JPH05243707A - テストクーポン - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】プリント回路基板におけるスルーホール部の電
気的なチェックを容易かつ確実に実行することができる
とともに、電気的なチェックでは良品と判定され得るも
のであっても、スルーホールの穿設部位に問題があると
きには、これを排除することができるテストクーポンを
提供すること。 【構成】プリント回路基板（１）に設けられるスルーホ
ール部の電気的なチェックを実行するためのテストクー
ポンにおいて、基準スルーホール部（１１）の穿設部位
と適数個のテスト用スルーホール部（１２）の穿設のた
めの個別のクリアランス部位とを前記プリント回路基板
の切除可能な耳部（１Ａ）におけるテスト用導電パター
ン（１０）の適所に設けるように構成されているもの。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明はテストクーポンに関す
るものであり、特に、プリント回路基板におけるスルー
ホール部の電気的なチェックを容易かつ確実に実行する
ことができるようにされたテストクーポンに関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】図６は、この種の電気的チェックのため
の手段の従来例を示す図である。この中の図６の（Ａ）
は従来例を示す断面図である。この図６の（Ａ）におい
て、適当な材質のプリント回路基板１内には、複数層
（ここでは２層）の内層導体部６１が設けられており、
後述されるクリアランス６４の内部適所には通常のスル
ーホール６２が穿設されている。また、このスルーホー
ル６２の内層部にはスルーホール内層導体部６３が設け
られている。次に、図６の（Ｂ）は、前記図６の（Ａ）
において、一点鎖線Ｂ−Ｂから上部が削除された状態の
ものの斜視図であり、ここでのクリアランス６４は、そ
の中でスルーホール６２を穿設することができるという
一種の許容限界を表すものである。このような図６の従
来例において、プリント回路基板１に設けられたスルー
ホール６２の品質の良否は、通常の電気的なチェック
（即ち、ある所定の基準点と他の所要のチェック対象点
との間の電気的な導通、絶縁等の有無を調べること）に
基づいてなされている。このために、スルーホール６２
の穿設位置がクリアランス６４の内部にある限りは良品
と判定されることになり、前記スルーホール６２の穿設
位置がクリアランス６４の中心位置から相当に離れてい
て、将来における様々な支障があり得るものであって
も、良品に組み込まれてしまうことになる。

【０００３】図７は、この種の電気的チェックをするた
めの別の従来例を示す図である。この中の図７の（Ａ）
は前記別の従来例を示す断面図である。この図７の
（Ａ）において、適当な材質のプリント回路基板１内に
は、複数層（ここでは２層）の内層導体部が設けられて
おり、例えばその端部適所には面積が前記内層導体部に
比べて広くされたランド部７１が設けられている。そし
てこのランド部７１の内部適所には通常のスルーホール
６２が穿設されている。また、このスルーホール６２の
内層部にはスルーホール内層導体部６３が設けられてい
る。次に、図７の（Ｂ）は、前記図７の（Ａ）におい
て、一点鎖線Ｂ−Ｂから上部が削除された状態のものの
斜視図であり、ここでのランド部７１は（図６における
クリアランス６４と同様に）、その中でスルーホール６
２を穿設することができるという一種の許容限界をも表
すものである。このような図７の別の従来例において
も、プリント回路基板１に設けられたスルーホール６２
の品質の良否は、通常の電気的なチェック（即ち、ある
所定の基準点と他の所要のチェック対象点との間の電気
的な導通、絶縁等の有無を調べること）に基づいてなさ
れている。このために、スルーホール６２の穿設位置が
ランド部７１の内部にある限りは良品と判定されること
になり、前記スルーホール６２の穿設位置がランド部７
１の中心位置から相当に離れていて、将来における様々
な支障があり得るものであっても、良品に組み込まれて
しまうことになる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述されたように、従
来のこの種の技術においては、プリント回路基板におけ
るスルーホール部の電気的なチェックを実行する際に、
このスルーホール部がある所定のクリアランス部または
ランド部内に設けられる限りは、電気的に良品であると
判定されてしまい、その穿設部位が前記所定のクリアラ
ンス部またはランド部内で相当にズレがあって、将来に
おける様々な支障があり得るものであっても良品に組み
込まれてしまうという問題点があった。

【０００５】この発明は上記された問題点を解決するた
めになされたものであり、プリント回路基板に設けられ
るスルーホール部の電気的なチェックを実行するための
テストクーポンにおいて、基準スルーホール部の穿設部
位と適数個のテスト用スルーホール部の穿設のための個
別のクリアランス部位とを前記プリント回路基板の切除
可能な耳部におけるテスト用導電パターンの適所に設け
て構成されており、電気的なチェックでは良品と判定さ
れ得るものであっても、スルーホールの穿設部位に問題
があるときには、これを排除することができるようにさ
れたテストクーポンを提供することを目的とするもので
ある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明に係るテストク
ーポンは、上記の目的を果たすためになされたものであ
り、プリント回路基板に設けられるスルーホール部の電
気的なチェックを実行するためのテストクーポンにおい
て、基準スルーホール部の穿設部位と適数個のテスト用
スルーホール部の穿設のための個別のクリアランス部位
とを前記プリント回路基板の切除可能な耳部におけるテ
スト用導電パターンの適所に設けて構成されている、こ
とを特徴とするものである。

【０００７】

【作用】この発明に係るテストクーポンによれば、即
ち、プリント回路基板に設けられるスルーホール部の電
気的なチェックを実行するためのテストクーポンによれ
ば、（１）プリント回路基板１のテストクーポン・エリ
ア１Ａにおけるテスト用パターン１０の適所に対して、
互いにそのサイズが異なる所要個数のクリアランス部を
設定する；（２）ある所定の基準位置に基準スルーホー
ル１１を設けるとともに、前記複数個のクリアランス部
毎にテスト用スルーホール１２を設ける；（３）前記基
準スルーホール１１および前記複数個のテスト用スルー
ホール１２の導通チェックを行う；（４）前記基準スル
ーホール１１と導通しているテスト用スルーホール１２
のクリアランス値により、ある所定のスルーホールの基
準位置からのズレの程度を判定する。このようにして、
電気的なチェックでは良品と判定され得るものであって
も、スルーホールの穿設部位に問題があるときには、こ
れを排除することができる。

【０００８】

【実施例】図１は、この発明によるテストクーポンの第
１の適用例を示す図である。この図１において、１はそ
の表層全面に銅箔が設けられている通常の銅張プリント
回路基板であって、通常は耳部と呼ばれる端部がテスト
クーポン・エリア１Ａとして切除可能に設けられてお
り、その他の大部分は通常の部品類を実装するためのワ
ークエリア１Ｂとして確保されている。ここで前記のテ
ストクーポン・エリア１Ａについてみると、適当な導電
性の材料からなる所望の形状・寸法のテスト用パターン
１０（表層ベタパターンとも呼ばれる）が設けられてお
り、１個の基準スルーホール１１および複数個（ここで
は５個）のテスト用スルーホール１２をその適所に設け
るようにされている。また、このテスト用スルーホール
１２に対応する位置における（片側の）クリアランス部
１３はそのサイズが（例えば、０．１ｍｍ〜０．５ｍｍ
のように）適当に変化するようにされている。また、ワ
ークエリア１Ｂ内には所要の形状の表層回路１４が設け
られており、この表層回路１４には、例えば、必要な切
り欠き部１５およびクリアランス部１６が備えられると
ともに、必要に応じてスルーホール１２を穿設するよう
にされている。この第１の実施例においては、概略次の
ようにして所要の導電パターンの形成がなされる。即
ち、（１）銅張プリント回路基板１の（テストクーポン
・エリア１Ａおよびワークエリア１Ｂを含む）所要部位
に基準スルーホール１１および他のスルーホール１２の
穿設がなされる；（２）スルーホールめっきが施され
る；次いで、（３）銅張部およびめっき部の不要部がエ
ッチング作業により削除されて所要の導電パターンが形
成される。

【０００９】上記のような作業が施されるテストクーポ
ン・エリア１Ａについて、以下のような幾つかの導通チ
ェックが選択的になされる。即ち、（１）スルーホール
めっきの後でテストクーポン・エリア１Ａについての電
気的なチェックをする；（２）スルーホールの穿設後
で、そのめっきを施す前に、前記テストクーポン・エリ
ア１Ａに設けたスルーホール内に適当な導電ピンを挿入
することにより電気的なチェックをする；（３）ワーク
エリアでの作業に先立ち、テストクーポン・エリア１Ａ
だけについてスルーホールの穿設をするが、このときに
用いられる穿孔用工具としてのドリルとして金属製のも
のを選択して、前述の導電ピンを挿入したときと同様の
電気的なチェックをする。これらのいずれの場合におい
ても、基準スルーホール１１および複数個のテスト用ス
ルーホール１２の導通チェックを行うことになる。そし
て、前記基準スルーホール１１と導通しているテスト用
スルーホール１２のクリアランス値により、ある所定の
スルーホールの基準位置からのズレの程度を判定する。

【００１０】図２は、前記図１における各種のスルーホ
ールの導通チェックの結果についてのテーブル形式の例
示図である。この図２において、テーブル２１には幾つ
かのスルーホールに対応する導通チェックの結果が示さ
れており、ここに、［×］は［導通状態にある］ことを
示し、これに対して、［〇］は［不導通状態にある］こ
とを示している。これを前記図１の場合に当てはめてみ
ると、テスト用パターン１０に設けられている５個のス
ルーホール１２について、基準スルーホール１１との導
通状態が順次チェックされており、片側クリアランスが
０．１ｍｍから０．３ｍｍまでのものは導通状態にあ
り、０．４ｍｍおよび０．３ｍｍのものは不導通状態に
あることが理解される。そして、これから推測されるこ
とは、前記図１における表層回路１４部からみられるよ
うに、穿孔されたスルーホールの位置にズレがある（こ
こでは、左側にズレている）ということである。

【００１１】この第１の適用例によれば、（１）最終製
品の保証精度が格段に向上する；（２）現に稼働してい
る製造工程のいかなるフェーズにおいても対応すること
ができる（例えば、スルーホールを設ける工程の前後の
いずれでもよい）；（３）スルーホールを設ける際のい
わゆる穴明けデータを的確に修正することができる（例
えば、先の導通状態のいかんをチェックしながら、スル
ーホールを設ける位置を適切に調整することがきる）。

【００１２】図３は、この発明によるテストクーポンの
第２の適用例を示す図である。この中の図３の（Ａ）に
おいては、その内部に少なくとも１層の導電パターンが
設けられるプリント回路基板１の表層平面が示されてい
る。この図３の（Ａ）において、通常は耳部と呼ばれる
端部がテストクーポン・エリア１Ａとして切除可能に設
けられており、その他の大部分は通常の部品類を実装す
るためのワークエリア１Ｂとして確保されている。ここ
で前記のテストクーポン・エリア１Ａについてみると、
基準スルーホール１１および他のチェック用スルーホー
ル１２が設けられる位置に対応して所定のサイズのラン
ド１７が設けられている。また、図３の（Ｂ）に示され
ているものは前記プリント回路基板１の内層平面であっ
て、適当な導電性の材料からなる所望の形状・寸法のテ
スト用パターン１８（内層ベタパターンとも呼ばれる）
が設けられるものであり、１個の基準スルーホール１１
および複数個（ここでは５個）のテスト用スルーホール
１２をその適所に設けるようにされている。また、この
テスト用スルーホール１２に対応する位置における（片
側の）クリアランス部１３はそのサイズが（例えば、
０．１ｍｍ〜０．５ｍｍのように）適当に変化するよう
にされている。更に、ワークエリア１Ｂ内は所要の形状
の内層回路１９が設けられるものであり、この内層回路
１９には、例えば、必要な切り欠き部１５およびクリア
ランス部１６が備えられるとともに、必要に応じてスル
ーホール１２を穿設するようにされている。この第２の
実施例においては、概略次のようにして所要の導電パタ
ーンの形成がなされる。即ち、（１）内層回路１９を設
けるための内部銅張プリント回路基板の所要部位に、前
記の内層回路１９やテスト用パターン１８のような所望
の導電パターンが形成される；（２）表層平面をなす別
のプリント回路基板上の所要の位置に対応して所定サイ
ズのランド１７が設けられる；（３）内層回路１９等を
設けた内部銅張プリント回路基板の上に、プリプレグ等
の適当な接着剤を用いて、表層平面をなす別のプリント
回路基板を所定の相互位置関係をもって重ね合わせ、所
要の圧力を加えることにより一体形成される；（４）テ
ストクーポン・エリア１Ａを含む必要な箇所に穿孔処理
を施すことにより所要のスルーホールが形成され、その
内部にスルーホールめっきが施される；（５）そして、
前記表層平面をなす別のプリント回路基板上において、
銅張部およびめっき部の不要部がエッチング作業により
削除されて所要の導電パターンが形成される。

【００１３】上記のような作業が施されるテストクーポ
ン・エリア１Ａについて、以下のような幾つかの導通チ
ェックが選択的になされる。即ち、（１）スルーホール
めっきの後でテストクーポン・エリア１Ａについての電
気的なチェックをする；（２）スルーホールの穿設後
で、そのめっきを施す前に、前記テストクーポン・エリ
ア１Ａに設けたスルーホール内に適当な導電ピンを挿入
することにより電気的なチェックをする；（３）スルー
ホールの穿設をするときに用いられる穿孔用工具として
のドリルとして金属製のものを選択して、前述の導電ピ
ンを挿入したときと同様の電気的なチェックをする。こ
れらのいずれの場合においても、基準スルーホール１１
および複数個のテスト用スルーホール１２の導通チェッ
クを行うことになる。そして、前記基準スルーホール１
１と導通しているテスト用スルーホール１２のクリアラ
ンス値により、ある所定のスルーホールの基準位置から
のズレの程度を判定する。

【００１４】図４は、この発明によるテストクーポンの
第２の適用例における、スルーホール部に対する電気的
チェックの例示図である。この図４において、所望の形
状・寸法のテスト用パターン１８には、前述されたよう
な１個の基準スルーホール１１および複数個のテスト用
スルーホール１２がその適所に設けられている。所定の
導通チェック機能を備えた導通チェック部４１は、適当
なリード線を介して金属製の穴明け基準ピン４５および
スピンドル４２に接続されている。そして、前者である
穴明け基準ピン４５はテスト用パターン１８に設けられ
た基準スルーホール１１に挿入されており、また、後者
であるスピンドル４２についてみると、その先端部にチ
ャック４３を介して設けられた金属製のドリル４４がテ
スト用スルーホール１２に挿入されている。この図４の
例によれば、スルーホールを穿設する段階において所望
の電気的なチェックをすることができる。

【００１５】図５は、この発明によるテストクーポンの
第３の適用例を示す図である。この中の図５の（Ａ）に
おいて、１はプリント回路基板であって、通常は耳部と
呼ばれる端部はテストクーポン・エリア１Ａとして切除
可能に設けられており、その他の大部分は通常の部品類
を実装するためのワークエリア１Ｂとして確保されてい
る。ここで前記のテストクーポン・エリア１Ａについて
みると、適当な導電性の材料からなる所望の形状・寸法
のテスト用パターンが設けられており、４個の基準スル
ーホール１１（＋Ｙ：−Ｘ：＋Ｘ：−Ｙ）および複数個
（ここでは２個）のテスト用スルーホール１２をその適
所に設けるようにされている。図５の（Ｂ）は、前記図
５の（Ａ）におけるスルーホールの穿設以前のテストク
ーポン・エリア１Ａが適所で切断された状態を示す断面
図である。ここで、５１は第１内層の導電パターンを示
すものであり、また、５２は第２内層の導電パターンを
示すものである。

【００１６】上記のようなテストクーポン・エリア１Ａ
を用いて、次のような段階による導通チェックがなされ
る。（１）テストクーポン・エリア１Ａにおけるテスト
用パターンの適所に対して、互いにそのサイズが異なる
所要個数のクリアランス部を設定する；（２）ある所定
の基準位置に４個の基準スルーホール１１を設けるとと
もに、前記複数個のクリアランス部毎にテスト用スルー
ホール１２を設ける；（３）前記４個の基準スルーホー
ル１１および前記複数個のテスト用スルーホール１２の
導通チェックを行う；（４）前記導通チェックの結果と
して、導通状態にあると判定された中の所定のものが、
該当の基板内におけるスルーホールの（±Ｘ方向，およ
び／または±Ｙ方向の）認容できる程度のズレをもつも
のとして判定される。

【００１７】

【発明の効果】以上詳細に説明されたように、この発明
に係るプリント回路基板に設けられるスルーホール部の
電気的なチェックを実行するためのテストクーポンは、
基準スルーホール部の穿設部位と適数個のテスト用スル
ーホール部の穿設のための個別のクリアランス部位とを
前記プリント回路基板の切除可能な耳部におけるテスト
用導電パターンの適所に設けて構成されていることを特
徴とするものである。そして、このような特徴を備えて
いるために、電気的なチェックでは良品と判定され得る
ものであっても、スルーホールの穿設部位に問題がある
ときには、これを簡単に排除することができるという効
果が奏せられる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明によるテストクーポンの第１の適用例
を示す図である。

【図２】図１における各種のスルーホールの導通チェッ
クの結果についてのテーブル形式の例示図である。

【図３】この発明によるテストクーポンの第２の適用例
を示す図である。

【図４】この発明によるテストクーポンの第２の適用例
における、スルーホール部に対する電気的チェックの例
示図である。

【図５】この発明によるテストクーポンの第３の適用例
を示す図である。

【図６】プリント回路基板におけるスルーホール部に対
する電気的チェックのための従来の手段を示す図であ
る。

【図７】プリント回路基板におけるスルーホール部に対
する電気的チェックのための従来の手段を示す図であ
る。

【符号の説明】

１：プリント回路基板；１Ａ：テストクーポン・エリ
ア；１Ｂ：ワークエリア；１０：テスト用パターン；１
１：基準スルーホール；１２：テスト用スルーホール；

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】プリント回路基板に設けられるスルーホー
   ル部の電気的なチェックを実行するためのテストクーポ
   ンにおいて：基準スルーホール部の穿設部位と適数個の
   テスト用スルーホール部の穿設のための個別のクリアラ
   ンス部位とを前記プリント回路基板の切除可能な耳部に
   おけるテスト用導電パターンの適所に設けて構成されて
   いる；ことを特徴とするテストクーポン。