JPH05194365A - 酸開裂性感放射線化合物、これらを含有する感放射線混合物、およびこの混合物を使用して製造された感放射線記録材料 - Google Patents

酸開裂性感放射線化合物、これらを含有する感放射線混合物、およびこの混合物を使用して製造された感放射線記録材料

Info

Publication number
JPH05194365A
JPH05194365A JP4124066A JP12406692A JPH05194365A JP H05194365 A JPH05194365 A JP H05194365A JP 4124066 A JP4124066 A JP 4124066A JP 12406692 A JP12406692 A JP 12406692A JP H05194365 A JPH05194365 A JP H05194365A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
compound
sensitive
group
alkyl
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4124066A
Other languages
English (en)
Inventor
Georg Pawlowski
ゲオルク、パウロスキー
Ralph Dammel
ラルフ、ダメル
Horst Roeschert
ホルスト、レシェルト
Walter Spiess
ワルター、シュピース
Charlotte Eckes
シャルロッテ、エッケス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoechst AG
Original Assignee
Hoechst AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoechst AG filed Critical Hoechst AG
Publication of JPH05194365A publication Critical patent/JPH05194365A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07DHETEROCYCLIC COMPOUNDS
    • C07D207/00Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom
    • C07D207/02Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom
    • C07D207/30Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom having two double bonds between ring members or between ring members and non-ring members
    • C07D207/34Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom having two double bonds between ring members or between ring members and non-ring members with hetero atoms or with carbon atoms having three bonds to hetero atoms with at the most one bond to halogen, e.g. ester or nitrile radicals, directly attached to ring carbon atoms
    • C07D207/36Oxygen or sulfur atoms
    • C07D207/402,5-Pyrrolidine-diones
    • C07D207/4042,5-Pyrrolidine-diones with only hydrogen atoms or radicals containing only hydrogen and carbon atoms directly attached to other ring carbon atoms, e.g. succinimide
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/01Sulfonic acids
    • C07C309/28Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/41Sulfonic acids having sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing singly-bound oxygen atoms bound to the carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/64Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
    • C07C309/65Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of a saturated carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/64Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
    • C07C309/65Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of a saturated carbon skeleton
    • C07C309/66Methanesulfonates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/72Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/73Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton to carbon atoms of non-condensed six-membered aromatic rings
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/72Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/74Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton to carbon atoms of six-membered aromatic rings being part of condensed ring systems
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/72Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/75Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing singly-bound oxygen atoms bound to the carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/63Esters of sulfonic acids
    • C07C309/72Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton
    • C07C309/77Esters of sulfonic acids having sulfur atoms of esterified sulfo groups bound to carbon atoms of six-membered aromatic rings of a carbon skeleton containing carboxyl groups bound to the carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07DHETEROCYCLIC COMPOUNDS
    • C07D207/00Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom
    • C07D207/02Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom
    • C07D207/44Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom having three double bonds between ring members or between ring members and non-ring members
    • C07D207/444Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom having three double bonds between ring members or between ring members and non-ring members having two doubly-bound oxygen atoms directly attached in positions 2 and 5
    • C07D207/448Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom having three double bonds between ring members or between ring members and non-ring members having two doubly-bound oxygen atoms directly attached in positions 2 and 5 with only hydrogen atoms or radicals containing only hydrogen and carbon atoms directly attached to other ring carbon atoms, e.g. maleimide
    • C07D207/452Heterocyclic compounds containing five-membered rings not condensed with other rings, with one nitrogen atom as the only ring hetero atom with only hydrogen or carbon atoms directly attached to the ring nitrogen atom having three double bonds between ring members or between ring members and non-ring members having two doubly-bound oxygen atoms directly attached in positions 2 and 5 with only hydrogen atoms or radicals containing only hydrogen and carbon atoms directly attached to other ring carbon atoms, e.g. maleimide with hydrocarbon radicals, substituted by hetero atoms, directly attached to the ring nitrogen atom
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07DHETEROCYCLIC COMPOUNDS
    • C07D317/00Heterocyclic compounds containing five-membered rings having two oxygen atoms as the only ring hetero atoms
    • C07D317/08Heterocyclic compounds containing five-membered rings having two oxygen atoms as the only ring hetero atoms having the hetero atoms in positions 1 and 3
    • C07D317/10Heterocyclic compounds containing five-membered rings having two oxygen atoms as the only ring hetero atoms having the hetero atoms in positions 1 and 3 not condensed with other rings
    • C07D317/14Heterocyclic compounds containing five-membered rings having two oxygen atoms as the only ring hetero atoms having the hetero atoms in positions 1 and 3 not condensed with other rings with substituted hydrocarbon radicals attached to ring carbon atoms
    • C07D317/18Radicals substituted by singly bound oxygen or sulfur atoms
    • C07D317/24Radicals substituted by singly bound oxygen or sulfur atoms esterified
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C2601/00Systems containing only non-condensed rings
    • C07C2601/12Systems containing only non-condensed rings with a six-membered ring
    • C07C2601/14The ring being saturated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C2602/00Systems containing two condensed rings
    • C07C2602/02Systems containing two condensed rings the rings having only two atoms in common
    • C07C2602/14All rings being cycloaliphatic
    • C07C2602/26All rings being cycloaliphatic the ring system containing ten carbon atoms
    • C07C2602/28Hydrogenated naphthalenes
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/115Cationic or anionic
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/12Nitrogen compound containing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/114Initiator containing
    • Y10S430/126Halogen compound containing

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Pyrrole Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【構成】式I 〔R1 はアルキル、高フッ素化アルキル、ペルフルオロ
アルキルまたはアリール基であり、R2 はH、アルキル
またはアリール基または基(R1 −SO2 −O−)n
−またはR3 Oの1つであり、R3 およびR4 は、アル
キル、シクロアルキルアルキル、シクロアルケニルアル
キル、アラルキル基、または相互に結合して複素環式環
を形成し、R5 はアシル基であり、Xは1〜3個のスル
ホニルオキシ基 R1 −SO2 −Oで置換されたアルキ
ル、シクロアルキルまたはアリール基であり、nは1〜
3の化合物及びそれを含有する感放射線混合物。 【効果】照射時に、化合物はスルホン酸を発生し、開裂
できる。アルカリ可溶性結合剤との組み合わせにおいて
は、それらは紫外線および高エネルギー放射線用記録材
料で特に使用されるポジ型混合物を与える。材料は、高
画像コントラストおよび優秀な貯蔵安定性と共に高い解
像度を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、感放射線酸開裂性化合
物、およびポジ型であり、即ち、照射の結果として可溶
性になり且つこれらの化合物を含有する感放射線混合物
に関する。この混合物は、(a)水に不溶性であり且つ
水性アルカリ性溶液に可溶性または少なくとも膨潤性で
ある結合剤、および(b)化学線の作用下で強酸を発生
し且つ少なくとも1個の酸開裂性C−O−C結合を有す
る化合物を含有する。
【0002】また、本発明は、この混合物を使用して製
造され且つフォトレジスト、電子部品、印刷版を製造す
るために、または化学ミリングに好適である感放射線記
録材料に関する。
【0003】
【従来の技術】構造物の大きさを例えばチップ製作にお
いて1μm未満の範囲に継続的に減少することは、修正
リソグラフィ技術を必要とする。このような微細構造の
画像を形成するためには、高エネルギー紫外光、電子ビ
ーム、X線などの短波長の放射線が、使用されている。
感放射線混合物は、短波放射線に適していなければなら
ない。感放射線混合物によって満たされなければならな
い要件の列挙は、C. G.Willson による文献「Organic R
esist Materials-Theory and Chemistry 」(L.F. Thom
pson, C. G. Willson, M. J. Bowden編のIntroduction
to Microlithography, Theory, Materials, and Proces
sing, ACS Symp. Ser.,219,87(1983),ア
メリカン・ケミカル・ソサエティー、ワシントン〕に与
えられている。それゆえ、より最近のテクノロジー、例
えば、中UVまたは遠UVリソグラフィ〔例えば、波長
305nm(XeF)、248nm(KrF)、193nm
(ArF)のエキシマレーザで露光〕、電子ビームリソ
グラフィまたはX線リソグラフィで使用でき、更に好ま
しくは広スペクトル領域内で感受性であり、対応的に通
常のUVリソグラフィでも使用できる感放射線混合物の
要求が増大していた。
【0004】感放射線記録材料を製造するためのポジ型
感放射線混合物は、既知である。水性アルカリ性媒体に
可溶性の結合剤、例えば、ノボラックまたはポリヒドロ
キシスチレン中にo−キノンジアジド誘導体を含有する
混合物は、市販されている。しかしながら、化学線、特
に波長248nmを有するKrFエキシマレーザからの
光、電子ビームなどの高エネルギー短波放射線に対する
これらの材料の感度は、不十分である。
【0005】酸が混合物に含有される光開始剤への化学
線の作用によって発生され且つこの酸が爾後の反応にお
いて混合物に含有される酸開裂性化合物を適当な、好ま
しくは水性アルカリ性の現像液の作用下で照射部で可溶
性にさせるポジ型感放射線混合物も、既知である。この
ような材料は、一般に、化学線に対する高められた感度
によって区別される。
【0006】必須成分として、水性アルカリ性溶液に可
溶性の高分子結合剤と、溶解抑制化合物と、照射時に、
開裂に必要な酸を発生する化合物とを含有する多数の混
合物が、既知である。結合剤は、大抵の場合には、ノボ
ラック樹脂である。これらの混合物の多くは、化学線に
対して高い感度を有する。それらは、化学的に増幅され
た光接触3成分系と呼ばれている。これらの混合物のう
ち、特に酸開裂性成分が1以上のアセタール単位を含有
するものは、或る商業的な重要性を獲得してきた。しか
しながら、これらの混合物は、或る不利を有する。この
ように、それらは、混合物を塗布すべき基板材料に限定
された安定性のみを有し、このことは画像原稿の不満足
な縮小できない再現をもたらす。このことは、例えば、
DE−A第3,621,376号明細書(=米国特許第
4,840,867号明細書)に係る追加の保護層を導
入することによってのみ改善できる。画像再現の劣化の
原因は、詳細には知られておらず且つ不十分に研究され
ているだけである。例えば、これらの混合物の露光用プ
ロセス窓、即ち、加工寛容度は、非常に狭く且つしばし
ば明瞭な再現性ではない。特に、画像再現の品質は、大
幅に露光と現像との間の時間差、いわゆる遅延時間に依
存する。一般原則として、この挙動を生ずる拡散法は、
容易には制御できないと仮定しなければならない。しか
しながら、加えて、基板材料上の混合物の乾燥時に、光
開始剤または酸不安定化合物の部分的蒸発または個々の
混合物成分の偏析は、生ずると推測されることがある。
このことは、通常の被覆溶媒中の低溶解度を有する酸不
安定化合物の場合に特にしばしば観察される。
【0007】また、C. C. Petropoulos による論文〔J.
Polym. Sci., Polym. Chem. Ed.,15,1637(1
977)〕から、vic 位にニトロ基を担持する芳香族ア
セタールは、酸触媒作用なしに高エネルギー紫外線によ
って光分解でき且つポジ型感放射線記録材料で使用でき
ることは既知である。しかしながら、これらの化合物の
光感度は、実際の応用には不十分である。その理由は、
光反応が化学的に増幅できないからである。
【0008】DE−A第3,721,741号明細書
(=米国特許第4,883,740号明細書)には、水
に不溶性であり且つ水性アルカリ性溶液に可溶性である
高分子結合剤と、少なくとも1個の酸開裂性原子団およ
び放射線の作用下に強酸を発生する原子団を含有する有
機化合物とを含有する感放射線混合物が記載されてい
る。記載の感放射線基は、排他的にオニウム塩基、特に
スルホニウム塩基である。
【0009】HSbF6 、HAsF6 、HPF6 などの
非求核酸のジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニ
ウム塩、ヨードニウム塩などのオニウム塩を光分解酸発
生剤として使用することは、各種の応用分野での可能な
用途を徹底的に制限する不利も伴う。このように、例え
ば、オニウム塩の多くは、毒性である。それらの溶解度
は、多くの溶媒で不十分であり、このことは若干の溶媒
のみがコーティング溶液を調製するのに好適である理由
である。更に、オニウム塩を使用する時には、特にマイ
クロリトグラフィで、プロセスを妨害させることがある
望ましくない異原子が時々導入される。更に、オニウム
塩は、ブレンステッド酸を生成し、このブレンステッド
酸は光分解において非常に激しい腐食作用を有する。こ
れらの酸は、感受性基板を攻撃し、それゆえこのような
混合物の使用は不満足な結果をもたらす。トリクロロメ
チルトリアジン誘導体、トリクロロメチルオキサジアゾ
ール誘導体などのハロゲン化合物も、激しい腐食作用を
有するハロゲン化水素酸を生成する。
【0010】F. M. Houlihan等によるより最近の論文S
PIE920,67(1988)には、前記酸発生剤に
加えて、露光時に低い移行傾向を有するスルホン酸を発
生するニトロベンジルトシレートも或る酸不安定レジス
ト処方物で使用できることは、ポジ型システムを参照す
ることによって示された。これらの結果から、このよう
な化合物が光硬化性系にも使用できると推論できる。し
かしながら、このようにして達成された感度、特に35
0〜450nmの紫外線に対する感度およびフォトレジス
トの熱安定性は、不十分であることが証明された。
【0011】前記不適当および不利のため、前記不利を
有しておらず且つ実施に好適な反応性を有する更に他の
感放射線混合物の要望がある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】それゆえ、本発明の目
的は、光分解的に酸を発生する酸開裂性化合物、および
それをベースとする感放射線混合物(光分解的に酸を発
生する化合物はすべての既知の基板上でできるだけ安定
であるべきであり且つ光分解生成物として腐食作用を有
していない酸を与える)を提案することにある。更に、
本発明は、特に光活性化合物および溶解度弁別化合物の
偏析を回避する感放射線混合物を提供すべきである。
【0013】
【課題を解決するための手段】この目的は、式I
【0014】
【化2】 〔式中、R1 はアルキル、高フッ素化アルキル、ペルフ
ルオロアルキルまたはアリール基であり、R2 は水素原
子、アルキルまたはアリール基または基(R1 −SO2
−O−)n X−またはR3 O−の1つであり、R3 およ
びR4 は同一または異種であり、アルキル、シクロアル
キルアルキル、シクロアルケニルアルキルまたはアラル
キル基(1〜3個の脂肪族CH2 またはCH基はN
5 、O、S、CO、CO−O、CO−NH、O−CO
−NH、CO−NH−CO、NH−CO−NH、S
2 、SO2 −OまたはSO2 −NHまたはアルケニ
ル、アルキニル、シクロアルキルまたはシクロアルケニ
ル基で置換できる)であり、または相互に結合して複素
環式環を形成し、R5 はアシル基であり、nは1〜3の
整数である〕の感放射線酸開裂性化合物によって達成さ
れる。
【0015】R1 が1〜6個の炭素原子を有し且つ高度
にフッ素化してもよいアルキル基、または6〜12個の
炭素原子を有するアリール基であり、R2 が水素原子ま
たはR3 O基であり、R3 およびR4 が好ましくは同一
であり、特に炭素数16未満のアルキル、シクロアルキ
ルアルキル、シクロアルケニルアルキルまたはアラルキ
ル基であり、1〜3個の脂肪族CH2 またはCH基がN
5 、O、S、CO、COO、CONH、OCONH、
CONHCO、NHCONH、SO2 、SO2 Oまたは
SO2 NH、またはアルケニル、アルキニル、シクロア
ルキルまたはシクロアルケニル基で置換することが可能
であり(R3 およびR4 が一緒に複素環式環を形成する
ならば、これは好ましくは1,3−ジオキソランまたは
1,3−ジオキサン環である)、R5 が特に炭素数12
までのアルカノイルまたはアロイル、アルキルスルホニ
ル、アルケニルスルホニル、アラルキルスルホニルまた
はアリールスルホニルまたはアルキルホスホニル、アル
ケニルホスホニル、アラルキルホスホニルまたはアリー
ルホスホニル基、特に好ましくは炭素数2〜6のアルカ
ノイル基または炭素数7〜10のアロイル基であり、X
が好ましくは炭素数2〜10のアルキル基、炭素数4〜
10のシクロアルキル基または炭素数6〜12のアリー
ル基(各々は1〜3個のスルホニルオキシ基R1 −SO
2 −Oで置換)である式Iの化合物は、好ましい。
【0016】アリールまたはアリーレン基は、非置換で
あるかハロゲン原子またはアルキル、アルコキシ、ニト
ロまたはシアノ基で置換されている基であることができ
る。アラルキル基は、脂肪族原子団で結合され且つ脂肪
族炭素原子を介して結合された1〜2個の芳香族基を含
有するものであると理解される。
【0017】R1 がメチル、エチル、トリフルオロメチ
ルまたはヘキサフルオロイソプロピル基またはフェニル
基(炭素数1〜3の1〜3個のアルキルまたはアルコキ
シ基、1〜3個のハロゲン原子、1または2個のニト
ロ、シアノまたはトリフルオロメチル基または適当な組
み合わせで置換してもよい)であり、Xが1〜3個のス
ルホニルオキシ基 R1 −SO2 −O−で置換されてい
るアリール基である式Iの化合物が、特に好ましい。
【0018】R2 が水素原子であり、Xが1〜3個のス
ルホニルオキシ基 R1 −SO2 −Oで置換されている
芳香族6員環である式Iの化合物が、非常に特に好まし
い。
【0019】このような化合物の製法は、それ自体既知
である。このことは、例えば、EP−A第0,312,
757号明細書に与えられた合成指図と同様に行うこと
ができる。適当なスルホン酸エステル誘導体は、前の段
階で製造しなければならない。更に他の好適な合成指図
は、置換基R2 、R3 およびR4 の性状に応じてDE−
A第2,610,842号明細書で見出すべきである。
【0020】
【実施例】これらの種類の化合物の典型的な好ましい代
表の合成は、個々の例を参照することによって後述す
る。製造例1 第一段階 4−ヒドロキシベンズアルデヒド80.6g(0.66
モル)をテトラヒドロフラン200mlに溶解し、トリエ
チルアミン138mlを加え、混合物を−5℃に冷却し
た。テトラヒドロフラン330mlに溶解され且つ−5℃
に予冷されたp−トルエンスルホン酸クロリド125.
8g(0.66モル)を−8℃〜−5℃で前記混合物に
滴下した。攪拌を室温で1時間続けた。溶液を蒸留水
1,000mlに注ぎ、混合物を濃塩酸でpH2に調整し
た。沈殿する油をエーテルに取り上げ、水相をエーテル
で抽出した。合わせた有機相を水洗し、乾燥した。濃縮
後、残渣が残り、シクロヘキサン/塩化メチレンから再
結晶した。これは、4−(トルエン−4−スルホニルオ
キシ)−ベンズアルデヒド(融点70〜72℃を有する
白色固体)120g(66.1%)を与えた。
【0021】第二段階 4−(トルエン−4−スルホニルオキシ)−ベンズアル
デヒド7.2g(0.026モル)をトルエン150ml
中のフェノキシエタノール7.2g(0.052モ
ル)、オルトギ酸トリエチル4.25g(0.0286
モル)およびp−トルエンスルホン酸100mgと一緒に
還流下に加熱した。約2時間後、トップ温度が純粋なト
ルエンの沸点に対応するようになるまで、蒸留物の一部
を除いた。トップ温度が純粋なトルエンの沸点未満にも
はや落ちなくなるまで、この操作を繰り返した。更なる
2時間後、蒸留は、4mmHgの真空をかけることによって
約45分間助長し、すべての揮発性成分を留去した。冷
却された残渣を塩化メチレンに取り上げ、毎度2%水酸
化ナトリウム溶液、脱イオン水で2回洗浄し、有機相を
乾燥した。溶媒の除去後、淡黄色の油12.9g(93
%)が残り、これは所望の4−(トルエン−4−スルホ
ニルオキシ)ベンズアルデヒドビス(2−フェノキシエ
チル)アセタール(添付の式の頁では化合物No. 1)で
あることが証明された。 C30307 S 計算値 C 67.40 H 5.66 S 6.00 (534.62) 実測値 C 67.7 H 5.7 S 5.9製造例2 第一段階 4−ヒドロキシベンズアルデヒド80.6g(0.66
モル)をテトラヒドロフラン200mlに溶解し、トリエ
チルアミン138mlを加え、混合物を−5℃に冷却し
た。テトラヒドロフラン330mlに溶解され且つ−5℃
に予冷されたメタンスルホン酸クロリド75.3g
(0.66モル)を−8℃〜−5℃で前記混合物に滴下
した。攪拌を室温で1時間続けた。溶液を蒸留水1,0
00mlに注ぎ、混合物を濃塩酸でpH2に調整した。沈殿
する油をエーテルに取り上げ、水相をエーテルで抽出し
た。合わせた有機相を水洗し、乾燥した。濃縮後、油が
残り、シクロヘキサンから再結晶した。これは、4−メ
タンスルホニルオキシベンズアルデヒド(融点61〜6
3℃を有する白色固体)84g(63.7%)を与え
た。
【0022】第二段階 4−メタンスルホニルオキシベンズアルデヒド5.2g
(0.026モル)は、炭酸エチレン1モルをn−プロ
ピレンアミン1モルと縮合することによって製造したウ
レタンアルコール7.6g(0.052モル)、オルト
ギ酸トリエチル4.25g(0.0286モル)および
p−トルエンスルホン酸100mgと一緒に油浴中で13
0℃に加熱した。このプロセスにおいて、高度に移動性
の液体が、留去した。2時間後、蒸留は、1mmHgの真空
をかけることによって約45分間助長した。冷却された
残渣を塩化メチレンに取り上げ、毎度2%水酸化ナトリ
ウム溶液、脱イオン水で2回洗浄し、有機相を乾燥し
た。溶媒の除去後、4−メタンスルホニルオキシベンズ
アルデヒドビス〔2−(N−プロピルカルバモイルオキ
シ)エチル〕アセタール(コハク色の溶融物;化合物N
o. 2)11.7g(93%)が残った。化合物は、
5.65ppm でアセタール基のシングル1 H−NMR信
号を示す。製造例3 第一段階 3,4−ジヒドロキシベンズアルデヒド8.29g
(0.06モル)をテトラヒドロフラン40mlに溶解
し、トリエチルアミン18.5mlを加え、混合物を−5
℃に冷却した。テトラヒドロフラン80mlに溶解され且
つ−5℃に予冷されたp−トルエンスルホン酸クロリド
22.9g(0.12モル)を−8℃〜−5℃で滴下し
た。攪拌を室温で2時間続けた。溶液を蒸留水1,00
0mlに注ぎ、混合物を濃塩酸でpH2に調整した。沈殿す
る油は、長期攪拌後に凝固して褐色の結晶ペーストを与
えた。粗生成物を吸引下に濾別し、乾燥した。それをシ
クロヘキサン/塩化メチレンから再結晶した(活性炭添
加)。これは、3,4−ビス−(トルエン−4−スルホ
ニルオキシ)−ベンズアルデヒド(融点95〜97℃を
有する白色固体)15.9g(59.4%)を与えた。
【0023】第二段階 3,4−ビス−(トルエン−4−スルホニルオキシ)−
ベンズアルデヒド11.6g(0.026モル)をN−
(2−ヒドロキシエチル)スクシンイミド7.44g
(0.052モル)、オルトギ酸トリエチル4.25g
(0.0286モル)およびp−トルエンスルホン酸1
00mgと一緒に油浴中で130℃に加熱した。このプロ
セスにおいて、高度に移動性の液体が、留去した。2時
間後、蒸留は、1mmHgの真空をかけることによって約4
5分間助長した。冷却された残渣を塩化メチレンに取り
上げ、毎度2%水酸化ナトリウム溶液、脱イオン水で2
回洗浄し、有機相を乾燥した。溶媒の除去後、コハク色
の溶融物16.9gが残り、これをエタノールから再結
晶した。これは、3,4−ビス−(トルエン−4−スル
ホニルオキシ)ベンズアルデヒドビス(2−スクシンイ
ミドエチル)−アセタール(融点127〜128℃を有
する白色結晶;化合物No. 3)12.8g(90.6
%)を与えた。 C33332 122 計算値 C 55.54 H 4.66 N 3.92 S 8.98 (713.70) 実測値 C 55.9 H 4.5 N 4.0 S 9.0 製造例4 第一段階 2,3,4−トリヒドロキシベンズアルデヒド15.4
g(0.1モル)をテトラヒドロフラン40mlに溶解
し、トリエチルアミン45.5mlを加え、混合物を−5
℃に冷却した。テトラヒドロフラン80mlに溶解され且
つ−5℃に予冷されたp−トルエンスルホン酸クロリド
57.2g(0.3モル)を−8℃〜−5℃で前記混合
物に滴下した。攪拌を室温で2時間続けた。溶液を蒸留
水1000mlに注ぎ、混合物を濃塩酸でpH2に調整し
た。沈殿する油は、長期攪拌後に凝固して褐色の結晶ペ
ーストを与えた。粗生成物を吸引下に濾別し、乾燥し
た。それを酢酸エチルから再結晶した(活性炭添加)。
これは、2,2,4−トリス−(トルエン−4−スルホ
ニルオキシ)−ベンズアルデヒド(融点159℃を有す
る白色固体)46.8g(75.9%)を与えた。
【0024】第二段階 3,4,5−トリス−(トルエン−4−スルホニルオキ
シ)−ベンズアルデヒド18.5g(0.03モル)を
トルエン150ml中のオルトギ酸トリエチル5.2g
(0.035モル)およびp−トルエンスルホン酸10
0mgと一緒に室温で攪拌した。わずかの発熱が、観察さ
れた。混合物を一晩中放置し、3−フェニルプロパノー
ル8.84g(0.065モル)および更なる100mg
のp−トルエンスルホン酸を加えた後、還流下に加熱し
た。従った更に他の操作は、製造例1と同様であった。
冷却された残渣を塩化メチレンに取り上げ、毎度2%水
酸化ナトリウム溶液、脱イオン水で2回洗浄し、有機相
を乾燥した。溶媒の除去後、ハチミツ色の溶融物21.
4g(82%)が反応し、これは結晶化させることがで
きなかった。薄層クロマトグラム(DC)は、所望の
3,4,5−トリス−(トルエン−4−スルホニルオキ
シ)ベンズアルデヒドビス(3−フェニルプロピル)−
アセタール(化合物No. 4)が92%よりも高い純度で
あることを示した。 C4646113 計算値 C 63.39 H 5.39 S 11.03 (871.58) 実測値 C 65.0 H 5.4 S 10.7 本発明に係る化合物の更に他の例を添付式に表示する。
これらを文献から既知の方法と同様に合成した。それら
の真偽を元素分析および1 H−NMRによって確認し
た。 化合物No. 1:
【0025】
【化3】 化合物No. 2:
【0026】
【化4】 化合物No. 3:
【0027】
【化5】 化合物No. 4:
【0028】
【化6】 化合物No. 5:
【0029】
【化7】 化合物No. 6:
【0030】
【化8】 化合物No. 7:
【0031】
【化9】 化合物No. 8:
【0032】
【化10】 化合物No. 9:
【0033】
【化11】 化合物No. 10:
【0034】
【化12】 化合物No. 11:
【0035】
【化13】 化合物No. 12:
【0036】
【化14】 化合物No. 13:
【0037】
【化15】 化合物No. 14:
【0038】
【化16】 化合物No. 15:
【0039】
【化17】 化合物No. 16:
【0040】
【化18】 化合物No. 17:
【0041】
【化19】 化合物No. 18:
【0042】
【化20】 化合物No. 19:
【0043】
【化21】 化合物No. 20:
【0044】
【化22】 化合物No. 21:
【0045】
【化23】 化合物No. 22:
【0046】
【化24】 化合物No. 23:
【0047】
【化25】 化合物No. 24:
【0048】
【化26】 化合物No. 25:
【0049】
【化27】 化合物No. 26:
【0050】
【化28】 化合物No. 27:
【0051】
【化29】 化合物No. 28:
【0052】
【化30】 化合物No. 29:
【0053】
【化31】 化合物No. 30:
【0054】
【化32】 化合物No. 31:
【0055】
【化33】 化合物No. 32:
【0056】
【化34】 化合物No. 33:
【0057】
【化35】 化合物No. 34:
【0058】
【化36】 化合物No. 35:
【0059】
【化37】 化合物No. 36:
【0060】
【化38】 化合物No. 37:
【0061】
【化39】 化合物No. 38:
【0062】
【化40】 化合物No. 39:
【0063】
【化41】 化合物No. 40:
【0064】
【化42】 化合物No. 41:
【0065】
【化43】 化合物No. 42:
【0066】
【化44】 化合物No. 43:
【0067】
【化45】 化合物No. 44:
【0068】
【化46】 化合物No. 45:
【0069】
【化47】 化合物No. 46:
【0070】
【化48】 化合物No. 47:
【0071】
【化49】 化合物No. 48:
【0072】
【化50】 化合物No. 49:
【0073】
【化51】 式Iの本発明に係る化合物の前記選択は、アセタール構
造を有するものが特に好ましいことを示す。これは、そ
れらが非常に容易に入手しやすく、加えて溶液中と層中
との両方で加水分解に対して極めて安定でもあり、且つ
このようにこれらの化合物を含有する安定な記録材料が
製造できるという事実に帰すべきである。製造例に記載
のように、本発明に係るアセタールは、或るアルデヒド
をベースとし、アルデヒドのうち下記のものが出発化合
物として特に好ましい:2−、3−および4−ヒドロキ
シベンズアルデヒド、2,3−、2,4−2,5−およ
び3,4−ジヒドロキシベンズアルデヒド、2,3,4
−および3,4,5−トリヒドロキシベンズアルデヒ
ド、4−ヒドロキシ−3−メチルベンズアルデヒド、2
−ヒドロキシ−4−、2−ヒドロキシ−5−、3−ヒド
ロキシ−4−、4−ヒドロキシ−3−メトキシベンズア
ルデヒド、3,5−ジメチル−4−、3,4−ジメトキ
シ−5−、3−エトキシ−4−ヒドロキシ−ベンズアル
デヒド、2−ヒドロキシ−5−、3−ヒドロキシ−4
−、4−ヒドロキシ−3−、5−ヒドロキシ−2−ニト
ロベンズアルデヒド、2−ヒドロキシ−ナフタレン−1
−カルブアルデヒド。
【0074】これらのアルデヒドは市販されている一
方、前駆物質として本発明で好適な他のヒドロキシアル
デヒドは、一般に、大抵の各種の方法によって単純な方
式で製造できる。これらのレビューは、Houben-Weyl ,
Methoden der organischen Chemie (有機化学の方
法),vol.7/1に与えられている。
【0075】本発明によれば、必須成分として、 a)水に不溶性であり且つ水性アルカリ性溶液に可溶性
または少なくとも膨潤性である結合剤および b)化学線の作用下で強酸を発生し且つ少なくとも1個
の酸開裂性C−O−C結合を有する化合物を含有するポ
ジ型感放射線混合物であって、化合物(b)は前記式I
の化合物であることを特徴とするポジ型感放射線混合物
も、提案される。
【0076】式Iの化合物の使用によって得られる本発
明に係る感放射線混合物は、広いスペクトル範囲にわた
っての高感度によって区別される。それらは、高エネル
ギー紫外線、好ましくは波長190〜350nmの光の照
射に非常に特に好適である。それらは、高い熱安定性を
示し且つ原稿の超微細構造さえ正確に再現することを可
能にする。腐食性光分解生成物は露光によって発生せ
ず、それゆえ混合物は感受性基板材料上にも使用でき
る。
【0077】本発明に係る感放射線混合物に含有される
酸開裂性光分解酸発生剤は、単独または本発明に係る前
記種類の他の酸不安定酸発生剤との組み合わせで使用で
きる。しかしながら、他の光分解酸発生剤との組み合わ
せも可能であり、そのためには最初に述べたオニウム
塩、ハロゲン化合物、特にトリクロロメチルトリアジン
誘導体またはトリクロロメチルオキサジアゾール誘導
体、o−キノンジアジドスルホクロリドまたは有機金属
/有機ハロゲン組み合わせさえ好適である。しかしなが
ら、全体として、このような組み合わせは、既述の不利
がこのような感放射線混合物においては或る状況下で再
び現れることがあるので好ましくない。
【0078】本発明に係る混合物中の式Iの酸不安定酸
発生剤の含量は、一般に、層の全重量に対して2〜60
重量%、好ましくは5〜50重量%、特に好ましくは1
0〜40重量%である。
【0079】所望ならば、他の酸開裂性化合物は、本発
明に係る混合物に添加できる。この場合、とりわけ、下
記の種類の化合物は、好適であることが証明された: (1)少なくとも1個のオルトカルボン酸エステル原子
団および/またはカルボン酸アミドアセタール原子団を
有するもの(この化合物は重合体特性も有し且つ前記原
子団は主鎖で結合エレメントとして、または側鎖で置換
基として生ずることが可能である)(DE−A第2,6
10,842号明細書および第2,928,636号明
細書)、(2)主鎖に反復アセタールおよび/またはケ
タール原子団を有するオリゴマーまたは重合体化合物
(DE−A第2,306,248号明細書および第2,
718,254号明細書)、(3)少なくとも1個のエ
ノールエーテル原子団またはN−アシルイミノカーボネ
ート原子団を有する化合物(EP−A第0,006,6
26号明細書および第0,006,627号明細書)、
(4)β−ケトエステルまたはβ−ケトアミドの環式ア
セタールまたはケタール(EP−A第0,202,19
6号明細書)、(5)シリルエーテル原子団を有する化
合物(DE−A第3,544,165号明細書および第
3,601,264号明細書)、(6)シリルエノール
エーテル原子団を有する化合物(DE−A第3,73
0,785号明細書および第3,730,783号明細
書)、(7)アルデヒドまたはケト成分が現像液中の溶
解度0.1〜100g/リットルを有するモノアセター
ルおよびモノケタール(DE−A第3,730,787
号明細書)、(8)第三級アルコールをベースとするエ
ーテル(米国特許第4,603,101号明細書)およ
び(9)第三級アルコール、アリルアルコールまたはベ
ンジルアルコールのカルボン酸エステルおよびカーボネ
ート〔米国特許第4,491,628号明細書およびJ.
M. Frechet 等,J. Imaging Sci. 30,59−64
(1986)〕。
【0080】前記酸開裂性化合物の混合物も、使用でき
る。しかしながら、これらのうち、前記種類(1)〜
(9)の1つに分類しなければならない酸開裂性化合物
は、好ましくは使用でき、これらのうち、特に酸開裂性
C−O−C結合を有するものが使用できる。これらのう
ち、(1)、(2)、(7)および(9)型に属する化
合物が特に好ましい。(2)型では、特に重合体アセタ
ールは、選抜すべきであり、(7)型の酸開裂性化合物
のうちでは、特に、アルデヒドまたはケトン成分が15
0℃よりも高い沸点、好ましくは200℃よりも高い沸
点を有するものは選抜すべきである。しかしながら、全
体として、このような混合物は、好ましくない。
【0081】化合物(b)または化合物(b)の組み合
わせは、2〜60重量%の濃度で存在する。
【0082】本発明に係る感放射線混合物は、水に不溶
性であるが水性アルカリ性溶液に可溶性または少なくと
も膨潤性である少なくとも1種の高分子結合剤も含有す
る。結合剤は、本発明に係る感放射線混合物の他の成分
との良好な相容性により、そして特に190〜300nm
の波長範囲内での最低の可能な特性吸収、即ち、高い透
明性により特に区別される。一般に光活性成分としての
ナフトキノンジアジドと併用されるノボラック縮合樹脂
をベースとする結合剤は、この条件を満たさない。ノボ
ラック縮合樹脂は、造像的露光後、露光部で水性アルカ
リ性現像液中の溶解度の減少を示すが、特性吸収は、照
射に望まれる短波長の範囲内で望ましくない程高い。
【0083】しかしながら、ノボラック縮合樹脂は、結
合剤として好適な高い透明性の他の結合剤との混合物と
して使用できる。ここで混合比は、ノボラック樹脂と混
合すべき結合剤の性状に主として依存する。特に重要な
因子は、前記波長範囲内での結合剤の特性吸収度、そし
てまた感放射線混合物の他の成分との混和性である。し
かしながら、一般に、本発明に係る感放射線混合物の結
合剤は、ノボラック縮合樹脂30重量%まで、特に20
重量%までを含有できる。
【0084】好適な結合剤は、p−ヒドロキシスチレン
およびそれらのアルキル誘導体、例えば、3−メチル−
4−ヒドロキシスチレン、3,5−ジメチル−4−ヒド
ロキシスチレンまたは2,3−ジメチル−4−ヒドロキ
シスチレンの単独重合体または共重合体、および他のビ
ニルフェノール、例えば、2−または3−ヒドロキシス
チレンまたは4−メチル−3−ヒドロキシスチレン、ま
たは(メタ)アクリル酸とフェノール類、例えば、ピロ
カテコール、レゾルシノール、ヒドロキノン、ピロガロ
ールまたはアミノフェノール類とのエステルまたはアミ
ドおよび芳香族アミンとの対応アミドの単独重合体また
は共重合体である。スチレン、メタクリル酸メチル、ア
クリル酸メチルなどの重合性化合物は、コモノマーとし
て使用できる。
【0085】増大された耐プラズマ性を有する混合物
は、ケイ素含有ビニル単量体、例えば、ビニルトリメチ
ルシランまたはアリルトリメチルシランも前記種類の共
重合体の製造に使用する時に得られる。これらの結合剤
の透明性は、一般に、問題の領域で高く、それゆえ改善
された構造化が可能である。
【0086】同等によく、マレイミドの単独重合体また
は共重合体も使用できる。これらの結合剤も、前記波長
範囲内で高い透明性を示す。ここで再度、好ましくは使
用するコモノマーは、スチレン、置換スチレン、ビニル
フェノール類、ビニルエーテル、ビニルエステル、ビニ
ルシリル化合物または(メタ)アクリレートである。
【0087】最後に、スチレンの共重合体は、水性アル
カリ性溶液中の溶解度の増大を生ずるコモノマーと併用
することもできる。これらとしては、例えば、無水マレ
イン酸、マレイン酸半エステルなどが挙げられる。
【0088】前記結合剤は、感放射線混合物の光学的品
質を損傷しないならば互いに混合することもできる。し
かしながら、結合剤混合物は、好ましくない。
【0089】結合剤の量は、一般に、感放射線混合物の
全重量に対して40〜98重量%、特に50〜95重量
%、好ましくは60〜90重量%である。
【0090】化合物(b)の感度の波長範囲内で結合剤
または結合剤の組み合わせ(a)の吸光は、0.5μm
-1未満であるべきである。
【0091】適当ならば、染料、顔料、可塑剤、湿潤剤
および流動剤、そしてまたポリグリコールおよびセルロ
ースエーテル、例えば、エチルセルロースも、可撓性、
接着性、光沢などの特殊な要件を改善するために本発明
に係る感放射線混合物に添加できる。
【0092】基板を被覆する時には、本発明に係る感光
性混合物は、便宜上、溶媒または溶媒の組み合わせに溶
解する。エチレングリコール、エチレングリコールモノ
メチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテ
ル、エチレングリコールモノエチルエーテルまたはプロ
ピレングリコールモノアルキルエーテル、特にプロピレ
ングリコールメチルエーテル、脂肪族エステル(例え
ば、酢酸エチル、酢酸ヒドロキシエチル、酢酸アルコキ
シエチル、酢酸n−ブチル、プロピレングリコールアル
キルエーテルアセテート、特にプロピレングリコールメ
チルエーテルアセテートまたは酢酸アミル)、エーテル
(例えば、ジオキサン)、ケトン(例えば、メチルエチ
ルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロペンタノン
およびシクロヘキサノン)、ジメチルホルムアミド、ジ
メチルアセトアミド、ヘキサメチルホスホルアミド、N
−メチルピロリジン、ブチロラクトン、テトラヒドロフ
ランおよびそれらの混合物は、この目的に特に好適であ
る。グリコールエーテル、脂肪族エステルおよびケトン
が、特に好ましい。
【0093】最後には、溶媒の選択は、使用する被覆
法、所望の層厚および乾燥条件に依存する。また、溶媒
は、化学的に中性でなければならず、即ち、それらは他
の層成分と不可逆的に反応してはならない。
【0094】前記溶媒を使用して調製する溶液は、一般
に、固形分5〜60重量%、好ましくは50重量%まで
を有する。
【0095】最後に、本発明は、本質上基板およびその
上に配置された本発明に係る感放射線混合物の感放射線
層からなる感放射線記録材料にも関する。
【0096】可能な基板は、コンデンサ、半導体、多層
プリント回路または集積回路を構成または製造できるす
べての材料である。熱的に酸化でき且つ/またはアルミ
ニウムで被覆でき、且つまたドーピングすることもでき
るシリコン基板は、特に言及するに値する。加えて、半
導体テクノロジーで通例であるすべての他の基板、例え
ば、窒化ケイ素、ヒ化ガリウムおよびリン化インジウム
は、可能である。更に、液晶ディスプレイの製作から既
知の基板、例えば、ガラスおよびインジウム−スズ酸化
物、そしてまた金属プレートおよび箔、例えば、アルミ
ニウム、銅または亜鉛のプレートまたは箔、バイメタル
およびトリメタル箔、そしてまた金属が蒸着された非導
電性箔、および紙は、可能である。これらの基板は、熱
前処理し、表面を粗面化し、わずかに食刻するか、また
は所望の性質を改善するために、例えば、親水性を高め
るために化学薬品で前処理することができる。
【0097】感放射線層の基板表面へのより良い凝集性
および/またはより良い接着性を付与するために、この
層は、接着促進剤を含有できる。シリコンまたはシリカ
基板の場合には、アミノシラン型の接着促進剤、例え
ば、3−アミノプロピルトリエトキシシランまたはヘキ
サメチルジシラザンは、この目的で使用できる。
【0098】凸版印刷、平版印刷、スクリーン印刷およ
びフレキソ印刷用印刷版などの光機械的記録層の製造に
好適な支持体は、特にアルミニウムプレート(予め陽極
酸化、木理および/またはシリケート処理してもよ
い)、そしてまた、亜鉛プレート、鋼プレート(クロム
メッキしてもよい)、そしてまたプラスチックフィルム
および紙である。
【0099】本発明に係る記録材料は、化学線に造像的
に露光する。好適な放射線源は、特にメタルハライドラ
ンプ、カーボンアークランプ、キセノンランプおよび水
銀蒸気ランプである。同様に、露光は、レーザ線、電子
ビーム、X線などの高エネルギー放射線を使用して行う
ことができる。しかしながら、190〜260nmの波長
の光を放出できるランプ、即ち、特にキセノンランプお
よび水銀蒸気ランプが、特に好ましい。更に、レーザ光
源、例えば、エキシマレーザ、特にそれぞれ248およ
び193nmで放出するKrFまたはArFレーザも使用
できる。放射線源は、前記波長範囲内で適当な放出を示
さなければならない。
【0100】感光性層の厚さは、所期の用途に依存す
る。一般に、それは、0.1〜100μm、好ましくは
1.0〜10μmである。
【0101】また、本発明は、感放射線記録材料の製法
に関する。感放射線混合物は、吹付け、流し塗、ローリ
ング、ワーラー被覆および浸漬被覆により基板に塗布で
きる。次いで、溶媒は、蒸発によって除去し、それゆ
え、感放射線層が基板の表面上に残る。溶媒の除去は、
層を150℃までの温度に加熱することによって促進で
きる。しかしながら、混合物は、先ず前記方法で一時的
支持体に塗布し、混合物を加圧下に高温でこの支持体か
ら最後の支持体材料に転写することもできる。一時的支
持体として使用する材料は、一般原則として支持体材料
としても好適であるすべての材料であることができる。
その後、層は、造像的に照射し、加熱して開裂反応を改
善する。次いで、層は、層の照射部を溶解し且つ除去す
る現像液で処理し、それゆえ造像的照射に使用する原稿
の画像は、基板表面上に残る。
【0102】好適な現像液は、特にアルカリ金属イオ
ン、アルカリ土類金属イオンおよび/またはアンモニウ
ムイオンのケイ酸塩、メタケイ酸塩、水酸化物、リン酸
水素塩およびリン酸二水素塩、炭酸塩または炭酸水素
塩、そしてまたアンモニアなどを含有する水溶液であ
る。金属イオンを含まない現像液は、米国特許第4,7
29,941号明細書、EP−A第0,062,733
号明細書、米国特許第4,628,023号明細書、米
国特許第4,141,733号明細書、EP−A第0,
097,282号明細書およびEP−A第0,023,
758号明細書に記載されている。現像液中のこれらの
物質の含量は、一般に、現像液の重量に対して0.1〜
15重量%、好ましくは0.5〜5重量%である。好ま
しくは、金属イオンを含まない現像液が、使用される。
少量の湿潤剤は、層の可溶性部の分離を容易にするため
に現像液に添加できる。
【0103】現像された層構造物は、後硬化できる。こ
のことは、一般に、熱板上で流動温度未満の温度まで加
熱した後、全面積をキセノン−水銀蒸気ランプ(200
〜250nmの範囲)からの紫外光に露光することによっ
て行う。この後硬化の結果、画像構造物は、架橋され、
それゆえ、構造物は、一般に200℃よりも高い温度ま
で流れ抵抗性を有する。後硬化は、単に高エネルギー紫
外光の照射によって、温度上昇なしに行うこともでき
る。
【0104】本発明に係る感放射線混合物は、リソグラ
フィ法による集積回路または個別の電子部品の製作にお
いて使用される。その理由は、それらが特に波長190
〜300nmの光の照射の場合に高い光感度を示すからで
ある。混合物は露光時に非常によく漂白するので、既知
の混合物を使用して可能であるものよりも微細な構造物
が、達成できる。現像されたレジスト層は、爾後のプロ
セス工程用マスクとしてここで役立つ。このような工程
の例は、層支持体のエッチング、イオンの層支持体への
移植または金属または他の物質の層支持体上への沈殿で
ある。
【0105】下記の例1〜10は、高エネルギー放射線
を使用してマイクロリソグラフィ中での記録材料のため
の本発明に係る混合物の適合性を実証する。本発明に係
る混合物が最新技術よりも優れていることは、比較例1
1および12を参照することによって実証する。
【0106】例において、量は、一般に重量部(p.b.
w.)で述べる。特に断らない限り、%の数字および定量
的比率は、重量単位であると理解すべきである。例1 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の平均分子量27,00
0を有するスチレン/p−ヒドロキシスチレン共重合体
(モル比30:70)6.0p.b.w.、 105〜120℃の軟化範囲を有するクレゾール/ホル
ムアルデヒドノボラック1.5p.b.w.および4−(トル
エン−4−スルホニルオキシ)ベンズアルデヒドビス
(2−フェノキシエチル)アセタール(化合物No. 1)
2.0p.b.w.から調製した。溶液を孔径0.2μmの濾
過器で濾過し、接着剤促進剤(ヘキサメチルジシラザ
ン)で処理されたウェーハ上に3,500rpm でワーラ
ー被覆した。熱板上で100℃において1分間乾燥した
後、層厚1.0μmが得られた。
【0107】記録材料をエネルギー80mJ/cm2 を有す
るキセノン−水銀蒸気ランプ(透過240〜260nmを
有するフィルター)の紫外線に原稿下で造像的に露光
し、現像前に室温で約30分間貯蔵した。
【0108】下記組成: メタケイ酸ナトリウム×9H2 O 5.3p.b.w. リン酸三ナトリウム×12H2 O 3.4p.b.w. リン酸二水素ナトリウム0.3p.b.w.および 脱イオン水191p.b.w. の0.3Nアルカリ性現像液を使用して、記録材料を現
像した。
【0109】現像時間60秒後、これは、急勾配レジス
トフランクを有するマスクの無欠陥画像を与え、<0.
7μmの構造物も真に詳細に解像された。走査電子顕微
鏡測定によるレジストプロフィールのフランクの検査
は、これらが基板表面に事実上垂直に整列されているこ
とを証明した。例2 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の平均分子量32,00
0を有するスチレン/p−ヒドロキシスチレン共重合体
(モル比20:80)7.5p.b.w.、 3,4−ビス(トルエン−4−スルホニルオキシ)ベン
ズアルデヒドビス(2−スクシンイミドエチル)アセタ
ール(化合物No. 3)2.0p.b.w.から調製した。溶液
を孔径0.2μmの濾過器で濾過し、接着剤促進剤(ヘ
キサメチルジシラザン)で処理されたウェーハ上に3,
000rpm でワーラー被覆した。熱板上で100℃にお
いて1分間乾燥した後、層厚1.22μmが得られた。
【0110】記録材料をエネルギー76mJ/cm2 で24
0〜260nmでキセノン−水銀蒸気ランプの紫外線に原
稿下で造像的に露光し、室温で約30分間貯蔵し、次い
で、例1に記載の現像液を使用して加工した。
【0111】現像時間60秒後、これは、高いフランク
安定性を有するマスクの無欠陥画像を与え、ここで再度
<0.7μmの構造物は真に詳細に解像された。例3 例1に従って製造されたウェーハにエネルギー100mJ
/cm2 を有する波長248nmのKrFエキシマレーザ放
射線を原稿下で照射した。現像後、原稿に真実の画像が
得られた。例4 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の例2に記載の共重合体
7.5p.b.w.および4−(トルエン−4−スルホニルオ
キシ)ベンズアルデヒドビス(2−フェノキシエチル)
アセタール(化合物No. 1)2.0p.b.w.から調製し
た。溶液を孔径0.2μmの濾過器で濾過し、接着剤促
進剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理された合計2個
のウェーハ上に3,100rpm でワーラー被覆した。熱
板上で100℃において1分間乾燥した後、層厚1.0
8μmが両方の場合に得られた。
【0112】被覆されたウェーハの一方をエネルギー8
0mJ/cm2 で240〜260nmでキセノン−水銀蒸気ラ
ンプの紫外線に原稿下で造像的に露光し、75秒間10
0℃に加熱し、次いで、水酸化テトラメチルアンモニウ
ム3%と脱イオン水97%とからなる現像液を使用して
加工した。
【0113】現像時間60秒後、これは、高いフランク
安定性を有するマスクの無欠陥画像を与え、ここで再度
<0.7μmの構造物は真に詳細に解像された。
【0114】第二ウェーハを露光し、熱処理し、14日
後前記のように現像した。前記結果と事実上同じ結果が
得られた。このことは、基板に乾燥形で塗布された混合
物が優秀な安定性を有することを意味する。例5 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の平均分子量25,00
0を有する3−メチル−4−ヒドロキシスチレン単独重
合体7.5p.b.w.および4−(トルエン−4−スルホニ
ルオキシ)ベンズアルデヒドビス(2−フェノキシエチ
ル)アセタール(化合物No. 1)2.0p.b.w.から調製
した。溶液を孔径0.2μmの濾過器で濾過し、2つの
等しい部分に分けた。一方の部分を接着剤促進剤(ヘキ
サメチルジシラザン)で処理されたウェーハ上に3,1
00rpm でワーラー被覆した。100℃において1分間
乾燥した後、層厚1.08μmが得られた。
【0115】記録材料をエネルギー60mJ/cm2 で24
0〜260nmでキセノン−水銀蒸気ランプの放射線に原
稿下で造像的に露光し、100℃で75秒間加熱し、次
いで、例4に記載の現像液を使用して加工した。
【0116】現像時間60秒後、これは、高いフランク
安定性を有するマスクの無欠陥画像を与え、ここで再度
<0.7μmの構造物は真に詳細に解像された。
【0117】第二部分を冷蔵庫で20週間貯蔵した後に
同じ方法に付した。同一の結果が得られた。このことは
混合物が溶液中で非常に高い安定性を有することを示
す。例6 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の例2に記載の共重合体
7.5p.b.w.および4−メタンスルホニルオキシベンズ
アルデヒドビス〔2−(N−プロピルカルバモイル)エ
チル〕アセタール(化合物No. 2)2.0p.b.w.から調
製した。溶液を孔径0.2μmの濾過器で濾過し、接着
剤促進剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理されたウェ
ーハ上に3,100rpm でワーラー被覆した。100℃
において1分間乾燥した後、層厚1.08μmが得られ
た。
【0118】記録材料をエネルギー60mJ/cm2 で24
0〜260nmでキセノン−水銀蒸気ランプの紫外線に原
稿下で造像的に露光し、100℃で75秒間加熱し、次
いで、例1に記載の現像液を使用して加工した。
【0119】現像時間60秒後、これは、高いフランク
安定性を有するマスクの無欠陥画像を与え、ここで再度
<0.7μmの構造物は真に詳細に解像された。例7 100℃での60秒の代わりに加熱をそれぞれ90℃で
90秒間、そして110℃で60秒間行う以外は、例4
の実験を2回繰り返した。両方の場合とも、結果は、事
実上同一であり且つ例4に記載のものと同じであった。
このことは、本発明に係る記録材料が広い加工寛容度を
有することを意味する。例8 コーティング溶液をシクロヘキサノン42p.b.w.中の1
65〜180℃の軟化範囲を有するスチレン/マレイミ
ド共重合体(モル比1:1)7.5p.b.w.および3,
4,5−トリス(トルエン−4−スルホニルオキシ)ベ
ンズアルデヒドビス(3−フェニルプロピル)アセター
ル(化合物No. 4)2.0p.b.w.から調製した。溶液を
孔径0.2μmの濾過器で濾過し、接着剤促進剤(ヘキ
サメチルジシラザン)で処理されたウェーハ上に3,7
00rpm でワーラー被覆した。100℃において1分間
乾燥した後、層厚0.98μmが得られた。
【0120】記録材料をエネルギー120mJ/cm2 で2
40〜260nmでキセノン−水銀蒸気ランプの放射線に
原稿下で造像的に露光し、90℃で60秒間加熱した。
【0121】水酸化テトラメチルアンモニウムの0.0
2N水溶液を使用して記録材料を現像し、露光部は残渣
なしに60秒以内に離された。
【0122】更なる時間に、急勾配レジストフランクを
有するマスクの無欠陥画像が得られた。暗所での損失
は、20nm未満であった。0.7μm未満の構造物さえ
真に詳細に解像された。例9 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の例8に記載の共重合体
7.5p.b.w.および2−(トルエン−4−スルホニルオ
キシ)ベンズアルデヒドビス(3−フェノキシプロピ
ル)アセタール(化合物No. 7)2.0p.b.w.から調製
した。溶液を孔径0.2μmの濾過器で濾過し、接着剤
促進剤(ヘキサメチルジシラザン)で処理されたウェー
ハ上に3,500rpm でワーラー被覆した。100℃に
おいて1分間乾燥した後、層厚1.00μmが得られ
た。
【0123】記録材料をエネルギー67mJ/cm2 で24
0〜260nmでキセノン−水銀蒸気ランプの放射線に原
稿下で造像的に露光し、110℃で60秒間加熱した。
【0124】0.02N水酸化テトラメチルアンモニウ
ム水溶液を使用して記録材料を現像し、露光部は残渣な
しに60秒以内に離され且つ真に詳細な原稿の画像が得
られた。画像のエッジスティープネスは、優秀であっ
た。例10 コーティング溶液をプロピレングリコールモノメチルエ
ーテルアセテート42p.b.w.中の例2に記載の共重合体
7.5p.b.w.および4−メタンスルホニルオキシオルト
安息香酸トリスフェネチル2.0p.b.w.から調製した。
溶液を孔径0.2μmの濾過器で濾過し、接着剤促進剤
(ヘキサメチルジシラザン)で処理されたウェーハ上に
3,500rpm でワーラー被覆した。100℃において
1分間乾燥した後、層厚1.04μmが得られた。
【0125】記録材料をエネルギー45mJ/cm2 で26
0nmでキセノン−水銀蒸気ランプの放射線に原稿下で造
像的に露光し、次いで、室温で20分間貯蔵した。
【0126】水酸化テトラメチルアンモニウムの0.2
7N水溶液を使用して記録材料を現像し、露光部は残渣
なしに60秒以内に離され且つ真に詳細な原稿の画像が
得られた。最小0.5μmまでの線およびギャップは、
マスクに真実に再現された。調製したままの材料の溶液
は、暗所で6週間貯蔵後にさえ第一試験と同一の再現性
のあるリソグラフィ結果をまだ与えたことが見出され
た。例11および12(比較例) 化合物No. 3 2.0p.b.w.の代わりに酸発生剤として
既存の化合物、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロホスフェート(例11)または2−ニトロベンジルト
シレート(例12)0.2p.b.w.を混合物に加えるよう
な方式で、例2のレジスト処方物を修正した。被覆し、
乾燥した後、例11の処方物は、同一のプロセス条件下
で波長248nmのKrFエキシマレーザに対して例2の
本発明に係る混合物よりも約10%感受性である一方、
例12の処方物の感度は、例2のものと異ならないこと
が見出された。
【0127】しかしながら、オニウム塩(例11)を使
用した時には、いわゆる「コーティングフット」を有す
る構造物が得られ、即ち、レジストの残渣が露光部で基
板に接着する一方、トシルエステルを使用する時には
(例12)、裸の基板表面に部分的に重なった表面架橋
が可視であった。両方の場合とも、許容可能な構造化
は、このように得ることができなかった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C07D 207/408 7019−4C C09K 9/02 Z 6917−4H B 6917−4H (72)発明者 ホルスト、レシェルト ドイツ連邦共和国オーベル‐ヒルベルスハ イム、アム、プフィングストボルン、16 (72)発明者 ワルター、シュピース ドイツ連邦共和国ディーブルク、ラインガ ウシュトラーセ、20 (72)発明者 シャルロッテ、エッケス ドイツ連邦共和国マインツ、1、グーテン ベルクシュトラーセ、45

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】式I 【化1】 〔式中、R1 はアルキル、高フッ素化アルキル、ペルフ
    ルオロアルキルまたはアリール基であり、 R2 は水素原子、アルキルまたはアリール基または基
    (R1 −SO2 −O−)n X−またはR3 O−の1つで
    あり、 R3 およびR4 は同一または異種であり、アルキル、シ
    クロアルキルアルキル、シクロアルケニルアルキルまた
    はアラルキル基(1〜3個の脂肪族CH2 またはCH基
    はNR5 、O、S、CO、CO−O、CO−NH、O−
    CO−NH、CO−NH−CO、NH−CO−NH、S
    2 、SO2 −OまたはSO2 −NHまたはアルケニ
    ル、アルキニル、シクロアルキルまたはシクロアルケニ
    ル基で置換できる)であり、または相互に結合して複素
    環式環を形成し、 R5 はアシル基であり、 nは1〜3の整数である〕の化合物。
  2. 【請求項2】R1 が炭素数1〜6のアルキル、ペルフル
    オロアルキルまたは高フッ化アルキル基、炭素数6〜1
    2のアリール基であり、R2 が水素原子またはR3 O基
    である、請求項1に記載の化合物。
  3. 【請求項3】R3 が、同一または異種であり、炭素数1
    5までのアルキルまたはアリールアルキル基である、請
    求項1または2に記載の化合物。
  4. 【請求項4】Xが、炭素数2〜10のアルキレン基、炭
    素数4〜10のシクロアルキレン基または炭素数6〜1
    2のアリーレン基である、請求項1ないし3のいずれか
    1項に記載の化合物。
  5. 【請求項5】本質上 a)水に不溶性であり且つ水性アルカリ性溶液に可溶性
    または少なくとも膨潤性である結合剤、および b)化学線の作用下で強酸を発生し且つ少なくとも1個
    の酸開裂性C−O−C結合を有する化合物を含有するポ
    ジ型感放射線混合物であって、化合物(b)は請求項1
    ないし4のいずれか1項に記載の化合物であることを特
    徴とするポジ型感放射線混合物。
  6. 【請求項6】化合物(b)が、波長190〜350nmの
    光に感受性である、請求項5に記載の感放射線混合物。
  7. 【請求項7】2〜60重量%の濃度の化合物(b)を含
    有する、請求項5に記載の感放射線混合物。
  8. 【請求項8】結合剤(a)が、化合物(b)の感度の波
    長領域で吸光0.5μm-1未満を有する、請求項5に記
    載の感放射線混合物。
  9. 【請求項9】結合剤が、フェノール性ヒドロキシ基を有
    する重合体である、請求項8に記載の感放射線混合物。
  10. 【請求項10】40〜98重量%の濃度の結合剤(a)
    を含有する、請求項5に記載の感放射線混合物。
  11. 【請求項11】層支持体および感放射線層からなる感放
    射線記録材料であって、該層が請求項5ないし10のい
    ずれか1項に記載の感放射線混合物からなることを特徴
    とする感放射線記録材料。
JP4124066A 1991-04-20 1992-04-17 酸開裂性感放射線化合物、これらを含有する感放射線混合物、およびこの混合物を使用して製造された感放射線記録材料 Pending JPH05194365A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4112970A DE4112970A1 (de) 1991-04-20 1991-04-20 Saeurespaltbare strahlungsempfindliche verbindungen, diese enthaltendes strahlungsempfindliches gemisch und daraus hergestelltes strahlungsempfindliches aufzeichnungsmaterial
DE4112970.9 1991-04-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05194365A true JPH05194365A (ja) 1993-08-03

Family

ID=6430021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4124066A Pending JPH05194365A (ja) 1991-04-20 1992-04-17 酸開裂性感放射線化合物、これらを含有する感放射線混合物、およびこの混合物を使用して製造された感放射線記録材料

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5346804A (ja)
EP (1) EP0510445B1 (ja)
JP (1) JPH05194365A (ja)
KR (1) KR920019735A (ja)
DE (2) DE4112970A1 (ja)
HK (1) HK25396A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015125788A1 (ja) * 2014-02-21 2015-08-27 東京エレクトロン株式会社 光増感化学増幅型レジスト材料及びこれを用いたパターン形成方法、半導体デバイス、リソグラフィ用マスク、並びにナノインプリント用テンプレート

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69322946T2 (de) * 1992-11-03 1999-08-12 Ibm Photolackzusammensetzung
JP2688168B2 (ja) 1992-11-03 1997-12-08 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション フォトレジストイメージ形成プロセス
US6143467A (en) * 1998-10-01 2000-11-07 Arch Specialty Chemicals, Inc. Photosensitive polybenzoxazole precursor compositions
DE10104577B4 (de) * 2001-02-01 2005-10-27 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Belacken eines Photomaskenrohlings für die Chipherstellung
CN102201333B (zh) * 2009-12-15 2014-04-30 罗门哈斯电子材料有限公司 光刻胶及其使用方法
GB2476976A (en) 2010-01-18 2011-07-20 Lintfield Ltd Protected aryl ketones and their use as photoinitiators

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH621416A5 (ja) * 1975-03-27 1981-01-30 Hoechst Ag
DE2718254C3 (de) * 1977-04-25 1980-04-10 Hoechst Ag, 6000 Frankfurt Strahlungsempfindliche Kopiermasse
DE3721741A1 (de) * 1987-07-01 1989-01-12 Basf Ag Strahlungsempfindliches gemisch fuer lichtempfindliche beschichtungsmaterialien
DE3730787A1 (de) * 1987-09-13 1989-03-23 Hoechst Ag Positiv arbeitendes strahlungsempfindliches gemisch und daraus hergestelltes strahlungsempfindliches aufzeichnungsmaterial
EP0353732A3 (de) * 1988-08-05 1991-11-06 Ciba-Geigy Ag Neue Fluorolefine, Verfahren zu deren Herstellung und deren Verwendung

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015125788A1 (ja) * 2014-02-21 2015-08-27 東京エレクトロン株式会社 光増感化学増幅型レジスト材料及びこれを用いたパターン形成方法、半導体デバイス、リソグラフィ用マスク、並びにナノインプリント用テンプレート

Also Published As

Publication number Publication date
KR920019735A (ko) 1992-11-19
US5346804A (en) 1994-09-13
HK25396A (en) 1996-02-16
EP0510445A1 (de) 1992-10-28
DE59203169D1 (de) 1995-09-14
EP0510445B1 (de) 1995-08-09
DE4112970A1 (de) 1992-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2839678B2 (ja) 陽画処理照射感応性混合物およびそれから製造した照射感応性複写材料
JP2854112B2 (ja) 陽画処理照射感応性混合物およびそれから製造した照射感応性複写材料
US5354643A (en) Oligomeric compounds with acid-labile protective groups useful in positive-working radiation-sensitive mixture
US5059698A (en) Unsaturated beta-keto-ester acetals
JPH0651519A (ja) ポジ型感光性組成物
US5403697A (en) Positive radiation-sensitive mixture and recording material produced therefrom
JPH04217249A (ja) 陰画処理照射感応性混合物およびこれから製造した照射感応性記録材料
JP3290234B2 (ja) ポジ型感光性組成物
EP0569707B1 (en) Cyclic carbonate compounds, method for producing the same and positive photoresist composition using the same
US5356752A (en) Compounds with acid-labile protective groups useful in positive-working radiation-sensitive mixtures
JP3152986B2 (ja) 2−ジアゾ−1,3−ジカルボニル基を含有する感放射線重合体、その製法およびポジ記録材料における用途
JPH05204159A (ja) ポジ型感放射線混合物、およびこの混合物を使用して製造された感放射線記録材料
US5286602A (en) Acid-cleavable compounds, positive-working radiation-sensitive mixture containing these compounds, and radiation-sensitive recording material produced with this mixture
JP3126485B2 (ja) 2,4,6−トリス−(2−ヒドロキシエトキシ)−[1,3,5]トリアジンのスルホン酸エステル、およびこれらのエステルで製造したポジ型放射感応性混合物および記録材料
US4946759A (en) Positive radiation-sensitive mixture and radiation-sensitive recording material produced therefrom
JPH06266109A (ja) ポジ型感光性組成物
JPH05194365A (ja) 酸開裂性感放射線化合物、これらを含有する感放射線混合物、およびこの混合物を使用して製造された感放射線記録材料
US6753127B2 (en) Norbornene-based copolymer for photoresist, preparation method thereof, and photoresist composition comprising the same
JPH0611829A (ja) 遠紫外線感受性フォトレジスト
US5302488A (en) Radiation-sensitive polymers containing naphthoquinone-2-diazide-4-sulfonyl groups and their use in a positive working recording material
US5217843A (en) Positive radiation-sensitive mixture, and radiation-sensitive recording material produced therefrom for high-energy radiation
US5346806A (en) Acid-cleavable radiation-sensitive compounds, radiation-sensitive mixture containing these compounds, and radiation-sensitive recording material produced with this mixture
KR20000076692A (ko) 신규한 중합체 및 이를 함유하는 포토레지스트 조성물
JP3194645B2 (ja) ポジ型感光性組成物
JPH04226456A (ja) 深uv放射で露光するための陽画作用放射感応性混合物および放射感応性記録材料