JPH05210703A - テストパターン作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 オペレータによる信号の合わせ込みの作業を
軽減させる。 【構成】 不一致信号名検出手段６によってテストパタ
ーンと回路における一致しない入出力信号名を検出し、
それを表示し、その入出力信号名のテストパターンに対
する対応付け，追加，消去の各作業を選択指示させて、
信号合わせ込み処理実行手段９によって選択指示された
各作業に応じた処理を不一致の入出力信号名のテストパ
ターンに対して施す。これを回路に対して複数のシミュ
レーション用のテストパターンに対して行ない、さらに
テストパターン側に対して、新たに追加された出力信号
に対するストローブポイントを既に作成した出力信号か
ら選択して設定し、新たに追加された入力信号に対する
入力タイミングを定義する処理を起動する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、カスタムＬＳＩ，Ａ
ＳＩＣ等の回路をシミュレーションするためのテストパ
ターンを作成するテストパターン作成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＡＤシステムを利用し、カスタムＬＳ
Ｉ，ＡＳＩＣ等の回路をシミュレーションするためのテ
ストパターンを作成するワークステーション等のテスト
パターン作成装置がある。このようなテストパターン作
成装置によって回路のシミュレーション用のテストパタ
ーンを作成した後、もとの回路の設計変更を行なってそ
の入出力信号名を変更，追加，又は消去してしまうと、
もとの回路の入出力信号名毎に作成したテストパターン
が変更後の回路と異なってしまうことがあり、そのまま
ではシミュレーションが行なえなくなってしまう。

【０００３】そこで、変更後の回路の入出力信号名に対
して既に作成したテストパターンを変更，追加，又は消
去するような信号の合わせ込み作業を行なう必要があ
る。従来、このような信号の合わせ込みにかかわる作業
はオペレータが逐次手操作で行なっていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ようなテストパターン作成装置では、変更後の回路と既
に作成したテストパターンの入出力信号名とが一致しな
いものを探し出すための照合作業や、一致するように入
出力信号名を変更，追加，又は消去する作業等の信号の
合わせ込みにかかわる作業、さらにそれらの作業によっ
て新たに追加された出力信号に対するストローブポイン
ト（評価点）の設定、及び新たに追加された入力信号に
対する入力タイミングの定義とをほとんど手操作に任せ
ているため、オペレータの作業負担が増加してテストパ
ターン作成の能率が低下するという問題があった。この
発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、オペレー
タによる信号の合わせ込みの作業を軽減させることを目
的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、ＬＳＩ等の回路に対するシミュレーショ
ン用のテストパターンを作成する手段と、その手段によ
って作成したテストパターンによって回路のシミュレー
ションを行なって検証する手段とを備えたテストパター
ン作成装置において、テストパターンと回路における一
致しない入出力信号名を検出する手段と、その手段によ
って検出した不一致の入出力信号名を表示する手段と、
その手段によって表示した入出力信号名のテストパター
ンに対する対応付け，追加，消去の各作業を選択指示さ
せる手段と、その手段によって選択指示された対応付
け，追加，消去の各作業に応じて不一致の入出力信号名
のテストパターンを、それぞれ他の入出力信号名に対応
させる処理、追加する処理、及び消去する処理を行なう
手段とを設けたものである。

【０００６】また、回路に対して複数のシミュレーショ
ン用のテストパターンがあるとき、各シミュレーション
毎のテストパターンを読み込んでテストパターンと回路
における一致しない入出力信号名を検出する手段を設け
るとよい。さらに、上記追加処理によってテストパター
ン側に出力信号を追加したとき、その出力信号に対する
ストローブポイントを既に作成した出力信号から選択し
て設定する手段を設けるとよい。そしてまた、上記追加
処理によってテストパターン側に入力信号を追加したと
き、その入力信号に対する入力タイミングを定義する処
理を起動する手段を設けるとよい。

【０００７】

【作用】この発明によるテストパターン作成装置は、テ
ストパターンと回路における一致しない入出力信号名を
検出してその不一致の入出力信号名を表示し、その不一
致の信号に対して選択指示された入出力信号名のテスト
パターンに対する対応付け，追加，消去の各作業に応じ
てそれらの作業を行なうので、不一致の入出力信号名の
表示と選択指示された対応付け，追加，消去の各作業と
が自動的に行なえる。

【０００８】また、回路に対して複数のシミュレーショ
ン用のテストパターンがあるとき、各シミュレーション
毎のテストパターンを読み込んでテストパターンと回路
における一致しない入出力信号名を検出するようにすれ
ば、回路に対して作成された全てのテストパターンにつ
いて不一致の入出力信号名を検出して表示することがで
きる。

【０００９】さらに、追加処理によってテストパターン
側に出力信号を追加したとき、その出力信号に対するス
トローブポイントを既に作成した出力信号から選択して
設定するようにすれば、新たに追加された出力信号に対
するストローブポイントの設定を自動的に行なえる。そ
してまた、追加処理によってテストパターン側に入力信
号を追加したとき、その入力信号に対する入力タイミン
グを定義する処理を起動するようにすれば、新たに追加
された入力信号に対する入力タイミングの定義を確実に
行なわせることができる。

【００１０】

【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて具
体的に説明する。図２は、この発明の一実施例であるテ
ストパターン作成装置の構成を示すブロック図である。
このテストパターン作成装置は、オペレータがテストパ
ターン作成や信号の合わせ込み作業に係わる各種の操作
情報を入力するための入力装置であるキーボード１及び
マウス２と、回路やテストパターン等の各種のデータを
記憶するためのメモリであるハードディスク装置等の記
憶装置３を備えている。

【００１１】また、このテストパターン作成装置は、回
路，テストパターン，信号合わせ込み作業のときの作業
画面，及びメッセージ等の情報を表示するためのＣＲＴ
又はＬＣＤ等のディスプレイ装置である表示装置と、Ｃ
ＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ
を内蔵し、この装置全体の制御とテストパターン作成や
この発明における信号合わせ込み作業等に係わる各種の
処理を実行する処理装置５を備えている。

【００１２】図１は、図２に示した処理装置５における
この発明に係わる機能を示すブロック図である。この処
理装置５は、テストパターンと回路における一致しない
入出力信号名を検出する不一致信号名検出手段６と、そ
の不一致の入出力信号名を表示する不一致信号名表示手
段７と、その表示した入出力信号名のテストパターンに
対して信号合わせ込みに係わる対応付け，追加，消去の
各作業を選択指示させる信号合わせ込み作業選択指示手
段８と、その選択指示された対応付け，追加，消去の各
作業に応じて不一致の入出力信号名のテストパターン
を、それぞれ他の入出力信号名に対応させる処理、追加
する処理、及び消去する処理の信号合わせ込みに係わる
各処理を行なう信号合わせ込み処理実行手段９とを備え
ている。

【００１３】また、複数のシミュレーション用のテスト
パターンがある回路に対して、各シミュレーション毎の
テストパターンを読み込んでテストパターンと回路にお
ける一致しない入出力信号名を検出し、その不一致の入
出力信号名を表示し、それらに対して上記信号合わせ込
みのいずれかの処理を実行する全テストパターン対象信
号合わせ込み処理実行手段１０と、追加処理によってテ
ストパターン側に出力信号を追加したとき、その出力信
号に対するストローブポイントを既に作成した出力信号
から選択して設定する自動ストローブポイント設定手段
１１と、追加処理によってテストパターン側に入力信号
を追加したとき、その入力信号に対する入力タイミング
を定義する処理を起動する自動入力タイミング定義処理
起動手段１２を備えている。

【００１４】図３及び図４は、図２に示したテストパタ
ーン作成装置におけるこの発明に係わる処理を示すフロ
ーチャートである。まず、図３に示すように回路側の入
出力信号名を抽出し、テストパターン側と回路側とで入
出力信号名が一致しているか否かを判断する。この判断
によって、一致していればこの処理を終了するが、一致
していなければ不一致信号のリストを作成し、そのリス
トによって不一致の信号名を表示装置に表示する。

【００１５】その不一致の信号名を表示した後に、オペ
レータによって、表示している信号名のテストパターン
に対する対応付け，追加，又は消去の各作業が選択指示
されたら、その不一致の信号名のテストパターンを他の
信号名に対応させる処理，追加する処理，又は消去する
処理を実行し、テストパターンの信号名の合わせ込みを
行なう。

【００１６】次に、この回路に対して信号の合わせ込み
を行なっていない他のテストパターンがあるか否かを判
断し、あればその別のテストパターンを読み込んで既に
オペレータによって選択指示された作業に対応する信号
合わせ込みに係わる処理を実行する。したがって、回路
に対して複数のシミュレーション用のテストパターンが
ある場合にはその全てのテストパターンについて信号の
合わせ込みを実行するようにする。

【００１７】こうして、この回路に対して信号の合わせ
込みを行なっていないテストパターンがなければ、図４
に示すように、この信号の合わせ込みによって新たに出
力信号が追加されたか否かを判断し、追加されたらその
出力信号に対して既に作成した出力信号からストローブ
ポイント（評価点）を選択して設定する自動評価点の設
定処理を行なう。この自動評価点の設定処理を行なった
後、又は新たに出力信号が追加されなかった場合は、信
号の合わせ込みによって入力信号が新たに追加されたか
否かを判断する。

【００１８】新たに入力信号が追加されたなら、その入
力信号に対する入力タイミングを定義する処理を起動し
てオペレータによる入力タイミング設定の作業を行なわ
せ、その入力信号に入力タイミングを定義し、処理を終
了する。また、新たな入力信号が追加されなかったらそ
のまま処理を終了する。

【００１９】次に、信号合わせ込みの際の作業手順とそ
のときの作業画面の表示について説明する。ある回路に
ついてシミュレーション用のテストパターンを作成し、
それをファイルにセーブするように指示したとき、回路
側とテストパターン側の入出力信号名に食い違いがある
と信号合わせ込みの処理が起動する。

【００２０】図５はそのときの作業画面の一例を示す説
明図であり、この図によって操作方法について説明す
る。この作業画面には、回路図側不一致信号名表示エリ
ア２０，テストパターン側不一致信号名表示エリア２
１，対応付けリスト表示エリア２２がある。また、対応
付けボタン２３，消去ボタン２４，追加ボタン２５，対
応解除ボタン２６等の作業選択ボタンも表示されてい
る。

【００２１】まず、信号名が変更された場合に信号名を
対応付けるときの操作方法は、マウスカーソルを対応付
けボタン２３に合わせてマウスボタンをクリックする
と、対応付けボタン２３が青色に反転表示されて信号名
変更の作業が選択される。次に、変更する信号名を回路
図側不一致信号名表示エリア２０とテストパターン側不
一致信号名表示エリア２１とから選択し、それらの信号
名にマウスカーソルを合わせてマウスボタンをクリック
し、１信号名づつ指定する。

【００２２】すると、その指定された信号名が対応付け
リスト表示エリア２２に対応するように表示される。こ
の操作を繰り返して所望の信号名について連続的に対応
付けを指示する。このとき、間違って対応付けしてしま
ったときは、対応解除ボタン２６をクリックして対応解
除モードにし、対応付けリスト表示エリア２２に表示さ
れている信号名のなかから解除する信号名をクリックす
ればよい。

【００２３】次に、テストパターンが不要になったとき
の信号名消去の操作方法は、消去ボタン２４をクリック
するとその消去ボタン２４が赤色に反転表示されて消去
作業が選択される。その後、テストパターン側不一致信
号名表示エリア２１から消去を指定する信号名をマウス
でクリックすると、その信号名が赤色反転表示されて消
去指定される。この操作を繰り返して所望の信号名につ
いて連続的に消去指定する。このとき、間違って消去指
定を行なったときは、再度クリックすることによって解
除することができる。

【００２４】次に、回路図上の信号を追加したときの信
号名追加の操作方法は、追加ボタン２５をクリックする
とその追加ボタン２５が緑色に反転表示されて追加処理
が選択される。その後、回路図側不一致信号名表示エリ
ア２０から追加に指定する信号名をクリックすると、そ
の信号名が緑色に反転表示されてその信号名が追加に指
定される。この操作を繰り返して所望の信号名を連続的
に追加指定する。

【００２５】このとき、間違って追加指定を行なったと
きは、再度クリックすることによって解除することがで
きる。なお、回路図側不一致信号名表示エリア２０，テ
ストパターン側不一致信号名表示エリア２１，対応付け
リスト表示エリア２２の右横にあるスクロールバー２０
ａ，２１ａ，２２ａによって信号名をスクロールさせる
ことができる。

【００２６】こうして、全ての対応付け，消去，追加の
作業を終了した後にＯＫボタン２７をクリックすると、
図６に示すような確認用の作業画面が表示されるので、
そのＹｅｓボタン２８をクリックすると上述した操作に
よって設定された信号名についての各処理が実行され
る。

【００２７】図７は回路図の一例を示す図であり、図７
の（ａ）に示す回路を作成してそのシミュレーション用
のテストパターンを作成した後、図７の（ｂ）に示す回
路に変更した場合の信号の合わせ込みの作業について説
明する。まず、図８に示すように、図７の（ｂ）に示し
た回路と既に作成したテストパターンの不一致の信号名
が、それぞれ回路側不一致信号名表示エリア２０とテス
トパターン側不一致信号名表示エリア２１に表示され
る。この場合、回路側の信号名「Ａ１」「Ａ２」「ＯＵ
Ｔ１１」とテストパターン側の信号名「Ａ」「ＯＵＴ
３」とが不一致であると表示されている。

【００２８】ここで、オペレータが信号名「Ａ１」
「Ａ」を同じものとして対応付けに、信号名「Ａ２」
「ＯＵＴ１１」をテストパターン側に追加するものとし
て追加に、信号名「ＯＵＴ３」を消去にそれぞれ指定し
て実行を指示すると、それらの処理が行なわれる。

【００２９】その結果、図７の（ａ）に示した回路に対
して作成したテストパターンが、例えば図９に示すよう
なものであった場合、この信号の合わせ込みの作業によ
って図１０に示すように変更される。すると、自動評価
点の設定処理が実行されて、図９に示した信号名「ＯＵ
Ｔ１」「ＯＵＴ２」の出力信号のストローブポイント
（評価点）ＳＴＢ＝９０nsを基にして、信号名「ＯＵＴ
１１」の新たに追加された出力信号に対してストローブ
ポイントＳＴＢ＝９０nsが自動的に設定される。

【００３０】また、信号名「Ａ２」の新たに追加された
入力信号について自動入力タイミング定義処理が起動
し、図１１に示すような作業画面が表示されるので、オ
ペレータはその作業画面によって信号名「Ａ２」に対す
る入力タイミングを定義する。このようにして、回路変
更によって既に作成したテストパターンとの信号名が不
一致になると、その不一致の信号名を自動的に検出して
表示し、それらの信号を合わせ込む作業に移行し、新た
に出力信号が追加されればそのストローブポイントが自
動的に設定され、新たに入力信号が追加されればその入
力タイミングを定義する作業を行なわせるので、必要な
作業を漏れなく行なうことができる。

【００３１】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
るテストパターン作成装置によれば、テストパターンと
回路における一致しない入出力信号名を検出して表示
し、その不一致の信号に対して選択指示された入出力信
号名のテストパターンに対する対応付け，追加，消去の
各作業を自動的に行なうので、オペレータは不一致の信
号名を探し出す作業が不要であり、その不一致の信号名
同士を合わせ込む作業も簡便に行なえるようになる。

【００３２】また、回路に対する複数のシミュレーショ
ン用のテストパターンについて一致しない入出力信号名
を検出するので、オペレータは同じような操作を繰り返
す必要がなく、不一致の信号名同士の合わせ込み作業が
軽減される。さらに、テストパターン側に出力信号を追
加するとその出力信号に対するストローブポイントを既
に作成した出力信号から選択して設定するので、オペレ
ータは新たに追加された出力信号に対して、煩わしいス
トローブポイントの設定作業を行なわなくてよい。

【００３３】そしてまた、テストパターン側に入力信号
を追加するとその入力信号に対する入力タイミングを定
義する処理を起動するので、オペレータは新たに追加さ
れた入力信号に対する入力タイミングの定義を忘れるこ
となく確実に行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図２の処理装置５におけるこの発明に係わる機
能を示すブロック図である。

【図２】この発明の一実施例であるテストパターン作成
装置の構成を示すブロック図である。

【図３】図２に示したテストパターン作成装置における
この発明に係わる処理を示すフローチャートである。

【図４】その続きの処理を示すフローチャートである。

【図５】この実施例における信号合わせ込みの際の作業
画面の一例を示す図である。

【図６】この実施例における信号合わせ込みの際の確認
用の作業画面の一例を示す図である。

【図７】変更前の回路と変更後の回路の一例を示す回路
図である。

【図８】図７に示した回路について信号の合わせ込みを
行なうときの作業画面を示す図である。

【図９】図７に示した変更前の回路に対して作成したテ
ストパターンの一例を示す波形図である。

【図１０】図９に示したテストパターンを図７に示した
変更後の回路に対応させて合わせ込みを行なった後のテ
ストパターンの波形を示す図である。

【図１１】同じく自動入力タイミング定義処理のときの
作業画面の一例を示す図である。

【符号の説明】

１ キーボード ２ マウス ３ 記憶装置 ４ 表示装置 ５ 処理装置 ６ 不一致信号名
検出手段 ７ 不一致信号名表示手段 ８ 信号合わせ込
み作業選択指示手段 ９ 信号合わせ込み処理実行手段 １０ 全テストパターン対象信号合わせ込み処理実行手
段 １１ 自動ストローブポイント設定手段 １２ 自動入力タイミング定義処理起動手段 ２０ 回路図側不一致信号名表示エリア ２１ テストパターン側不一致信号名表示エリア ２２ 対応付けリスト表示エリア ２３ 対応付け
ボタン ２４ 消去ボタン ２５ 追加ボタ
ン ２６ 対応解除ボタン ２７ ＯＫボタ
ン ２８ ＹＥＳボタン

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＬＳＩ等の回路に対するシミュレーショ
   ン用のテストパターンを作成する手段と、該手段によっ
   て作成したテストパターンによって前記回路のシミュレ
   ーションを行なって検証する手段とを備えたテストパタ
   ーン作成装置において、 前記テストパターンと前記回路における一致しない入出
   力信号名を検出する手段と、該手段によって検出した不
   一致の入出力信号名を表示する手段と、該手段によって
   表示した入出力信号名のテストパターンに対する対応付
   け，追加，消去の各作業を選択指示させる手段と、該手
   段によって選択指示された対応付け，追加，消去の各作
   業に応じて不一致の入出力信号名のテストパターンを、
   それぞれ他の入出力信号名に対応させる処理、追加する
   処理、及び消去する処理を行なう手段とを設けたことを
   特徴とするテストパターン作成装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載のテストパターン作成装置
   において、 前記回路に対して複数のシミュレーション用のテストパ
   ターンがあるとき、各シミュレーション毎のテストパタ
   ーンを読み込んで前記テストパターンと前記回路におけ
   る一致しない入出力信号名を検出する手段を設けたこと
   を特徴とするテストパターン作成装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は２記載のテストパターン作
   成装置において、 前記追加処理によってテストパターン側に出力信号を追
   加したとき、該出力信号に対するストローブポイントを
   既に作成した出力信号から選択して設定する手段を設け
   たことを特徴とするテストパターン作成装置。
4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか一項記載のテ
   ストパターン作成装置において、 前記追加処理によってテストパターン側に入力信号を追
   加したとき、該入力信号に対する入力タイミングを定義
   する処理を起動する手段を設けたことを特徴とするテス
   トパターン作成装置。