JPH05234273A

JPH05234273A - 信号波形の評価装置および磁気ディスク装置

Info

Publication number: JPH05234273A
Application number: JP3294147A
Authority: JP
Inventors: Reijirou Tsuchiya; 鈴二朗土屋
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1990-11-30
Filing date: 1991-11-11
Publication date: 1993-09-10
Also published as: US5459620A; EP0488276A3; EP0488276A2

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】磁気ディスク装置の信号処理回路の適合状態を
診断して不適合な場合の対策を知り、信号処理回路の特
性を引出す磁気ディスク装置を提供する。【構成】クロック信号を遅延する遅延素子１、その出力
を遅延する遅延素子２、遅延素子２の出力を遅延する遅
延素子３，４、遅延素子１の出力と信号波形から２値デ
ータを出力する弁別回路５、遅延素子２の出力と信号波
形から２値データを出力する弁別回路６、遅延素子３の
出力と信号波形から２値データを出力する弁別回路７、
弁別回路５，６，７のそれぞれの出力データと遅延素子
４の出力を入力するシフトレジスタ８〜１０、シフトレ
ジスタ８〜１０内のデータと特定のパタンデータを比較
する手段１２、手段１２の出力パルスをカウントするカ
ウンタ１３〜１５にて、弁別窓内のピークの分布を検出
する信号波形の評価装置を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置に係
り、特に波形等化器などの信号処理系の設定状態の診断
回路、および自動的に信号処理系の最適化を行う磁気デ
ィスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図２は、磁気ディスク装置における記録
再生チャネルの構成の一例を示している。まず、記録情
報は符号器１８により磁気記録に適したＮＲＺ−Ｉ符号
などに変換される。その後、記録補償回路１９を経てラ
イトアンプ２０により記録電流波形に変換される。記録
電流は記録ヘッド２１によって記録磁界に変換され、記
録媒体２２上の磁化反転の有無を形成し、それぞれ１，
０に対応して情報を記録する。また、再生過程では、記
録媒体上の磁化反転部から漏れる磁束を磁気ヘッド２１
で検出し、電気信号に変換する。誘導型の磁気ヘッドで
は記録符号の１に対応してピークが現われる。この信号
は、アンプ２３，自動利得制御アンプ（ＡＧＣ）２４，
波形等化器２５，微分回路２６経てパルス化回路２７に
よりピークパルス２８に変換される。さらに、ＶＦＯ回
路２９出力のＶＣＯクロック３０と比較して、弁別回路
３１により２値データに変換された後、復号器３２によ
り記録情報に戻される。

【０００３】この記録再生チャネルで、記録補償回路１
９ならびに波形等化器２５は、磁気ヘッド２１と記録媒
体２２間の記録再生によって生じる非線形性や高周波低
下を補償する目的で適用されている。例えば、図３のよ
うなＮＲＺ−Ｉ符号を記録再生すると、磁化反転間隔の
狭い部分では自己減磁や記録減磁などの効果により記録
媒体上の磁化反転位置が前側にずれるため、再生波形の
ピーク位置が左にシフトする。さらに、磁化反転間隔の
狭い部分では、各反転部から再生された波形が重なりあ
って各波形のピーク位置がシフトする。このようにピー
ク位置がシフトすると弁別誤りを起こしやすくなる。そ
のため、記録補償回路１９では予め記録符号の反転位置
をずらして、ピーク位置のシフトを打ち消すようにす
る。また、波形等化器２５は再生波形を細めることによ
り、磁化反転間隔の狭い部分でも再生波形が重なり合わ
ないようにしている。

【０００４】現在の磁気ディスク装置では、記録密度を
非常に高めているため、波形等化器などの信号処理技術
が不可欠である。そして、波形等化器などを磁気ディス
ク装置の特性に合わせて使用することが重要になってい
る。そのため、波形等化器は、図４に示す余弦等化回路
（特開昭58−182114号参照）から、図５に示したより高
性能なトランスバーサル型等化回路（特開昭60−136902
号参照）が用いられるようになっている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】波形等化回路は、図
４，図５の減衰器３３，３５，３６，３７や遅延回路３
４，３８，３９特性を変えて、最も適切な特性に調整す
ることが大切である。磁気ヘッドや記録媒体の特性のば
らつきや、磁気ヘッドと記録媒体間の隙間のばらつきな
どのため、磁気ディスク装置の特性はばらつく。そのた
め、各々の磁気ディスク装置の特性に合わせて波形等化
器の特性を調整した方が良いが、現実にはほとんど行な
われていない。波形等化器を適切に調整するには、通
常、再生波形や信号スペクトルを測定しなければなら
ず、測定機器等の準備を含めて、わずらわしいためであ
る。また、磁気ディスク装置の経時変化により波形等化
器の適合性が悪化しても、従来は、弁別誤りが発生する
まで分からなかった。この状況は、記録補償回路におい
ても同様である。

【０００６】本発明の目的は、上記の波形等化器などの
適合性が容易に分からないという問題点を解決すること
に有り、さらには、自動的に適合する信号処理回路を備
えた磁気ディスク装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本願発明はディジタル信号を取り扱う情報処理装置
に用いる信号波形の評価装置であって、クロック信号に
より弁別窓を形成し、該弁別窓内における上記信号波形
のピークの位置を検出する。そして、信号処理回路の適
合状態を評価する。

【０００８】さらに、信号波形のうち特定のパターンの
信号波形を検出する手段を有し、上記特定のパターンの
信号波形について弁別窓内のピークの分布を検出する。

【０００９】さらに、好ましくは複数の特定のパターン
の信号波形を検出し、それぞれの特定パターンの信号波
形について弁別窓内のピークの分布を検出する。

【００１０】特定のパターンとしては例えば誤りの起こ
りやすいパターンを選択する。このパターンの分布を検
出し、評価してできるだけ狭い範囲に分布するように調
整することが望ましい。

【００１１】評価方法としては、例えば弁別窓を複数の
領域に分割し、該複数の領域のどれにピークが存在する
かを検出して、特定のパターンの信号波形について弁別
窓内のピークの分布を検出することができる。

【００１２】たとえば、クロック信号の位相をずらす複
数の遅延回路と、該位相をずらしたクロック信号で弁別
窓を形成し前記信号波形を弁別する複数の弁別回路と、
該複数の弁別回路出力を入力する複数のシフトレジスタ
と、該複数のシフトレジスタの端子の出力を論理演算す
る手段により、特定のパターンの信号波形について弁別
窓内のピークの分布を検出することができる。

【００１３】また、以上のような構成を記録再生装置内
部に組み込んで、評価結果を信号処理回路にフィードバ
ックし、記録再生条件を自動的に調整することができ
る。

【００１４】本発明の一側面は、記録媒体からの再生信
号をパルス化し、該パルスを弁別窓を用いて弁別する情
報再生方法であって、複数の基準符号パターンを設定
し、上記パルス中の上記基準符号パターンを認識し、該
認識された基準符号パターンのピークパルスの上記弁別
窓中の分布を検出し、該検出結果に基づいて上記再生信
号のパルス化を制御する情報記録再生方法である。

【００１５】前記複数の基準符号パターンは、少なくと
も２ビットパタン（0010100）と低密度パタン（００１
００）を含むことが望ましい。

【００１６】

【作用】本発明の信号処理系診断器は、図１に示すよう
に、位相の異なるＶＣＯクロックを入力とする３つの弁
別回路５，６，７と、それぞれの出力データを入力する
３つのシフトレジスタ８，９，１０と、ｎ種の適当なデ
ータパタンと３つのシフトレジスタ８，９，１０内のデ
ータを比較するコンパレータ１２−１から１２−ｎと、
複数のカウンタ１３−１から１３−ｎ，１４−１から１
４−ｎ，１５−１から１５−ｎとカウンタの内容を表示
するインジケータ１６−１から１６−ｎ，１７−１から
１７−ｎからなる。

【００１７】弁別回路では、弁別回路入力のＶＣＯクロ
ックの立上りから次の立上りまでの時間（以下、弁別窓
と呼ぶ）の中に、同じく弁別回路入力であるピークパル
スが存在すれば、そのタイミングのデータが１であると
みなされる。しかし、ピークパルスは再生信号に重畳す
るノイズのためにジッタしたり、隣接波形の干渉などに
よってピークシフトするため、情報が１とみなされる場
合でも、ＶＣＯクロックに対するピークパルスの位相は
弁別窓の中で揺らいでおり、ピークパルスは弁別窓の中
心にはないのが普通である。

【００１８】一例としてＮＲＺ−Ｉ符号を考えると、特
に符号パタン“０１１０”や"００１０１００”（いわ
ゆる２ビットパタン）では隣接波形の干渉を受けやす
く、２つのピークパルスは互いに遠ざかるようにピーク
シフトしやすい。そのため、ランダムな符号パタンに含
まれる２ビットパタンのピークパルスの位相を調べる
と、図６に示すように左側のピークパルス４０は弁別窓
の左側に偏った確率密度分布になり、右側のピークパル
ス４１は弁別窓の右側に偏った確率密度分布になる。波
形等化器により再生波形が細められると図７（ａ）のよ
うに左右の偏りが小さくなるが、波形等化器が適切でな
くて再生波形が十分に細められていない場合には図７
（ｂ）のように左右の偏りが明らかに大きくなる。

【００１９】一方、隣接波形の干渉は再生波形のピーク
を鋭くする効果があり、結果的にノイズに起因するジッ
タが小さくなる。そのため、隣接波形の干渉を受けにく
い符号パタン"０１０”のような低密度部のパタンでジ
ッタが大きくなる。このピークパルスの位相を調べる
と、図８のように広がった確率密度分布になる。

【００２０】波形等化器を最適化するためには、図６と
図８の分布を出来るだけ小さな範囲に収め、ピークパル
スが弁別窓の中央に来るようにして、弁別誤りを起こり
にくくすればよい。しかし、２ビットパタンのピークシ
フトを小さくする目的で再生波形を細めるには、波形等
化器の周波数伝達特性の高調波成分を強調しなければな
らず、その結果、ノイズは逆に増大してジッタが大きく
なる。このため、波形等化器によって図６と図８の分布
を出来るだけ小さな範囲に収めることは限界がある。と
ころが、図６と図８の分布を比較することで、波形等化
器の状態を評価することができることが判った。例えば
２つの分布の範囲が同程度である場合に波形等化器が最
適な状態であることが多い。したがって、図６と図８の
ような弁別誤りを起こしやすい特徴的な符号パタンにつ
いて、ピークパルスの確率分布の違いや変化を評価する
ことで、波形等化器の適合状態を評価することができ
る。図１の構成では、弁別回路６とシフトレジスタ９と
コンパレータ１２−１〜１２−ｎによりｎ種類の特徴的
な符号パタン（メモリ１１に格納されている）であるか
否かを調べる。１２−１により１つの特徴的なパターン
であると判断された場合は、そのパターンの出現数をカ
ウンタ１３にてカウントする。また、他の弁別回路５，
７により相対的にピークパルスを一定時間遅らせた場合
と進ませた場合について弁別して、同一の結果が得られ
るかをコンパレータ１２−１で判定する。結果が異なっ
ている場合、この回数をカウンタ１４，１５でカウント
する。カウンタ１３は、メモリ１１に登録してある設定
値に達すると、カウンタ１４，１５の内容をインジケー
タ１６，１７に表示するとともにカウンタ１３，１４，
１５をクリアして再カウントを始める。このカウント数
によって、特定の特徴的なパターンにおける、ピークパ
ルスの確率分布の偏りや変化を知ることができ、波形等
化器などの適合状態を知ることができる。

【００２１】

【実施例】

（実施例１）本発明の信号処理系診断器の実施例を図９
（ａ）により説明する。信号処理系診断器の入力のＶＣ
Ｏクロックは、第１の遅延素子４３を通過し第１の弁別
回路４７及び第２の遅延素子４４に入力される。第２の
遅延素子４４を通過したＶＣＯクロックは第２の弁別回
路４８及び第３の遅延素子４５に入力される。第３の遅
延素子を通過したＶＣＯクロックは第３の弁別回路４９
に入力される。ピークパルスは第１，第２，第３の弁別
回路４７，４８，４９に入る。第１，第２，第３の弁別
回路出力のリードパルスは、第４の遅延素子４６により
調整されたＶＣＯクロックに同期して、それぞれ第１，
第２，第３のシフトレジスタ５０，５１，５２に入力さ
れる。各レジスタは出力端子Ｑ₀，Ｑ₁，Ｑ₂，Ｑ₃，
Ｑ₄，Ｑ₅，Ｑ₆を有する。各レジスタに接続された論理
回路の出力パルスはカウンタ５３〜５８に入力されそれ
ぞれのカウント数をインジケータ５９〜６２に表示す
る。

【００２２】本実施例では、（１−７）符号の場合の特
徴的な符号パタンとして２ビットパタン（0010100）と
低密度パタン（００１００）について評価するように構
成されている。また、第２，第３の遅延素子４４，４５
の遅延時間τ₂，τ₃を弁別窓の幅のほぼ４分の１にして
いる。

【００２３】弁別回路４８により出力されるリードパル
スは、シフトレジスタ５１のデータ入力Ｄ₀に入力さ
れ、クロックパルス入力ＣＰに同期して、順次出力端子
Ｑ₀，Ｑ₁，Ｑ₂，Ｑ₃，Ｑ₄，Ｑ₅，Ｑ₆とシフトされるも
のとする。ここで、出力端子Ｑ₀，Ｑ₂，Ｑ₄，Ｑ₆に対し
て論理計算−Ｑ₀・Ｑ₂・Ｑ₄・−Ｑ₆なる計算を行うもの
とすると（ただし−ＱｎはＱｎのインバース）、この計
算結果が１となるのはＱ ₀＝Ｑ₆＝０，Ｑ₂＝Ｑ₄＝１の時
である。また、（１−７）符号では１が連続することは
ないためＱ₂＝Ｑ₄＝１の結果からＱ₁＝Ｑ₃＝Ｑ₅＝０で
あることも判る。すなわち、シフトレジスタ５１のデー
タ入力に順次００１０１００と入力されたとき、論理計
算−Ｑ₀・Ｑ₂・Ｑ₄・−Ｑ₆は１となり、カウンタ５３の
クロックパルス入力にパルス入力が行われる。ゆえに、
カウンタ５３には入力された２ビットパタン（００１０
１００）の数がカウントされる。

【００２４】一方２ビットパタン（００１０１００）の
後の１の遅れやすさをシフトレジスタ５０のＱ₁を参照
して評価し、前の１の進みやすさをシフトレジスタ５２
のＱ₅を参照して評価する。シフトレジスタ５０に入力
されるリードパルスは相対的に位相の進んだＶＣＯクロ
ックにより弁別されたパルスである。ピークパルスが弁
別回路４８で弁別窓の右側から４分の１の位相の範囲に
あれば弁別回路４７では右どなりの弁別窓に入り、リー
ドパルスは１クロック遅れる。そのため、弁別回路４８
より出力されるパタンが２ビットパタン（００１０１０
０）であるときは、後の１の位相が弁別窓の右側から４
分の１の位相の範囲にあるとき、シフトレジスタ５０の
出力は１となり、カウンタ５４のクロックパルス入力Ｃ
Ｐにパルス入力が行われる。同様に２ビットパタン（０
０１０１００）の前の１の位相が弁別窓の左側から４分
の１の位相の範囲にあるときシフトレジスタ５２の出力
Ｑ₅は１となり、カウンタ５５のクロックパルス入力Ｃ
Ｐ₁₂にパルスが入力される。したがって、第１のカウン
タ５３には２ビットパタンの数がカウントされ、第２の
カウンタ５４には２ビットパタンの右側のピークパルス
の中で弁別窓の右端から４分の１の位相の範囲にあるピ
ークパルスの数がカウントされ、第３のカウンタ５５に
は２ビットパタンの左側のピークパルスの中で弁別窓の
左端から４分の１の位相の範囲にあるピークパルスの数
がカウントされる。

【００２５】また、同様に第４のカウンタ５６には低密
度パタンの数がカウントされ、第５のカウンタ５７には
低密度パタンのピークパルスの中で弁別窓の右端から４
分の１の位相の範囲にある数がカウントされ、第６のカ
ウンタ５８には低密度パタンのピークパルスの中で弁別
窓の左端から４分の１の位相の範囲にある数がカウント
される。

【００２６】以上のように、それぞれのカウンタのカウ
ント数は、図９（ｂ）に示すように特徴的なパタン（０
０１００）と（００１０１００）の中の"１”の、弁別
窓中の分布の状態を示す。

【００２７】第１のカウンタ５３が予め設定された値に
なると、第２，第３のカウンタ５４，５５の値を第１，
第２のインジケータ５９，６０へ出力し、第１，第２，
第３のカウンタ５３〜５５はクリアされ再びカウントが
始まる。同様に、第４のカウンタ５６が予め設定された
値になると、第５，第６のカウンタ５７，５８の値を第
３，第４のインジケータ６１，６２へ出力し、第４，第
５，第６のカウンタ５６〜５８はリセットされ再びカウ
ントが始まる。したがって、各インジケータの値は、２
ビットパタンや低密度パタンの位相ずれやジッタ広がり
の目安となる。第１，第２，第３，第４のインジケータ
５９〜６２の値がそれぞれに設定された値を超えた場
合、各インジケータに対して警告ランプが点灯する。

【００２８】以上のように、ピークパルスの分布が変動
し弁別誤りが起こりやすくなっていることを、警告ラン
プによって知ることができ、また、この時の各インジケ
ータの値から波形等化器など信号処理回路の不適合状態
を診断することができる。一例として、表１のように診
断，対策ができる。

【００２９】表１．信号処理系診断表行ｋｌｍｎ症状対策１ × × ○ ○ 波形が広がりすぎ細める２ ○ ○ × × 波形が細すぎ広げる３ × ○ ○ ○ 低密度部左シフト記録補償調整４ ○ × ○ ○ 〃右シフト〃５ ○ ○ × ○ ２ビット部左シフト〃６ ○ ○ ○ × 〃右シフト〃７ × ○ × ○ 弁別窓が右シフト左にシフト８ ○ × ○ × 〃が左シフト右にシフト但し、ｋ，ｌ，ｍ，ｎは、それぞれ図９のインジケータ
６２，６１，６０，５９に対応し、それぞれの値が標準
値より大きいとき×印、同程度か小さいとき○印記入し
ている。

【００３０】なお、本発明の信号処理系診断器は、図２
の弁別回路３１入力のピークパルス２８とＶＣＯクロッ
ク３０を分岐したピークパルスとＶＣＯクロックを入力
信号とする。したがって、容易に磁気ディスク装置に接
続でき、診断作業を容易に行える。また、本発明の信号
処理系診断器は図２の弁別回路３１を置き換えることが
可能なため、これを搭載した磁気ディスク装置を提供す
ることができる。この場合、磁気ディスク装置のユーザ
によって波形等化器等の診断が可能になり、経時変化に
よる弁別誤りが発生する前に異常を検出できる。

【００３１】以上のように本実施例によれば、カウント
表示により波形等化器等信号処理回路の適合状態を容易
に把握できるため、信号処理回路を容易に最適設定でき
るとともに、信頼性の高い磁気ディスク装置を提供でき
る。

【００３２】（実施例２）次に、本発明の信号処理系診
断器を応用して自動的に信号処理回路を最適化する磁気
ディスク装置に関して、第２の実施例を説明する。図１
０は、第２の実施例の磁気ディスク装置の構成図であ
る。弁別回路を兼ねた信号処理系診断器６３のカウント
数６４を入力とする回路定数制御回路６５により記録補
償回路１９，波形等化器２５，遅延回路６９が制御され
る。

【００３３】回路定数制御回路６５の構成の一例を図１
１に示す。コンパレータ７０〜７３，ＲＯＭ７８，コン
トローラ７９，書き換え可能メモリ７４〜７７からな
り、ＲＯＭ７８には表１と同様の診断情報が記録されて
いる。コントローラ７９は、信号処理系診断器６３のカ
ウント数６４に応じてＲＯＭ７８に記録されている情報
から制御情報を読出し、記録補償回路１９，波形等化器
２５，遅延回路６９にそれぞれ増減の制御信号６６，６
７，６８を送る。

【００３４】次に、記録補償回路１９の構成の一例を図
１２に示す。記録情報はクロックに同期して順次シフト
レジスタ８４に取り込まれつつシフトし、シフトレジス
タ８４の一つの出力端子（ここでは中央部）の出力はプ
ログラマブル遅延素子８０に入力され、所定量遅延され
た後、出力されて記録情報となる。プログラマブル遅延
素子８０の遅延量が一定の場合、記録補償回路の主力で
ある。記録情報の各パルスはクロックに同期する。通
常、記録情報のあるパルスが特定パタンの特定ビットで
ある場合、パタンメモリ、コンパレータ、メモリ８６、
制御回路８５により、プログラマブル遅延素子８０の遅
延量を変化させ、前記の特定ビットを進めたり遅らせた
りする。

【００３５】例えば、シフトレジスタ８４の出力端のパ
タンをコンパレータでパタンメモリと比較した結果、プ
ログラマブル遅延素子８０に入力されるビットが２ビッ
トパタン（００１０１００）の前側の１である場合につ
いて説明する。

【００３６】この時、一致信号がコンパレータから制御
回路８５に送られる。制御回路８５は、メモリ８６内に
記録された遅延量を参照して、プログラマブル遅延素子
８０の遅延量を増加するに制御信号を発生する。この結
果２ビットパタン（００１０１００）の前側の１の位相
が相対的に遅れる。さらに記録補償回路１９は、回路定
数制御回路６５が発生する制御信号６６を入力してい
る。制御信号６６は、表１と同様な診断情報に基づいた
信号を含んでいる。

【００３７】例えば、表１の５行目のように、ｍが標準
値よりも大きい場合の信号が送られると、すなわち、２
ビットパタン（００１０１００）の前側の１の位相が進
み過ぎている場合には、制御回路８５の指示により、メ
モリ８６に記憶されている２ビットパタン（００１０１
００）の前側の１の遅延量を大きな値に書き替える。ま
た、表１の６行目のように、ｎが標準値より大きい場合
の信号が送られると、すなわち、２ビットパタン（００
１０１００）の後側の１の位相が遅れ過ぎている場合に
は、メモリ８６に記憶されている２ビットパタン（００
１０１００）の後側の遅延量を小さな値に書き替える。

【００３８】さらに、表１の３行目、４行目のように、
ｋあるいは１が標準値より大きい場合の信号が送られる
と、すなわち、低密度パタン（００１００）の１の位相
が進み過ぎ或いは遅れ過ぎている場合には、メモリ８６
に記憶されている低密度パタン（００１００）の１の遅
延量を大きな値または小さな値に書き替える。このよう
にして記録補償量の増減を制御する。

【００３９】また、波形等化器２５の構成の一例を図１
３に示す。図１３は５タップのトランスバーサルイコラ
イザの例である。波形入力は遅延回路８７、３８、３
９、８８を通過し、各遅延回路により所定時間遅延され
る。また各遅延回路の前後から５つの信号を取り出し、
この信号はそれぞれ減衰器８９、９１、３６、８２、９
０を通過し、各減衰器により、所定の減衰率で減衰され
る。

【００４０】この減衰された信号は、加算器に入力され
加算減算されて波形出力として出力される。

【００４１】図１３の構成では、減衰器３６の出力波形
を主波形として、相対的に位相が前後する減衰器８１の
出力波形と減衰器８２の出力波形を主波形から減じて主
波形のスリミングを行う。減衰器８９、９０の出力波形
は、スリミングされた波形に残る波形のうねりを除去す
るために補助的に加算される。従って、減衰器８１，８
２の減衰率を減らすと波形出力は細められ、また減衰率
を増すと波形出力は広げられる。この減衰率は、桃利９
３に記憶されている減衰率を参照して制御回路９２によ
り所定の値に設定される。メモリ９３に記憶される減衰
率は、磁気ヘッドおよび磁気ディスクなどの組合せに対
応する再生波形の広がりに応じて適当な値に調整されて
いる。

【００４２】なお図１３には含まれないが、磁気ディス
ク装置では、再生半径により減衰率は制御される。

【００４３】さらに、波形等化器２５は回路定数制御回
路６５が発生する制御信号６７を入力している。制御信
号６７は、表１と同様な診断情報に基づいた信号を含ん
でいる。例えば、表１の１行目のようにｋおよびｌが標
準値より大きい場合の信号が制御信号６７として送られ
ると、すなわち、波形が拡がり過ぎている場合、制御回
路９２はメモリ９３に記憶されている減衰器８１，８２
用の減衰率を小さな値に書き替えるとともに、減衰器８
１，８２の減衰率を小さくして再生波形を細める。また
表１の２行目のようにｍおよびｎ，ｌが標準値より大き
い場合の信号が制御信号６７として送られると、制御回
路９２はメモリ９３に記憶されている減衰器８１，８２
用の減衰率を大きな値に書き替えるとともに、減衰器８
１，８２の減衰率を大きくして再生波形を広げる。以上
のようにして、波形の広がりの増減を制御する。

【００４４】最後に、ＶＦＯ２９出力に接続された遅延
回路６９の構成の一例を図１４に示す。図１４の遅延回
路６９は、ＶＣＯクロックを入力してプログラマブル遅
延素子８３により所定時間遅延して出力する。ここで、
遅延時間はＶＣＯクロックとピークパルス２８の位相を
適切にして、弁別回路においてピークパルスが弁別窓の
中央部に分布するように、メモリ９５に記憶された遅延
量を参照して制御回路９４により設定される。さらに、
遅延回路６９は、回路定数制御回路６５が発生する制御
信号６８を入力している。制御信号６８は、表１と同様
な診断情報に基づいた信号を含んでいる。例えば、表１
の７行目のようにｋおよびｍが標準値より大きい場合の
信号は制御信号６８として送られると、すなわちクロッ
クの位相が遅れている場合、制御回路９４はメモリ９５
に記憶されている遅延量を小さな値に書き替えるととも
に、プログラマブル遅延素子８３の遅延量を小さくして
クロックの位相を進める。また表１の８行目のようにｌ
およびｍが標準値より大きい場合の信号が制御信号６８
として送られると、制御回路９４は、メモリ９５に記憶
されている遅延量を大きな値に書き替えるとともに、プ
ログラマブル遅延素子の遅延量を大きくしてクロックの
位相を遅らせる。

【００４５】以上のようにしてＶＣＯクロックとピーク
パルス２８の相対位相を制御する。制御信号６６〜６８
は、１トラックの再生終了毎に発生する。あるいは、信
号処理系診断器６３のカウント６４を別のメモリに蓄積
して、一定時間ごとに制御信号６６〜６８を発生する。
あるいは、手動スイッチにより選択できるテストモード
を用意して、テストモード時に上記の２つのいずれかに
より制御信号６６〜６８を発生する。

【００４６】第２の実施例によれば、記録補償回路，波
形等化器，遅延回路による信号処理回路を自動的に最適
な状態に維持することが可能であり、信頼性の高い磁気
ディスク装置を提供できる。

【００４７】

【発明の効果】本発明によれば、磁気ディスク装置の波
形等化器等信号処理回路の適合状態を容易に診断して不
適合な場合の対策を容易に知ることができるため、磁気
ヘッドや記録媒体や信号処理回路の特性を最大限に引き
出した、信頼性の高い磁気ディスク装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の信号処理系診断器の構成ブロック図。

【図２】一般的な磁気ディスク装置信号処理系の構成ブ
ロック図。

【図３】ＮＲＺ−Ｉ符号による記録電流と記録磁化と再
生波形の位相関係を示す波形図。

【図４】余弦等化回路の構成ブロック図。

【図５】トランスバーサル型等化回路の構成ブロック
図。

【図６】２ビットパタンのピークパルス位相の分布を示
す波形図。

【図７】２ビットパタンのピークパルス位相の分布を示
す波形図。

【図８】低密度パタンのピークパルス位相の分布を示す
波形図。

【図９】（ａ）は本発明の実施例の構成ブロック図、
（ｂ）はカウンタのカウント数の意味を説明する概念
図。

【図１０】本発明の磁気ディスク装置の構成ブロック
図。

【図１１】図１０の実施例の回路定数制御回路の構成ブ
ロック図。

【図１２】図１０の実施例の記録補償回路の構成ブロッ
ク図。

【図１３】図１０の実施例の波形等化回路の構成ブロッ
ク図。

【図１４】図１０の実施例の遅延回路の構成ブロック
図。

【符号の説明】

１，２，３，４，４３，４４，４５，４６…遅延素子５，６，７，４７，４８，４９…弁別回路８，９，１０，５０，５１，５２…シフトレジスタ１２…コンパレータ１３−ｎ，１４−ｎ，１５−ｎ，５３〜５８…カウンタ６５…制御回路１９…補償回路２５…等化器６９…遅延回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ディジタル信号を取り扱う情報処理装置に
用いる信号波形の評価装置であって、クロック信号によ
り弁別窓を形成し、該弁別窓内における上記信号波形の
ピークの位置を検出する信号波形の評価装置。
【請求項２】前記信号波形のうち特定のパターンの信号
波形を検出する手段を有し、上記特定のパターンの信号
波形について弁別窓内のピークの分布を検出する請求項
１記載の信号波形の評価装置。
【請求項３】複数の特定のパターンの信号波形を検出
し、それぞれの特定パターンの信号波形について弁別窓
内のピークの分布を検出する請求項２記載の信号波形の
評価装置。
【請求項４】前記弁別窓を複数の領域に分割し、該複数
の領域のどれにピークが存在するかを検出して、前記特
定のパターンの信号波形について弁別窓内のピークの分
布を検出する請求項３記載の信号波形の評価装置。
【請求項５】前記クロック信号の位相をずらす複数の遅
延回路と、該位相をずらしたクロック信号で弁別窓を形
成し前記信号波形を弁別する複数の弁別回路と、該複数
の弁別回路出力を入力する複数のシフトレジスタと、該
複数のシフトレジスタの端子の出力を論理演算する手段
を有し、前記特定のパターンの信号波形について弁別窓
内のピークの分布を検出する請求項４記載の信号波形の
評価装置。
【請求項６】前記クロック信号を遅延する第１の遅延素
子と、該遅延素子の出力を遅延する第２の遅延素子と、
該遅延素子の出力を遅延する第３，第４の遅延素子と、
上記第１の遅延素子の出力と上記信号波形を入力して２
値データを出力する第１の弁別回路と、上記第２の遅延
素子の出力と上記信号波形を入力して２値データを出力
する第２の弁別回路と、上記第３の遅延素子の出力と前
記信号波形を入力して２値データを出力する第３の弁別
回路と、前記第１，第２，第３の弁別回路のそれぞれの
出力データと前記第４の遅延素子出力を入力する第１，
第２，第３のシフトレジスタと、前記第１，第２，第３
のシフトレジスタ内のデータと特定のパタンデータを比
較する手段と、該手段の出力パルスをカウントするカウ
ンタを有する請求項５記載の信号波形の評価装置。
【請求項７】記録媒体に対し相対移動し信号を記録再生
するヘッドと、該ヘッドにより得られる再生信号のピー
クの広がりを調整する等化回路と、クロック信号を発生
する手段と、上記ヘッドに入力する記録信号の位相を調
整する補償回路とを有する磁気ディスク装置において、
上記クロック信号を遅延する第１の遅延素子と、該遅延
素子の出力を遅延する第２の遅延素子と、該遅延素子の
出力を遅延する第３，第４の遅延素子と、上記第１の遅
延素子の出力と上記信号波形を入力して２値データを出
力する第１の弁別回路と、上記第２の遅延素子の出力と
上記信号波形を入力して２値データを出力する第２の弁
別回路と、上記第３の遅延素子の出力と前記信号波形を
入力して２値データを出力する第３の弁別回路と、前記
第１，第２，第３の弁別回路のそれぞれの出力データと
前記第４の遅延素子出力を入力する第１，第２，第３の
シフトレジスタと、前記第１，第２，第３のシフトレジ
スタ内のデータと特定のパタンデータを比較する手段
と、該手段の出力パルスをカウントするカウンタを有
し、上記第２の弁別回路出力をリードデータ出力とする
磁気ディスク装置。
【請求項８】前記カウンタのカウント数を入力として前
記補償回路、等化回路、およびクロック信号の位相を調
整する遅延回路にそれぞれ制御信号を出力する回路定数
制御回路を有し、上記カウント数に基づいて前記補償回
路により記録信号の位相を調整し、前記等化回路により
再生信号の広がりを調整し、前記遅延回路により弁別回
路入力のクロック位相を調整することを特徴とする請求
項７記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】記録媒体からの再生信号をパルス化し、該
パルスを弁別窓を用いて弁別する情報再生方法であっ
て、複数の基準符号パターンを設定し、上記パルス中の
上記基準符号パターンを認識し、該認識された基準符号
パターンのピークパルスの上記弁別窓中の分布を検出
し、該検出結果に基づいて上記再生信号のパルス化を制
御する情報記録再生方法。
【請求項１０】前記複数の基準符号パターンは、少なく
とも２ビットパタン（0010100）と低密度パタン（００
１００）を含む請求項９項記載の情報記録再生方法。
【請求項１１】前記ピークパルスの前記弁別窓中の分布
の検出を、認識された基準符号パターンと、複数の遅延
回路を用いて位相をずらした複数のＶＣＯクロックによ
る弁別窓とを比較することによって検出する請求項９記
載の情報記録再生方法。