JPH05175447A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPH05175447A JPH05175447A JP3344725A JP34472591A JPH05175447A JP H05175447 A JPH05175447 A JP H05175447A JP 3344725 A JP3344725 A JP 3344725A JP 34472591 A JP34472591 A JP 34472591A JP H05175447 A JPH05175447 A JP H05175447A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- polysilicon
- layers
- type
- silicon substrate
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Abstract
(57)【要約】
【目的】この発明は、微細化して構成できると共に書き
込みに際しての消費電流を軽減することができ、簡単に
工程で製造可能にした半導体記憶装置を提供することを
目的とする。 【構成】シリコン基板11の表面部にP+拡散層12を形成
すると共に、このシリコン基板11の表面上に層間絶縁層
13を形成する。この層間絶縁層13には、拡散層12に至る
コンタクトホール14、15を形成し、このコンタクトホー
ル14、15にそれぞれポリシリコン層16、17を埋込み、こ
のポリシリコン層16、17にそれぞれP型およびN型の不
純物を注入する。そして、このポリシリコン層16、17そ
れぞれに接続される配線層18、19を形成し、ポリシリコ
ン層17と拡散層12との界面のPN接合部に選択的に逆電
圧が印加され、ブレークダウンさせられるようにする。
込みに際しての消費電流を軽減することができ、簡単に
工程で製造可能にした半導体記憶装置を提供することを
目的とする。 【構成】シリコン基板11の表面部にP+拡散層12を形成
すると共に、このシリコン基板11の表面上に層間絶縁層
13を形成する。この層間絶縁層13には、拡散層12に至る
コンタクトホール14、15を形成し、このコンタクトホー
ル14、15にそれぞれポリシリコン層16、17を埋込み、こ
のポリシリコン層16、17にそれぞれP型およびN型の不
純物を注入する。そして、このポリシリコン層16、17そ
れぞれに接続される配線層18、19を形成し、ポリシリコ
ン層17と拡散層12との界面のPN接合部に選択的に逆電
圧が印加され、ブレークダウンさせられるようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばワンタイムプ
ログラマブルリードオンリーメモリ(PROM)を構成
することができ、高信頼性の要求される各種半導体メモ
リ装置に対して応用できる半導体記憶装置に関する。
ログラマブルリードオンリーメモリ(PROM)を構成
することができ、高信頼性の要求される各種半導体メモ
リ装置に対して応用できる半導体記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から知られているPROMは、大き
くヒューズ方式およびツェナーザップ(接合)方式の2
つの方式に分けられる。しかし、この様な方式において
はデータを書き込むに際して大きな電流を必要とするも
のであり、したがって書き込み駆動用のトランジスタが
必然的に大きなものが必要となり、また記憶素子専用の
製造工程を必要とする。そして、高集積化が困難となる
大きな問題を有する。このため、多くの場合ウエハの状
態でプローブカードを用いて記憶素子に対する書き込み
を行い、素子数も数十素子程度の規模で構成されるよう
になる。
くヒューズ方式およびツェナーザップ(接合)方式の2
つの方式に分けられる。しかし、この様な方式において
はデータを書き込むに際して大きな電流を必要とするも
のであり、したがって書き込み駆動用のトランジスタが
必然的に大きなものが必要となり、また記憶素子専用の
製造工程を必要とする。そして、高集積化が困難となる
大きな問題を有する。このため、多くの場合ウエハの状
態でプローブカードを用いて記憶素子に対する書き込み
を行い、素子数も数十素子程度の規模で構成されるよう
になる。
【0003】従来、ツェナーザップ用のタイオードを製
作するためには、ツェナーダイオード専用の不純物注入
工程を必要とする。また横方向に構成されるデバイスを
使用する場合には、ホトリソ工程によってその寸法が決
定されるものであり、デバイスの大きさが必然的に大き
くなり、書き込み時の消費電流が大きくなる。
作するためには、ツェナーダイオード専用の不純物注入
工程を必要とする。また横方向に構成されるデバイスを
使用する場合には、ホトリソ工程によってその寸法が決
定されるものであり、デバイスの大きさが必然的に大き
くなり、書き込み時の消費電流が大きくなる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明は上記のよう
な点に鑑みなされたもので、特に信頼性の優れた性質を
有するツェナーザップ方式のワンタイムPROMを提供
するものであり、特に特別の製造工程を必要とすること
なくMOSデバイス等と同時に製造することができると
共に、書き込み時の消費電流も充分に抑制できるように
した半導体記憶装置を提供しようとするものである。
な点に鑑みなされたもので、特に信頼性の優れた性質を
有するツェナーザップ方式のワンタイムPROMを提供
するものであり、特に特別の製造工程を必要とすること
なくMOSデバイス等と同時に製造することができると
共に、書き込み時の消費電流も充分に抑制できるように
した半導体記憶装置を提供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体記
憶装置は、シリコン基板の表面に第1の導電型の拡散層
を形成し、この第1の拡散層の形成されたシリコン基板
の表面に、前記拡散層領域に対応して相互に間隔を設定
して前記拡散層表面に至る少なくとも2つのコンタクト
ホールを形成した絶縁層を形成する。そして、前記コン
タクトホールにそれぞれ第1の導電型の不純物およびこ
れと反対導電型の第2の導電型の不順物を注入したポリ
シリコン層を埋込み、このコンタクトホールに埋め込ま
れたポリシリコン層にそれぞれ接続されるようにして第
1および第2の配線層が形成されるようにしている。
憶装置は、シリコン基板の表面に第1の導電型の拡散層
を形成し、この第1の拡散層の形成されたシリコン基板
の表面に、前記拡散層領域に対応して相互に間隔を設定
して前記拡散層表面に至る少なくとも2つのコンタクト
ホールを形成した絶縁層を形成する。そして、前記コン
タクトホールにそれぞれ第1の導電型の不純物およびこ
れと反対導電型の第2の導電型の不順物を注入したポリ
シリコン層を埋込み、このコンタクトホールに埋め込ま
れたポリシリコン層にそれぞれ接続されるようにして第
1および第2の配線層が形成されるようにしている。
【0006】
【作用】この様に構成される半導体記憶装置は、通常の
半導体デバイスの製造工程に対応して製造できるもので
あり、前記拡散層と第2の導電型の不純物が注入された
ポリシリコン層との間にPN接合が形成され、ダイオー
ドが形成されるようになる。この状態で前記2つのポリ
シリコン層にそれぞれ接続される第1および第2の配線
層から前記ダイオードに逆方向の電圧を印加すると、ダ
イオードがブレークダウンし、前記PN接合を形成して
いたポリシリコン層部が短絡され、データ書き込みが行
われる。この場合、前記コンタクトホールのサイズおよ
びポリシリコン層の膜厚よってデバイス寸法が決定され
るものであるため、微細化して構成することが容易とな
ると共に、書き込み時の消費電流を軽減させることがで
きるようになる。
半導体デバイスの製造工程に対応して製造できるもので
あり、前記拡散層と第2の導電型の不純物が注入された
ポリシリコン層との間にPN接合が形成され、ダイオー
ドが形成されるようになる。この状態で前記2つのポリ
シリコン層にそれぞれ接続される第1および第2の配線
層から前記ダイオードに逆方向の電圧を印加すると、ダ
イオードがブレークダウンし、前記PN接合を形成して
いたポリシリコン層部が短絡され、データ書き込みが行
われる。この場合、前記コンタクトホールのサイズおよ
びポリシリコン層の膜厚よってデバイス寸法が決定され
るものであるため、微細化して構成することが容易とな
ると共に、書き込み時の消費電流を軽減させることがで
きるようになる。
【0007】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図1はPROMの基本的な断面構造を示すも
ので、シリコン基板11の表面のダイオード形成領域に対
応した領域に、例えばボロン等のP型不純物を注入し、
これを拡散してP+型の拡散層12が形成される。
説明する。図1はPROMの基本的な断面構造を示すも
ので、シリコン基板11の表面のダイオード形成領域に対
応した領域に、例えばボロン等のP型不純物を注入し、
これを拡散してP+型の拡散層12が形成される。
【0008】この様に表面部に拡散層12が形成されたシ
リコン基板11の表面には、例えばBPSG、PSG、P
−Si O、SOG等によって構成された層間絶縁層13を
形成するもので、この層間絶縁層13に対して所定の間隔
が設定されるようにして、拡散層12の表面に至る第1お
よび第2のコンタクトホール14および15が形成されてい
る。
リコン基板11の表面には、例えばBPSG、PSG、P
−Si O、SOG等によって構成された層間絶縁層13を
形成するもので、この層間絶縁層13に対して所定の間隔
が設定されるようにして、拡散層12の表面に至る第1お
よび第2のコンタクトホール14および15が形成されてい
る。
【0009】この第1および第2のコンタクトホール14
および15それぞれに対してポリシリコンを埋込み、第1
および第2のポリシリコン層16および17を形成する。こ
の第1のポリシリコン層16にはP型の不純物(B等)を
注入してP+に設定し、第2のポリシリコン層17にはN
型の不純物(P、As 等)を注入してN+型に設定す
る。そして、層間絶縁層13の表面には、P+およびN+
型それぞれの第1および第2のポリシリコン層16および
17にそれぞれ対応して、Al またはAl Si 、その他の
導電性材料を選定して構成した第1および第2の配線層
18および19を形成する。
および15それぞれに対してポリシリコンを埋込み、第1
および第2のポリシリコン層16および17を形成する。こ
の第1のポリシリコン層16にはP型の不純物(B等)を
注入してP+に設定し、第2のポリシリコン層17にはN
型の不純物(P、As 等)を注入してN+型に設定す
る。そして、層間絶縁層13の表面には、P+およびN+
型それぞれの第1および第2のポリシリコン層16および
17にそれぞれ対応して、Al またはAl Si 、その他の
導電性材料を選定して構成した第1および第2の配線層
18および19を形成する。
【0010】この様に構成される半導体装置にあって
は、N型不純物を注入した第2のポリシリコン層15とP
型不純物が注入された拡散層12との界面に、PN接合が
形成され、PN接合ダイオードを構成するようになる。
このPN接合ダイオードの電極を構成するようになる配
線層18および19を電源に接続し、このダイオードに対し
て逆方向の電圧が印加設定されるようにすると、このダ
イオードはブレークダウンする。
は、N型不純物を注入した第2のポリシリコン層15とP
型不純物が注入された拡散層12との界面に、PN接合が
形成され、PN接合ダイオードを構成するようになる。
このPN接合ダイオードの電極を構成するようになる配
線層18および19を電源に接続し、このダイオードに対し
て逆方向の電圧が印加設定されるようにすると、このダ
イオードはブレークダウンする。
【0011】このブレークダウンに際して、第2のポリ
シリコン層15に接続された第2の配線層19の例えばAl
が溶融され、ポリシリコン層15を貫通してシリコン基板
11に到達するようになる。したがって、第1および第2
の配線層18および19の相互が短絡されることになり、例
えばデータ“1”が書き込まれた記憶素子を構成するよ
うになる。
シリコン層15に接続された第2の配線層19の例えばAl
が溶融され、ポリシリコン層15を貫通してシリコン基板
11に到達するようになる。したがって、第1および第2
の配線層18および19の相互が短絡されることになり、例
えばデータ“1”が書き込まれた記憶素子を構成するよ
うになる。
【0012】すなわち、基板11上にこの様なダイオード
を配列配列形成し、これら多数のダイオードの中の特定
されるダイオードを選択して逆電圧を印加することによ
り、データの書き込まれたROMを構成するようにな
る。
を配列配列形成し、これら多数のダイオードの中の特定
されるダイオードを選択して逆電圧を印加することによ
り、データの書き込まれたROMを構成するようにな
る。
【0013】図2はこの様なダイオードを用いて構成し
たMOSデバイスを使用したメモリの1ビット分の構成
を示すもので、Nウエルで構成されたシリコン基板11の
表面に、所定の間隔で並べて第1および第2のP+拡散
層121 、122 を形成すると共に、このシリコン基板11の
表面に層間絶縁層13を形成する。
たMOSデバイスを使用したメモリの1ビット分の構成
を示すもので、Nウエルで構成されたシリコン基板11の
表面に、所定の間隔で並べて第1および第2のP+拡散
層121 、122 を形成すると共に、このシリコン基板11の
表面に層間絶縁層13を形成する。
【0014】この層間絶縁層13には、第1および第2の
拡散層121 および122 にそれぞれ対応した位置にコンタ
クトホール14および15を形成し、このコンタクトホール
14および15にポリシリコンを埋込み、それぞれP型およ
びN型の不純物を注入した第1および第2のポリシリコ
ン層16および17が形成されるようにする。
拡散層121 および122 にそれぞれ対応した位置にコンタ
クトホール14および15を形成し、このコンタクトホール
14および15にポリシリコンを埋込み、それぞれP型およ
びN型の不純物を注入した第1および第2のポリシリコ
ン層16および17が形成されるようにする。
【0015】この様にP+およびN+型に設定された第
1および第2のポリシリコン層16および17にそれぞれ接
続されるようにして、例えばアルミニウム配線によるソ
ース電極20およびドレイン電極21が形成されるようにす
る。また、層間絶縁層13に埋め込まれ、シリコン基板11
との間に絶縁層が介在設定されるようにして、第1およ
び第2の拡散層121 および122 に跨がるようにゲート電
極22が形成される。
1および第2のポリシリコン層16および17にそれぞれ接
続されるようにして、例えばアルミニウム配線によるソ
ース電極20およびドレイン電極21が形成されるようにす
る。また、層間絶縁層13に埋め込まれ、シリコン基板11
との間に絶縁層が介在設定されるようにして、第1およ
び第2の拡散層121 および122 に跨がるようにゲート電
極22が形成される。
【0016】すなわち、ドレイン電極21の接続される第
2のポリシリコン層17と第2の拡散層122 との接合界面
にPN接合が形成されるもので、このPN接合部がブレ
ークダウンされることによって、ゲート電極22にゲート
電圧が供給される状態でソース電極21とドレイン電極22
との間が導通されるようになる。
2のポリシリコン層17と第2の拡散層122 との接合界面
にPN接合が形成されるもので、このPN接合部がブレ
ークダウンされることによって、ゲート電極22にゲート
電圧が供給される状態でソース電極21とドレイン電極22
との間が導通されるようになる。
【0017】ここで、この様なMOSデバイスにおいて
導電型は逆に構成することもできるもので、例えば図3
で示すように構成することができる。この例では、シリ
コン基板11はPウエルによって構成され、このシリコン
基板11の表面に所定の間隔を設定してそれぞれN+型お
よびP+型の第1および第2の拡散層123 、124 を形成
する。
導電型は逆に構成することもできるもので、例えば図3
で示すように構成することができる。この例では、シリ
コン基板11はPウエルによって構成され、このシリコン
基板11の表面に所定の間隔を設定してそれぞれN+型お
よびP+型の第1および第2の拡散層123 、124 を形成
する。
【0018】そして、この第1および第2の拡散層123
および124 にそれぞれ対応して層間絶縁層13に形成した
コンタクトホール14および15にポリシリコンを埋込み、
それぞれN+およびP+型の不純物を注入して第1およ
び第2のポリシリコン層161および171 を形成し、これ
らのポリシリコン層161 およひび171 にそれぞれ接続さ
れるようにしてソース電極20および21を形成し、さらに
ゲート電極22が形成されるようにする。
および124 にそれぞれ対応して層間絶縁層13に形成した
コンタクトホール14および15にポリシリコンを埋込み、
それぞれN+およびP+型の不純物を注入して第1およ
び第2のポリシリコン層161および171 を形成し、これ
らのポリシリコン層161 およひび171 にそれぞれ接続さ
れるようにしてソース電極20および21を形成し、さらに
ゲート電極22が形成されるようにする。
【0019】図4はこの様なMOSデバイスを構成する
図1に示したダイオードを構成するための製造過程を示
すもので、まず(A)図のようにシリコン基板11の表面
部に所定の領域をマスクパターンによって指定してP型
不純物を注入し、熱拡散することによってP+型拡散層
12を形成する。その後、このシリコン基板11の全表面に
層間絶縁層13を形成し、この層間絶縁層13に拡散層12の
表面に至るコンタクトホール14および15をエッチング等
によって形成する。
図1に示したダイオードを構成するための製造過程を示
すもので、まず(A)図のようにシリコン基板11の表面
部に所定の領域をマスクパターンによって指定してP型
不純物を注入し、熱拡散することによってP+型拡散層
12を形成する。その後、このシリコン基板11の全表面に
層間絶縁層13を形成し、この層間絶縁層13に拡散層12の
表面に至るコンタクトホール14および15をエッチング等
によって形成する。
【0020】次に(B)図で示すように層間絶縁層13の
表面上に、コンタクトホール14およ15部分を含んでポリ
シリコン層25を堆積形成し、(C)図で示すようにコン
タクトホール14および15の内部を除く層間絶縁層13上の
ポリシリコン層25を除去し、コンタクトホール14および
15の内部に第1および第2のポリシリコン層16および17
が埋込み設定されるようにする。その後、この第1およ
び第2のポリシリコン層16および17に対して(D)図で
示すようにP型およびN型の不純物を注入し、拡散層12
と第2のポリシリコン層17との間にPN接合が形成され
るようにしている。
表面上に、コンタクトホール14およ15部分を含んでポリ
シリコン層25を堆積形成し、(C)図で示すようにコン
タクトホール14および15の内部を除く層間絶縁層13上の
ポリシリコン層25を除去し、コンタクトホール14および
15の内部に第1および第2のポリシリコン層16および17
が埋込み設定されるようにする。その後、この第1およ
び第2のポリシリコン層16および17に対して(D)図で
示すようにP型およびN型の不純物を注入し、拡散層12
と第2のポリシリコン層17との間にPN接合が形成され
るようにしている。
【0021】
【発明の効果】以上のようにこの発明に係る半導体記憶
装置によれば、コンタクトホールに対する埋込み技術に
よって埋め込まれたポリシリコンプラグを利用し、この
シリコンプラグとシリコン基板の拡散層との間にPN接
合が形成されるようになる。ここで、ポリシリコン層に
対するP型およびN型の不純物の注入は、他の回路部分
のN+コンタクトおよびP+コンタクトをとるために、
それぞれ不純物を注入するときに同時に注入する。した
がって、P+型およびN+型ポリシリコン層を形成する
ための専用工程は不要である。また、コンタクトホール
のサイズおよびポリシリコンの膜厚によってデバイス寸
法が決定されるものであり、したがって微細化が可能と
されると共に書き込み電流の低減化も容易である。
装置によれば、コンタクトホールに対する埋込み技術に
よって埋め込まれたポリシリコンプラグを利用し、この
シリコンプラグとシリコン基板の拡散層との間にPN接
合が形成されるようになる。ここで、ポリシリコン層に
対するP型およびN型の不純物の注入は、他の回路部分
のN+コンタクトおよびP+コンタクトをとるために、
それぞれ不純物を注入するときに同時に注入する。した
がって、P+型およびN+型ポリシリコン層を形成する
ための専用工程は不要である。また、コンタクトホール
のサイズおよびポリシリコンの膜厚によってデバイス寸
法が決定されるものであり、したがって微細化が可能と
されると共に書き込み電流の低減化も容易である。
【図1】この発明の一実施例に係る半導体記憶装置を説
明するためのPROMの基本構成を示す断面図。
明するためのPROMの基本構成を示す断面図。
【図2】上記PROM構造を用いて構成されるMOSデ
バイスによるメモリ素子の構造を説明する断面図。
バイスによるメモリ素子の構造を説明する断面図。
【図3】図2と反対導電型のMOSデバイスメモリを示
す断面図。
す断面図。
【図4】(A)〜(D)は図1で示したPROMの製造
過程を順次説明する図。
過程を順次説明する図。
【符号の説明】 11…シリコン基板、12、121 、122 〜124 …拡散層、13
…層間絶縁層、14、15…コンタクトホール、16、17…ポ
リシリコン層、18、19…配線層。
…層間絶縁層、14、15…コンタクトホール、16、17…ポ
リシリコン層、18、19…配線層。
Claims (1)
- 【請求項1】 シリコン基板の表面に第1の導電型不純
物を拡散して形成した第1の導電型の拡散層と、 前記シリコン基板の表面に形成され、前記拡散層領域に
対応して相互に間隔を設定して前記拡散層表面に至る少
なくとも2つのコンタクトホールを形成した絶縁層と、 この絶縁層の前記コンタクトホールのそれぞれに埋込み
形成され、それぞれ前記第1の導電型の不純物およびこ
れと反対導電型の第2の導電型の不順物を注入した第1
および第2のポリシリコン層と、 これら第1および第2のポリシリコン層にそれぞれ接続
されるように形成した第1および第2の配線層とを具備
し、 前記第2の導電型の不純物が注入された第2のポリシリ
コン層と前記拡散層との間にPN接合が形成されるよう
にしたことを特徴とする半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34472591A JP3168651B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34472591A JP3168651B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05175447A true JPH05175447A (ja) | 1993-07-13 |
JP3168651B2 JP3168651B2 (ja) | 2001-05-21 |
Family
ID=18371497
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34472591A Expired - Fee Related JP3168651B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3168651B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5699398A (en) * | 1996-01-08 | 1997-12-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Counting apparatus |
JP2006140464A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Samsung Electronics Co Ltd | 2成分系金属酸化膜をデータ保存物質膜として採用する交差点不揮発性記憶素子及びその製造方法 |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP34472591A patent/JP3168651B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5699398A (en) * | 1996-01-08 | 1997-12-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Counting apparatus |
JP2006140464A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Samsung Electronics Co Ltd | 2成分系金属酸化膜をデータ保存物質膜として採用する交差点不揮発性記憶素子及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3168651B2 (ja) | 2001-05-21 |
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