JPH05248917A - 液体の流量制御装置とその制御方法 - Google Patents

液体の流量制御装置とその制御方法

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JPH05248917A
JPH05248917A JP8270692A JP8270692A JPH05248917A JP H05248917 A JPH05248917 A JP H05248917A JP 8270692 A JP8270692 A JP 8270692A JP 8270692 A JP8270692 A JP 8270692A JP H05248917 A JPH05248917 A JP H05248917A
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JP
Japan
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liquid
nozzle
pressure sensor
level
flow rate
Prior art date
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Pending
Application number
JP8270692A
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English (en)
Inventor
Takeshi Aiba
武 相場
Eiji Asami
榮次 浅見
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CHEM ART TECHNOL KK
Sony Corp
Original Assignee
CHEM ART TECHNOL KK
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 1個のセンサで高精度に液面レベルを検出す
る液体の流量制御装置とその制御方法を提供する。 【構成】 処理槽1内に設けたノズル3と、ノズル3に
連通して設けられた圧力センサ5とを有するもので、先
ず、ノズル3の排出口32から気体4を排出し、この排
出口32から排出される気体4の液中排出力を圧力セン
サ5にて検出し、次いで、この圧力センサ5の検出結果
と、予め記憶された液面レベルに対する液中排出力の関
係とを比較することにより、処理槽1内に供給する液体
2の量を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、処理槽内に蓄積される
液体の液面レベルを検出し、供給する液体の流量を制御
する液体の流量制御装置とその制御方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程におけるウエハ洗
浄工程では、有機溶剤や純水等の液体がそれぞれ処理槽
内に供給されており、ウエハをこの処理槽内へ順番に浸
漬することでウエハに付着した不純物を除去している。
半導体素子の高集積化に伴い、このようなウエハ洗浄工
程の重要性が増しており、これに用いる液体の量や温度
等の厳密な管理が必要となるとともに、高純度の液体を
使用する必要が生じている。
【0003】この液体の管理を行うための液体の流量制
御装置を図4(a)、(b)に基づいて説明する。図4
(a)の模式図に示すような液体の流量制御装置は、お
もに液体2が供給される処理槽1と、液体2の液面レベ
ル21を検出するための光電センサ51と、光電センサ
51の出力に基づいて弁15を制御するコントローラ6
とから構成されている。処理槽1は内槽11と外槽12
とから成り、液体源22からの液体2が内槽11内に供
給される。供給された液体2がこの内槽11からあふれ
た場合、外槽12に入るようになっている。また、外槽
12に入った液体2は、ポンプ13およびフィルタ14
を介して再び内槽11内に戻される。光電センサ51
は、内槽11側面で、検出したい液面21の高さに位置
に数箇所と、外槽12側面とにそれぞれ取り付けられて
いる。
【0004】このような液体の流量制御装置を用いた流
量の制御方法は、まず、弁15を開放して内槽11内に
液体2を供給する。そして、光電センサ51が取り付け
られた位置に液体2の液面21が達した場合、その光電
センサ51が作動して信号(ONまたはOFF)を出力
する。この出力信号の有無に基づいて液面21のレベル
を段階的に検出し、コントローラ6が弁15の開閉を制
御する。これにより、処理槽1内に供給する液体2の流
量を制御する。
【0005】また、図4(b)に示すような液体の流量
制御装置は、内槽11および外槽12から成る処理槽1
と、弁15を制御するコントローラ6とを有し、内槽1
1内に先端の高さ位置が異なるノズル3を設置し、それ
ぞれのノズル3にダイアフラムスイッチ52を設けたも
のである。また、外槽12内にもノズル3およびダイア
フラムスイッチ52が設けられている。このノズル3に
は図示しない気体が供給されており、ノズル3の先端か
らこの気体が排出されている。
【0006】このような液体の流量制御装置を用いて流
量を制御するには、ダイアフラムスイッチ52の出力信
号に基づいて行う。すなわち、ノズル3の先端に液面2
1が達する前と後の気体の排出力の差を利用して、ダイ
アフラムスイッチ52を作動(ONまたはOFF)させ
る。これにより、どのダイアフラムスイッチ52が作動
したかにより、液面21のレベルを段階的に検出する。
そして、ダイアフラムスイッチ52の出力信号をコント
ローラ6に送り、コントローラ6が弁15を開閉するこ
とで、液体2の流量を制御する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の液体の流量制御装置およびその制御方法には次のよう
な問題がある。すなわち、光電センサを用いた液体の流
量制御装置では、処理槽の材質や形状、および液体の種
類により光電センサの感度にばらつきが生じてしまうた
め、煩雑な調整を行わなければならない。また、設定す
る液面のレベルに対応した個数だけ、光電センサを取り
付ける必要がある。例えば、ウエハ洗浄装置において、
ウエハを処理槽内の液体に浸漬する場合、処理槽内の液
体の有無を検出する光電センサと、ウエハを浸漬するの
に必要な液体の液面レベルを検出する光電センサ、およ
び内槽からあふれた液体の有無を検出する光電センサの
最低3個が必要となる。
【0008】また、ノズルとダイアフラムスイッチとを
用いた液体の流量制御装置においても、設定する液面の
レベルに対応した個数のノズルおよびダイアフラムスイ
ッチが必要となる。特に、このノズルのようなセンサ部
分が何本も液体と接触する場合には、液体内への不純物
の混入が顕著となり、液体の純度の低下を招く。さら
に、設定する液面のレベルを変更する場合、ノズルの先
端の位置を付け換えて、高さを調整しなければならな
い。
【0009】いずれの液体の流量制御装置を用いた制御
方法であっても、光電センサまたはダイアフラムスイッ
チの信号出力のON、OFFに基づいて弁を開閉してい
る。したがって、液面レベルを段階的にしか検出するこ
とができないため、高精度な検出を行うには、光電セン
サやノズルおよびダイアフラムスイッチ等のセンサを数
多く取り付けるが必要がある。よって、本発明は1個の
センサで高精度に液面レベルを検出する液体の流量制御
装置とその制御方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の課題を解
決するために成された液体の流量制御装置とその制御方
法である。すなわち、この液体の流量制御装置は、液体
が供給される処理槽内にノズルを設け、このノズルの供
給口から気体を供給し、処理槽内に設けられた排出口か
ら排出し、このノズルに連通して設けられた圧力センサ
で、気体の液中排出力を検出し、この圧力センサの出力
側に接続されたコントローラを介して液体の供給量を制
御するものである。
【0011】また、この液体の流量制御方法は、液体が
供給される処理槽内に設けられたノズルの排出口から気
体を排出し、この排出口から排出される気体の液中排出
力を圧力センサにて検出し、次いで、この圧力センサの
検出結果と、予め記憶された液面レベルに対する液中排
出力の関係とを比較することにより、処理槽内に供給す
る液体の量を制御するものである。
【0012】
【作用】処理槽内に設けられたノズルの排出口から気体
を排出し、この気体の液中排出力をノズルと連通した圧
力センサにて検出する。すなわち、処理槽内に供給され
る液体の深さに応じて、排出口から排出される気体の液
中排出力が変化する。この変化に対応して得られる圧力
センサの出力をコントローラに送り、弁を開閉すること
で、液体の流量を制御できる。
【0013】また、圧力センサの検出結果と、予め記憶
された液中排出力と液面レベルの高さとの関係とを比較
することにより、1つのノズルから液面レベルの高さを
連続的に検出することができる。
【0014】
【実施例】以下に、本発明の液体の流量制御装置とその
制御方法を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の
液体の流量制御装置を説明する模式図である。すなわ
ち、この液体の流量制御装置は、液体2が供給される処
理槽1と、この処理槽1内に取り付けられたノズル3
と、ノズル3と連通した状態に設けられた圧力センサ
5、および圧力センサ5の出力側に接続されたコントロ
ーラ6とから構成されている。
【0015】処理槽1は液体2が直接供給される内槽1
1と、この内槽11からあふれた液体2を受けるための
外槽12とから成り、外槽12に入った液体2は、ポン
プ13およびフィルター14を介して再び内槽11内に
戻される。ノズル3の排出口32は、内槽11内の底部
近くに位置決めされており、供給口31から供給された
窒素やクリーンエアー等の気体4を排出している。ま
た、ノズル3と連通した状態に、圧力センサ5が設けら
れている。この圧力センサ5として、例えば半導体を用
いた歪みゲージを用いることにより、排出口32から排
出される気体4の排出力に応じた出力信号を連続的に得
ることができる。
【0016】コントローラ6は、圧力センサ5から得た
出力信号を増幅するアンプや中央演算処理装置(CP
U)、電源および通信回路等から成るもので、圧力セン
サ5の出力信号から液面21のレベルを算出し、設定し
た液面21のレベルと比較して、液体2を補充するかど
うかを判定するものである。コントローラ6の通信回路
には、弁15を開閉させる設備コントローラ7が接続さ
れており、判定結果に基づいてコントローラ6から出力
された信号を受けて、液体源22に接続された弁15の
開閉を行っている。また、設備コントローラ7からの異
常信号やメッセージ信号等がこの通信回路を介してコン
トローラ6に送信される。これらの信号がコントーラ6
にて解析され、その判定結果に基づいた制御信号が再び
設備コントローラ7に送信される。
【0017】次に、このような液体の流量制御装置を用
いた制御方法について説明する。先ず、内槽11内に設
けられたノズル3の供給口31から気体4を供給し、ノ
ズル3の排出口32から排出する。そして、内槽内11
内に液体2を供給し、排出口32から排出される気体4
の液中排出力を圧力センサ5にて検出する。なお、液面
21のレベルが高くなればなるほど液中排出力が高くな
り、圧力センサ5の出力信号が増加する。次いで、この
出力信号をコントローラ6に送り、予め記憶された、液
面21のレベルに対する液中排出力の関係と比較する。
そして、この比較結果に基づいて、液面21のレベルが
設定値より低い場合には弁15を開ける命令を、また反
対に高い場合には弁15を閉める命令を設備コントロー
ラ7に送信する。そして、設備コントローラ7が弁15
に開閉の信号を送信することにより、液体源22から内
槽12に供給される液体2の流量を制御することができ
る。
【0018】次に、本発明の液体の流量制御方法におけ
る、液面レベルの検出方法について説明する。図2は液
面レベルの検出方法を説明する模式図で、(a)は開放
状態、(b)は液面レベルh1 の状態、(c)は液面レ
ベルh2 の状態である。先ず、図2(a)に示すよう
に、処理槽1内に液体2が無い場合、または液面21が
ノズル3の排出口32の高さh0 より低い場合、すなわ
ち開放状態において、排出口32から気体4を排出力p
0 で排出している。
【0019】図2(b)に示すように、処理槽1内に液
体2が供給されて、液面21のレベルが排出口32の高
さ(h0 )より高いh1 となった場合、気体4の液中排
出力p1 はp0 より大きくなる。そして、図2(c)に
示しように、処理槽1内に液体2がさらに供給され、液
面21のレベルがh2 となった場合、気体4の液中排出
力p2 はp1 よりも大きくなる。
【0020】この液面レベルと液中排出力との関係を図
3に示す。図3の横軸は液面レベルHを、縦軸は液中排
出力Pを表している。すなわち、図2(a)に示すよう
な開放状態は、図3の液面レベルHが0〜h0 の場合で
あり、これに対応する液中排出力Pはp0 で一定とな
る。液面レベルHがh0 より高い場合には、液中排出力
Pが比例増加しており、図2(b)に示すような液面レ
ベルh1 の状態で液中排出力p1 に、また、図2(c)
に示すような液面レベルh2 の状態で液中排出力p2
対応している。なお、図3に示す液面レベルHと液中排
出力Pとの関係は、液体2の温度t、比重dの場合であ
る。したがって、この関係は温度tおよび比重d等の諸
条件の違いによって変わるものである。
【0021】この液面レベルHと液中排出力Pとの関係
を予め求めておき、コントローラ6内に記憶しておく。
そして、圧力センサ5の出力信号による液中排出力P
と、この関係とを対応させることで、液面21のレベル
を連続的に検出することができる。
【0022】具体的な一例として、ウエハ洗浄装置に本
発明の液体の流量制御方法を適応した場合について説明
する。なお、液体2が供給された処理槽1内にウエハ
(図示せず)を完全に浸漬するには、液面レベルh2
必要であるとする。先ず、弁15を開放して液体2を処
理槽1内に供給するとともに、圧力センサ5にて気体4
の液中排出力Pを検出する。そして、コントローラ6内
に予め記憶された図3に示すような関係から、この液中
排出力Pに対応する液面レベルHを算出する。例えば、
圧力センサ5で検出された液中排出力Pがp1 であった
場合、図3に示す関係から液面レベルHがh1 であるこ
とが算出される。この結果に基づいて、コントローラ6
が設備コントローラ7に信号を送信し、弁15を開放し
たままにする。
【0023】そして、さらに液体2が処理槽1内に供給
され、圧力センサ5による液中排出力Pがp2 となった
場合、図3に示す関係から液面レベルHがh2 であるこ
とが算出される。コントローラ6はこの算出結果から、
ウエハが完全に浸漬するのに必要な液面レベルh2 に達
したことを判定し、設備コントローラ7に信号を送信す
る。この信号に基づいて、設備コントローラ7が弁15
を閉める命令を送信する。なお、弁15を閉めた後も、
圧力センサ5にて常に液中排出力Pを検出しており、液
面レベルHがh2 より下がった場合、液体2を補充する
ように弁15を制御する。
【0024】このように、予め記憶した液面レベルHと
液中排出力Pとの関係を用いることで、液面21のレベ
ルを連続的に算出することができるため、高精度に液体
2の流量を制御することができる。なお、この関係を液
体2の種類や温度tおよび比重d等が異なる場合につい
て予め求めておき、複数種類の関係をコントローラ6内
に記憶しておけば、各条件を変更した場合であっても、
必要な関係を読み出すことで容易に対処することができ
る。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の液体の流
量制御装置とその制御方法によれば次のような効果があ
る。すなわち、この液体の流量制御装置を用いれば、1
個のノズルおよび圧力センサのみで液面レベルを検出で
きるため、液体内への不純物の混入を低減することが可
能となり、高純度の液体を使用する場合にとくに有効で
ある。また、この液体の流量制御方法の用いれば、1個
のノズルおよび圧力センサであっても連続的に液面レベ
ルを検出することができるため、高精度に液体の流量を
制御することが可能となる。さらに、液面レベルの連続
的な検出が可能であるため、設定した液面レベルを変更
する場合においても、ノズルの先端を付け換えて高さを
調整する必要がなくなる。したがって、設備の変更にお
いて、柔軟な対応が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の液体の流量制御装置を説明する模式図
である。
【図2】液面レベルの検出方法を説明する模式図で、
(a)は開放状態、(b)は液面レベルh1 の状態、
(c)は液面レベルh2 の状態である。
【図3】液面レベルHと液中排出力Pとの関係を説明す
る図である。
【図4】従来の液体の流量制御装置を説明する模式図
で、(a)は光電センサを用いた例、(b)はダイアフ
ラムスイッチを用いた例である。
【符号の説明】
1 処理槽 2 液体 3 ノズル 4 気体 5 圧力センサ 6 コントローラ 7 設備コントローラ 11 内槽 12 外槽 13 ポンプ 14 フィルター 15 弁 21 液面 22 液体源 31 供給口 32 排出口

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理槽内に供給される液体の液面レベル
    を検出し、前記液体の供給量を制御する液体の流量制御
    装置において、 供給口から供給された気体を前記処理槽内に設けられた
    排出口から排出するノズルと、 前記ノズルに連通して設けられ、前記気体の液中排出力
    を検出するための圧力センサと、 前記圧力センサの出力側に接続され、前記圧力センサの
    出力に基づいて前記液体の供給量を制御するコントロー
    ラとから成ることを特徴とする液体の流量制御装置。
  2. 【請求項2】 液体が供給される処理槽内に設けられた
    ノズルの排出口から気体を排出することにより、前記液
    体の液面レベルを検出する液体の流量制御方法におい
    て、 前記ノズルの排出口から排出される前記気体の液中排出
    力を圧力センサにて検出し、 次いで、前記圧力センサの検出結果と、予め記憶された
    前記液面レベルに対する前記液中排出力の関係とを比較
    することにより、前記処理槽内に供給する前記液体の量
    を制御するようにしたことを特徴とする液体の流量制御
    方法。
JP8270692A 1992-03-04 1992-03-04 液体の流量制御装置とその制御方法 Pending JPH05248917A (ja)

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20010327