JPH0519661B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は、CAD（Computer Aidded Design）
の設計データから印刷基板回路試験用の検査プロ
グラムを作成する印刷基板試験装置における試験
データ変換方法に関する。

(ロ) 従来技術 従来かCADの設計データから印刷基板試験装
置用のプログラムを作成するソフトウエアは、
CADシステムの種類や前記装置の種類ごとに多
様である。したがつて、CADシステムの種類や
印刷基板試験装置の種類によつて全く独自の変換
プログラムが必要であつた。

また、従来の印刷基板試験装置は通常一枚の基
板からデータを扱い上げ、そのデータと他の基板
とを比較する検査方法をとつているので、フイル
ム原版が不良であつた場合全数が不良であるにも
かかわらず前記データを判別することができなか
つた。

(ハ) 目的 本発明は、前述の技術的課題を解決し、CAD
のパターン設計データ（部品配置情報、穴位置情
報、結線情報）を変換し、印刷基板導通検査に必
要なデータを生成することができる印刷基板試験
装置における試験データ変換方法を提供すること
を目的とする。

(ニ) 構成 本発明は、印刷基板の配線状態を示す設計デー
タの座標値を予め記憶した記憶手段からの前記座
標値を読み込み、Ｘ、Ｙ座標の最大値と最小値と
を求め、前記設計データの全ての座標値から前記
最小値を減算することにより前記印刷基板の穴明
状態を表示手段に表示させ、前記Ｘ座標の最大値
から印刷基板試験装置に具備された印刷基板の配
線の導通状態を検査する複数のプローブを有する
アダプタの走査領域と検査のステツプ数とを求め
る印刷基板試験装置における試験データ変換方法
において、前記ステツプでの前記プローブの座標
値を求め、前記設計データの座標値と前記プロー
ブの座標値の一致するものを捜し、この一致した
座標値をプローブ固有の予め定めたプローブ番号
に変換し、このプローブ番号を印刷基板試験装置
のデータ形式の信号に変換し、次に変換されなか
つたプローブ番号を印刷基板試験装置のデータ形
式の信号に変換し、次に前記両データ形式の信号
をデータフアイルとしてデイスクに記録すること
を特徴とする印刷基板試験装置における試験デー
タ変換方式である。

(ホ) 実施例 第１図は本発明の一実施例の電気的な構成を示
すブロツク図である。第２図は、第１図に示すベ
アボードテスタ６を説明するための概略図であ
る。

第１図において入力手段２は、キーボードなど
を有し、ベアボードテスタ６を走査するための情
報やCPU３を動作させる為の情報を入力したり
するものである。メモリ１は、CPU３を動作さ
せるためのデータを記憶したり、入力手段２から
の情報を記憶したりする。ブラウン管などで実現
される表示手段５は、ベアボードテスタ６に配置
された印刷基板の穴明状態を表示したり、その他
印刷基板の試験に必要なデータを表示したりす
る。フロツピイデイスク４に記録されるものにつ
いては後で述べる。

第２図においてベアボードテスタ６には、第１
アダプタ９と第２アダプタ１０とベース８とを有
する。ベアボードテスタ６には基板７が配置さ
れ、その基板７はベース８上を移動する第１アダ
プタ９と第２アダプタ１０とにより接続状態等を
検出される。なお第１アダプタ９及び第２アダプ
タ１０の動作については後で述べる。

第３図は、本発明の試験データ変換方法を説明
する為の印刷基板７の図である。

第３図において、印刷基板７には穴Ａ〜Ｇが設
けられているとする。また穴Ａ、Ｂ、Ｃ、……Ｇ
の座標は、（Ax、Ay）、（Bx、By）、（Cx、Cy）、
……、（Gx、Gy）とする。第３図では、穴Ａと
穴Ｂ、穴Ｃと穴Ｄ、穴Ｅと穴Ｆと穴Ｇが接続され
ていることを示し、この接続の一つのまとまりを
ネツトと呼ぶ。したがつて第３図に示す印刷基板
７の場合、３つのネツトが存在することになる。

記憶手段であるCADより出力される印刷基板
の接続情報は、Ｎ番目のネツトにＭ個の穴が接続
されている場合 Ｎ、Ｍ、X1、Y1、X2、Y2、X3、Y3、……、
XM、YMというような形式で表すものとする。
したがつて、この基板７の場合は次のような接続
情報すなわち １、２、Ax、Ay、Bx、By ２、２、Cx、Cy、Dx、Dy ３、３、Ex、Ey、Ex、Ey、Gx、GyがCAD
システム２０から第１図に示すフロツピイデイス
ク４に出力される。なお、穴Ａ〜Ｇの各座標の具
体的な値は、 （Ax、Ay）＝（22、27） （Bx、By）＝（33、32） （Cx、Cy）＝（34、40） （Dx、Dy）＝（57、22） （Ex、Ey）＝（32、62） （Fx、Fy）＝（42、72） （Gx、Gy）＝（52、52）とする。なお、前記座標
値は基板７上の2.54mmを一単位としている。

一方、本件の分割汎用型のベアボードテスタ６
は、第４図ａに示すように横13列、縦157列の合
計2041本のプローブＰを埋め込んだアダプタ９，
１０を有し、アダプタ９，１０がそれぞれ移動し
て印刷基板７の全領域を検査するものである。前
記プローブＰは２個のアダプタ９，１０にそれぞ
れ設けられている分を合わせて4082本あるが、各
プローブＰには０番地から4081番地までの連続番
号が予め与えられている。例えば第４図ａに示す
ように左下のプローブＰを０番地とし、右上のプ
ローブＰを2040番地としている。

印刷基板７の導通テストを行う際、印刷基板７
上の特定の穴に何番のプローブＰが接触するかを
知る為にプローブＰの番号とアダプタ９，１０上
での位置を表すデータが必要となる。このデータ
は、第４図ｂに示すようにプローブＰの配置に対
応した表形式のもので、各アダプタ９，１０につ
いて一つずつ作成して第１図に示すフロツピイデ
イスク４に記録しておく。

第４図ｂは、フロツピイデイスク４の記憶領域
を示す図である。第４図ｂにおいてＸ座標が４で
あり、Ｙ座標が１である場合、記憶領域257は第
４図ａに示す257番目のプローブＰの情報を記憶
する。なお第４図ａは第１アダプタ９のプローブ
Ｐの番号を示しているが、第２アダプタ１０につ
いてはプローブＰの番号2041番から4081番までを
使用する。

次に第５図に示すフローチヤートを参照して本
発明の試験データ変換方法を説明する。

本装置が動作してステツプN1からN2に移る。
ステツプN2においてフロツピイデイスク４に記
録されているアダプタ９，１０のプローブＰの配
置を示す配置データ読み込む。次に印刷基板７の
接続状態を示す接続情報をCADシステム２０か
ら読み込む。ステツプN3において、基板７の穴
のＸ座標とＹ座標との最大値と最小値とをそれぞ
れ求める。例えば第３図に示す印刷基板７の場
合、Ｘの最大値が57、Ｙの最大値が72、Ｘの最小
値が22、Ｙの最小値が22がそれぞれ求まる。ステ
ツプN4において、前述した全座標データからス
テツプN3において求めた最小値をそれぞれ引く。
例えば前の例であれば （Ax、Ay）＝（０、５） （Bx、By）＝（16、10） （Cx、Cy）＝（12、18） （Dx、Dy）＝（35、０） （Ex、Ey）＝（10、40） （Fx、Fy）＝（20、50） （Gx、Gy）＝（30、30） 次にＸ、Ｙの最大値から最小値を引いて印刷基
板７の穴の存在する範囲の大きさを求める。ステ
ツプN5において、第１図の表示手段５にグラフ
イツク表示を行う。即ち表示手段５に第３図に示
す穴Ａ〜Ｇの各点をプロツトする。したがつて第
６図に示すように表示手段５の検査可能領域１１
内に穴Ａ〜Ｇに対応する点がプロツトされる。

ステツプN6において、表示手段５の画面を見
て印刷基板７の検査の際、アダプタ９，１０の移
動距離をできるだけ小さくし、検査効率を上げる
為印刷基板７の座標を回転させる必要があるかを
判断し、必要がある場合ステツプN7に移り、必
要がない場合ステツプN8に移る。ステツプN7に
おいて回転走査を行う場合次のような式によつて
座標を回転させる。

座標を反時計方向へ90度回転させる場合、回転
前の座標を（Ｘ、Ｙ）、回転後の座標を（ｘ、
ｙ）、Ｘの最大値をXmax、Ｙの最大値をYmax、
ｘの最大値をxmax、ｙの最大値をymaxとする
と ｘ＝Ymax−Ｙ ……(1) ｙ＝Ｘ ……(2) xmax＝Ymax ……(3) ymax＝Xmax ……(4)となる。

座標を時計方向へ90度回転させる場合 ｘ＝ｙ ……(5) ｙ＝Xmax−Ｘ ……(6) xmax＝Ymax ……(7) ymax＝Xmax ……(8)となる。

座標を180度回転させる場合 ｘ＝Xmax−Ｘ ……(9) ｙ＝Ymax−Ｙ ……(10) xmax＝Xmax ……(11) ymax＝Ymax ……(12)となる。

ステツプN8において、アダプタ９，１０の操
作領域のステツプ数の計算を行う。即ちステツプ
N4で印刷基板７の存在する範囲（Ｘの最大値−
Ｘの最小値）のＸの方向の大きさから分割数とス
テツプ数とを計算する。例えばＸの最大値を57と
しＸの最小値を22とすると、57−22＝35となり、
この数値35は穴の存在する範囲のＸ方向の大きさ
を示す。前記数値35は、穴数で36個あることを示
す。またアダプタ１個に付き13列のプローブがあ
るから36÷13＝2.77つまりアダプタ３個分の幅で
印刷基板７をカバーすることができるので分割数
＝３となる。したがつてステツプ数は次の第13式
で求めることができる。

Ｓ＝ｎ（ｎ−１）／２＝３・（３−１）／２＝３……
(13) 以上のような計算により第３図に示す印刷基板
７は３分割であり３ステツプの検査が必要である
ことがわかる。前記３分割は第７図に示すように
基板７を領域１、２、３に分割していることを示
し、前記３ステツプは第８図に示すようになる。
すなわち、アダプタ９，１０はステツプ１で第８
図ａ、ステツプ２で第８図ｂ、ステツプ３で第８
図ｃに示すように移動する。

ステツプN9では以下のステツプN10〜N14を
前記で算出したステツプ数だけ繰り返す。ステツ
プN10においてアダプタ９，１０の各プローブＰ
の座標値を計算する。即ち第９図において、１ス
テツプ目である時、アダプタＰの両端のＸ座標は
０以上であり12以下である。また第２アダプタ１
０の両端のＸ座標は13以上であり25以下である。
２ステツプ目であるとき、第１アダプタ９の両端
のＸ座標は０以上であり12以下である。また第２
アダプタ１０の両端のＸ座標は26以上であり39以
下である。３ステツプ目であるとき、第１アダプ
タ９の両端のＸ座標は13以上であり25以下であ
る。また第２アダプタ１０の両端のＸ座標は26以
上であり39以下である。

次に印刷基板７の穴Ａ〜ＧのＸ座標から前記１
ステツプないし３ステツプで求めた範囲のものを
選出する。つまり物理的にはプローブＰが接触す
る印刷基板７の穴を選出することになる。例えば
１ステツプ目では穴A.、Ｂ、Ｃ、Ｅ、Ｆが該当
し、２ステツプ目では穴Ａ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｇが該
当する。また３ステツプ目では穴Ｂ、Ｄ、Ｆ、Ｇ
が該当する。

このようにして拾い出した穴のうち各ステツプ
で他の穴と接続していないものは除外する。即ち
読み込んだ接続情報は、 Ａ−Ｂ Ｃ−Ｄ Ｅ−Ｆ−Ｇのようなイメージであるが、前記１ス
テツプ目のデータは、 Ａ−Ｂ Ｃ Ｅ−Ｆ のようなイメージとなる。このうちＣは他の穴と
接続していないのでこのデータから除外する。し
たがつて１ステツプ目のデータは Ａ−Ｂ Ｅ−Ｆ となる。前記２ステツプ目で得られたデータの中
でＡは他の穴と接続していないので Ｃ−Ｄ Ｅ−Ｇとなる。

また前記３ステツプ目ではＢとＤは他の穴と接
続していないので Ｆ−Ｇというイメージのデータが得られる。こ
こまででＡ、Ｂ、Ｃという記号を説明に用いたが
ブログラム内では（Ax、Ay）、（Bx、By）、…
…という座標値で判定している。

ステツプN11においてステツプN10で得られた
データをステツプN2で読み込んで記憶してある
プローブ配置データから予め定められたプローブ
番号に変換する。具体的には、まず変換する座標
がアダプタ９，１０のどちらに対応するか前記１
ステツプから３ステツプで求めた各アダプタ９，
１０の両端のＸ座標の範囲を示すデータから判定
する。次にそのアダプタ９，１０の左端のＸ座標
を求めその値をX1として、Ａをプローブ番号に
変換するにはそのＡに対応するアダプタ９のプロ
ーブＰの配置状態を示す配置データ（Ax−X1、
Ay）の位置の値を求めればよいことになる。

即ち１ステツプ目ではＡ、Ｂ、Ｅ、Ｆをプロー
ブ番号に変換する。前記Ax＝０であり、ステツ
プN10のデータによりAxは第１アダプタ９に対
応する。また第１アダプタ９の左端の座標は０で
あるから第１アダプタ９のプローブ配置データ
（０−０、５）の位置のプローブ番号５が得られ
る。前記Ｂについては、Bx＝16であり第２アダ
プタ１０に対応し、その第２アダプタ１０の左端
のＸ座標は13なので第２アダプタ１０のプローブ
配置データ（16−13、10）の位置のプローブ番号
2274が得られる。このようにして （Ax、Ay）＝（０、５）→第１アダプタ９のプ
ローブ配置データ（０−０、５）はプローブ５番 （Bx、By）＝（16、10）→第２アダプタ１０の
プローブ配置データ（16−13、10）はプローブ
2218番（Ex、Ey）＝（10、40）→アダプタ１のプ
ローブ配置データ（10−０、40）はプローブ680
番 （Ex、Ey）＝（10、40）→アダプタ１のプロー
ブの配達データ（10−０、40）プローブ680番 （Fx、Fy）＝（20、50）→第２アダプタ１０の
プローブ配置データ（20−13、50）はプローブ
3095番のように変換する。

なお２ステツプ目及び３ステツプも同様にプロ
ーブ番号に変換する。

ステツプN12において、ステツプN11で得られ
たプローブ番号に接続関係を表す区切を設けて第
１図に示すメモリ１の所定の位置に配置する。前
記区切は、ネツトの始まりを２進数表示で
00100000とし、それに続くプローブ番号には
00000000をつける。１ステツプ目の場合Ａ−Ｂは
プローブ番号５番−2218番、Ｅ−Ｆはプローブ番
号680番−395番とそれぞれ接続しているのでメモ
リ１には第１０図に示すようにデータを配置す
る。

ステツプN13において残りのプローブ番号を印
刷基板試験装置のデータ形式に変換する。即ちス
テツプN12で使用したメモリ１の続きから使用し
ていないプローブ番号を第１０図に示すようにメ
モリ１の領域に区切00000010をつけて配置する。
１ステツプ目では、プローブ番号５、2218、680、
3095に対応するメモリ１の領域を使用している。
プローブ番号は０番から4081番まであるが第１１
図に示すように前記プローブ番号以外の０、１、
２、３、４、６、７、……を00000010をつけてメ
モリ１の領域に配置する。このようにして各ステ
ツプにおいて8164バイトの大きさのデータをメモ
リ１上に作成する。なお第１０図および第１１図
に示す相対アドレスとは、メモリ１内の予め定め
た領域の先頭をゼロとしたアドレスをいう。

ステツプN14においてステツプN13で作成され
たメモリ１の内容をフロツピイデイスク４に記録
する。このようにフロツピイデイスク４には前記
分割数、前記ステツプ数、その他の情報を記録す
る。その他の情報とは、データ作成日時、入力手
段２から入力された基板の名称、他のデータ変換
方法と区別するための文字などである。

以上のような動作により印刷基板試験装置の試
験データがフロツピイデイスク４に記録される。

(ヘ) 効果 本発明によれば、論理設計情報で印刷基板が検
査できる為フイルム原版のミスなどが発見でき、
完全な良品基板検査ができる。また検査データの
生成に工数をかけなくてもよい。また操作員に対
するメツセージに漢字や図形が表示手段に出力す
ることができ非常に操作がしやすい。また設計時
の座標によらず印刷基板を印刷基板試験装置にセ
ツトする位置を一意的に決定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の電気的な構成を示
すブロツク図、第２図は第１図に示すベアボード
テスタ６の構成を説明するための図、第３図は印
刷基板７の一実施例を示す図、第４図ａは第１ア
ダプタ９のプローブＰの配置状態を示す図、第４
図ｂは第４図ａに対応するプローブＰの情報を記
憶するメモリ１の記憶領域を示す図、第５図は本
発明の一実施例の動作を説明する為のフローチヤ
ート、第６図は表示手段５に表示される点を説明
する為の図、第７図は印刷基板７が検査において
３分割される状態を示す図、第８図は３ステツプ
の検査におけるアダプタ９，１０の移動状態を示
す図、第９図はアダプタ９，１０の両端の座標を
説明する為の図、第１０図及び第１１図はメモリ
１にプローブ番号が記憶される状態を説明する為
の図である。 １……メモリ、２……入力手段、３……CPU、
４……フロツピイデイスク、５……表示手段、６
……ベアボードテスタ、２０……CADシステム。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 印刷基板の配線状態を示す設計データの座標
   値を予め記憶した記憶手段からの前記座標値を読
   み込み、Ｘ、Ｙ座標の最大値と最小値とを求め、
   前記設計データの全ての座標値から前記最小値を
   減算することにより前記印刷基板の穴明状態を表
   示手段に表示させ、前記Ｘ座標の最大値から印刷
   基板試験装置に具備された印刷基板の配線の導通
   状態を検査する複数のプローブを有するアダプタ
   の走査領域と検査のステツプ数とを求める印刷基
   板試験装置における試験データ変換方法におい
   て、前記ステツプでの前記プローブの座標値を求
   め、前記設計データの座標値と前記プローブの座
   標値の一致するものを捜し、この一致した座標値
   をプローブ固有の予め定めたプローブ番号に変換
   し、このプローブ番号を印刷基板試験装置のデー
   タ形式の信号に変換し、次に変換さなれかつたプ
   ローブ番号を印刷基板試験装置のデータ形式の信
   号に変換し、次に前記両データ形式の信号をデー
   タフアイルとしてデイスクに記録することを特徴
   とする印刷基板試験装置における試験データ変換
   方法。