JPH0519451A - フオトマスク - Google Patents

フオトマスク

Info

Publication number
JPH0519451A
JPH0519451A JP16797691A JP16797691A JPH0519451A JP H0519451 A JPH0519451 A JP H0519451A JP 16797691 A JP16797691 A JP 16797691A JP 16797691 A JP16797691 A JP 16797691A JP H0519451 A JPH0519451 A JP H0519451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transparent plate
photomask
mask pattern
transparent
transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16797691A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiji Yoneda
征司 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Semiconductor Engineering Corp
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Engineering Corp, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Renesas Semiconductor Engineering Corp
Priority to JP16797691A priority Critical patent/JPH0519451A/ja
Publication of JPH0519451A publication Critical patent/JPH0519451A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、良好な転写を可能にしつつ、全体
の強度を高くし、これにより破損を防止して、マスクパ
ターン12を長期間保護し、かつ大口径の場合の製造を容
易にすることを目的とするものである。 【構成】 マスクパターン12が描かれている第1の透明
板11の表面に、第2の透明板13を重ね合わせ、かつこれ
ら第1及び第2の透明板11,13を、外周面に付着したご
みの転写を防止するのに十分な厚さにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばシリコンウエ
ハ上に回路パターンなどを転写するために使用されるフ
ォトマスクに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のフォトマスクの一例の断面
図である。図において、1は表面にマスクパターン2が
描かれている石英ガラス製のフォトマスク本体、3はフ
ォトマスク本体1の表裏にフレーム4を介して設けられ
ているペリクル膜であり、このペリクル膜3は、フォト
マスク1の表面及び裏面に対してそれぞれ所定の間隔
(例えば5mm)をおいて対向している。また、ペリク
ル膜3は、厚さ2〜3μmのニトロセルロース膜からな
っている。
【0003】フォトマスク本体1の表面にごみが直接付
着すると、それがシリコンウエハ(図示せず)に転写さ
れて欠陥を発生させる。しかし、ペリクル膜3上に付着
したごみは、転写の際に焦点がずれるため、シリコンウ
エハに転写されず、従って欠陥の発生しない良好な転写
をシリコンウエハに行うことができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のように構成され
た従来のフォトマスクにおいては、ペリクル膜3が厚さ
2〜3μmの薄い膜からなっているため、破れやすく、
かつ破れたペリクル膜3がフォトマスク本体1上に付着
して取り除くのが困難であるなどの問題点があった。ま
た、ペリクル膜3はその強度が低いため、例えばディス
プレイ用フォトマスク等の大口径のフォトマスク本体1
には、フレーム4を介してペリクル膜3を取り付けるこ
とが困難であるという問題点もあった。
【0005】この発明は、上記のような問題点を解決す
ることを課題としてなされたものであり、破損しにく
く、マスクパターンを長期間保護することができ、かつ
大口径のものであっても製造が容易なフォトマスクを得
ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係るフォトマ
スクは、表面にマスクパターンが描かれている第1の透
明板の表面に、第2の透明板を重ね合わせ、かつこれら
第1及び第2の透明板を、外周面に付着したごみの転写
を防止する厚さにしたものである。
【0007】
【作用】この発明においては、十分な厚さを有する第1
及び第2の透明板を重ね合わせることにより、外周面に
付着したごみの転写を防止するとともに、全体の強度を
高くする。
【0008】
【実施例】以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図1はこの発明の一実施例によるフォトマスクを示
す斜視図である。図において、11は表面に回路パターン
などのマスクパターン12(図中斜線)が描かれている第
1の透明板であり、この第1の透明板11は、例えば石英
ガラスなどの紫外線を透過する透明な材料からなってい
る。また、第1の透明板11は、裏面にごみが付着しても
転写時に影響のない厚さ(例えば5mm)を有してい
る。即ち、第1の透明板11は、従来のフォトマスク本体
1よりも厚いものである。13は第1の透明板11の表面に
重ね合わせられている第2の透明板(保護プレート)で
あり、この第2の透明板13は、第1の透明板11と同材料
からなり、かつ同様の厚さを有している。また、第2の
透明板13は、第1の透明板11のマスクパターン12のない
部分に接着剤等により接着されている。
【0009】上記のように構成されたフォトマスクにお
いては、十分な厚さの2枚のガラスを積層してなってい
るので、通常の作業時の取り扱いにより容易に破損する
ことはなく、マスクパターン12を長期間(半永久的に)
外的障害やごみなどの汚染から保護できる。従って、従
来必要だった破損したペリクル膜3を再度取り付ける作
業は省略でき、保守に手間がかからない。また、第1及
び第2の透明板11,13は、十分な厚さを有しており、外
周面に多少のごみが付着しても焦点がずらされるので、
シリコンウエハに良好な転写を行うことができる。さら
に、付着したごみは、窒素ガスなどを吹き付けることに
より、容易に除去できる。
【0010】また、ディスプレー用のフォトマスクなど
では、従来6インチ角であったものが、20cm×10
cmと大口径化し、その形状も正方形から長方形へと変
わっている。この実施例の第1及び第2の透明板11,13
は、十分な強度を有しているので、大口径の場合にも製
造が容易であり、かつフォトマスク全体にたわみが生じ
るのも防止され、歪みのないパターンを転写することが
できる。
【0011】なお、上記実施例では第1及び第2の透明
板11,13として石英ガラスからなるものを示したが、転
写に使用する光線を透過する材料であれば他の材料から
なっていてもよい。また、互いに同様の熱膨張係数を有
する材料であれば、第1及び第2の透明板11,13を互い
に異なる材料で構成してもよい。さらに、両者の厚さや
接合方法も上記実施例に限定されない。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、この発明のフォト
マスクは、表面にマスクパターンが描かれている第1の
透明板の表面に、第2の透明板を重ね合わせ、かつこれ
ら第1及び第2の透明板を、外周面に付着したごみの転
写を防止する厚さにしたので、良好な転写を可能にしつ
つ、全体の強度が高くなり、これにより破損を防止する
ことができ、この結果マスクパターンを長期間保護する
ことができるとともに、保守が容易になるなどの効果を
奏する。また、強度が高くなったことにより、大口径の
ものであっても製造が容易であり、かつ、たわみによる
マスクパターンの歪みを防止できるなどの効果も奏す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例によるフォトマスクを示す
斜視図である。
【図2】従来のフォトマスクの一例の断面図である。
【符号の説明】
11 第1の透明板 12 マスクパターン 13 第2の透明板

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 表面にマスクパターンが描かれている第
    1の透明板と、この第1の透明板の表面に重ね合わせら
    れている第2の透明板とを備え、前記第1及び第2の透
    明板は、外周面に付着したごみが転写されるのを防止す
    るための厚さを有していることを特徴とするフォトマス
    ク。
JP16797691A 1991-07-09 1991-07-09 フオトマスク Pending JPH0519451A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16797691A JPH0519451A (ja) 1991-07-09 1991-07-09 フオトマスク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16797691A JPH0519451A (ja) 1991-07-09 1991-07-09 フオトマスク

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0519451A true JPH0519451A (ja) 1993-01-29

Family

ID=15859510

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16797691A Pending JPH0519451A (ja) 1991-07-09 1991-07-09 フオトマスク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0519451A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100441349B1 (ko) 포토마스크보호용프레임지지펠리클
US4737387A (en) Removable pellicle and method
JP2642637B2 (ja) 防塵膜
JPH10509524A (ja) ペリクル用の保護マスク
TW200406645A (en) Pellicle and method for manufacturing mask with pellicle
JPH01292343A (ja) ペリクル
US6065843A (en) Thin film mirror frame
JPH0519451A (ja) フオトマスク
JP3529062B2 (ja) ペリクル及びレチクル
JPH05341502A (ja) ペリクル枠
JPH1062966A (ja) リソグラフィー用ペリクル
JPS63309954A (ja) 半導体装置製造用マスク
JP3642145B2 (ja) ペリクルの製造方法及びペリクルのレチクル貼着用粘着剤層への貼着用ライナー
JP4345882B2 (ja) 大型ペリクル
EP3296814B1 (en) Support frame for pellicle
JP2002236352A (ja) ペリクル
JPH01276138A (ja) 膜面保護フレーム付ペリクル
JP4319757B2 (ja) ペリクルの製造方法
JP3041760U (ja) 大型ペリクル
JPS61241756A (ja) ホトマスク
JPH1083070A (ja) フォトマスク
EP4325290A1 (en) Pellicle frame laminate and method for manufacturing pellicle using said laminate
JPS6250758A (ja) パタ−ン形成方法
JP2001033943A (ja) マスク装置
JPH01105255A (ja) ガラスマスク