索キー抽出手段3bを起動して、該当キー
ワード5aに対応する検索キー5bを抽出して検索キー
領域8bへ格納する。S3において、抽出された検索キ
ー5bにより、検証項目メモリ6内のツリー構造を整理
する。具体的には、図6,図7に示すように、ツリー構
造における抽出された各検索キー5b相互間を接続する
ラインを有効にし、抽出されない検索キー5bを接続す
るラインを無効とする。なお、図6,図7においては、
有効なラインを実線で示し、無効なラインを破線で示
す。
【0027】S4において、整理されたツリー構造か
ら、最後まで実線で接続された有効な検証項目6aのみ
を選択して検証項目メモリ8cへ格納する。検証項目6
a格納されると、S5において、回路図データ検証手段
3dを起動して、選択された検証項目6aに対応する検
証内容7aを用いて回路図データ2aに対する検証を実
施する。次に、この実施例のCADデータの検証装置を
用いて実際の回路図を検証する手順を図2〜図7を用い
て説明する。
【0028】回路図データ作成部2において図2に示す
ような+5Vの電源から抵抗を介してフリップフロップ
に信号を供給する回路図データ2aが作成されており、
この回路図データ2aに対して検証を行うとする。
【0029】まず、キーワード抽出手段3aにおいて、
CADを使用して作成された回路図データ2aからキー
ワード5aとして、”HC74”、”Flip Flop ”、”
クリアピン(CLR)”、”プリセットピン(PR
E)”、”ピン(D)”、”ピン(CLK)”、”抵抗
R”、”10k Ω”、”電源P5”が抽出される(第4図
のS1、図5のキーワード抽出手段)。なお、この実施
例では、キーワード5aとして、使用されているシンボ
ル名、コンポーネントに付加されている属性、ピンの種
類を採用している。
【0030】次に、検索キー抽出手段3bにおいて、検
索キーメモリ5から抽出したキーワード5aに対応する
検索キー5bが抽出される(第4図のS2)。具体的に
は、キーワード”Flip Flop ”から検索キー" key a "
が、キーワード”クリアピン(CLR)”から検索キ
ー" key a-1"が、キーワード”プリセットピン(PR
E)”から検索キー" key a-2"がそれぞれ抽出される。
次に、検証項目選択手段3cにおいて、検証項目メモリ
6から抽出した各検索キー5bに対応した検索項目6a
が選択される。
【0031】検証項目メモリ6おいては、図3に示すよ
うに、検証項目6aは検索キー5bによってツリー構造
に分類されている。検証項目選択手段3cは、検索キ
ー" key a " から検索キー" key a " (図6(a))、
検索キー" key a-1"から検索キー" key a-1"(図6
(b))、検索キー" key a-2"から検索キー" key a-2"
(図7(c))を選択することによって、図7(d)に
示すように、ツリー構造を整理する。整理した結果、最
終的に検索キー" key a と実線で接続される検証項目”
rule 1”及び検証項目”rule 2”が選択される。
【0032】次に回路図データ検証手段3dにより、検
証内容メモリ7から検証項目”rule1”及び検証項目”r
ule 2”に対応する検証内容7aが読出される。そし
て、読出された検証内容7aを用いて回路図データ2a
が検証される。検証結果はリスト形式でEWS(モニ
タ)上に表示またはプリントアウトされる。
【0033】このように構成されたCADデータの検証
装置であれば、たとえ回路図データ作成部2にて新規の
回路図データ2aを作成したとしても、この回路図デー
タ2aを構成する構成要素を示すキーワード5aが検索
キーメモリ5内に登録されていれば、自動的にこの回路
図データ2aに対する検証が実施される。したがって、
この新規の回路図データ2aを検証するための専用の検
証プログラムを作成する必要ないので、検証作業能率が
大幅に向上する。
【0034】さらに、抽出された各キーワードに対して
全ての検証項目を実施するのではなくて、ツリー構造の
関係を満たす検証項目のみを選択して実行している。し
たがって、作成された回路図データに対して必要十分条
件を満たす検証項目のみが実行され、不必要な検証項目
は実施されない。その結果、上述した検証作業能率がさ
らに向上する。
【0035】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではない。実施例ではキーワード5aに複数の検
索キー5bが対応する場合を説明したが、キーワードと
検索キーが1対1の場合については、検索キー抽出手段
3bを省略し、”キーワード=検索キー”として直接検
証項目6aの選択を行うことも可能である。
【0036】また、実施例では検証項目を検索キーを使
用してツリー構造に分類し、検索キーと検証項目を対応
付けることにより検証項内容を分類したが、検証項目を
使用せずに、検索キーによって直接検証内容をツリー構
造に分類することも可能である。その場合、検証項目選
択手段3cにおいて、直接検証内容が選択される。
【0037】さらに、実施例では、プリント板論理回路
図の検証例について述べたが、事前に部品を作成しその
間の接続設計を行う形式でのCADを使用して作成され
た回路図データの検証全般について応用可能である。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明のCADデー
タの検証装置であれば、種々の回路図に対する検証を行
うための多数の検証内容を検証項目毎に整理して検証項
目データベースに予め設定している。したがって、CA
Dにおいて回路図が作成される毎に、検証項目データベ
ースに記憶されている検証内容を用いて検証を実施で
き、各回路図毎に検証プログラムの作成又は変更作業を
省略でき、検証処理能率を大幅に向上できる。
【0039】さらに、本発明のCADデータの検証装置
によれば、検証項目データベース内に回路図の構成要素
と各恵省項目との関係をツリー構造で記憶し、このツリ
ー構造を利用して作成された回路図に対する最適の検証
内容を選択している。したがって、回路図の検証処理能
率をより一層向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のー実施例に係るCADデータの検証
装置のブロック構成図。
【図2】 同実施例装置の回路図データ作成部で作成さ
れた回路図データを示す図。
【図3】 同実施例装置の検証項目データベースの記憶
内容を示す図。
【図4】 同実施例装置の動作を示す流れ図。
【図5】 同実施例装置の動作を示すブロック図。
【図6】 同実施例装置の検証項目メモリに形成されツ
リー構造の整理手順を示す図。
【図7】 同じく同実施例装置の検証項目メモリに形成
されツリー構造の整理手順を示す図。
【符号の説明】
1…検証項目データベース、2…回路図データ作成部、
2a…回路図データ、3…回路図データ検証部、3a…
キーワード抽出手段、3b…検索キー抽出手段、3c…
検証項目選択手段、3d…回路図データ検証手段、4a
〜4d…構成要素、5…検索キーメモリ、5a…キーワ
ード、5b…検索キー、6…検証項目メモリ、6a…検
証項目、7…検証内容メモリ、7a…検証内容。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CADで作成された回路図を検証するC
    ADデータの検証装置において、 回路図の検証を行うための複数の検証項目と各検証項目
    毎にその検証内容を記憶する検証項目データベースと、
    前記作成された回路図からこの回路図に必要な検証項目
    を選択する検証項目選択手段と、前記選択された回路図
    に対して前記作成された検証項目に対応する前記検証項
    目データベースの検証内容を用いて検証する回路図検証
    手段とを備えたCADデータの検証装置。
  2. 【請求項2】 CADで作成された回路図を検証するC
    ADデータの検証装置において、 各検証項目毎にその検証内容を記憶する検証内容メモリ
    と、回路図の回路図デーから取出された各キーワード毎
    に該当キーワードに対して割付けられた検索キーを記憶
    する検索キーメモリと、各検索キーと前記各検証項目の
    関係をツリー構造で記憶する検証項目メモリと、前記作
    成された回路図からキーワードを抽出するキーワード抽
    出手段と、前記検索キーメモリから前記抽出されたキー
    ワードに対応する検索キーを抽出する検索キー抽出手段
    と、前記検証項目メモリのツリー構造に基づいて前記抽
    出された各検索キーから前記回路図を検証するための検
    証項目のみを選択する検証項目選択手段と、前記回路図
    に対して前記選択された検証項目に対応する前記検証内
    容メモリの検証内容を用いて検証する回路図検証手段と
    を備えたCADデータの検証装置。
JP4318622A 1992-11-27 1992-11-27 Cadデータの検証装置 Pending JPH06162127A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6968515B2 (en) 2000-11-21 2005-11-22 Nec Electronics Corporation Semiconductor circuit designing apparatus and a semiconductor circuit designing method in which the number of steps in a circuit design and a layout design is reduced
JP2010009148A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Sharp Corp 設計検証装置、設計検証方法、プログラムおよび記録媒体
WO2012157591A1 (ja) * 2011-05-13 2012-11-22 日本電気株式会社 設計支援装置、設計支援システムおよび設計支援方法

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