JPH0522164B2 - - Google Patents
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- JPH0522164B2 JPH0522164B2 JP8691883A JP8691883A JPH0522164B2 JP H0522164 B2 JPH0522164 B2 JP H0522164B2 JP 8691883 A JP8691883 A JP 8691883A JP 8691883 A JP8691883 A JP 8691883A JP H0522164 B2 JPH0522164 B2 JP H0522164B2
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- Japan
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 1
- 238000012567 pattern recognition method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
- G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、２次元的なパターンの位置を無接触
で認識するパターン認識方法に関するものであ
る。
で認識するパターン認識方法に関するものであ
る。
従来例の構成とその問題点
近年、生産設備などの自動化を推進するために
パターン認識は重要視され、すでに半導体組立工
程等には実用化されている。
パターン認識は重要視され、すでに半導体組立工
程等には実用化されている。
以下、図面を参照しながら、上述したような従
来のパターンマツチングによる位置認識方法につ
いて説明を行なう。
来のパターンマツチングによる位置認識方法につ
いて説明を行なう。
第１図は従来のパターンマツチングによる位置
認識方法の構成を示す図である。第１図におい
て、１は撮像装置、２は撮像装置１を駆動するた
めの同期信号発生回路、３は走査点の位置を得る
ための座標発生回路、４は撮像装置１からの映像
信号を２値化する回路からなる前処理回路、５は
シフトレジスタからなる一時記憶回路、６は一時
記憶回路５に記載されたパターンのうち一致度検
出に用いるパターンを並列的に切り出すための２
次元パターン切出し回路、７はあらかじめ登録さ
れているパターンを一致度検出できる形で記憶さ
れる標準パターン記憶回路、８は２次元パターン
切出し回路６で切出されるパターンと標準パター
ン記憶回路７に記憶されているパターンとを比較
し、一致の度合いを検出する一致度検出回路、９
は一致度を記憶する一致度記憶回路、１０は一致
度の比較を行なう比較回路、１１は一致度検出回
路８より出力された一致度を一致度記憶回路９へ
伝えるゲート回路、１２は座標発生回路３より出
力された座標を座標記憶回路へ伝えるゲート回
路、１３は走査点の座標を記憶する座標記憶回路
である。
認識方法の構成を示す図である。第１図におい
て、１は撮像装置、２は撮像装置１を駆動するた
めの同期信号発生回路、３は走査点の位置を得る
ための座標発生回路、４は撮像装置１からの映像
信号を２値化する回路からなる前処理回路、５は
シフトレジスタからなる一時記憶回路、６は一時
記憶回路５に記載されたパターンのうち一致度検
出に用いるパターンを並列的に切り出すための２
次元パターン切出し回路、７はあらかじめ登録さ
れているパターンを一致度検出できる形で記憶さ
れる標準パターン記憶回路、８は２次元パターン
切出し回路６で切出されるパターンと標準パター
ン記憶回路７に記憶されているパターンとを比較
し、一致の度合いを検出する一致度検出回路、９
は一致度を記憶する一致度記憶回路、１０は一致
度の比較を行なう比較回路、１１は一致度検出回
路８より出力された一致度を一致度記憶回路９へ
伝えるゲート回路、１２は座標発生回路３より出
力された座標を座標記憶回路へ伝えるゲート回
路、１３は走査点の座標を記憶する座標記憶回路
である。
以上のように構成されたパターンマツチングに
よる位置認識方法について、以下その動作につい
て説明する。まず位置認識対象物は、撮像装置１
により映像信号に変換される。この時の走査点は
同期信号発生回路２が発生した同期信号に同期し
ておりその座標は座標発生回路３より常時得られ
る。
よる位置認識方法について、以下その動作につい
て説明する。まず位置認識対象物は、撮像装置１
により映像信号に変換される。この時の走査点は
同期信号発生回路２が発生した同期信号に同期し
ておりその座標は座標発生回路３より常時得られ
る。
次に映像信号は前処理回路４で２値化信号に変
換され一時記憶回路５へ入力される。この中から
次の２次元パターン切出し回路６によつて、映像
情報が縦横ある大きさ（例えば16×16画素）をも
つた四角形のパターン情報として順次読み出され
る。
換され一時記憶回路５へ入力される。この中から
次の２次元パターン切出し回路６によつて、映像
情報が縦横ある大きさ（例えば16×16画素）をも
つた四角形のパターン情報として順次読み出され
る。
一致度検出回路８では、２次元パターン切出し
回路６で順次切り出されるパターンと標準パター
ン記憶回路７に記憶されている標準パターンとを
逐次比較し一致の度合を検出する。
回路６で順次切り出されるパターンと標準パター
ン記憶回路７に記憶されている標準パターンとを
逐次比較し一致の度合を検出する。
検出された一致度は一致度記憶回路９に過去に
おいて記憶されている一致度と比較回路１０で比
較し検出した一致度の方が大きい時にゲート回路
１１を開いて一致度記憶回路９の内容を更新す
る。この比較回路１０の出力は、さらにゲート回
路１２にも送られ、その時の走査点の座標を座標
記憶回路１３へ導き、過去に記憶された座標値を
更新する。
おいて記憶されている一致度と比較回路１０で比
較し検出した一致度の方が大きい時にゲート回路
１１を開いて一致度記憶回路９の内容を更新す
る。この比較回路１０の出力は、さらにゲート回
路１２にも送られ、その時の走査点の座標を座標
記憶回路１３へ導き、過去に記憶された座標値を
更新する。
この動作を繰り返し走査の終了するフレームの
最後の時点では、あらかじめ記憶されている標準
パターンに最も合致パターンが存在した画面中の
座標位置Ｘ，Ｙがその時の一致度と共に記憶され
保存される。
最後の時点では、あらかじめ記憶されている標準
パターンに最も合致パターンが存在した画面中の
座標位置Ｘ，Ｙがその時の一致度と共に記憶され
保存される。
しかしながら、上記のような方法では同一視野
内に他のパターンと区別できる特徴あるパターン
を有し、そのパターンを標準パターンとして登録
することが、一つの条件となつており、単純な同
一形状のパターンが複数個存在するのみの対象物
に対しては位置認識することができなかつた。
内に他のパターンと区別できる特徴あるパターン
を有し、そのパターンを標準パターンとして登録
することが、一つの条件となつており、単純な同
一形状のパターンが複数個存在するのみの対象物
に対しては位置認識することができなかつた。
発明の目的
本発明は上記欠点に鑑み単純な同一形状のパタ
ーンが複数個存在するのみの対象物に対しても高
速そして安価に位置認識することのできるパター
ンマツチングによる位置認識方法を提供するもの
である。
ーンが複数個存在するのみの対象物に対しても高
速そして安価に位置認識することのできるパター
ンマツチングによる位置認識方法を提供するもの
である。
発明の構成
本発明は、パターンマツチングにより得られた
一致度が隣接する８近傍のうち４つの部分パター
ンの一致度のいずれよりも大きく、かつ他の４つ
の部分パターンのいずれよりも小さくない時に認
識候補点と判定する手順と、その内あらかじめ定
められた値以上の一致度を有する認識候補点を認
識点として抽出する手順から構成されており、こ
の構成によつて標準パターンに類似したパターン
はすべて検出でき、それらの位置を認識すること
ができることとなる。
一致度が隣接する８近傍のうち４つの部分パター
ンの一致度のいずれよりも大きく、かつ他の４つ
の部分パターンのいずれよりも小さくない時に認
識候補点と判定する手順と、その内あらかじめ定
められた値以上の一致度を有する認識候補点を認
識点として抽出する手順から構成されており、こ
の構成によつて標準パターンに類似したパターン
はすべて検出でき、それらの位置を認識すること
ができることとなる。
実施例の説明
以下本発明の一実施例について、図面を参照し
ながら説明する。
ながら説明する。
第２図は本発明の一実施例におけるパターンマ
ツチングによる位置認識の構成を示すものであ
る。第２図において、２０は第１図で示したパタ
ーンマツチング回路、２１はパターンマツチング
回路２０から出力される一致度を一時的に記憶す
る一時記憶回路、２２は画面上のある点の隣接す
る周囲８画素分の一致度を切り出す８近傍切出し
回路、２３ａ〜２３ｈはある点とその８近傍での
一致度を比較する回路、２４は比較した結果を元
に認識候補点かどうかを判定する認識候補点判定
回路、２５は一致度のしきい値を記憶するしきい
値記憶回路、２６はしきい値記憶回路２５に記憶
されているしきい値と認識候補点との一致度とを
比較する比較回路、２７は認識点での一致度を一
致度記憶回路へ伝えるゲート回路、２８は検出さ
れた認識点の一致度を記憶する一致度記憶回路で
合計16個の一致度を記憶することができる、２９
は認識点の座標を座標記憶回路へ伝えるゲート回
路、３０は認識点の座標を記憶する座標記憶回路
で合計16個の座標を記憶することができる。
ツチングによる位置認識の構成を示すものであ
る。第２図において、２０は第１図で示したパタ
ーンマツチング回路、２１はパターンマツチング
回路２０から出力される一致度を一時的に記憶す
る一時記憶回路、２２は画面上のある点の隣接す
る周囲８画素分の一致度を切り出す８近傍切出し
回路、２３ａ〜２３ｈはある点とその８近傍での
一致度を比較する回路、２４は比較した結果を元
に認識候補点かどうかを判定する認識候補点判定
回路、２５は一致度のしきい値を記憶するしきい
値記憶回路、２６はしきい値記憶回路２５に記憶
されているしきい値と認識候補点との一致度とを
比較する比較回路、２７は認識点での一致度を一
致度記憶回路へ伝えるゲート回路、２８は検出さ
れた認識点の一致度を記憶する一致度記憶回路で
合計16個の一致度を記憶することができる、２９
は認識点の座標を座標記憶回路へ伝えるゲート回
路、３０は認識点の座標を記憶する座標記憶回路
で合計16個の座標を記憶することができる。
以上のように構成されたパターンマツチングに
よる位置認識について、以下その動作について説
明する。
よる位置認識について、以下その動作について説
明する。
今、第３図のような標準パターンを用いて第４
図のように撮像されているパターンの位置、すな
わち４１〜４３の位置を認識するものとする。ま
ず第２図のパターンマツチング回路２０で標準パ
ターンに対する一致度を画面上のすべての点につ
いて演算する。次に求められた一致度はシフトレ
ジスタからなる一時記憶回路２１に記憶され次の
８近傍切出し回路２２で走査順にある１つの点に
対してその周囲８近傍の点の一致度が検出され
る。８近傍における一致度とある点の一致度は比
較回路２３ａ〜２３ｈで比較される。ある点が
Ｅ、８近傍の点がＡ〜Ｉとするとその関係は第５
図で示される。なお、カツコ内は一致度を示して
いる。認識候補点判定回路２４では下記の条件が
すべて満足された時にＥ点は認識候補点であると
判定する。すなわち Ec＞Ac、Ec＞Bc Ec＞Cc、Ec＞Dc Ec≧Fc、Ec≧Gc Ec≧Hc、Ec≧Ic 但し、AcはＡ点における一致度であり以下Bc
〜Icは各々の点での一致度を表わす。
図のように撮像されているパターンの位置、すな
わち４１〜４３の位置を認識するものとする。ま
ず第２図のパターンマツチング回路２０で標準パ
ターンに対する一致度を画面上のすべての点につ
いて演算する。次に求められた一致度はシフトレ
ジスタからなる一時記憶回路２１に記憶され次の
８近傍切出し回路２２で走査順にある１つの点に
対してその周囲８近傍の点の一致度が検出され
る。８近傍における一致度とある点の一致度は比
較回路２３ａ〜２３ｈで比較される。ある点が
Ｅ、８近傍の点がＡ〜Ｉとするとその関係は第５
図で示される。なお、カツコ内は一致度を示して
いる。認識候補点判定回路２４では下記の条件が
すべて満足された時にＥ点は認識候補点であると
判定する。すなわち Ec＞Ac、Ec＞Bc Ec＞Cc、Ec＞Dc Ec≧Fc、Ec≧Gc Ec≧Hc、Ec≧Ic 但し、AcはＡ点における一致度であり以下Bc
〜Icは各々の点での一致度を表わす。
Ｆ〜Ｉ点での一致度とＥ点での一致度との比較
において等しい一致度であつても認識候補点と判
定しているので、仮にEcとFcが等しい値であつて
も認識候補点を見逃すことなくまた重複して検出
することなく効果的に認識候補点判定を行なう。
において等しい一致度であつても認識候補点と判
定しているので、仮にEcとFcが等しい値であつて
も認識候補点を見逃すことなくまた重複して検出
することなく効果的に認識候補点判定を行なう。
本実施例においては、第５図のようにＥ点での
一致度が248であり、上記関係式を全て満たして
いるため認識候補点として抽出される。
一致度が248であり、上記関係式を全て満たして
いるため認識候補点として抽出される。
次に、本実施例においては、上記のような関係
式を満たす時、すなわち中心位置を代表位置とす
る部分パターンの一致度がその隣接する８近傍の
うち４つの部分パターンの一致度のいずれより大
きくかつ他の４つの部分パターンの一致度のいず
れよりも小さくないときに中心位置を認識候補点
としているが、その理由について、第５図を用い
て以下に説明する。
式を満たす時、すなわち中心位置を代表位置とす
る部分パターンの一致度がその隣接する８近傍の
うち４つの部分パターンの一致度のいずれより大
きくかつ他の４つの部分パターンの一致度のいず
れよりも小さくないときに中心位置を認識候補点
としているが、その理由について、第５図を用い
て以下に説明する。
すなわち仮に、前３つＡ，Ｂ，Ｃの各点におけ
る一致度よりも大きく、残り５つＤ，Ｆ，Ｇ，
Ｈ，Ｉの各点における一致度よりも小さくない時
に認識候補点とする、すなわち Ec＞Ac、Ec＞Bc、Ec＞Cc、 Ec≧Dc、Ec≧Fc、Ec≧Gc、 Ec≧Hc、Ec≧Ic を全て満たす時、認識候補点とすると、Ｅ点とＦ
点が共に抽出される。
る一致度よりも大きく、残り５つＤ，Ｆ，Ｇ，
Ｈ，Ｉの各点における一致度よりも小さくない時
に認識候補点とする、すなわち Ec＞Ac、Ec＞Bc、Ec＞Cc、 Ec≧Dc、Ec≧Fc、Ec≧Gc、 Ec≧Hc、Ec≧Ic を全て満たす時、認識候補点とすると、Ｅ点とＦ
点が共に抽出される。
そうすると、最終的に認識点を抽出するのに時
間を要することになる。
間を要することになる。
また、逆に前５つＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｆの各点に
おける一致度よりも大きく、残り３つＧ，Ｈ，Ｉ
の各点における一致度よりも小さくない時に認識
候補点とするとＥ点とＦ点での一致度が同一であ
るため、何れの点も検出されないことになる。
おける一致度よりも大きく、残り３つＧ，Ｈ，Ｉ
の各点における一致度よりも小さくない時に認識
候補点とするとＥ点とＦ点での一致度が同一であ
るため、何れの点も検出されないことになる。
すなわち前を多く、後ろを少なくすると、何れ
の点も検出されない事が発生し、逆に前を少なく
し、後ろを多くすると認識候補点が複数点検出さ
れる場合が発生する。
の点も検出されない事が発生し、逆に前を少なく
し、後ろを多くすると認識候補点が複数点検出さ
れる場合が発生する。
従つて、本発明においては、中心位置を代表位
置とする部分パターンの一致度がその隣接する近
傍の４つの部分パターンの一致度のいずれよりも
大きく他の４つの部分パターンの一致度のいずれ
よりも小さくないときに、認識候補点として抽出
することにした。
置とする部分パターンの一致度がその隣接する近
傍の４つの部分パターンの一致度のいずれよりも
大きく他の４つの部分パターンの一致度のいずれ
よりも小さくないときに、認識候補点として抽出
することにした。
次に、認識候補点であることを判定すると、認
識候補点での一致度とあらかじめしきい値記憶回
路２５に記憶されているしきい値と比較回路２６
で比較され、しきい値より大きな一致度を有する
認識候補点の時には、認識点としてその一致度が
ゲート回路２７を通じて一致度記憶回路２８に記
憶される。また、比較回路２６の出力はゲート回
路２９にも伝えられ、認識点の座標を座標記憶回
路３０に記憶される。一致度記憶回路２８及び座
標記憶回路３０は各々16個まで順番に記憶できる
ようになつている。この動作を１フレームの画像
内で行なうと第４図の４１〜４３の一致度とその
座標が記憶される。なぜなら４１〜４３の位置の
一致度は周囲の点の一致度より大きいために認識
候補点と判定されまた、画面内のその他の認識候
補点よりはるかに大きな一致度を有することが明
らかであるからである。
識候補点での一致度とあらかじめしきい値記憶回
路２５に記憶されているしきい値と比較回路２６
で比較され、しきい値より大きな一致度を有する
認識候補点の時には、認識点としてその一致度が
ゲート回路２７を通じて一致度記憶回路２８に記
憶される。また、比較回路２６の出力はゲート回
路２９にも伝えられ、認識点の座標を座標記憶回
路３０に記憶される。一致度記憶回路２８及び座
標記憶回路３０は各々16個まで順番に記憶できる
ようになつている。この動作を１フレームの画像
内で行なうと第４図の４１〜４３の一致度とその
座標が記憶される。なぜなら４１〜４３の位置の
一致度は周囲の点の一致度より大きいために認識
候補点と判定されまた、画面内のその他の認識候
補点よりはるかに大きな一致度を有することが明
らかであるからである。
以上のように本実施例によれば、あらかじめ定
められたしきい値以上の一致度を有する認識候補
点を検出することにより、単純な同一形状のパタ
ーンが複数個存在するのみの対象においてもその
パターンの位置を撮像装置の走査時間とほぼ同時
間内に認識することができる。またパターンマツ
チングを用いているためにハードウエア化が容易
で安価に構成することができる。
められたしきい値以上の一致度を有する認識候補
点を検出することにより、単純な同一形状のパタ
ーンが複数個存在するのみの対象においてもその
パターンの位置を撮像装置の走査時間とほぼ同時
間内に認識することができる。またパターンマツ
チングを用いているためにハードウエア化が容易
で安価に構成することができる。
発明の効果
以上のように本発明は、パターンマツチングに
より得られた一致度が隣接する８近傍のうち４つ
の部分パターンの一致度のいずれよりも大きく、
かつ他の４つの部分パターンの一致度のいずれよ
りも小さくないときに認識候補点と判定する手順
と、検出した認識候補点の内あらかじめ定められ
た値以上の一致度を有する認識候補点を認識点と
して抽出手順を備えることにより、単純な同一形
状のパターンが複数個存在するのみの対象物に対
しても高速にしかも安価にパターンの位置を認識
することができ、その実用的効果は大きいものが
ある。
より得られた一致度が隣接する８近傍のうち４つ
の部分パターンの一致度のいずれよりも大きく、
かつ他の４つの部分パターンの一致度のいずれよ
りも小さくないときに認識候補点と判定する手順
と、検出した認識候補点の内あらかじめ定められ
た値以上の一致度を有する認識候補点を認識点と
して抽出手順を備えることにより、単純な同一形
状のパターンが複数個存在するのみの対象物に対
しても高速にしかも安価にパターンの位置を認識
することができ、その実用的効果は大きいものが
ある。
第１図は従来のパターンマツチングによる位置
認識方法の構成を示す図、第２図は本発明の一実
施例におけるパターンマツチングによる位置認識
方法の構成を示す図、第３図は標準パターンの具
体例を示す図、第４図は単純な同一形状のパター
ンが複数個存在するのみの対象物の具体例を示す
図、第５図は画面中のある点に対して隣接する点
を説明する図である。 ２０……パターンマツチング回路、２１……一
時記憶回路、２２……８近傍切出し回路、２３ａ
〜２３ｈ……比較回路、２４……極大点判定回
路、２５……しきい値記憶回路、２６……比較回
路、２７……ゲート回路、２８……一致度記憶回
路、２９……ゲート回路、３０……座標記憶回
路。
認識方法の構成を示す図、第２図は本発明の一実
施例におけるパターンマツチングによる位置認識
方法の構成を示す図、第３図は標準パターンの具
体例を示す図、第４図は単純な同一形状のパター
ンが複数個存在するのみの対象物の具体例を示す
図、第５図は画面中のある点に対して隣接する点
を説明する図である。 ２０……パターンマツチング回路、２１……一
時記憶回路、２２……８近傍切出し回路、２３ａ
〜２３ｈ……比較回路、２４……極大点判定回
路、２５……しきい値記憶回路、２６……比較回
路、２７……ゲート回路、２８……一致度記憶回
路、２９……ゲート回路、３０……座標記憶回
路。
Claims (1)
- １ 撮像装置により撮像した対象物の認識すべき
部分的なパターンを標準パターンとして記憶する
工程と、撮像画面内の各点について前記標準パタ
ーンとの一致度をパターンマツチングを用いて演
算する工程と、前記演算により得られた一致度が
隣接する各点の一致度よりも大きい点を認識候補
点として検出する工程と、検出した前記認識候補
点の内あらかじめ定められた値以上の一致度を有
するものを認識点として抽出する工程とからな
り、前記標準パターンと類似した撮像画面内のパ
ターンの座標をすべて検出できるパターンマツチ
ングによる位置認識方法において、前記認識候補
点を検出する工程は少なくとも３×３画素の領域
を代表位置とする部分パターンの一致度をその位
置関係と対応付けて一時記憶する手段と、前記一
時記憶されている一致度のうち中心位置を代表位
置とする部分パターンの一致度がその隣接する近
傍の４つの部分パターンの一致度のいずれよりも
大きくかつ他の４つの部分パターンの一致度のい
ずれよりも小さくないときに前記中心位置を認識
候補点と判定することを特徴とするパターンマツ
チングによる位置認識方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8691883A JPS59212701A (ja) | 1983-05-18 | 1983-05-18 | パタ−ンマツチングによる位置認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8691883A JPS59212701A (ja) | 1983-05-18 | 1983-05-18 | パタ−ンマツチングによる位置認識方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59212701A JPS59212701A (ja) | 1984-12-01 |
| JPH0522164B2 true JPH0522164B2 (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=13900231
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8691883A Granted JPS59212701A (ja) | 1983-05-18 | 1983-05-18 | パタ−ンマツチングによる位置認識方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59212701A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0351228A3 (en) * | 1988-07-15 | 1992-12-23 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | A peak data extracting device and a rotary motion recurrence formula computing device |
| DE69819759T2 (de) * | 1997-09-23 | 2004-09-23 | Hassanein, Waleed H., Malden | Zusammensetzungen, verfahren und vorrichtungen zur aufrechterhaltung eines organs |
-
1983
- 1983-05-18 JP JP8691883A patent/JPS59212701A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59212701A (ja) | 1984-12-01 |
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