JPH05251788A - 静磁波デバイス用材料 - Google Patents
静磁波デバイス用材料Info
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- JPH05251788A JPH05251788A JP4083322A JP8332292A JPH05251788A JP H05251788 A JPH05251788 A JP H05251788A JP 4083322 A JP4083322 A JP 4083322A JP 8332292 A JP8332292 A JP 8332292A JP H05251788 A JPH05251788 A JP H05251788A
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- JP
- Japan
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- wave device
- magnetostatic wave
- magnetic garnet
- transducer
- ions
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/08—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
- H01F10/10—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
- H01F10/18—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being compounds
- H01F10/20—Ferrites
- H01F10/24—Garnets
- H01F10/245—Modifications for enhancing interaction with electromagnetic wave energy
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H2/00—Networks using elements or techniques not provided for in groups H03H3/00 - H03H21/00
- H03H2/001—Networks using elements or techniques not provided for in groups H03H3/00 - H03H21/00 comprising magnetostatic wave network elements
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 静磁波デバイスの温度補償を容易に行うこと
ができる、静磁波デバイス用材料を提供する。 【構成】 Y3 Fe5 O12において、Y3+イオンの一部
を8配位をとれるイオンで置換し、および/または、F
e3+イオンの一部を6配位または4配位をとれるイオン
で置換した、静磁波デバイス用材料である。
ができる、静磁波デバイス用材料を提供する。 【構成】 Y3 Fe5 O12において、Y3+イオンの一部
を8配位をとれるイオンで置換し、および/または、F
e3+イオンの一部を6配位または4配位をとれるイオン
で置換した、静磁波デバイス用材料である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は静磁波デバイス用材料
に関し、特に磁性ガーネット膜の材料となる静磁波デバ
イス用材料に関する。
に関し、特に磁性ガーネット膜の材料となる静磁波デバ
イス用材料に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、静磁波デバイスにおいて磁性ガー
ネット膜の材料として、Y3 Fe5 O12(YIG)が重
要な材料として使われていた。特に、YIGは、極端に
強磁性半値幅(ΔH)が小さい。そのため、YIGを用
いた静磁波デバイスにおいて、入力信号と出力信号との
差を小さくできる。
ネット膜の材料として、Y3 Fe5 O12(YIG)が重
要な材料として使われていた。特に、YIGは、極端に
強磁性半値幅(ΔH)が小さい。そのため、YIGを用
いた静磁波デバイスにおいて、入力信号と出力信号との
差を小さくできる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、YIG
は、飽和磁化(4πMs)の温度変化に対する変化率
が、約−2100ppm/℃である。したがって、この
ようなYIGを用いた静磁波デバイスにおいて温度変化
に対する変化率を調節するためには、静磁波デバイスで
使用される永久磁石の磁界の温度変化に対する変化率を
変化させなければならなかった。そのため、YIGを用
いた静磁波デバイスにおける温度変化に対する変化率の
調節が困難であった。
は、飽和磁化(4πMs)の温度変化に対する変化率
が、約−2100ppm/℃である。したがって、この
ようなYIGを用いた静磁波デバイスにおいて温度変化
に対する変化率を調節するためには、静磁波デバイスで
使用される永久磁石の磁界の温度変化に対する変化率を
変化させなければならなかった。そのため、YIGを用
いた静磁波デバイスにおける温度変化に対する変化率の
調節が困難であった。
【0004】それゆえに、この発明の主たる目的は、静
磁波デバイスの温度補償を容易に行うことができる、静
磁波デバイス用材料を提供することである。
磁波デバイスの温度補償を容易に行うことができる、静
磁波デバイス用材料を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、Y3 Fe5
O12において、Y3+イオンの一部を8配位をとれるイオ
ンで置換し、および/または、Fe3+イオンの一部を6
配位または4配位をとれるイオンで置換した、静磁波デ
バイス用材料である。
O12において、Y3+イオンの一部を8配位をとれるイオ
ンで置換し、および/または、Fe3+イオンの一部を6
配位または4配位をとれるイオンで置換した、静磁波デ
バイス用材料である。
【0006】
【発明の効果】この発明によれば、飽和磁化の温度変化
に対する変化量が少ない、静磁波デバイス用材料が得ら
れる。したがって、この発明にかかる静磁波デバイス用
材料を用いれば、静磁波デバイスの温度補償を容易に行
うことができる。すなわち、この発明にかかる静磁波デ
バイス用材料を用いれば、静磁波デバイスに用いられる
永久磁石として、いろいろな特性の永久磁石を用いるこ
とができる。
に対する変化量が少ない、静磁波デバイス用材料が得ら
れる。したがって、この発明にかかる静磁波デバイス用
材料を用いれば、静磁波デバイスの温度補償を容易に行
うことができる。すなわち、この発明にかかる静磁波デ
バイス用材料を用いれば、静磁波デバイスに用いられる
永久磁石として、いろいろな特性の永久磁石を用いるこ
とができる。
【0007】この発明の上述の目的,その他の目的,特
徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳
細な説明から一層明らかとなろう。
徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳
細な説明から一層明らかとなろう。
【0008】
【実施例】まず、Gd3 Ga5 O12(GGG)基板を準
備した。このGGG基板は、LPE法で磁性ガーネット
膜を形成するための基板である。
備した。このGGG基板は、LPE法で磁性ガーネット
膜を形成するための基板である。
【0009】次に、表1に示す組成の静磁波デバイス用
材料からなる磁性ガーネット膜の原料であるFe2 O3
およびY2 O3 と、置換する金属酸化物と、溶剤である
PbOおよびB2 O3 とを混合し、縦型電気炉内に保持
された白金坩堝に充填して、約1200℃で均質化を行
って、融液を得た。この場合、置換する金属酸化物とし
ては、Biの酸化物およびGaの酸化物、Gdの酸化
物、あるいは、Gdの酸化物およびAlの酸化物を用い
た。なお、置換する酸化物を混合していない融液も得
た。
材料からなる磁性ガーネット膜の原料であるFe2 O3
およびY2 O3 と、置換する金属酸化物と、溶剤である
PbOおよびB2 O3 とを混合し、縦型電気炉内に保持
された白金坩堝に充填して、約1200℃で均質化を行
って、融液を得た。この場合、置換する金属酸化物とし
ては、Biの酸化物およびGaの酸化物、Gdの酸化
物、あるいは、Gdの酸化物およびAlの酸化物を用い
た。なお、置換する酸化物を混合していない融液も得
た。
【0010】
【表1】
【0011】表1中、*印を付したものはこの発明の範
囲外のものである。
囲外のものである。
【0012】この融液を約900℃前後の一定温度に保
持して、ガーネットを過飽和状態にした後、この融液中
に上述のGGG基板を浸透し、回転させながら所定時間
成長を行った。その後、このGGG基板を融液から引き
上げ、高速度で回転させて、磁性ガーネット膜上の付着
融液を遠心力で振り切ることによって、表1に示す組成
の磁性ガーネット膜をそれぞれ形成した。
持して、ガーネットを過飽和状態にした後、この融液中
に上述のGGG基板を浸透し、回転させながら所定時間
成長を行った。その後、このGGG基板を融液から引き
上げ、高速度で回転させて、磁性ガーネット膜上の付着
融液を遠心力で振り切ることによって、表1に示す組成
の磁性ガーネット膜をそれぞれ形成した。
【0013】得られた磁性ガーネット膜の飽和磁化(4
πMs)および強磁性半値幅(ΔH)を、電子スピン共
鳴(ESR)装置によって測定した。その結果を表1に
示す。
πMs)および強磁性半値幅(ΔH)を、電子スピン共
鳴(ESR)装置によって測定した。その結果を表1に
示す。
【0014】次に、これらの磁性ガーネット膜などを用
いて、図1に示す静磁波デバイスをそれぞれ作成した。
すなわち、図1に示す静磁波デバイス10は、GGG基
板12を含み、GGG基板12の一方主面には、表1に
示す組成の静磁波用デバイス材料からなる磁性ガーネッ
ト膜14が形成されている。さらに、磁性ガーネット膜
14上には、たとえば直線状の入力用トランスデューサ
16および出力用トランスデューサ18が、間隔を隔て
て平行に配置される。また、入力用トランスデューサ1
6および出力用トランスデューサ18の間には、磁性ガ
ーネット膜14に直流磁界を印加するために、たとえば
Ce系の永久磁石20が配置される。
いて、図1に示す静磁波デバイスをそれぞれ作成した。
すなわち、図1に示す静磁波デバイス10は、GGG基
板12を含み、GGG基板12の一方主面には、表1に
示す組成の静磁波用デバイス材料からなる磁性ガーネッ
ト膜14が形成されている。さらに、磁性ガーネット膜
14上には、たとえば直線状の入力用トランスデューサ
16および出力用トランスデューサ18が、間隔を隔て
て平行に配置される。また、入力用トランスデューサ1
6および出力用トランスデューサ18の間には、磁性ガ
ーネット膜14に直流磁界を印加するために、たとえば
Ce系の永久磁石20が配置される。
【0015】そして、これらの静磁波デバイス10の中
心周波数(2400MHz)の温度に対する変化率を測
定した。その結果を表1に示す。
心周波数(2400MHz)の温度に対する変化率を測
定した。その結果を表1に示す。
【0016】表1に示す結果から明らかなように、この
発明の範囲内の組成の静磁波デバイス用材料からなる磁
性ガーネット膜を用いた静磁波デバイスでは、中心周波
数の温度に対する変化率が小さくなる。これは、この発
明の範囲内の組成の静磁波デバイス用材料の飽和磁化の
温度変化に対する変化量が少なくなるからである。した
がって、この発明にかかる静磁波デバイス用材料を用い
れば、静磁波デバイスの温度補償を容易に行うことがで
きる。すなわち、この発明にかかる静磁波デバイス用材
料を用いれば、静磁波デバイスに用いられる永久磁石と
して、いろいろな特性の永久磁石を用いることができ
る。
発明の範囲内の組成の静磁波デバイス用材料からなる磁
性ガーネット膜を用いた静磁波デバイスでは、中心周波
数の温度に対する変化率が小さくなる。これは、この発
明の範囲内の組成の静磁波デバイス用材料の飽和磁化の
温度変化に対する変化量が少なくなるからである。した
がって、この発明にかかる静磁波デバイス用材料を用い
れば、静磁波デバイスの温度補償を容易に行うことがで
きる。すなわち、この発明にかかる静磁波デバイス用材
料を用いれば、静磁波デバイスに用いられる永久磁石と
して、いろいろな特性の永久磁石を用いることができ
る。
【0017】なお、上述の実施例では、Y3 Fe5 O12
において、Y3+イオンの一部をBiまたはGdで置換し
ているが、Y3+イオンの一部をたとえばLaなど8配位
をとれる他のイオンで置換してもよい。また、上述の実
施例では、Y3 Fe5 O12において、Fe3+イオンの一
部をGaまたはAlで置換しているが、Fe3+イオンの
一部を6配位または4配位をとれる他のイオンで置換し
てもよい。
において、Y3+イオンの一部をBiまたはGdで置換し
ているが、Y3+イオンの一部をたとえばLaなど8配位
をとれる他のイオンで置換してもよい。また、上述の実
施例では、Y3 Fe5 O12において、Fe3+イオンの一
部をGaまたはAlで置換しているが、Fe3+イオンの
一部を6配位または4配位をとれる他のイオンで置換し
てもよい。
【図1】この発明が適用される静磁波デバイスの一例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
10 静磁波デバイス 12 GGG基板 14 磁性ガーネット膜 16 入力用トランスデューサ 18 出力用トランスデューサ 20 永久磁石
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 熊 取 谷 誠 人 京都府長岡京市天神2丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 鷹 木 洋 京都府長岡京市天神2丁目26番10号 株式 会社村田製作所内
Claims (1)
- 【請求項1】 Y3 Fe5 O12において、Y3+イオンの
一部を8配位をとれるイオンで置換し、および/また
は、Fe3+イオンの一部を6配位または4配位をとれる
イオンで置換した、静磁波デバイス用材料。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4083322A JPH05251788A (ja) | 1992-03-04 | 1992-03-04 | 静磁波デバイス用材料 |
EP93103084A EP0559095A1 (en) | 1992-03-04 | 1993-02-26 | Material for magnetostatic-wave devices |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4083322A JPH05251788A (ja) | 1992-03-04 | 1992-03-04 | 静磁波デバイス用材料 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05251788A true JPH05251788A (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=13799195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4083322A Pending JPH05251788A (ja) | 1992-03-04 | 1992-03-04 | 静磁波デバイス用材料 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0559095A1 (ja) |
JP (1) | JPH05251788A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005019507A1 (ja) * | 2003-08-26 | 2005-03-03 | Advantest Corporation | 磁性ガーネット単結晶及びyigデバイス |
WO2015093273A1 (ja) * | 2013-12-18 | 2015-06-25 | 株式会社村田製作所 | 非可逆回路素子 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995016269A1 (fr) * | 1993-12-06 | 1995-06-15 | Kirbitov, Viktor Mikhailovich | Materiau ferromagnetique et son procede de production |
JP2998644B2 (ja) * | 1996-06-20 | 2000-01-11 | 株式会社村田製作所 | 静磁波デバイス |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2526550A2 (fr) * | 1982-05-04 | 1983-11-10 | Thomson Csf | Magnetometre a ondes magnetostatiques |
US4968954A (en) * | 1988-09-30 | 1990-11-06 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Epitaxial layer-bearing wafer of rare earth gallium garnet for MSW device |
EP0501434B1 (en) * | 1991-02-28 | 1997-01-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Use of a garnet thin film in a magnetostatic-wave device |
EP0522388A1 (en) * | 1991-07-01 | 1993-01-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Magnetostatic-wave devices |
-
1992
- 1992-03-04 JP JP4083322A patent/JPH05251788A/ja active Pending
-
1993
- 1993-02-26 EP EP93103084A patent/EP0559095A1/en not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005019507A1 (ja) * | 2003-08-26 | 2005-03-03 | Advantest Corporation | 磁性ガーネット単結晶及びyigデバイス |
JPWO2005019507A1 (ja) * | 2003-08-26 | 2007-11-01 | 株式会社アドバンテスト | 磁性ガーネット単結晶及びyigデバイス |
US7378926B2 (en) | 2003-08-26 | 2008-05-27 | Advantest Corp. | Single crystalline magnetic garnet and YIG device |
WO2015093273A1 (ja) * | 2013-12-18 | 2015-06-25 | 株式会社村田製作所 | 非可逆回路素子 |
US10033079B2 (en) | 2013-12-18 | 2018-07-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Non-reciprocal circuit element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0559095A1 (en) | 1993-09-08 |
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