JP2007225555A - マイクロチップ、マイクロチップを用いた検査装置、及びマイクロチップを用いた検査システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検体及び試薬を送液する前に、マイクロチップ1の基体の特性を検出する基体特性被検出部を有することにより、測定した透過光量が所定の値と異なるとき、制御部99によってその差を演算し、測定値に対して補正して表示するように制御することで、信頼性の高い測定値データを得ることができるマイクロチップ、マイクロチップを用いた検査装置、及びマイクロチップを用いた検査システムを提供する。
【選択図】図1
Description
1.第1の流体が流れる第1の流路と
第2の流体が流れる第2の流路と、
前記第1の流路と前記第2の流路とが合流する合流流路と、
前記合流流路に設けられた被検出部と、
が基体に設けられたマイクロチップにおいて、
前記基体の特性が検出される基体特性被検出部を有することを特徴とするマイクロチップ。
2.1に記載のマイクロチップが収容可能なマイクロチップ収容部と、
前記マイクロチップ収容部に収容される前記マイクロチップの基体特性被検出部に光を照射する光源と、
前記マイクロチップ収容部に収容される前記マイクロチップの基体特性被検出部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
を有することを特徴とするマイクロチップを用いた検査装置。
3.前記光源から前記基体特性被検出部に照射される前の光を分光して参照光を得る分光部と、
前記分光部により分光された参照光を受光する参照光受光部と、
を有することを特徴とする2に記載のマイクロチップを用いた検査装置。
4.1に記載のマイクロチップと、
2又は3に記載のマイクロチップを用いた検査装置と、
を有することを特徴とするマイクロチップを用いた検査システム。
〈マイクロチップの一例〉
まず、本発明の実施形態に係わるマイクロチップ1の一例について、図1を用いて説明する。
〈マイクロチップの構成〉
マイクロチッブ1を構成する溝形成基板108と被覆基板109に用いる材料について説明する。
〈反応検出装置〉
次に、本発明の実施形態における反応検出装置80について、図2を用いて説明する。
〈被検出部〉
マイクロチップ1の被検出部111では、検体と前記マイクロチップ1内に貯蔵された試薬が反応して、例えば呈色、発光、蛍光、混濁などをおこす。本実施形態では試薬の反応結果を光学的に検出する。試薬の反応結果を測光するマイクロチップ1の被検出部111の溝形成基板108と被覆基板109は、光透過性の材料になっていて、試薬と検体の反応結果は、マイクロチップ1の被検出部111を透過する光を測光または測色することで解析することができる。
〈検出部〉
光検出部4は発光部4aと受光部4bから成り、マイクロチップ1の被検出部111を透過する光を検出できるように配置されている。発光部4aは本実施形態の発光手段、受光部4bは本実施形態の受光素子である。
〈チップ押圧板〉
チップ押圧板2はマイクロチップ1の上面を押圧し、マイクロチップ1の下面を温度調節ユニット3とパッキン6に密着させているので、プラステック樹脂などで形成されているため反りを生じやすいマイクロチップ1の反りを補正することができる。チップ押圧板2とマイクロチップ1は密着しているので、チップ押圧板2の内部に設けられた受光部4bと、マイクロチップ1の被検出部111の距離は一定に保たれる。また、発光部4aと被検出部111の距離も一定に保たれるので、被検出部111に正確に光を照射し、また被検出部111を透過した光だけを受光することができる。そのため、チップ押圧板2の反りによる誤差が無いので高い検出精度が得られる。
〈ブロック図〉
図5は、本発明の実施形態における反応検出装置80の回路ブロック図である。
〈フローチャート〉
図6は本発明の第1の実施形態において、反応検出装置80による検査の手順を説明するフローチャートである。
2 チップ押圧板
3 温度調整ユニット
4 光検出部
5 ポンプ
6 パッキン
8 プラグ
9 閉止弁
10 駆動液タンク
11 駆動液
80 反応検出装置
82 筐体
83 挿入口
84 表示部
111 被検出部
120 試薬収容部
Claims (4)
- 第1の流体が流れる第1の流路と
第2の流体が流れる第2の流路と、
前記第1の流路と前記第2の流路とが合流する合流流路と、
前記合流流路に設けられた被検出部と、
が基体に設けられたマイクロチップにおいて、
前記基体の特性が検出される基体特性被検出部を有することを特徴とするマイクロチップ。 - 請求項1に記載のマイクロチップが収容可能なマイクロチップ収容部と、
前記マイクロチップ収容部に収容される前記マイクロチップの基体特性被検出部に光を照射する光源と、
前記マイクロチップ収容部に収容される前記マイクロチップの基体特性被検出部を介して前記光源からの光を受光する受光部と、
を有することを特徴とするマイクロチップを用いた検査装置。 - 前記光源から前記基体特性被検出部に照射される前の光を分光して参照光を得る分光部と、
前記分光部により分光された参照光を受光する参照光受光部と、
を有することを特徴とする請求項2に記載のマイクロチップを用いた検査装置。 - 請求項1に記載のマイクロチップと、
請求項2又は3に記載のマイクロチップを用いた検査装置と、
を有することを特徴とするマイクロチップを用いた検査システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006049918A JP2007225555A (ja) | 2006-02-27 | 2006-02-27 | マイクロチップ、マイクロチップを用いた検査装置、及びマイクロチップを用いた検査システム |
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JP2006049918A JP2007225555A (ja) | 2006-02-27 | 2006-02-27 | マイクロチップ、マイクロチップを用いた検査装置、及びマイクロチップを用いた検査システム |
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JP2007225555A true JP2007225555A (ja) | 2007-09-06 |
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JP2006049918A Pending JP2007225555A (ja) | 2006-02-27 | 2006-02-27 | マイクロチップ、マイクロチップを用いた検査装置、及びマイクロチップを用いた検査システム |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012506027A (ja) * | 2008-10-14 | 2012-03-08 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 遠心力基盤の微細流動装置及び該微細流動装置を用いた試料分析方法 |
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-
2006
- 2006-02-27 JP JP2006049918A patent/JP2007225555A/ja active Pending
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