JPH05250819A - ディジタル再生装置 - Google Patents
ディジタル再生装置Info
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- JPH05250819A JPH05250819A JP4151297A JP15129792A JPH05250819A JP H05250819 A JPH05250819 A JP H05250819A JP 4151297 A JP4151297 A JP 4151297A JP 15129792 A JP15129792 A JP 15129792A JP H05250819 A JPH05250819 A JP H05250819A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 種々の記録媒体の記録レベルやヘッドの再生
特性のばらつきやエラーの要因に応じて最適に等化し、
また、記録媒体の容量を増加する。 【構成】 等化器5Lの高域強調度GLは、PLL回路
70により抽出されたデータd内の疑似反転によるエラ
ーが無視可能なように等化する値に設定され、また、等
化器5Hの高域強調度GHは、PLL回路70により抽
出されたデータg内の波形間干渉によるエラーが無視可
能なように等化する値に設定されている。エラー検出訂
正ブロック80は、DATレコーダのデータの反転間隔
4T、3T、2T、Tの組み合わせと、疑似反転と波形
間干渉の相反性と等化器5L、5Hの周波数特性に応じ
てデータd、gを比較してエラーを検出し、訂正する。
また、Dラッチ9はTと3T、3TとTが誤った場合を
検出する。
特性のばらつきやエラーの要因に応じて最適に等化し、
また、記録媒体の容量を増加する。 【構成】 等化器5Lの高域強調度GLは、PLL回路
70により抽出されたデータd内の疑似反転によるエラ
ーが無視可能なように等化する値に設定され、また、等
化器5Hの高域強調度GHは、PLL回路70により抽
出されたデータg内の波形間干渉によるエラーが無視可
能なように等化する値に設定されている。エラー検出訂
正ブロック80は、DATレコーダのデータの反転間隔
4T、3T、2T、Tの組み合わせと、疑似反転と波形
間干渉の相反性と等化器5L、5Hの周波数特性に応じ
てデータd、gを比較してエラーを検出し、訂正する。
また、Dラッチ9はTと3T、3TとTが誤った場合を
検出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、DAT(ディジタルオ
ーディオテープ)レコーダやハードディスクドライブの
ようなディジタル磁気再生装置に関する。
ーディオテープ)レコーダやハードディスクドライブの
ようなディジタル磁気再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ディジタル記録再生装置におい
て再生信号のエラーを発生させる要因として、波形間干
渉と、サドル部における疑似反転現象を挙げることがで
きる。前者の波形間干渉は図21に示すように、短周期
反転ビットと長周期反転ビットが隣接した場合に発生す
る現象であり、再生時には1つの磁化反転に対して1つ
の孤立波が再生されるが、実際にはヘッドから再生され
る信号は、各孤立波の合成波で構成される。したがっ
て、お互いの孤立波が裾野で干渉し合い、再生波のピー
ク位置がシフトし、再生抽出されたデータの反転間隔が
シフトする。一般的に短反転信号の反転間隔が長くな
り、長反転信号の反転間隔が短くなるが、このシフト量
がある値を越えるとエラーが発生する。
て再生信号のエラーを発生させる要因として、波形間干
渉と、サドル部における疑似反転現象を挙げることがで
きる。前者の波形間干渉は図21に示すように、短周期
反転ビットと長周期反転ビットが隣接した場合に発生す
る現象であり、再生時には1つの磁化反転に対して1つ
の孤立波が再生されるが、実際にはヘッドから再生され
る信号は、各孤立波の合成波で構成される。したがっ
て、お互いの孤立波が裾野で干渉し合い、再生波のピー
ク位置がシフトし、再生抽出されたデータの反転間隔が
シフトする。一般的に短反転信号の反転間隔が長くな
り、長反転信号の反転間隔が短くなるが、このシフト量
がある値を越えるとエラーが発生する。
【0003】他方、後者の疑似反転現象は、比較的長周
期の反転信号を再生した場合に発生する。図22に示す
ように、再生信号の孤立波の裾野はショルダーと呼ば
れ、長反転周期信号の場合には傾斜が緩やかであるが、
この信号を波形等化すると、サドルと呼ばれるくぼみが
発生し、このサドルがゼロレベルをクロスすると、疑似
反転ビットが発生し、エラーとなる。
期の反転信号を再生した場合に発生する。図22に示す
ように、再生信号の孤立波の裾野はショルダーと呼ば
れ、長反転周期信号の場合には傾斜が緩やかであるが、
この信号を波形等化すると、サドルと呼ばれるくぼみが
発生し、このサドルがゼロレベルをクロスすると、疑似
反転ビットが発生し、エラーとなる。
【0004】ここで、上記波形間干渉と疑似反転現象は
図20および図23に示すように、信号に含まれる低次
高調波成分において相反性を有することが知られてい
る。また、より多くの第3次高調波を含む場合、波形間
干渉によるピークのシフト量は小さくなるが、疑似反転
ビットの発生率が高くなる。逆に、高調波が少ない場
合、ピークのシフト量が増加し、疑似反転ビットの発生
率が低くなる。
図20および図23に示すように、信号に含まれる低次
高調波成分において相反性を有することが知られてい
る。また、より多くの第3次高調波を含む場合、波形間
干渉によるピークのシフト量は小さくなるが、疑似反転
ビットの発生率が高くなる。逆に、高調波が少ない場
合、ピークのシフト量が増加し、疑似反転ビットの発生
率が低くなる。
【0005】更に、同一の信号の場合にも図23(a)
に示す波形等化器5の周波数特性に応じて上記2つの現
象の発生頻度が大きく異なる。また、波形等化器5は、
テープ1、ヘッド2とドラム3の電磁変換による様々な
損失を補正するために、信号の帯域内において高域を強
調する周波数特性を有する。ここで、等化器5の周波数
特性を代表するために、信号帯域内の2つの周波数ポイ
ントにおけるゲイン差を高域強調度と呼ぶことにし、2
つの等化特性を周波数軸上a、bにおける高域強調度G
a、Gb(Ga<Gb)で表すと、図23(b)および
(c)から明らかなように高域強調度が高い場合にピー
クシフト量が減少する反面、疑似反転ビットの発生率が
高くなる。逆に、高域強調度が低い場合にピークのシフ
ト量が増加し、疑似反転ビットの発生率が低くなる。
に示す波形等化器5の周波数特性に応じて上記2つの現
象の発生頻度が大きく異なる。また、波形等化器5は、
テープ1、ヘッド2とドラム3の電磁変換による様々な
損失を補正するために、信号の帯域内において高域を強
調する周波数特性を有する。ここで、等化器5の周波数
特性を代表するために、信号帯域内の2つの周波数ポイ
ントにおけるゲイン差を高域強調度と呼ぶことにし、2
つの等化特性を周波数軸上a、bにおける高域強調度G
a、Gb(Ga<Gb)で表すと、図23(b)および
(c)から明らかなように高域強調度が高い場合にピー
クシフト量が減少する反面、疑似反転ビットの発生率が
高くなる。逆に、高域強調度が低い場合にピークのシフ
ト量が増加し、疑似反転ビットの発生率が低くなる。
【0006】図24は従来のディジタル記録再生装置の
一例を示す。この装置では、テープ1に記録された信号
は、ヘッド2およびドラム3により再生され、増幅器4
により増幅された後、上記波形間干渉と疑似反転現象の
バランスを取りながら調整された1つの波形等化器5に
より等化され、コンパレータ6により2値化されてディ
ジタルデータに変換され、PLL(Phase Locked Loo
p)回路7によりビットが抽出される。なお、等化器5
は、図20に示す波形間干渉と疑似反転による各エラー
レートの交点の周波数特性のものが選択される。
一例を示す。この装置では、テープ1に記録された信号
は、ヘッド2およびドラム3により再生され、増幅器4
により増幅された後、上記波形間干渉と疑似反転現象の
バランスを取りながら調整された1つの波形等化器5に
より等化され、コンパレータ6により2値化されてディ
ジタルデータに変換され、PLL(Phase Locked Loo
p)回路7によりビットが抽出される。なお、等化器5
は、図20に示す波形間干渉と疑似反転による各エラー
レートの交点の周波数特性のものが選択される。
【0007】図25は従来のディジタル記録再生装置の
他の例を示し、この装置では周波数特性が異なる複数の
等化器5a〜5dが設けられ、予め記録された検査情報
により、PLL回路7により抽出されたビットのエラー
数を検出ブロック8で検出し、エラー数に基づいてシス
テムコントローラ9が等化器5a〜5dを選択するよう
に構成されている。また、この装置の類似例として、1
つの等化器の特性をエラー数に応じて自動的に調整する
ものも知られている。
他の例を示し、この装置では周波数特性が異なる複数の
等化器5a〜5dが設けられ、予め記録された検査情報
により、PLL回路7により抽出されたビットのエラー
数を検出ブロック8で検出し、エラー数に基づいてシス
テムコントローラ9が等化器5a〜5dを選択するよう
に構成されている。また、この装置の類似例として、1
つの等化器の特性をエラー数に応じて自動的に調整する
ものも知られている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ディジタル記録再生装置では、種々の記録媒体の記録レ
ベルや磁気ヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因
に応じて最適に等化することができないという問題点が
ある。また、図25に示す従来例では、発生したエラー
を検出するためには、データ中に検査情報を付加しなけ
ればならないので、記録媒体の容量が減少するという問
題点があり、また、エラーの傾向が異なるので複数の等
化器5a〜5dにより最適に等化することができない。
更に、上記波形間干渉と疑似反転現象をアナログ回路に
より補償する装置では、S/N比が劣化したり、また、
アナログ回路のばらつきにより逆にエラーを誘発した
り、回路規模が大きくなるという問題点がある。
ディジタル記録再生装置では、種々の記録媒体の記録レ
ベルや磁気ヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因
に応じて最適に等化することができないという問題点が
ある。また、図25に示す従来例では、発生したエラー
を検出するためには、データ中に検査情報を付加しなけ
ればならないので、記録媒体の容量が減少するという問
題点があり、また、エラーの傾向が異なるので複数の等
化器5a〜5dにより最適に等化することができない。
更に、上記波形間干渉と疑似反転現象をアナログ回路に
より補償する装置では、S/N比が劣化したり、また、
アナログ回路のばらつきにより逆にエラーを誘発した
り、回路規模が大きくなるという問題点がある。
【0009】したがって本発明は、種々の記録媒体の記
録レベルやヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因
に応じて最適に等化することができ、記録媒体の容量を
増加することができるディジタル再生装置を提供するこ
とを目的とする。
録レベルやヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因
に応じて最適に等化することができ、記録媒体の容量を
増加することができるディジタル再生装置を提供するこ
とを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明では上記目的を達
成するために、再生信号の複数のエラー発生要因にそれ
ぞれ適した特性を有する複数の等化器を設け、再生信号
の複数のエラー発生要因と、ディジタル波形で記録され
た信号のパターンと複数の等化器の特性に応じて再生デ
ータの誤り箇所を検出し、訂正するようにしている。す
なわち本発明によれば、ディジタル波形で記録された信
号を再生するディジタル再生装置において、再生信号の
複数のエラー発生要因にそれぞれ適した特性で再生信号
を等化する複数の等化器と、前記複数の等化器により等
化された信号をそれぞれディジタル信号に変換し抽出す
る変換・抽出手段と、前記複数のエラー発生要因と、デ
ィジタル波形で記録された信号のパターンと前記複数の
等化器の特性に応じて、前記変換・抽出手段により抽出
された各ディジタル信号を比較することにより再生デー
タの誤り箇所を検出し、訂正する誤り訂正手段とを有す
ることを特徴とするディジタル再生装置が提供される。
成するために、再生信号の複数のエラー発生要因にそれ
ぞれ適した特性を有する複数の等化器を設け、再生信号
の複数のエラー発生要因と、ディジタル波形で記録され
た信号のパターンと複数の等化器の特性に応じて再生デ
ータの誤り箇所を検出し、訂正するようにしている。す
なわち本発明によれば、ディジタル波形で記録された信
号を再生するディジタル再生装置において、再生信号の
複数のエラー発生要因にそれぞれ適した特性で再生信号
を等化する複数の等化器と、前記複数の等化器により等
化された信号をそれぞれディジタル信号に変換し抽出す
る変換・抽出手段と、前記複数のエラー発生要因と、デ
ィジタル波形で記録された信号のパターンと前記複数の
等化器の特性に応じて、前記変換・抽出手段により抽出
された各ディジタル信号を比較することにより再生デー
タの誤り箇所を検出し、訂正する誤り訂正手段とを有す
ることを特徴とするディジタル再生装置が提供される。
【0011】
【作用】本発明では上記構成を有するので、例えば等化
器として疑似反転によるエラーが無視可能になるように
周波数特性が設定された第1の等化器と、疑似反転と相
反性を有する波形間干渉によるエラーが無視可能になる
ように周波数特性が設定された第2の等化器が用いら
れ、誤り訂正手段により疑似反転と波形間干渉の相反性
と、記録データのパターンとこの第1および第2の等化
器の周波数特性に応じて再生データの誤り箇所が検出さ
れ、訂正される。したがって、種々の記録媒体の記録レ
ベルやヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因に応
じて最適に等化することができ、また、検査情報を記憶
媒体に記録しないので、記録媒体の容量を増加すること
ができる。また、例えばディジタルパターンの反転間隔
がTと2Tと3Tと4Tの組合せの場合、等化された信
号とそのロックされた信号の排他的論理和信号により、
そのデータの反転間隔が広がったか、または狭まったか
を検出してエラーを訂正することができる。
器として疑似反転によるエラーが無視可能になるように
周波数特性が設定された第1の等化器と、疑似反転と相
反性を有する波形間干渉によるエラーが無視可能になる
ように周波数特性が設定された第2の等化器が用いら
れ、誤り訂正手段により疑似反転と波形間干渉の相反性
と、記録データのパターンとこの第1および第2の等化
器の周波数特性に応じて再生データの誤り箇所が検出さ
れ、訂正される。したがって、種々の記録媒体の記録レ
ベルやヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因に応
じて最適に等化することができ、また、検査情報を記憶
媒体に記録しないので、記録媒体の容量を増加すること
ができる。また、例えばディジタルパターンの反転間隔
がTと2Tと3Tと4Tの組合せの場合、等化された信
号とそのロックされた信号の排他的論理和信号により、
そのデータの反転間隔が広がったか、または狭まったか
を検出してエラーを訂正することができる。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明に係るディジタル再生装置の一実
施例であるDATレコーダを示すブロック図、図2は、
図1のディジタル再生装置における主要信号を示す波形
図、図3は、データパターンのエラー遷移を示す説明
図、図4は、反転周期の遷移を示す説明図、図5は、波
形間干渉と疑似反転現象の2つの要因により発生するエ
ラーの関係を示すタイミングチャート、図6は、抽出デ
ータが4Tの場合を示すタイミングチャート、図7〜図
10は、1Tと4Tの組合せを誤った場合の各例を示す
タイミングチャート、図11、図12は、1Tと3Tの
組み合わせを誤った場合の各例を示すタイミングチャー
ト、図13は、1Tと4Tと1Tの組み合わせを誤った
場合の各例を示すタイミングチャート、図14は、誤り
が2ビット連続した場合を示すタイミングチャート、図
15は、Tと3Tの組み合わせと3TとTの組合せが共
に2Tと2Tの組み合わせに誤った場合の判定回路を示
す回路図、図16は、Tと3Tの組み合わせが誤った場
合を示すタイミングチャート、図17は、3TとTの組
合せが誤った場合を示すタイミングチャート、図18
は、誤りが1ビットの場合を示すタイミングチャート、
図19は、波形間干渉におけるピークシフト量の他の例
を示すタイミングチャート、図20は、波形等化器の高
域強調度と波形間干渉および疑似反転によるエラーの関
係を示すグラフである。
する。図1は、本発明に係るディジタル再生装置の一実
施例であるDATレコーダを示すブロック図、図2は、
図1のディジタル再生装置における主要信号を示す波形
図、図3は、データパターンのエラー遷移を示す説明
図、図4は、反転周期の遷移を示す説明図、図5は、波
形間干渉と疑似反転現象の2つの要因により発生するエ
ラーの関係を示すタイミングチャート、図6は、抽出デ
ータが4Tの場合を示すタイミングチャート、図7〜図
10は、1Tと4Tの組合せを誤った場合の各例を示す
タイミングチャート、図11、図12は、1Tと3Tの
組み合わせを誤った場合の各例を示すタイミングチャー
ト、図13は、1Tと4Tと1Tの組み合わせを誤った
場合の各例を示すタイミングチャート、図14は、誤り
が2ビット連続した場合を示すタイミングチャート、図
15は、Tと3Tの組み合わせと3TとTの組合せが共
に2Tと2Tの組み合わせに誤った場合の判定回路を示
す回路図、図16は、Tと3Tの組み合わせが誤った場
合を示すタイミングチャート、図17は、3TとTの組
合せが誤った場合を示すタイミングチャート、図18
は、誤りが1ビットの場合を示すタイミングチャート、
図19は、波形間干渉におけるピークシフト量の他の例
を示すタイミングチャート、図20は、波形等化器の高
域強調度と波形間干渉および疑似反転によるエラーの関
係を示すグラフである。
【0013】このDATレコーダの記録変調方式は、8
−10変換とNRZI信号の組み合わせであり、データ
の反転間隔が4T、3T、2T、T(T=106nsec)
の4種類である。図1において、テープ1に記録された
この信号は、ヘッド2およびドラム3により再生され、
増幅器4により増幅された信号aは、高域強調度GLの
等化器5Lと高域強調度GH(>GL)の等化器5Hに入
力する。そして、等化器5L、5Hにより等化された信
号b、eはそれぞれコンパレータ6L、6Hにより2値
化されてディジタル信号c、fに変換され、電圧制御発
振器(VCO)71のクロックCLKの立ち上がりに同
期したデータd、gがPLL回路70(Dラッチ7L、
7H)により抽出される。
−10変換とNRZI信号の組み合わせであり、データ
の反転間隔が4T、3T、2T、T(T=106nsec)
の4種類である。図1において、テープ1に記録された
この信号は、ヘッド2およびドラム3により再生され、
増幅器4により増幅された信号aは、高域強調度GLの
等化器5Lと高域強調度GH(>GL)の等化器5Hに入
力する。そして、等化器5L、5Hにより等化された信
号b、eはそれぞれコンパレータ6L、6Hにより2値
化されてディジタル信号c、fに変換され、電圧制御発
振器(VCO)71のクロックCLKの立ち上がりに同
期したデータd、gがPLL回路70(Dラッチ7L、
7H)により抽出される。
【0014】PLL回路70では、コンパレータ6L、
6Hにより2値化されたディジタル信号c又はfとクロ
ックの位相差が位相比較器72により検出され、この位
相差がローパスフィルタ(LPF)73により電圧に変
換され、この電圧が制御電圧としてVCO71に印加さ
れる。すなわち、コンパレータ6L、6HとPLL回路
70は、データd、gを抽出する変換・抽出手段を構成
している。
6Hにより2値化されたディジタル信号c又はfとクロ
ックの位相差が位相比較器72により検出され、この位
相差がローパスフィルタ(LPF)73により電圧に変
換され、この電圧が制御電圧としてVCO71に印加さ
れる。すなわち、コンパレータ6L、6HとPLL回路
70は、データd、gを抽出する変換・抽出手段を構成
している。
【0015】ここで、前述したように周波数特性が異な
る等化器5L、5Hにより等化された場合、コンパレー
タ6L、6HとPLL回路70により抽出されたデータ
系列において発生するエラーの傾向が異なるが、波形間
干渉と疑似反転現象を引き起こすデータ系列と発生部は
限定することができる。すなわち、波形間干渉は短周期
反転ビットと長周期反転ビットが隣接した場合にその隣
接部に発生し、疑似反転現象は長周期反転ビットの中央
において発生する。よって、この2つの要因によって引
きおこされるエラーの発生部は必ず異なる(エラー発生
部の不一致)。
る等化器5L、5Hにより等化された場合、コンパレー
タ6L、6HとPLL回路70により抽出されたデータ
系列において発生するエラーの傾向が異なるが、波形間
干渉と疑似反転現象を引き起こすデータ系列と発生部は
限定することができる。すなわち、波形間干渉は短周期
反転ビットと長周期反転ビットが隣接した場合にその隣
接部に発生し、疑似反転現象は長周期反転ビットの中央
において発生する。よって、この2つの要因によって引
きおこされるエラーの発生部は必ず異なる(エラー発生
部の不一致)。
【0016】そこで、この実施例では、図20に示すよ
うに等化器5Lの高域強調度GLは、PLL回路70に
より抽出されたデータd内の疑似反転によるエラーが無
視可能なように等化する値に設定され、また、等化器5
Hの高域強調度GHは、PLL回路70により抽出され
たデータg内の波形間干渉によるエラーが無視可能なよ
うに等化する値に設定されている。すなわち、シフトレ
ジスタ8Lに入力するデータdにおいて発生するエラー
の要因は波形間干渉であり、他方、シフトレジスタ8H
に入力するデータfにおいて発生するエラーの要因は疑
似反転である。したがって、エラー発生部不一致性より
エラー検出訂正ブロック80は図2に示すように、この
シフトレジスタ8L、8Hから出力されるデータd、g
の排他的論理和(不一致)によりエラーを検出すること
ができる。すなわち、シフトレジスタ8L、8Hは記憶
手段として作用し、エラー検出訂正ブロック80は検出
手段として作用し、これらの手段8L、8H、80が誤
り訂正手段を構成している。
うに等化器5Lの高域強調度GLは、PLL回路70に
より抽出されたデータd内の疑似反転によるエラーが無
視可能なように等化する値に設定され、また、等化器5
Hの高域強調度GHは、PLL回路70により抽出され
たデータg内の波形間干渉によるエラーが無視可能なよ
うに等化する値に設定されている。すなわち、シフトレ
ジスタ8Lに入力するデータdにおいて発生するエラー
の要因は波形間干渉であり、他方、シフトレジスタ8H
に入力するデータfにおいて発生するエラーの要因は疑
似反転である。したがって、エラー発生部不一致性より
エラー検出訂正ブロック80は図2に示すように、この
シフトレジスタ8L、8Hから出力されるデータd、g
の排他的論理和(不一致)によりエラーを検出すること
ができる。すなわち、シフトレジスタ8L、8Hは記憶
手段として作用し、エラー検出訂正ブロック80は検出
手段として作用し、これらの手段8L、8H、80が誤
り訂正手段を構成している。
【0017】つぎに、本実施例が適用されたDATにお
けるエラーの発生過程の規則性を説明すると、前述した
ようにこのDATレコーダのデータの反転間隔が4T、
3T、2T、T(T=106nsec)の4種類である。ま
ず、この4種類の反転信号の組み合わせとエラーの関係
について説明すると、短周期反転ビットと長周期反転ビ
ットが隣接した場合にその隣接部に発生する波形間干渉
の場合、図3(a)に示すように反転間隔が4Tと1
T、3Tと1T、1Tと4Tと1Tの各組合せにおいて
エラーの発生確率が高く、反転間隔が2Tと1Tの組合
せではエラーはほぼ発生しないと言える。
けるエラーの発生過程の規則性を説明すると、前述した
ようにこのDATレコーダのデータの反転間隔が4T、
3T、2T、T(T=106nsec)の4種類である。ま
ず、この4種類の反転信号の組み合わせとエラーの関係
について説明すると、短周期反転ビットと長周期反転ビ
ットが隣接した場合にその隣接部に発生する波形間干渉
の場合、図3(a)に示すように反転間隔が4Tと1
T、3Tと1T、1Tと4Tと1Tの各組合せにおいて
エラーの発生確率が高く、反転間隔が2Tと1Tの組合
せではエラーはほぼ発生しないと言える。
【0018】他方、長周期反転ビットの中央において発
生する疑似反転現象の場合には、図3(b)に示すよう
に反転間隔4Tが反転間隔T、T、2Tの組み合わせに
誤り、また、発生頻度は低いが反転間隔3Tが反転間隔
T、T、Tの組み合わせに誤ることが考えられる。な
お、反転間隔2T、Tが他の信号に誤ることは、等化器
5L、5Hの特性上極めて発生頻度が低い。したがっ
て、波形間干渉による反転タイミングのシフト量がデー
タdにおいて反転間隔T以内の場合、エラーの遷移は図
4(a)に示すようになる。また、疑似反転現象による
エラーの遷移は図4(b)に示すようになる。
生する疑似反転現象の場合には、図3(b)に示すよう
に反転間隔4Tが反転間隔T、T、2Tの組み合わせに
誤り、また、発生頻度は低いが反転間隔3Tが反転間隔
T、T、Tの組み合わせに誤ることが考えられる。な
お、反転間隔2T、Tが他の信号に誤ることは、等化器
5L、5Hの特性上極めて発生頻度が低い。したがっ
て、波形間干渉による反転タイミングのシフト量がデー
タdにおいて反転間隔T以内の場合、エラーの遷移は図
4(a)に示すようになる。また、疑似反転現象による
エラーの遷移は図4(b)に示すようになる。
【0019】ここで、図4(a)に示す例では、波形間
干渉によるデータシフト量を1ビット(=1T)以内と
したので、この波形間干渉によりエラーが発生した場
合、図5(a)及び(b)に示すように、真のデータに
対して相違する位相となるエラービットは、真のデータ
の位相が反転したエッジに隣接している。また、疑似反
転によるエラーの場合には、長反転周期信号の内側のビ
ットの位相が反転するので、図5(a)及び(c)に示
すように、エラービットは真の位相反転ポイントより1
ビット以上離れた位置に発生する。したがって、上記波
形間干渉と疑似反転現象の2つの要因により発生するエ
ラーの場所は一致せず、図5(d)に示すようにエラー
検出訂正ブロック80がシフトレジスタ8L、8Hから
出力されるデータd、gの排他的論理和の演算を行うこ
とにより、エラー箇所を検出することができる。
干渉によるデータシフト量を1ビット(=1T)以内と
したので、この波形間干渉によりエラーが発生した場
合、図5(a)及び(b)に示すように、真のデータに
対して相違する位相となるエラービットは、真のデータ
の位相が反転したエッジに隣接している。また、疑似反
転によるエラーの場合には、長反転周期信号の内側のビ
ットの位相が反転するので、図5(a)及び(c)に示
すように、エラービットは真の位相反転ポイントより1
ビット以上離れた位置に発生する。したがって、上記波
形間干渉と疑似反転現象の2つの要因により発生するエ
ラーの場所は一致せず、図5(d)に示すようにエラー
検出訂正ブロック80がシフトレジスタ8L、8Hから
出力されるデータd、gの排他的論理和の演算を行うこ
とにより、エラー箇所を検出することができる。
【0020】また、波形間干渉によりエラーが発生して
も、このエラーは2ビット以上連鎖して発生することは
なく、必ず正常状態に復帰する。すなわち、波形間干渉
により立ち上がりと立ち下がりのタイミングが1ヶ所で
ずれたとしても、その前後のエッジ位置には影響はな
く、復帰する。ここで、エラーが発生しているエッジを
挟む正しいエッジ(データd、eにおいて同時に同位相
で反転するエッジ)間を誤り復帰区間TEとすると、シ
フトレジスタ8L、8Hがこの誤り復帰区間TEのビッ
ト情報を保持できればよいので、シフトレジスタ8L、
8Hは最大8ビット分(8T分)の容量でよいと思われ
る。また、前述したように、波形間干渉によるデータシ
フト量を1ビットとしたので、波形間干渉のみにより2
ビット連続して誤ることはない。
も、このエラーは2ビット以上連鎖して発生することは
なく、必ず正常状態に復帰する。すなわち、波形間干渉
により立ち上がりと立ち下がりのタイミングが1ヶ所で
ずれたとしても、その前後のエッジ位置には影響はな
く、復帰する。ここで、エラーが発生しているエッジを
挟む正しいエッジ(データd、eにおいて同時に同位相
で反転するエッジ)間を誤り復帰区間TEとすると、シ
フトレジスタ8L、8Hがこの誤り復帰区間TEのビッ
ト情報を保持できればよいので、シフトレジスタ8L、
8Hは最大8ビット分(8T分)の容量でよいと思われ
る。また、前述したように、波形間干渉によるデータシ
フト量を1ビットとしたので、波形間干渉のみにより2
ビット連続して誤ることはない。
【0021】更に、疑似反転現象が発生した場合には、
上記誤り復帰区間TE内における反転数(またはエッジ
数)が真のデータの場合と異なるが、波形間干渉による
エラーの場合には反転数が変わらない。したがって、図
3〜図5に示す関係により、以下のことが言える。 (1)等化器5L、5Hのいずれにおいても、反転間隔4
Tが検出された場合には真のデータも4Tである。 (2)高域強調度GLの等化器5Lにより1Tが検出された
場合には真のデータも1Tである。 (3)高域強調度GH(>GL)の等化器5Hにより3Tが
検出された場合には真のデータも3Tである。 (4)2Tがテープ1に記録されている場合、等化器5
L、5Hのいずれにおいても2Tが抽出される。 (5)1Tがテープ1に記録されている場合、高域強調度
GH(>GL)の等化器5Hにより1Tが抽出される。 (6)もし波形間干渉によるエラーが発生した場合、1T
の数が減少し、疑似反転現象が発生した場合には1Tの
数が増加する。 (7)2ビット以上連続してエラーを検出した場合、必ず
疑似反転現象によるエラーが発生し、波形間干渉による
エラーが2ビット連続することはない。 (8)2ビット以上連続してエラーを検出し、かつエラー
発生区間において両方のデータd、gにおいて位相が反
転していない場合、この区間のエラーは、疑似反転現象
によるものと判定することができる。また、もし、位相
が反転している場合には、疑似反転現象によるエラーと
波形間干渉によるエラーがそれぞれ1ビットづつ発生し
たものと判定することができる。 (9)エラーが1ビットの単発で検出され、かつエラー検
出ビットの前後で等化器5L側のデータdの位相が反転
している場合、波形間干渉によるエラーと判定すること
ができ、逆に、データdの位相が反転していない場合、
疑似反転現象によるエラーと判定することができる。
上記誤り復帰区間TE内における反転数(またはエッジ
数)が真のデータの場合と異なるが、波形間干渉による
エラーの場合には反転数が変わらない。したがって、図
3〜図5に示す関係により、以下のことが言える。 (1)等化器5L、5Hのいずれにおいても、反転間隔4
Tが検出された場合には真のデータも4Tである。 (2)高域強調度GLの等化器5Lにより1Tが検出された
場合には真のデータも1Tである。 (3)高域強調度GH(>GL)の等化器5Hにより3Tが
検出された場合には真のデータも3Tである。 (4)2Tがテープ1に記録されている場合、等化器5
L、5Hのいずれにおいても2Tが抽出される。 (5)1Tがテープ1に記録されている場合、高域強調度
GH(>GL)の等化器5Hにより1Tが抽出される。 (6)もし波形間干渉によるエラーが発生した場合、1T
の数が減少し、疑似反転現象が発生した場合には1Tの
数が増加する。 (7)2ビット以上連続してエラーを検出した場合、必ず
疑似反転現象によるエラーが発生し、波形間干渉による
エラーが2ビット連続することはない。 (8)2ビット以上連続してエラーを検出し、かつエラー
発生区間において両方のデータd、gにおいて位相が反
転していない場合、この区間のエラーは、疑似反転現象
によるものと判定することができる。また、もし、位相
が反転している場合には、疑似反転現象によるエラーと
波形間干渉によるエラーがそれぞれ1ビットづつ発生し
たものと判定することができる。 (9)エラーが1ビットの単発で検出され、かつエラー検
出ビットの前後で等化器5L側のデータdの位相が反転
している場合、波形間干渉によるエラーと判定すること
ができ、逆に、データdの位相が反転していない場合、
疑似反転現象によるエラーと判定することができる。
【0022】つぎに、エラーの検出方法とその訂正手順
を説明する。まず、シフトレジスタ8L、8H内のデー
タ間で排他的論理和(以下、チェックフラグという。)
をとって真となるポイントを検出し、真にならない場合
に両者のデータが一致していると判断して次のデータを
取り込む。そして、チェックフラグが真の場合に上記誤
り復帰区間TE内のデータを全て取り込む。
を説明する。まず、シフトレジスタ8L、8H内のデー
タ間で排他的論理和(以下、チェックフラグという。)
をとって真となるポイントを検出し、真にならない場合
に両者のデータが一致していると判断して次のデータを
取り込む。そして、チェックフラグが真の場合に上記誤
り復帰区間TE内のデータを全て取り込む。
【0023】ここで、チェックフラグが真になっている
ビットについて、図3〜図5に示す状態をチェックして
該当する場合には、シフトレジスタ8L、8H内のどち
らかのデータにエラーが発生したことを判別することが
でき、したがって、このエラーを訂正することができ
る。図6に示す例では、図6(c)に示すチェックフラ
グが図6(b)に示す高域強調度GH側の4T側に存在
し、また、この4Tが高域強調度GL側において相当す
るデータは、図6(a)に示すように2Tと3Tであ
る。したがって、前述(1)したように4Tが誤って抽出
されないので、高域強調度GH側の4Tが3Tに誤った
と判定することができる。そして、このエラー訂正を行
った後、チェックフラグがなくなれば訂正を完了し、ま
だ存在する場合には次の処理を行う。
ビットについて、図3〜図5に示す状態をチェックして
該当する場合には、シフトレジスタ8L、8H内のどち
らかのデータにエラーが発生したことを判別することが
でき、したがって、このエラーを訂正することができ
る。図6に示す例では、図6(c)に示すチェックフラ
グが図6(b)に示す高域強調度GH側の4T側に存在
し、また、この4Tが高域強調度GL側において相当す
るデータは、図6(a)に示すように2Tと3Tであ
る。したがって、前述(1)したように4Tが誤って抽出
されないので、高域強調度GH側の4Tが3Tに誤った
と判定することができる。そして、このエラー訂正を行
った後、チェックフラグがなくなれば訂正を完了し、ま
だ存在する場合には次の処理を行う。
【0024】図7〜図10は、1Tと4Tの組合せを誤
った場合の各例を示す。まず、図7(a)(b)は共
に、等化器5H側のデータgが1Tと4Tの組合せをT
と2TとTの組合せに誤り、図7(a)は、等化器5L
側のデータdが2Tと3Tの組合せに誤り、図7(b)
は、データdが正しい場合を示す。図7(a)に示す場
合には、条件(1)(7)(8)によりエラーを判定して訂正す
ることができ、図7(b)に示す場合には、条件(1)に
より判定して訂正することができる。
った場合の各例を示す。まず、図7(a)(b)は共
に、等化器5H側のデータgが1Tと4Tの組合せをT
と2TとTの組合せに誤り、図7(a)は、等化器5L
側のデータdが2Tと3Tの組合せに誤り、図7(b)
は、データdが正しい場合を示す。図7(a)に示す場
合には、条件(1)(7)(8)によりエラーを判定して訂正す
ることができ、図7(b)に示す場合には、条件(1)に
より判定して訂正することができる。
【0025】図8(a)(b)は共に、等化器5H側の
データgが4Tを2TとTとTの組合せに誤り、図8
(a)は、等化器5L側のデータdが1Tと4Tの組合
せを2Tと3Tの組合せに誤り、図8(b)は、データ
dが正しい場合を示す。図8(a)に示すエラーは条件
(9)(1)により判定され、図8(b)に示すエラーは条件
(1)により判定される。
データgが4Tを2TとTとTの組合せに誤り、図8
(a)は、等化器5L側のデータdが1Tと4Tの組合
せを2Tと3Tの組合せに誤り、図8(b)は、データ
dが正しい場合を示す。図8(a)に示すエラーは条件
(9)(1)により判定され、図8(b)に示すエラーは条件
(1)により判定される。
【0026】図9(a)(b)は共に、等化器5H側の
データgが4TをTとTと2Tの組合せに誤り、図9
(a)は、等化器5L側のデータdが1Tと4Tの組合
せを2Tと3Tの組合せに誤り、図9(b)は、データ
dが正しい場合を示す。図9(a)に示すエラーは条件
(6)(7)(8)により判定され、図9(b)に示すエラーは
条件(1)により判定される。
データgが4TをTとTと2Tの組合せに誤り、図9
(a)は、等化器5L側のデータdが1Tと4Tの組合
せを2Tと3Tの組合せに誤り、図9(b)は、データ
dが正しい場合を示す。図9(a)に示すエラーは条件
(6)(7)(8)により判定され、図9(b)に示すエラーは
条件(1)により判定される。
【0027】図10(a)(b)は共に、等化器5H側
のデータgが正しく、図10(a)は、等化器5L側の
データdが1Tと4Tの組合せを2Tと3Tの組合せに
誤り、図10(b)は、データdが正しい場合すなわち
両データd、gが正しい場合を示す。図10(a)に示
すエラーは条件(1)により判定される。
のデータgが正しく、図10(a)は、等化器5L側の
データdが1Tと4Tの組合せを2Tと3Tの組合せに
誤り、図10(b)は、データdが正しい場合すなわち
両データd、gが正しい場合を示す。図10(a)に示
すエラーは条件(1)により判定される。
【0028】図11、図12は、1Tと3Tの組み合わ
せを誤った場合の各例を示している。まず、図11
(a)(b)は共に、等化器5H側のデータgが3Tを
T、T、Tの組合せに誤り、図11(a)は、等化器5
L側のデータdが1Tと3Tを2Tと2Tに誤り、図1
1(b)は、データdが正しい場合を示す。ここで、図
11(b)に示すエラーは条件(9)により判定される
が、図11(a)に示すエラーは、図15〜図17にお
いて後述する。
せを誤った場合の各例を示している。まず、図11
(a)(b)は共に、等化器5H側のデータgが3Tを
T、T、Tの組合せに誤り、図11(a)は、等化器5
L側のデータdが1Tと3Tを2Tと2Tに誤り、図1
1(b)は、データdが正しい場合を示す。ここで、図
11(b)に示すエラーは条件(9)により判定される
が、図11(a)に示すエラーは、図15〜図17にお
いて後述する。
【0029】図12(a)(b)は共に、等化器5H側
のデータgが正しく、図12(a)は、等化器5L側の
データdが1Tと3Tを2Tと2Tに誤り、図12
(b)は、データdが正しい場合すなわち両データd、
gが正しい場合を示す。図12(a)に示すエラーは条
件(9)により判定される。
のデータgが正しく、図12(a)は、等化器5L側の
データdが1Tと3Tを2Tと2Tに誤り、図12
(b)は、データdが正しい場合すなわち両データd、
gが正しい場合を示す。図12(a)に示すエラーは条
件(9)により判定される。
【0030】図13(a)〜(c)は、1Tと4Tと1
Tの組み合わせを誤った場合の各例を示している。図1
3(a)〜(c)は共に、等化器5L側のデータdが2
T、2T、2Tの組み合わせに誤り、図13(a)は、
等化器5H側のデータgがT、2T、T、Tに誤り、図
13(b)は、データgがT、T、2T、Tに誤り、図
13(c)は、データgがT、T、T、2Tに誤った場
合を示す。このいずれのエラーも条件(1)(5)(6)(7)(8)
(9)により判定される。
Tの組み合わせを誤った場合の各例を示している。図1
3(a)〜(c)は共に、等化器5L側のデータdが2
T、2T、2Tの組み合わせに誤り、図13(a)は、
等化器5H側のデータgがT、2T、T、Tに誤り、図
13(b)は、データgがT、T、2T、Tに誤り、図
13(c)は、データgがT、T、T、2Tに誤った場
合を示す。このいずれのエラーも条件(1)(5)(6)(7)(8)
(9)により判定される。
【0031】すなわち、図14(A)に示すようにチェ
ックフラグが2ビット以上連続した場合には、波形間干
渉のみではチェックフラグが2ビット連続しないので、
必ず疑似反転によるエラーを含むことになる。そして、
(i)チェックフラグが存在する間において、両データの
位相が変化しない場合にこの2ビットが疑似反転のみに
よるエラーと判定する。
ックフラグが2ビット以上連続した場合には、波形間干
渉のみではチェックフラグが2ビット連続しないので、
必ず疑似反転によるエラーを含むことになる。そして、
(i)チェックフラグが存在する間において、両データの
位相が変化しない場合にこの2ビットが疑似反転のみに
よるエラーと判定する。
【0032】ついで、(ii)チェックフラグがセットされ
ている間に、両データの位相が変化する場合には波形間
干渉と疑似反転の両方によるエラーと判定し、図14
(B)に示すように上記(6)の関係を用いて訂正する。
すなわち、チェックフラグが存在する間において両デー
タを反転し、高域強調度GL側のデータに1Tが増加
し、高域強調度GH側のデータから1Tが減少するよう
に訂正する。また、上記手順(i)をこの手順(ii)を適用
することにより最初の1ビットを波形間干渉によるもの
と判定することができる。
ている間に、両データの位相が変化する場合には波形間
干渉と疑似反転の両方によるエラーと判定し、図14
(B)に示すように上記(6)の関係を用いて訂正する。
すなわち、チェックフラグが存在する間において両デー
タを反転し、高域強調度GL側のデータに1Tが増加
し、高域強調度GH側のデータから1Tが減少するよう
に訂正する。また、上記手順(i)をこの手順(ii)を適用
することにより最初の1ビットを波形間干渉によるもの
と判定することができる。
【0033】ここで、図11(a)に示すように等化器
5L側のデータdにおいて、Tと3Tの組み合わせと3
TとTの組合せが共に2Tと2Tの組み合わせに誤った
場合には、2ビット連続してエラーが検出され、両デー
タd、gにおいて1ビットづつエラーが発生しているこ
とまで判定することができるが、条件(6)を用いても等
化器5L、5Hのいずれのビットによりエラーが発生し
たのかを判定することができない。すなわち、真のデー
タがTと3Tであるか、3TとTであるかを判定するこ
とができない。
5L側のデータdにおいて、Tと3Tの組み合わせと3
TとTの組合せが共に2Tと2Tの組み合わせに誤った
場合には、2ビット連続してエラーが検出され、両デー
タd、gにおいて1ビットづつエラーが発生しているこ
とまで判定することができるが、条件(6)を用いても等
化器5L、5Hのいずれのビットによりエラーが発生し
たのかを判定することができない。すなわち、真のデー
タがTと3Tであるか、3TとTであるかを判定するこ
とができない。
【0034】図15はその判定回路を示し、図16は、
Tと3Tを2Tと2Tに誤った場合を示し、図17は3
TとTを2Tと2Tに誤った場合を示す。図16に示す
ように等化器5Lの出力信号cのTが広がり、3Tが狭
まった場合、そのデータdは、クロックCLKの立ち上
がりでロックされるので、2Tと2Tに誤る。また、図
17に示すように等化器5Lの出力信号cの3Tが狭ま
り、Tが広がった場合にも同様に、そのデータdがクロ
ックCLKの立ち上がりでロックされるので、2Tと2
Tに誤る。この場合、等化器5H側のデータgは、いず
れもT、T、T、Tに誤るので、データd、gの排他的
論理和(チェックフラグ)hは、いずれの場合には2ビ
ット連続する。
Tと3Tを2Tと2Tに誤った場合を示し、図17は3
TとTを2Tと2Tに誤った場合を示す。図16に示す
ように等化器5Lの出力信号cのTが広がり、3Tが狭
まった場合、そのデータdは、クロックCLKの立ち上
がりでロックされるので、2Tと2Tに誤る。また、図
17に示すように等化器5Lの出力信号cの3Tが狭ま
り、Tが広がった場合にも同様に、そのデータdがクロ
ックCLKの立ち上がりでロックされるので、2Tと2
Tに誤る。この場合、等化器5H側のデータgは、いず
れもT、T、T、Tに誤るので、データd、gの排他的
論理和(チェックフラグ)hは、いずれの場合には2ビ
ット連続する。
【0035】このようにエラーの検出は可能でも、前記
(1)〜(7)までの論理だけでは真のデータを推定できない
ケースに対し、図15に示す回路を追加することにより
推定が可能となる。この回路の動作原理について以下に
説明する。出力信号cが真のデータと一致した場合の各
部のタイミングチャートを図26に示す。データdの位
相反転のタイミングは、出力信号cに対してクロック半
周期分遅延する。よってcydの排他論理和を取るとc
の位相が反転した直後、又はdの位相が反転する直前
に、CLK半周期分の間、論理正となる。ここで、CL
Kのデューティを50%とすると、c、dの排他論理和
iの立ち上りとCLKの立ち下りタイミングは一致す
る。
(1)〜(7)までの論理だけでは真のデータを推定できない
ケースに対し、図15に示す回路を追加することにより
推定が可能となる。この回路の動作原理について以下に
説明する。出力信号cが真のデータと一致した場合の各
部のタイミングチャートを図26に示す。データdの位
相反転のタイミングは、出力信号cに対してクロック半
周期分遅延する。よってcydの排他論理和を取るとc
の位相が反転した直後、又はdの位相が反転する直前
に、CLK半周期分の間、論理正となる。ここで、CL
Kのデューティを50%とすると、c、dの排他論理和
iの立ち上りとCLKの立ち下りタイミングは一致す
る。
【0036】つぎに図11(a)のケースを上記タイミ
ングチャートにあてはめたものを図27に示す。点線は
真のデータ位置を示し、矢印は波形間干渉の方向を示
す。先に述べたように出力信号cとデータdの排他論理
和iはデータdの位相反転の直前に論理正となる。その
正となる時間は、cの反転、タイミングとそれに続くC
LKの立ち上りタイミングの間隔で決まる。そして、も
しcのデータが波形間干渉をもたなければ、cの位相反
転タイミングとCLKの立ち上りタイミングは一致す
る。もし、真のデータが2T、2Tで、cがジッタを含
まず真のデータと一致すれば図27に示すAのタイミン
グで、cの位相は反転することになる。図27の(a)
の場合、Aのタイミングよりも早くcの位相は反転して
いるのに対し、(b)の場合遅れて反転している。ここ
で、(a)(b)ともにデータdにおいて波形間干渉に
より、誤りが発生していることが判っており、Aのタイ
ミングとcの反転タイミングの位置関係より真のデータ
を推定することができる。先にも述べたように、波形間
干渉によるピークシフト量を1T以内とすれば(a)の
場合cの位相反転は、Aのポイントを越えて遅れること
はあり得ず、逆に(b)の場合、進むことはあり得な
い。(a)の場合Aポイントにおけるiの論理は正とな
り、(b)の場合負となる。このようにdが反転する1
つ前のクロックの立ち下りで、cの位相情報を調べるこ
とにより、波形間干渉がどちらからずれてきたものかを
判定することができる。
ングチャートにあてはめたものを図27に示す。点線は
真のデータ位置を示し、矢印は波形間干渉の方向を示
す。先に述べたように出力信号cとデータdの排他論理
和iはデータdの位相反転の直前に論理正となる。その
正となる時間は、cの反転、タイミングとそれに続くC
LKの立ち上りタイミングの間隔で決まる。そして、も
しcのデータが波形間干渉をもたなければ、cの位相反
転タイミングとCLKの立ち上りタイミングは一致す
る。もし、真のデータが2T、2Tで、cがジッタを含
まず真のデータと一致すれば図27に示すAのタイミン
グで、cの位相は反転することになる。図27の(a)
の場合、Aのタイミングよりも早くcの位相は反転して
いるのに対し、(b)の場合遅れて反転している。ここ
で、(a)(b)ともにデータdにおいて波形間干渉に
より、誤りが発生していることが判っており、Aのタイ
ミングとcの反転タイミングの位置関係より真のデータ
を推定することができる。先にも述べたように、波形間
干渉によるピークシフト量を1T以内とすれば(a)の
場合cの位相反転は、Aのポイントを越えて遅れること
はあり得ず、逆に(b)の場合、進むことはあり得な
い。(a)の場合Aポイントにおけるiの論理は正とな
り、(b)の場合負となる。このようにdが反転する1
つ前のクロックの立ち下りで、cの位相情報を調べるこ
とにより、波形間干渉がどちらからずれてきたものかを
判定することができる。
【0037】図16及び図17に図27の(a)、
(b)の場合における各部の出力信号波形をそれぞれ示
す。dとgの排他論理和(エラーチェックフラグh)は
dの位相反転よりも時間軸上、Tほど前に“H”にな
り、それに続くCLKの立ち下りエッジが判定タイミン
グのAポイントに該当する。図15の回路では、チェッ
クフラグhによってCLKが解除されて、CLKの立ち
下りでiをラッチし、もしQ出力にHパルスが出された
とき、真のデータはT、3Tと推定でき、“L”であっ
たとき、3T、Tと推定できる。このQ出力は、エラー
チェックフラグhが負に復帰するときにクリアされる。
(b)の場合における各部の出力信号波形をそれぞれ示
す。dとgの排他論理和(エラーチェックフラグh)は
dの位相反転よりも時間軸上、Tほど前に“H”にな
り、それに続くCLKの立ち下りエッジが判定タイミン
グのAポイントに該当する。図15の回路では、チェッ
クフラグhによってCLKが解除されて、CLKの立ち
下りでiをラッチし、もしQ出力にHパルスが出された
とき、真のデータはT、3Tと推定でき、“L”であっ
たとき、3T、Tと推定できる。このQ出力は、エラー
チェックフラグhが負に復帰するときにクリアされる。
【0038】つぎに、図18を参照して誤りが1ビット
の場合について詳しく説明する。まず、図18(A)に
示すように上記誤り復帰区間TE内の高域強調度GH側の
データgの反転数と高域強調度GL側のデータdの反転
数の差が2nである場合には、n個の疑似反転エラーが
発生していることを判別することができる。但し、この
DATでは最大反転間隔が4Tであるので、n=1以外
に有り得ない。また、発生箇所も真のデータが3Tの場
合データの中央に相当するビットに限定される。
の場合について詳しく説明する。まず、図18(A)に
示すように上記誤り復帰区間TE内の高域強調度GH側の
データgの反転数と高域強調度GL側のデータdの反転
数の差が2nである場合には、n個の疑似反転エラーが
発生していることを判別することができる。但し、この
DATでは最大反転間隔が4Tであるので、n=1以外
に有り得ない。また、発生箇所も真のデータが3Tの場
合データの中央に相当するビットに限定される。
【0039】逆に波形間干渉によりエラーが発生した場
合には、図18(B)に示すように両データの反転タイ
ミングが1ビットずれているので、このチェックフラグ
の前後に必ず高域強調度GL側のデータdのエッジが存
在する。したがって、どちらのデータに誤りがあるかを
判定し、訂正することができる。
合には、図18(B)に示すように両データの反転タイ
ミングが1ビットずれているので、このチェックフラグ
の前後に必ず高域強調度GL側のデータdのエッジが存
在する。したがって、どちらのデータに誤りがあるかを
判定し、訂正することができる。
【0040】なお、上記実施例では、波形間干渉におけ
るピークシフト量が1Tとして説明したが、図19
(a)および(b)に示すように1T、4T、1Tのデ
ータが2Tの繰り返し信号に誤った場合にも訂正するこ
とができる。なお、図19に示す例では、図19(b)
に示す高域強調度GL側のデータdが2Tの繰り返しに
誤っているが、この場合には図19(c)に示す高域強
調度GH側のデータgにおいて前後に反転しているの
で、図19(d)に示すように排他的論理和により1
T、4T、1Tに訂正することができる。
るピークシフト量が1Tとして説明したが、図19
(a)および(b)に示すように1T、4T、1Tのデ
ータが2Tの繰り返し信号に誤った場合にも訂正するこ
とができる。なお、図19に示す例では、図19(b)
に示す高域強調度GL側のデータdが2Tの繰り返しに
誤っているが、この場合には図19(c)に示す高域強
調度GH側のデータgにおいて前後に反転しているの
で、図19(d)に示すように排他的論理和により1
T、4T、1Tに訂正することができる。
【0041】すなわち、波形等化器の高域強調度GΔと
波形間干渉および疑似反転によるエラーの関係が図20
に示すように相反性を有するので、この実施例ではこの
相反性と誤りパターンの規則性に着目し、高域強調度G
Lの等化器5Lと高域強調度GH(>GL)の等化器5H
から抽出されるデータパターンの誤り位置を検出して訂
正することにより、種々の記録媒体の記録レベルや磁気
ヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因に応じて最
適に等化することができる。また、検査符号を用いない
ので、テープ1の容量を増加することができる。更に、
シフトレジスタ8L、8H以下の誤り検出訂正回路はデ
ィジタル回路で構成することができるので、アナログ回
路1〜4、5L、5H、6L、6HのS/Nの影響が少
なく、またLSI化が簡単である。
波形間干渉および疑似反転によるエラーの関係が図20
に示すように相反性を有するので、この実施例ではこの
相反性と誤りパターンの規則性に着目し、高域強調度G
Lの等化器5Lと高域強調度GH(>GL)の等化器5H
から抽出されるデータパターンの誤り位置を検出して訂
正することにより、種々の記録媒体の記録レベルや磁気
ヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因に応じて最
適に等化することができる。また、検査符号を用いない
ので、テープ1の容量を増加することができる。更に、
シフトレジスタ8L、8H以下の誤り検出訂正回路はデ
ィジタル回路で構成することができるので、アナログ回
路1〜4、5L、5H、6L、6HのS/Nの影響が少
なく、またLSI化が簡単である。
【0042】また、従来例ではこのような誤りの発生過
程が知られているにもかかわらず、電磁変換系1〜3が
アナログ信号系であるので、信頼性を向上するために個
々の材質の性能のみが要求されていたが、本実施例によ
れば、アナログ信号系の冗長成分をハードウエアにより
抽出することができるので、簡単な構成で真のデータを
得ることができる。さらに、DATのようにエラーのパ
ターンが限定できる場合、修正パターンをあらかじめR
OMの中に記憶させておけばより簡易化ができる。
程が知られているにもかかわらず、電磁変換系1〜3が
アナログ信号系であるので、信頼性を向上するために個
々の材質の性能のみが要求されていたが、本実施例によ
れば、アナログ信号系の冗長成分をハードウエアにより
抽出することができるので、簡単な構成で真のデータを
得ることができる。さらに、DATのようにエラーのパ
ターンが限定できる場合、修正パターンをあらかじめR
OMの中に記憶させておけばより簡易化ができる。
【0043】なお、上記実施例では2つの等化器5L、
5Hを用いたが、その数を増加することにより波形干渉
量の制限を緩めたり、より多くの反転周期で変調された
信号を再生することができる。また、ドロップアウト等
のデータ消失に関してはエラーレートが従来例と変わら
ないので、リードソロモン法やクロスインタリーブ法を
併用することにより更に効果を高めることができる。
5Hを用いたが、その数を増加することにより波形干渉
量の制限を緩めたり、より多くの反転周期で変調された
信号を再生することができる。また、ドロップアウト等
のデータ消失に関してはエラーレートが従来例と変わら
ないので、リードソロモン法やクロスインタリーブ法を
併用することにより更に効果を高めることができる。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
例えば等化器として疑似反転によるエラーが無視可能に
なるように周波数特性が設定された第1の等化器と、疑
似反転と相反性を有する波形間干渉によるエラーが無視
可能になるように周波数特性が設定された第2の等化器
が用いられ、誤り訂正手段により疑似反転と波形間干渉
の相反性と、記録データのパターンとこの第1および第
2の等化器の周波数特性に応じて再生データの誤り箇所
が検出され、訂正されるので、種々の記録媒体の記録レ
ベルやヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因に応
じて最適に等化することができ、また、検査情報を記憶
媒体に記録しないので、記録媒体の容量を増加すること
ができる。また、例えばディジタルパターンの反転周期
がTと2Tと3Tと4Tの組み合わせの場合、等化され
た信号とそのロックされた信号の排他的論理和信号によ
り、反転周期が広がったか、または狭まったかを検出捨
てエラーを訂正することができる。
例えば等化器として疑似反転によるエラーが無視可能に
なるように周波数特性が設定された第1の等化器と、疑
似反転と相反性を有する波形間干渉によるエラーが無視
可能になるように周波数特性が設定された第2の等化器
が用いられ、誤り訂正手段により疑似反転と波形間干渉
の相反性と、記録データのパターンとこの第1および第
2の等化器の周波数特性に応じて再生データの誤り箇所
が検出され、訂正されるので、種々の記録媒体の記録レ
ベルやヘッドの再生特性のばらつきやエラーの要因に応
じて最適に等化することができ、また、検査情報を記憶
媒体に記録しないので、記録媒体の容量を増加すること
ができる。また、例えばディジタルパターンの反転周期
がTと2Tと3Tと4Tの組み合わせの場合、等化され
た信号とそのロックされた信号の排他的論理和信号によ
り、反転周期が広がったか、または狭まったかを検出捨
てエラーを訂正することができる。
【図1】本発明に係るディジタル再生装置の一実施例で
あるDATレコーダを示すブロック図である。
あるDATレコーダを示すブロック図である。
【図2】図1のディジタル再生装置における主要信号を
示す波形図である。
示す波形図である。
【図3】データパターンのエラー遷移を示す説明図であ
る。
る。
【図4】反転周期の遷移を示す説明図である。
【図5】波形間干渉と疑似反転現象の2つの要因により
発生するエラーの関係を示すタイミングチャートであ
る。
発生するエラーの関係を示すタイミングチャートであ
る。
【図6】抽出データが4Tの場合を示すタイミングチャ
ートである。
ートである。
【図7】Tと4Tの組合せを誤った場合の一例を示すタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
【図8】Tと4Tの組合せを誤った場合の他の例を示す
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図9】Tと4Tの組合せを誤った場合の他の例を示す
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図10】Tと4Tの組合せを誤った場合の他の例を示
すタイミングチャートである。
すタイミングチャートである。
【図11】Tと3Tの組合せを誤った場合の一例を示す
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図12】Tと3Tの組合せを誤った場合の他の例を示
すタイミングチャートである。
すタイミングチャートである。
【図13】Tと4TとTの組合せを誤った場合の各例を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
【図14】誤りが2ビット連続した場合を示すタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図15】Tと3T、3TとTを2Tと2Tに誤った場
合の判定回路を示す回路図である。
合の判定回路を示す回路図である。
【図16】Tと3Tを2Tと2Tに誤った場合を示すタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
【図17】3TとTを2Tと2Tに誤った場合を示すタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
【図18】誤りが1ビットの場合を示すタイミングチャ
ートである。
ートである。
【図19】波形間干渉におけるピークシフト量の他の例
を示すタイミングチャートである。
を示すタイミングチャートである。
【図20】波形等化器の高域強調度と波形間干渉および
疑似反転によるエラーの関係を示すグラフである。
疑似反転によるエラーの関係を示すグラフである。
【図21】波形間干渉によるエラーを説明するための波
形図である。
形図である。
【図22】疑似反転現象によるエラーを説明するための
波形図である。
波形図である。
【図23】波形間干渉と疑似反転の相反性を示す図であ
る。
る。
【図24】従来のディジタル記録再生装置の一例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図25】従来のディジタル記録再生装置の他の例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図26】出力信号が真のデータと一致した場合を示す
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図27】図11の(a)のケースを図26のタイミン
グチャートにあてはめて示したタイミングチャートであ
る。
グチャートにあてはめて示したタイミングチャートであ
る。
5H,5L 波形等化器 6H,6L コンパレータ 9 Dラッチ 70 PLL回路 8H,8L シフトレジスタ(記憶手段) 80 エラー検出訂正ブロック
Claims (5)
- 【請求項1】 ディジタル波形で記録された信号を再生
するディジタル再生装置において、 再生信号の複数のエラー発生要因にそれぞれ適した特性
で再生信号を等化する複数の等化器と、 前記複数の等化器により等化された信号をそれぞれディ
ジタル信号に変換し抽出する変換・抽出手段と、 前記複数のエラー発生要因と、ディジタル波形で記録さ
れた信号のパターンと前記複数の等化器の特性に応じ
て、前記変換・抽出手段により抽出された各ディジタル
信号を比較することにより再生データのエラー箇所を検
出し、訂正する誤り訂正手段とを有することを特徴とす
るディジタル再生装置。 - 【請求項2】 前記複数の等化器は、疑似反転によるエ
ラーが無視可能になるように等化する周波数特性が設定
された第1の等化器と、疑似反転と相反性を有する波形
間干渉によるエラーが無視可能になるように等化する周
波数特性が設定された第2の等化器とを有し、前記誤り
訂正手段は、疑似反転と波形間干渉の相反性と、ディジ
タル波形で記録された信号のパターンと前記第1および
第2の等化器の周波数特性に応じて再生データのエラー
箇所を検出し、訂正する手段を有することを特徴とする
請求項1記載のディジタル再生装置。 - 【請求項3】 前記誤り訂正手段は、前記変換・抽出手
段により抽出された各ディジタル信号を記憶する記憶手
段と、前記記憶手段に記憶された各ディジタル信号を比
較し、不一致によりエラー箇所を検出し、訂正する手段
を有することを特徴とする請求項1または2記載のディ
ジタル再生装置。 - 【請求項4】 前記ディジタルパターンは、各変調方式
に応じた磁化反転信号の連続であり、前記誤り訂正手段
は、前記第1、第2の等化器の特性に応じたエラーの組
み合わせと、前記変換・抽出手段により抽出された各デ
ィジタル信号の不一致に基づいてエラー箇所を検出し、
訂正することを特徴とする請求項2または3記載のディ
ジタル再生装置。 - 【請求項5】 前記変換・抽出手段は、前記第1、第2
の等化器により等化された各信号をクロックの立ち上が
りでロックする位相ロック手段を有し、前記誤り訂正手
段は、前記位相ロック手段によりロックされた各信号の
排他的論理和信号でクリアされ、前記第1の等化器によ
り等化された信号と前記位相ロック手段によりロックさ
れたその信号の排他的論理和信号をラッチするラッチ手
段を有し、このラッチ手段によりラッチされた信号によ
り、前記第1の等化器により等化された信号の反転間隔
が狭まったか、又は広がったかをクロックの立ち下りで
検出して訂正することを特徴とする請求項4記載のディ
ジタル再生装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2176892 | 1992-01-10 | ||
JP4-21768 | 1992-01-10 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05250819A true JPH05250819A (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=12064255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4151297A Pending JPH05250819A (ja) | 1992-01-10 | 1992-05-19 | ディジタル再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05250819A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008243340A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Institute Of National Colleges Of Technology Japan | 光ディスク用再生等化方法および再生等化回路 |
KR100863645B1 (ko) * | 2000-11-27 | 2008-10-15 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 반도체 장치 |
-
1992
- 1992-05-19 JP JP4151297A patent/JPH05250819A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100863645B1 (ko) * | 2000-11-27 | 2008-10-15 | 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 | 반도체 장치 |
JP2008243340A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Institute Of National Colleges Of Technology Japan | 光ディスク用再生等化方法および再生等化回路 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990309 |