JPH0518979A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH0518979A JPH0518979A JP3197092A JP19709291A JPH0518979A JP H0518979 A JPH0518979 A JP H0518979A JP 3197092 A JP3197092 A JP 3197092A JP 19709291 A JP19709291 A JP 19709291A JP H0518979 A JPH0518979 A JP H0518979A
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- cleaning
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- reaction
- measurement
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 水ブランク測定によるよりも反応容器の汚れ
を高感度に検出し、汚染反応容器を選択的に洗浄できる
ようにする。 【構成】 測定制御部１は測定部２で乾燥状態の反応容
器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、その透過
光の光量を測定する。比較判定部３は各反応容器につい
ての測定値と各反応容器の基準となる値との差を求め、
その差を許容値と比較して洗浄の要否を判定する。洗浄
制御部４は比較判定部３で洗浄が必要であると判定され
た反応容器に対して洗浄機構５の起動を制御する。
を高感度に検出し、汚染反応容器を選択的に洗浄できる
ようにする。 【構成】 測定制御部１は測定部２で乾燥状態の反応容
器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、その透過
光の光量を測定する。比較判定部３は各反応容器につい
ての測定値と各反応容器の基準となる値との差を求め、
その差を許容値と比較して洗浄の要否を判定する。洗浄
制御部４は比較判定部３で洗浄が必要であると判定され
た反応容器に対して洗浄機構５の起動を制御する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は反応容器を繰り返し使用
する反応容器測光形自動分析装置における反応容器の汚
れの検出及び洗浄に関するものである。
する反応容器測光形自動分析装置における反応容器の汚
れの検出及び洗浄に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】測光セルを兼ねる反応容器を洗浄して再
使用する反応容器直接測光方式の自動分析装置では、分
析に先立って水ブランク測定（測光セルに水を充填して
次の分析の測定波長で測定すること）を行なって、次の
分析での吸光度０（原点）を求め、前回の水ブランク値
もしくは清浄状態における水ブランク値、又はそれらの
両者と比較することにより、その反応容器が次の分析に
使用可能か否かを判定している。その判定の結果、分析
使用「否」と判断された反応容器については、スキップ
（空送り）させるか、又は「反応容器の交換」のコメン
トを表示している。分析使用否の反応容器について、例
えば反応容器内壁の汚れを機械的にこすり落とすという
ような積極的な洗浄方法は、洗浄対象が測光セルである
ことから全く行なわれていない。
使用する反応容器直接測光方式の自動分析装置では、分
析に先立って水ブランク測定（測光セルに水を充填して
次の分析の測定波長で測定すること）を行なって、次の
分析での吸光度０（原点）を求め、前回の水ブランク値
もしくは清浄状態における水ブランク値、又はそれらの
両者と比較することにより、その反応容器が次の分析に
使用可能か否かを判定している。その判定の結果、分析
使用「否」と判断された反応容器については、スキップ
（空送り）させるか、又は「反応容器の交換」のコメン
トを表示している。分析使用否の反応容器について、例
えば反応容器内壁の汚れを機械的にこすり落とすという
ような積極的な洗浄方法は、洗浄対象が測光セルである
ことから全く行なわれていない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】免疫比濁法（ＴＩＡ）
やラテックス凝集法を実施すると、反応容器内壁に反応
生成物や試薬中の粒子が沈着し、水や洗浄液を通過させ
るだけでは元の清浄状態に戻らず、何度も使用するうち
にさらに汚れが進行して水ブランク測定で吸光度０補正
を行なっても分析結果に悪影響を与えることがある。粒
子の沈着による汚れが軽微なときは、水ブランク値にそ
の汚れが反映せず、検出することができない。水、アル
カリ液、界面活性剤を反応容器洗浄液として用いている
が、洗浄液を通過させるだけでは十分な洗浄効果を得る
ことができない。水ブランク値異常で汚れた反応容器が
発見できたら、その時点で汚染反応容器を抜き取って清
浄な反応容器と交換する必要があり、この操作は手数が
かかる。本発明は水ブランク測定によるよりも反応容器
の汚れを高感度に検出でき、汚染反応容器を選択的に洗
浄する機能を備えた自動分析装置を提供することを目的
とするものである。
やラテックス凝集法を実施すると、反応容器内壁に反応
生成物や試薬中の粒子が沈着し、水や洗浄液を通過させ
るだけでは元の清浄状態に戻らず、何度も使用するうち
にさらに汚れが進行して水ブランク測定で吸光度０補正
を行なっても分析結果に悪影響を与えることがある。粒
子の沈着による汚れが軽微なときは、水ブランク値にそ
の汚れが反映せず、検出することができない。水、アル
カリ液、界面活性剤を反応容器洗浄液として用いている
が、洗浄液を通過させるだけでは十分な洗浄効果を得る
ことができない。水ブランク値異常で汚れた反応容器が
発見できたら、その時点で汚染反応容器を抜き取って清
浄な反応容器と交換する必要があり、この操作は手数が
かかる。本発明は水ブランク測定によるよりも反応容器
の汚れを高感度に検出でき、汚染反応容器を選択的に洗
浄する機能を備えた自動分析装置を提供することを目的
とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明では反応容器が乾
燥状態にある一日のルーチン分析作業開始前（通常は朝
一番）に「空セルブランク（反応容器には何も分注しな
い状態）」測定を行ない、反応容器が清浄な状態にあっ
たときに測定した空セルブランク値を基準値として汚れ
の程度を比較判定する。空セルブランク判定で分析使用
「否」と判定された反応容器については、分析使用
「可」となるような洗浄を行なう。このような動作を行
なう図１の本発明では、測定制御部１は測定部２で乾燥
状態の反応容器に紫外線から近赤外線域の光束を照射さ
せ、その透過光の光量を測定する。比較判定部３は各反
応容器についての測定値と各反応容器の基準となる値と
の差を求め、その差を許容値と比較して洗浄の要否を判
定する。洗浄制御部４は比較判定部３で洗浄が必要であ
ると判定された反応容器に対して洗浄機構５の起動を制
御する。基準となる値は反応容器の清浄な状態での測定
値であり、例えば使用前の状態、又は正常な測定を行な
うことができた前回の測定値である。
燥状態にある一日のルーチン分析作業開始前（通常は朝
一番）に「空セルブランク（反応容器には何も分注しな
い状態）」測定を行ない、反応容器が清浄な状態にあっ
たときに測定した空セルブランク値を基準値として汚れ
の程度を比較判定する。空セルブランク判定で分析使用
「否」と判定された反応容器については、分析使用
「可」となるような洗浄を行なう。このような動作を行
なう図１の本発明では、測定制御部１は測定部２で乾燥
状態の反応容器に紫外線から近赤外線域の光束を照射さ
せ、その透過光の光量を測定する。比較判定部３は各反
応容器についての測定値と各反応容器の基準となる値と
の差を求め、その差を許容値と比較して洗浄の要否を判
定する。洗浄制御部４は比較判定部３で洗浄が必要であ
ると判定された反応容器に対して洗浄機構５の起動を制
御する。基準となる値は反応容器の清浄な状態での測定
値であり、例えば使用前の状態、又は正常な測定を行な
うことができた前回の測定値である。
【０００５】本発明ではまた、空セルブランク値と水を
充填した状態の水セルブランク値との差を基準値と比較
して汚れの程度を比較判定することもできる。そのよう
な動作を行なうためには、図１の本発明では、測定制御
部１は測定部２で乾燥状態の反応容器及び注水した状態
の反応容器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、
その透過光の光量を測定する。比較判定部３は各反応容
器についての乾燥状態での測定値と注入状態での測定値
との差値を求め、その差値と各反応容器についての基準
となる乾燥状態での測定値と注入状態での測定値との差
値とを比較して両差値の差を求め、その差を許容値と比
較して洗浄の要否を判定する。洗浄機構５の好ましい例
は、反応容器への挿入部の少なくとも表層部が多孔質弾
性材からなり、この多孔質弾性材は反応容器への挿入に
あたっては洗浄液が含浸させられる洗剤洗浄部が備えら
れたものである。
充填した状態の水セルブランク値との差を基準値と比較
して汚れの程度を比較判定することもできる。そのよう
な動作を行なうためには、図１の本発明では、測定制御
部１は測定部２で乾燥状態の反応容器及び注水した状態
の反応容器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、
その透過光の光量を測定する。比較判定部３は各反応容
器についての乾燥状態での測定値と注入状態での測定値
との差値を求め、その差値と各反応容器についての基準
となる乾燥状態での測定値と注入状態での測定値との差
値とを比較して両差値の差を求め、その差を許容値と比
較して洗浄の要否を判定する。洗浄機構５の好ましい例
は、反応容器への挿入部の少なくとも表層部が多孔質弾
性材からなり、この多孔質弾性材は反応容器への挿入に
あたっては洗浄液が含浸させられる洗剤洗浄部が備えら
れたものである。
【０００６】
【作用】図２により請求項１に記載の自動分析装置の動
作を説明する。一日のルーチン分析作業開始前のように
反応容器が乾燥状態のときに空セルブランク（Ｃ−Ｂ
Ｋ）測定を行なう。粒子付着の汚れは短波長測定の方が
散乱が顕著に起こるので、空セルブランク測定は短波長
側で行なう方が高感度に測定できるが、長波長側でも測
定は可能である。空セルブランク測定での吸光度Ｖｃｂ
と、清浄な状態のときのその反応容器の空セルブランク
値又は前回の空セルブランク値Ｖｃｓ（これを空セルブ
ランク測定の基準値とする）と、空セル汚染許容値Ｖａ
ｃ（これらの単位は全て吸光度単位）に関して、Ｖｃｂ
−Ｖｃｓ＞Ｖａｃとなった反応容器は汚染されており、
そのままでは分析に使用できないので、そのような反応
容器をリストアップして洗浄ワークシートを作成する。
その後、その洗浄ワークシートにリストアップされた反
応容器について、それらの反応容器が分析に使用可能と
なるような洗浄を実施する。その後、通常の動作に従っ
て水ブランク測定、試薬ブランク測定及びキャリブレー
ションを行ない、その後検体ルーチン分析を実行する。
作を説明する。一日のルーチン分析作業開始前のように
反応容器が乾燥状態のときに空セルブランク（Ｃ−Ｂ
Ｋ）測定を行なう。粒子付着の汚れは短波長測定の方が
散乱が顕著に起こるので、空セルブランク測定は短波長
側で行なう方が高感度に測定できるが、長波長側でも測
定は可能である。空セルブランク測定での吸光度Ｖｃｂ
と、清浄な状態のときのその反応容器の空セルブランク
値又は前回の空セルブランク値Ｖｃｓ（これを空セルブ
ランク測定の基準値とする）と、空セル汚染許容値Ｖａ
ｃ（これらの単位は全て吸光度単位）に関して、Ｖｃｂ
−Ｖｃｓ＞Ｖａｃとなった反応容器は汚染されており、
そのままでは分析に使用できないので、そのような反応
容器をリストアップして洗浄ワークシートを作成する。
その後、その洗浄ワークシートにリストアップされた反
応容器について、それらの反応容器が分析に使用可能と
なるような洗浄を実施する。その後、通常の動作に従っ
て水ブランク測定、試薬ブランク測定及びキャリブレー
ションを行ない、その後検体ルーチン分析を実行する。
【０００７】請求項２に記載の自動分析装置では、図３
に示されるように、各反応容器について一日のルーチン
分析作業開始前に空セルブランク（Ｃ−ＢＫ）測定と、
反応容器に水を充填した状態での水セルブランク（Ｗ−
ＢＫ）測定を行ない、その差値について基準差値との比
較を行なう。この場合の判定式は (Ｖc-bk・c−Ｖw-bk・c)−(Ｖc-bk・b−Ｖw-bk・b)＞Ｖａｃ であり、この式が満たされたときは汚染されていると判
定される。ここで、 Ｖc-bk・c；今回測定した空セルブランク値 Ｖw-bk・c；今回測定した水セルブランク値 Ｖc-bk・b；清浄状態の反応容器について測定された空セ
ルブランク値 Ｖw-bk・b；清浄状態の反応容器について測定された水セ
ルブランク値 （これらは吸光度単位）である。
に示されるように、各反応容器について一日のルーチン
分析作業開始前に空セルブランク（Ｃ−ＢＫ）測定と、
反応容器に水を充填した状態での水セルブランク（Ｗ−
ＢＫ）測定を行ない、その差値について基準差値との比
較を行なう。この場合の判定式は (Ｖc-bk・c−Ｖw-bk・c)−(Ｖc-bk・b−Ｖw-bk・b)＞Ｖａｃ であり、この式が満たされたときは汚染されていると判
定される。ここで、 Ｖc-bk・c；今回測定した空セルブランク値 Ｖw-bk・c；今回測定した水セルブランク値 Ｖc-bk・b；清浄状態の反応容器について測定された空セ
ルブランク値 Ｖw-bk・b；清浄状態の反応容器について測定された水セ
ルブランク値 （これらは吸光度単位）である。
【０００８】
【実施例】図４に本発明が適用される自動分析装置の一
例をブロック図で示す。反応ラインに配列された反応容
器に試料を分注するための試料分注ノズル機構が設けら
れており、そのピペッタにより試料の分注を行なうピペ
ッタポンプ１０は、サンプラ制御部１２からインターフ
ェース１４を経てＣＰＵ１６より制御される。反応容器
中で試料と反応させる分析試薬を反応容器に分注するた
めに、ディスペンサが設けられており、そのディスペン
サにより試薬を分注するディスペンサポンプ１８は試薬
分注器制御部２０からインターフェース１４を経てＣＰ
Ｕ１６より制御される。反応ラインの反応容器内の溶液
を撹拌したり、反応容器を洗浄する洗浄機構を制御する
ために、反応部制御部２２が設けられており、反応部制
御部２２もインターフェース１４を経てＣＰＵ１６より
制御される。図１の比較判定部３及び洗浄制御部４は反
応部制御部２２に含まれている。反応容器内の試料と分
析試薬との反応を吸光度として検出したり、空セルブラ
ンク測定、水セルブランク測定、試薬ブランク測定など
を行なうために分光器を備えた測定部２は測定制御部１
とインターフェース１４を経てＣＰＵ１６に接続されて
いる。測定された吸光度を一旦記憶したり、判定結果に
従って作成された洗浄すべき反応容器のリストなどを記
憶するために、フロッピーディスクドライブ２４が設け
られている。反応後、濃度換算係数を用いて試料中の被
検成分の濃度を算出するために濃度演算部２８がインタ
ーフェース１４を介してＣＰＵ１６に接続されている。
インターフェイス１４には更にプリンタ３０，キーボー
ド３２及びＣＲＴ３４が接続されている。
例をブロック図で示す。反応ラインに配列された反応容
器に試料を分注するための試料分注ノズル機構が設けら
れており、そのピペッタにより試料の分注を行なうピペ
ッタポンプ１０は、サンプラ制御部１２からインターフ
ェース１４を経てＣＰＵ１６より制御される。反応容器
中で試料と反応させる分析試薬を反応容器に分注するた
めに、ディスペンサが設けられており、そのディスペン
サにより試薬を分注するディスペンサポンプ１８は試薬
分注器制御部２０からインターフェース１４を経てＣＰ
Ｕ１６より制御される。反応ラインの反応容器内の溶液
を撹拌したり、反応容器を洗浄する洗浄機構を制御する
ために、反応部制御部２２が設けられており、反応部制
御部２２もインターフェース１４を経てＣＰＵ１６より
制御される。図１の比較判定部３及び洗浄制御部４は反
応部制御部２２に含まれている。反応容器内の試料と分
析試薬との反応を吸光度として検出したり、空セルブラ
ンク測定、水セルブランク測定、試薬ブランク測定など
を行なうために分光器を備えた測定部２は測定制御部１
とインターフェース１４を経てＣＰＵ１６に接続されて
いる。測定された吸光度を一旦記憶したり、判定結果に
従って作成された洗浄すべき反応容器のリストなどを記
憶するために、フロッピーディスクドライブ２４が設け
られている。反応後、濃度換算係数を用いて試料中の被
検成分の濃度を算出するために濃度演算部２８がインタ
ーフェース１４を介してＣＰＵ１６に接続されている。
インターフェイス１４には更にプリンタ３０，キーボー
ド３２及びＣＲＴ３４が接続されている。
【０００９】図５から図９により本発明が適用される一
実施例の具体的な機構を示す。図５において、反応テー
ブル５０にはその円周に沿って測光セルを兼ねる反応容
器５２が配列されている。反応テーブル５０は回転して
反応容器５２を試料注入部５４、試薬注入部５６、測定
部５８及び洗浄部６０の各位値に移動させることができ
る。洗浄部６０には反応容器５２から測定ずみの反応液
を吸引して排出する排出ノズル６２と、反応容器５２に
洗浄液を含浸した多孔質弾性材を挿入して洗剤洗浄を行
なう洗剤洗浄機構６４と、反応容器５２に水を注入し、
排出する複数個のノズル６６とが設けられている。５５
は試料を供給する試料テーブル、５７は試薬を供給する
試薬テーブルである。
実施例の具体的な機構を示す。図５において、反応テー
ブル５０にはその円周に沿って測光セルを兼ねる反応容
器５２が配列されている。反応テーブル５０は回転して
反応容器５２を試料注入部５４、試薬注入部５６、測定
部５８及び洗浄部６０の各位値に移動させることができ
る。洗浄部６０には反応容器５２から測定ずみの反応液
を吸引して排出する排出ノズル６２と、反応容器５２に
洗浄液を含浸した多孔質弾性材を挿入して洗剤洗浄を行
なう洗剤洗浄機構６４と、反応容器５２に水を注入し、
排出する複数個のノズル６６とが設けられている。５５
は試料を供給する試料テーブル、５７は試薬を供給する
試薬テーブルである。
【００１０】洗剤洗浄機構６４は図６に示されるよう
に、モータ６８の回転を作動杆７０の上下運動に変換す
る駆動機構６９を備えており、作動杆７０の先端には洗
浄具７２が取りつけられている。洗浄具７２は中心部の
硬質部材７４の表層を多孔質弾性材７６で覆った構造を
している。洗浄具７２は図７に示されるように、反応容
器５２に弾性的に挿入可能な寸法に構成されている。
に、モータ６８の回転を作動杆７０の上下運動に変換す
る駆動機構６９を備えており、作動杆７０の先端には洗
浄具７２が取りつけられている。洗浄具７２は中心部の
硬質部材７４の表層を多孔質弾性材７６で覆った構造を
している。洗浄具７２は図７に示されるように、反応容
器５２に弾性的に挿入可能な寸法に構成されている。
【００１１】図５に戻って説明すると、洗剤洗浄機構６
４には更に洗浄具水洗装置７８と洗浄剤タンク８０とが
備えられている。洗浄具水洗装置７８は図８に示される
ように、洗浄具７２を弾性状態で挾む程度の間隔をもっ
て洗浄液タンク８２内に複数の回転ローラ８４が配置さ
れており、底部には突起８６が設けられている。洗浄液
タンク８２には上部から洗浄水８５液が供給され、底部
から排出される。洗浄剤タンク８０には図９に示される
ように、洗浄剤８８が収容されており、洗浄剤８８に洗
浄具７２が浸されて洗浄具７２に洗浄剤８８が含浸され
る。洗剤洗浄機構６４を反応容器洗浄位置、洗浄具水洗
装置７８の位置、及び洗浄剤タンク８０の各位置に移動
させるために、洗浄機構移送機構９０が設けられてい
る。
４には更に洗浄具水洗装置７８と洗浄剤タンク８０とが
備えられている。洗浄具水洗装置７８は図８に示される
ように、洗浄具７２を弾性状態で挾む程度の間隔をもっ
て洗浄液タンク８２内に複数の回転ローラ８４が配置さ
れており、底部には突起８６が設けられている。洗浄液
タンク８２には上部から洗浄水８５液が供給され、底部
から排出される。洗浄剤タンク８０には図９に示される
ように、洗浄剤８８が収容されており、洗浄剤８８に洗
浄具７２が浸されて洗浄具７２に洗浄剤８８が含浸され
る。洗剤洗浄機構６４を反応容器洗浄位置、洗浄具水洗
装置７８の位置、及び洗浄剤タンク８０の各位置に移動
させるために、洗浄機構移送機構９０が設けられてい
る。
【００１２】次に、この実施例の動作を説明する。一日
のルーチン分析作業開始前に空セルブランク測定又は更
に水ブランク測定も行ない、そのままではその反応容器
を分析使用「否」と判定された反応容器については、洗
剤洗浄機構６４によって洗浄剤を含浸させた洗浄具７２
が挿入され、その反応容器はその後ノズル６６によって
水洗いされる。空セルブランク、又は空セルブランクと
水セルブランクの測定の結果、洗浄剤での洗浄が必要で
はないと判定された反応容器については、洗浄具７２を
挿入する洗浄は行なわれない。
のルーチン分析作業開始前に空セルブランク測定又は更
に水ブランク測定も行ない、そのままではその反応容器
を分析使用「否」と判定された反応容器については、洗
剤洗浄機構６４によって洗浄剤を含浸させた洗浄具７２
が挿入され、その反応容器はその後ノズル６６によって
水洗いされる。空セルブランク、又は空セルブランクと
水セルブランクの測定の結果、洗浄剤での洗浄が必要で
はないと判定された反応容器については、洗浄具７２を
挿入する洗浄は行なわれない。
【００１３】次に、本実施例を用いた実験データを表１
に示す。表１での測定波長は７５０ｎｍである。但し、
測定は２波長法でも可能であるが、１波長法に比べて感
度が低くなる。測光セルの反応容器は硬質ガラス製であ
る。備考欄の汚染源は、本発明の効果を検討するために
故意に汚れを引き起こす必要から、ラテックス試薬
（（ＣＲＰ（Ｃ反応性蛋白）、ＡＳＯ（抗ストレプトリ
ジン−Ｏ抗体））及びＴＩＡ試薬（（ＩｇＧ（免疫グロ
ブリンＧ）、ＩｇＡ（免疫グロブリンＡ））の各反応液
を反応容器に三昼夜充填したものである。セルＮｏ．１
〜３の水は対照用である。
に示す。表１での測定波長は７５０ｎｍである。但し、
測定は２波長法でも可能であるが、１波長法に比べて感
度が低くなる。測光セルの反応容器は硬質ガラス製であ
る。備考欄の汚染源は、本発明の効果を検討するために
故意に汚れを引き起こす必要から、ラテックス試薬
（（ＣＲＰ（Ｃ反応性蛋白）、ＡＳＯ（抗ストレプトリ
ジン−Ｏ抗体））及びＴＩＡ試薬（（ＩｇＧ（免疫グロ
ブリンＧ）、ＩｇＡ（免疫グロブリンＡ））の各反応液
を反応容器に三昼夜充填したものである。セルＮｏ．１
〜３の水は対照用である。
【００１４】
【表１】
【００１５】請求項１に対応して空セルブランク値を使
用する場合は、表１のデータから単純に清浄状態の空セ
ルブランク値と汚染状態の空セルブランク値とを比較す
ればよい。但し、この場合は光度計のランプの劣化によ
る吸光度変動の影響を受ける。請求項２の方式の場合
は、空セルブランク値と水セルブランク値の差を求め
る。例えば、セルＮｏ．１３のＩｇＡ反応液による汚染
では、清浄状態のとき−１１５ミリ吸光度（ミリＡｂ
ｓ）であったものが汚染状態では５７９ミリ吸光度へと
変化して６９４ミリ吸光度の上昇が見られる。もし、許
容値Ｖａｃを１００ミリ吸光度としておけば、もっと事
前に汚染を防止でき、又はセル交換のための警報を出す
ことが可能になる。
用する場合は、表１のデータから単純に清浄状態の空セ
ルブランク値と汚染状態の空セルブランク値とを比較す
ればよい。但し、この場合は光度計のランプの劣化によ
る吸光度変動の影響を受ける。請求項２の方式の場合
は、空セルブランク値と水セルブランク値の差を求め
る。例えば、セルＮｏ．１３のＩｇＡ反応液による汚染
では、清浄状態のとき−１１５ミリ吸光度（ミリＡｂ
ｓ）であったものが汚染状態では５７９ミリ吸光度へと
変化して６９４ミリ吸光度の上昇が見られる。もし、許
容値Ｖａｃを１００ミリ吸光度としておけば、もっと事
前に汚染を防止でき、又はセル交換のための警報を出す
ことが可能になる。
【００１６】
【発明の効果】本発明では微粒子の付着による反応容器
（兼測光セル）の汚染、例えばＴＩＡ反応やＴＴＴ（チ
モール混濁試験）、ＺＴＴ（硫酸亜鉛混濁試験）のよう
な膠質反応生成物、ラテックス凝集反応液中のラテック
ス粒子の沈着などが、空セルブランク測定を行なうこと
により従来の水ブランク測定よりも高感度に検出するこ
とができ、高感度測定が必要とされるＴＩＡ、ラテック
ス凝集法の測定項目に対するセル汚染による干渉を未然
に防止することができる。「汚染セル」と判断された反
応容器について、多孔質弾性材を表層にもつ洗浄具に洗
浄剤を含浸させて洗浄すれば、効率よく短時間に、付着
微粒子を取り除くことができる。また、洗浄の必要な汚
染セルしか洗浄しないので、洗浄具の損耗も最小限に抑
えることができる。
（兼測光セル）の汚染、例えばＴＩＡ反応やＴＴＴ（チ
モール混濁試験）、ＺＴＴ（硫酸亜鉛混濁試験）のよう
な膠質反応生成物、ラテックス凝集反応液中のラテック
ス粒子の沈着などが、空セルブランク測定を行なうこと
により従来の水ブランク測定よりも高感度に検出するこ
とができ、高感度測定が必要とされるＴＩＡ、ラテック
ス凝集法の測定項目に対するセル汚染による干渉を未然
に防止することができる。「汚染セル」と判断された反
応容器について、多孔質弾性材を表層にもつ洗浄具に洗
浄剤を含浸させて洗浄すれば、効率よく短時間に、付着
微粒子を取り除くことができる。また、洗浄の必要な汚
染セルしか洗浄しないので、洗浄具の損耗も最小限に抑
えることができる。
【図１】本発明を示すブロック図である。
【図２】動作の一例を示すフローチャート図である。
【図３】動作の他の例を示す示すフローチャート図であ
る。
る。
【図４】一実施例を示すブロック図である。
【図５】一実施例を示す概略斜視図である。
【図６】同実施例における洗剤洗浄機構を示す断面図で
ある。
ある。
【図７】同実施例における反応容器への洗浄具挿入状態
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図８】同実施例における洗浄具水洗装置を示す断面図
である。
である。
【図９】同実施例における洗浄剤タンクを示す断面図で
ある。
ある。
１ 測定制御部
２ 測定部
３ 比較判定部
４ 洗浄制御部
５ 洗浄機構
Claims (3)
- 【請求項１】 反応容器を繰り返し使用する反応容器測
光形自動分析装置において、測定部で乾燥状態の反応容
器に紫外線から近赤外線域の光束を照射させ、その透過
光の光量を測定する測定制御部と、各反応容器について
の測定値と各反応容器の基準となる値との差を求め、そ
の差を許容値と比較して洗浄の要否を判定する比較判定
部と、比較判定部で洗浄が必要であると判定された反応
容器に対して洗浄機構の起動を制御する洗浄制御部とを
備えた自動分析装置。 - 【請求項２】 反応容器を繰り返し使用する反応容器測
光形自動分析装置において、測定部で乾燥状態の反応容
器及び注水した状態の反応容器に紫外線から近赤外線域
の光束を照射させ、その透過光の光量を測定する測定制
御部と、各反応容器についての乾燥状態での測定値と注
入状態での測定値との差値を求め、その差値と各反応容
器についての基準となる乾燥状態での測定値と注入状態
での測定値との差値とを比較して両差値の差を求め、そ
の差を許容値と比較して洗浄の要否を判定する比較判定
部と、比較判定部で洗浄が必要であると判定された反応
容器に対して洗浄機構の起動を制御する洗浄制御部とを
備えた自動分析装置。 - 【請求項３】 洗浄機構には、反応容器への挿入部の少
なくとも表層部が多孔質弾性材からなり、この多孔質弾
性材は反応容器への挿入にあたっては洗浄液が含浸させ
られる洗剤洗浄部が備えられている請求項１又は２に記
載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3197092A JPH0518979A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3197092A JPH0518979A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 自動分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0518979A true JPH0518979A (ja) | 1993-01-26 |
Family
ID=16368598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3197092A Pending JPH0518979A (ja) | 1991-07-10 | 1991-07-10 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0518979A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007225555A (ja) * | 2006-02-27 | 2007-09-06 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | マイクロチップ、マイクロチップを用いた検査装置、及びマイクロチップを用いた検査システム |
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-
1991
- 1991-07-10 JP JP3197092A patent/JPH0518979A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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