JPH05247645A - カソードスパッタ装置 - Google Patents
カソードスパッタ装置Info
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- JPH05247645A JPH05247645A JP5011332A JP1133293A JPH05247645A JP H05247645 A JPH05247645 A JP H05247645A JP 5011332 A JP5011332 A JP 5011332A JP 1133293 A JP1133293 A JP 1133293A JP H05247645 A JPH05247645 A JP H05247645A
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- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3411—Constructional aspects of the reactor
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
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Abstract
製作及び運転できるように改良することにある。 【構成】 ほぼ磁石と磁極片とアノードとカソードとし
て形成されたスパッタ材料から成るターゲットとマスク
装置とから構成された、真空・プロセスチャンバー内で
プラズマを用いてサブストレート上に薄いコーティング
膜を形成するためのカソードスパッタ装置において、
イ)サブストレートに面した、ターゲットのスパッタリ
ングする前面がほぼ屋根形に形成されかつ屋根面がター
ゲットの軸線に対して対称的に延びており、屋根形状が
少なくとも2つ又はそれ以上の平面によって形成されか
つ、長い両平面の前面上で形成される垂線の共通の交点
がターゲットの前方に位置しており、ロ)磁極片を有す
る1つだけの磁石セットが使用されており、ハ)サブス
トレートに面した磁極片の端面に、斜面が設けられてい
る。
Description
ノードとカソードとして形成されたスパッタ材料から成
るターゲットとマスク装置とから構成された、真空・プ
ロセスチャンバー内でプラズマを用いてサブストレート
上に薄いコーティング膜を形成するためのカソードスパ
ッタ装置に関する。
を形成するために、有利にはコンパクトディスクをコー
ティングするために、すでに種々の構成が公知である。
45号明細書によれば、真空スパッタ装置用の、スパッ
タ材料から成る第1カソードエレメント及び第2のカソ
ードエレメントを備えたターゲットユニットが公知であ
り、この場合、第2のカソードエレメントは第1のカソ
ードエレメントを取り囲んでいる。
学形状は、カソードエレメントが真空内に位置する場
合、その表面を第1のカソードエレメント表面の外側に
配置された第2のカソードエレメントのスパッタ表面か
ら材料がスパッタリングされるように、形成されてい
る。
のカソードとして形成されていてかつ第2のエレメント
の初期のスパッタ表面は截頭円錐状に形成されている。
6号明細書では、マグネトロン・スパッタ装置において
使用される截頭円錐状のスパッタ・ターゲットが提案さ
れている。
ほぼ、平らなサブストレートの中央範囲に対して平行に
延びる2つの表面範囲及び第1の範囲と第2の範囲とを
結合する第3の傾斜範囲とを備えた一体のターゲット
と、支持板と、異なる直径の2つのプラズマを発生させ
る磁界を生ぜしめるための手段とから構成されている。
4号明細書では、壁面がスパッタ表面に対して垂直に延
びる少なくとも2つの一貫した同心的な突起を備えたタ
ーゲットを有するマグネトロン・原理によるスパッタカ
ソードが提案されている。
していて、この磁極片の極面から発する磁力線はスパッ
タ表面に交差する。
スパッタ電流供給のために比較的高い電力が必要である
こと、第2に、スパッタリングの際に十分な効率が得ら
れないこと、即ち、過度のターゲット材料がサブストレ
ートに沈積する代りに遮蔽部材及びマスクに沈積するこ
と、第3に、カソードの機械的な構造が極めて複雑であ
ること、第4に、アークに起因してスパッタ電流供給・
SSVが極めて外乱の影響を受け易くひいては頻繁にス
パッタ電流供給・SSVが遮断されることにある。
欠点を回避して、装置を安全にかつ確実にかつ安価に製
作及び運転できるようにすることにある。
れば、 イ)サブストレートに面した、ターゲットのスパッタリ
ングする前面がほぼ屋根形に形成されかつ屋根面がター
ゲットの軸線に対して対称的に延びており、屋根形状が
少なくとも2つ又はそれ以上の平面によって形成されか
つ、長い両平面の前面上で形成される垂線の共通の交点
がターゲットの前方に位置しており、 ロ)磁極片を有する1つだけの磁石セットが使用されて
おり、 ハ)サブストレートに面した磁極片の端面に、斜面が設
けられていることによって解決された。
れた全ての課題を満たすことができる。
よって集束するスパッタ装置が得られる。これによって
サブストレート上に沈積する粒子量が増大せしめられか
つ周辺の構成部材に衝突する粒子量が減少せしめられひ
いては効率が著しく高められる。
この屈曲部において電子の静電的な閉じ込めが得られひ
いては第1のプラズマリングのための点弧条件が満たさ
れる。
(補極・ターゲット/ZPT・カソードによって公知)
を省略することができる。これによってターゲット表面
全体はアクチブなスパッタ表面として作用しかつ有利に
はターゲット表面の部分的な使用の危険は生ずることは
ない。
形態によって、第1のプラズマに加えて二次プラズマが
生ぜしめられる。この二次プラズマはプラズマリングと
して第1のプラズマリングに対して同心的に形成されか
つターゲット侵食プロフィルを拡張する。
タ出力をわずかに維持しかつターゲット耐用寿命を増大
させるために、形成される侵食プロフィルは深さに関連
してできるだけ幅広く形成されねばならない。
ーゲットとヨークとの間に非磁性材料から成る環状の薄
板が設けられる。これによって、磁極片から垂直に放出
される磁界の強さはターゲット表面に均一に作用し、こ
れによって幅広い侵食凹所が形成されるようになる。
表面を、例えば補極・ターゲット/ZPT・カソードの
場合のように通常平行ではない所定の角度を成して横切
る。この斜面によって電子はほぼ新たな(侵食されてな
い)ターゲットの場合にのみ磁気的な作用によってター
ゲット表面の近くで保持される(電子はターゲットの中
心に向かって集束する)。
ングプロセスは専ら平行な磁力線によって影響を及ぼさ
れかつ幅広い侵食プロフィルが形成される。侵食が進む
につれてターゲットの外周面に、電子の静電的な閉じ込
めを生ぜしめるターゲット壁が形成される。
合、全磁界を発生させるために極性を同じ向きに配向さ
れた磁石セットのみが使用される。仮想の対向極は付加
的な磁石を必要とすることなしに自動的にカソード中央
で生ずる。
石との間の軸方向間隔を適合もしくは最適化することに
よって変えることができる。磁石のこのような配置は有
利には大気中において行われ、これによってカソードポ
テンシャル(ターゲット)とヨークポテンシャルとの間
のフラッシオーバーが減少される。
で真空内の磁石は多量の漂遊磁界及び空洞に基づき頻繁
に発生するフラッシオーバー源を成すからである。
ポテンシャルに接続される構成部材はほぼ固有のアノー
ドリングと遮蔽リングとから形成される。アノードはプ
ロセスチャンバーの一部として電気的に絶縁されていて
かつ大気側に配置された冷却通路を介してのみ冷却され
るので、有利にはアノード冷却のために真空室内に冷媒
回路を設ける必要はない。
ングは、スパッタリングプロセス中に遮蔽リングのみが
コーティングされかつアノードリングが影響を受けずに
維持されるように、形成される。遮蔽リングは交換可能
である。
少することができる。従来ほぼ30kw必要とした実験
装置において、本発明ではほぼ15kwの半分の電力で
十分である。
ブストレート、例えばコンパクトディスクをコーティン
グする場合、アルミニウム及びアルミニウム・銅合金が
使用される。記述の本発明に構成によって、異なるター
ゲット材料を反応性スパッタリングのために使用するこ
ともできる。
に記載されている。
極片1aを備えたほぼ円板状のヨーク1の内側には、環
状磁石2が設けられている(第1図参照)。
をおいて、傾斜した端面4aを備えたほぼ中空円筒状の
磁極片4が接続されていて、この場合、斜面は回転軸線
A−Aに面している。磁極片4は非磁性材料から成る半
径方向で内側に設けられた薄板リング5に支持されてい
る。
路8aを備えた環状のアノード8が設けられていて、こ
のアノード8には半径方向で遮蔽リング9が接続されて
いる。
ンバー11の室壁10に結合されている。サブストレー
ト13の内縁をカバーするために、中央の磁極片1aに
結合された中央マスク14が設けられている。
中央マスク14によって環状の開口15が形成され、こ
の開口によってコーティングすべき円板状のサブストレ
ート13が位置決めされる。
Aに対して同心的に設けられていてかつ冷却可能な基板
17を介してヨーク1に結合されている。
した表面に屈曲部を有している。つまり屈曲部は、サブ
ストレート表面に対して平行に延びる半径方向で内側に
位置する環状の範囲16aと、この範囲16aに直接接
続された、内向きに傾斜した表面を備えた半径方向で外
側に位置する範囲16bとによって形成されている。
リングされたターゲット材料はサブストレート13に集
中的に向けられる。主スパッタリング方向は両ライン1
8,19によって図示されていて、このラインは外側範
囲16bの表面に対してほぼ垂直に延びかつ回転軸線A
−Aに交わっている。
部材4,5,6,7,8はそれぞれ1つのシールリング
20,20I,20II,20III,20IIIIによって互い
に気密に結合されていてかつ室壁10及びヨーク1と協
働してターゲット16を取り囲む真空室を形成してい
る。
しかつアノード8を大気側から冷却することができる。
タ装置の作用原理を説明するのに役立つ、第1図ですで
に図示した若干の構成部材を概略的に図示している。
製作されている。単一の環状磁石2は全ての磁界を発生
させるのに用いられ、この場合、磁極片1aは付加的な
磁石を必要とすることなしに自動的に仮想の対向極とし
て形成される。
から発生して、ターゲット15の前方で磁極片1aの端
面1bまで円弧状に延びる。他面、磁力線21の一部は
磁極片4の側面から発生し、かつターゲット16ほぼ直
線的に貫通して、再び磁極片1aの側面内に進入する。
基づき磁力線21はターゲット表面に対して所定の角度
を成して延びる。このことは、カソードスパッタリング
プロセスのたの点弧条件を得るために必要な、ターゲッ
ト表面近くでの電子の静電的な閉じ込めを生ぜしめる。
16aと傾斜した外側範囲16bとの間の屈曲部で生ぜ
しめられるので、屈曲部においてまず第1のプラズマリ
ング22が形成される。
ゼロクロスは、ターゲット表面の傾斜した範囲16bの
半径方向で内側に位置する第1の半部内に位置するの
で、ここで第2のプラズマリング23が形成される。
4との間の間隔3を変えることによって適合させること
ができる。
ングするための回転対称的な本発明によるカソードスパ
ッタ装置の部分断面図。
置を簡単に示した図。
グ 21 磁力線 22,23 プラズマリング 24 リング 25 スパッタ凹所 A−A 回転軸線 B,C 間隔
Claims (28)
- 【請求項1】 ほぼ磁石と磁極片とアノードとカソード
として形成されたスパッタ材料から成るターゲットとマ
スク装置とから構成された、真空・プロセスチャンバー
(11)内でプラズマ(22)を用いてサブストレート
(13)上に薄いコーティング膜を形成するためのカソ
ードスパッタ装置において、 イ)サブストレート(13)に面した、ターゲット(1
6)のスパッタリングする前面がほぼ屋根形に形成され
かつ屋根面がターゲットの軸線(A−A)に対して対称
的に延びており、屋根形状が少なくとも2つ又はそれ以
上の平面によって形成されかつ、長い両平面の前面上で
形成される垂線の共通の交点がターゲットの前方に位置
しており、 ロ)磁極片(1a,4)を有する1つだけの磁石セット
(2)が使用されており、 ハ)サブストレート(13)に面した磁極片(1a,
4)の端面(1b,4a)に、斜面が設けられているこ
とを特徴とする、カソードスパッタ装置。 - 【請求項2】 カソードスパッタ装置が軸線(A−A)
に対して回転対称的に構成されている、請求項1記載の
カソードスパッタ装置。 - 【請求項3】 磁石セット(2)が極性を同じ向きに配
向された個々の磁石から構成されている、請求項1記載
のカソードスパッタ装置。 - 【請求項4】 磁石セット(2)がターゲット(16)
を半径方向で取り囲みかつプロセスチャンバー(11)
の大気側に配置されている、請求項1記載のカソードス
パッタ装置。 - 【請求項5】 環状磁石(2)と磁極片(4)とが軸線
(A−A)方向で間隔(3)をおいて配置されている、
請求項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項6】 前記間隔(3)が調節可能である、請求
項5記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項7】 未使用の新たなターゲット(16)の半
径方向で外側の前縁が磁極片(4)の半径方向で内側の
前縁からサブストレート(13)の方向に距離(B)だ
け突出している、請求項1記載のカソードスパッタ装
置。 - 【請求項8】 中央に配置されたターゲット(16)と
ターゲット(16)を取り囲む磁極片(4)との間に非
磁性材料から成るリング(5)が設けられている、請求
項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項9】 中央に配置された磁極片(1a)と磁極
片(1a)を取り囲むターゲット(16)との間に非磁
性材料から成るリング(24)が設けられている、請求
項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項10】 リング(5,24)がそれぞれターゲ
ット(16)に対してダークスペースをおいて配置され
ている、請求項9記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項11】 ターゲット(16)を取り囲む構成部
材、つまりヨーク(1)、リング(5)、磁極片
(4)、アノード(8)、絶縁リング(6,7)及び室
壁(10)がそれぞれ隣接する構成部材に気密に結合さ
れている、請求項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項12】 構成部材(1,4,5,6,7,8,
10)の間にそれぞれ1つのシールリング(20,20
I,20II,20III,20IIII)が取り付けられてい
る、請求項11記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項13】 ターゲット(16)を取り囲む構成部
材、つまりヨーク(1)、リング(5)、磁極片
(4)、絶縁リング(6,7)、アノード(8)及び室
壁(10)が互いに摩擦接続的に結合されている、請求
項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項14】 冷却通路(8a)がアノード(8)の
半径方向で外側に位置する範囲に設けられている、請求
項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項15】 アノード(8)の半径方向で外側の範
囲が大気圧にさらされていてかつこの区分でのみ冷却さ
れる、請求項14記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項16】 アノード(8)が遮蔽リング(9)に
直接結合されている、請求項1記載のカソードスパッタ
装置。 - 【請求項17】 遮蔽リング(9)を有するアノード
(8)がターゲット(16)に対してダークスペースを
おいて配置されている、請求項1記載のカソードスパッ
タ装置。 - 【請求項18】 磁極片(4)、リング(5)、磁石セ
ット(2)、ヨーク(1)、磁極片(1a)及びリング
(24)がアノードポテンシャルに接続されている、請
求項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項19】 遮蔽リング(9)及び中央マスク(1
4)が電気的な浮動ポテンシャルをかけられている、請
求項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項20】 コーティングすべきサブストレート
(13)が扁平にかつ円板状に形成されている、請求項
1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項21】 第1のプラズマ(22)がターゲット
前面側の屋根状の屈曲部における静電的な閉じ込めによ
って発生させられる、請求項1記載のカソードスパッタ
装置。 - 【請求項22】 磁極片(4)の端面(4a)の斜面
が、この端面から発せられる磁力線(21)がターゲッ
ト(16)の前面に亘って円弧状に延びかつ再び中央に
配置された磁極片(1a)の端面(1b)内に進入する
ように、形成されている、請求項1記載のカソードスパ
ッタ装置。 - 【請求項23】 磁力線(21)の垂直方向の投影がタ
ーゲット(16)の外側範囲(16b)の屋根状の平面
に衝突するように、磁力線(21)が形成される、請求
項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項24】 前記衝突個所で第2のプラズマ(2
3)が発生する、請求項1記載のカソードスパッタ装
置。 - 【請求項25】 両プラズマ(22,23)が環状に形
成される、請求項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項26】 第2のプラズマ(23)が第1のプラ
ズマ(22)に対して間隔(C)をおいて発生する、請
求項1記載のカソードスパッタ装置。 - 【請求項27】 前記間隔(C)が、2つの最大値を以
ってターゲット前面側でプラズマ強度の分布が得られる
ように、設計されている、請求項26記載のカソードス
パッタ装置。 - 【請求項28】 間隔をおいて位置する2つのプラズマ
(22,23)によって幅広い横断面の凹所プロフィル
を有するスパッタ凹所が形成される、請求項27記載の
カソードスパッタ装置。
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