JPH05172581A - 警報機能付き計測器 - Google Patents
警報機能付き計測器Info
- Publication number
- JPH05172581A JPH05172581A JP34127491A JP34127491A JPH05172581A JP H05172581 A JPH05172581 A JP H05172581A JP 34127491 A JP34127491 A JP 34127491A JP 34127491 A JP34127491 A JP 34127491A JP H05172581 A JPH05172581 A JP H05172581A
- Authority
- JP
- Japan
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- value
- alarm
- lower limit
- unit
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 警報に用いる上・下限値の設定を実際の計測
に伴って自動的に設定することが出来るようにするこ
と。 【構成】 計測部１に入力されてくる実測値をデータ値
となしそのデータ値に基いて平均値（Ａ）とバラツキ値
（Ｂ）を算出する演算部３と、上記Ａ＋ｎＢ（但しｎは
定数をあらわす）の値を上限警報値として記憶する上限
値記憶部５ａと、Ａ−ｎＢの値を下限警報値として記憶
する下限値記憶部５ｂと、上記Ａ＋ｎＢの値並びにＡ−
ｎＢの値を前記計測部１に入力されて来るデータ値と比
較する比較部６ａ，６ｂとで構成した。
に伴って自動的に設定することが出来るようにするこ
と。 【構成】 計測部１に入力されてくる実測値をデータ値
となしそのデータ値に基いて平均値（Ａ）とバラツキ値
（Ｂ）を算出する演算部３と、上記Ａ＋ｎＢ（但しｎは
定数をあらわす）の値を上限警報値として記憶する上限
値記憶部５ａと、Ａ−ｎＢの値を下限警報値として記憶
する下限値記憶部５ｂと、上記Ａ＋ｎＢの値並びにＡ−
ｎＢの値を前記計測部１に入力されて来るデータ値と比
較する比較部６ａ，６ｂとで構成した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばダイカストマシ
ンにおける鋳造サイクルや金型冷却水の供給量，離型剤
の塗布量等を計測するための計測器など、警報に用いる
上限値や下限値を設定して警報を発するようにした警報
機能付き計測器に関するものである。
ンにおける鋳造サイクルや金型冷却水の供給量，離型剤
の塗布量等を計測するための計測器など、警報に用いる
上限値や下限値を設定して警報を発するようにした警報
機能付き計測器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の警報機能付き計測器は図２に示す
如く、上・下限値設定器10が計測部１とは独立的に設け
られていたため、警報に用いる上限値や下限値を設定す
る場合、その値を予めキーボードやデジスイッチ等を用
いて人間が入力しなければならなかった。従って、一度
も計測したことのない被計測物の場合には、警報に用い
る上・下限値を設定することさえ不可能であり、また仮
に予め上・下限値が決められるものでも、面倒で入力し
ないとか、入力のし忘れや誤入力する、等の不便不具合
があった。
如く、上・下限値設定器10が計測部１とは独立的に設け
られていたため、警報に用いる上限値や下限値を設定す
る場合、その値を予めキーボードやデジスイッチ等を用
いて人間が入力しなければならなかった。従って、一度
も計測したことのない被計測物の場合には、警報に用い
る上・下限値を設定することさえ不可能であり、また仮
に予め上・下限値が決められるものでも、面倒で入力し
ないとか、入力のし忘れや誤入力する、等の不便不具合
があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこの様な従来
の不具合に鑑みてなされたものであり、警報に用いる上
・下限値の設定を、実際の計測に伴って得られた実測値
に基づいて自動的に設定することが出来る警報機能付き
計測器を提供せんとするものである。
の不具合に鑑みてなされたものであり、警報に用いる上
・下限値の設定を、実際の計測に伴って得られた実測値
に基づいて自動的に設定することが出来る警報機能付き
計測器を提供せんとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】斯る目的を達成するため
の本発明の警報機能付き計測器は、計測部に入力されて
くる実測値をデータ値となしそのデータ値に基いて平均
値（Ａ）とバラツキ値（Ｂ）を算出する演算部と、上記
Ａ＋ｎＢ（但しｎは定数をあらわす）の値を上限警報値
として記憶する上限値記憶部と、Ａ−ｎＢの値を下限警
報値として記憶する下限値記憶部と、上記Ａ＋ｎＢの値
並びにＡ−ｎＢの値を前記計測部に入力されて来るデー
タ値と比較する比較部とで構成した事を特徴としたもの
である。
の本発明の警報機能付き計測器は、計測部に入力されて
くる実測値をデータ値となしそのデータ値に基いて平均
値（Ａ）とバラツキ値（Ｂ）を算出する演算部と、上記
Ａ＋ｎＢ（但しｎは定数をあらわす）の値を上限警報値
として記憶する上限値記憶部と、Ａ−ｎＢの値を下限警
報値として記憶する下限値記憶部と、上記Ａ＋ｎＢの値
並びにＡ−ｎＢの値を前記計測部に入力されて来るデー
タ値と比較する比較部とで構成した事を特徴としたもの
である。
【０００５】
【実施例】以下、本発明の実施例を図示したブロック図
に基づいて説明する。図中１は計測部を示し、この計測
部１にはダイカストマシン等の被計測物に接続されたセ
ンサ等２から、実測値がデータ値として入力されて来る
ので、その値を表示部３で表示すると同時に、演算部４
に出力する。
に基づいて説明する。図中１は計測部を示し、この計測
部１にはダイカストマシン等の被計測物に接続されたセ
ンサ等２から、実測値がデータ値として入力されて来る
ので、その値を表示部３で表示すると同時に、演算部４
に出力する。
【０００６】演算部４では、計測部１に入力されて来る
データ値（実測値）に基づいて平均値（Ａ）とバラツキ
値（Ｂ）を夫々算出すると共に、算出した平均値（Ａ）
とバラツキ値（Ｂ）を基に、Ａ＋ｎＢ（但しｎは定数を
あらわす）並びにＡ−ｎＢの値を夫々算出する。ここ
で、定数ｎはバラツキの許容の範囲を決めるための値で
ある。
データ値（実測値）に基づいて平均値（Ａ）とバラツキ
値（Ｂ）を夫々算出すると共に、算出した平均値（Ａ）
とバラツキ値（Ｂ）を基に、Ａ＋ｎＢ（但しｎは定数を
あらわす）並びにＡ−ｎＢの値を夫々算出する。ここ
で、定数ｎはバラツキの許容の範囲を決めるための値で
ある。
【０００７】そして、上記演算部４で算出されたＡ＋ｎ
Ｂの値を上限警報値として上限値記憶部５ａに出力さ
せ、またＡ−ｎＢの値を下限警報値として下限値記憶部
５ｂに出力させ、上限警報値を上限値記憶部５ａに下限
警報値を下限値記憶部５ｂに夫々記憶させる。この動作
を繰り返して常に上・下限値を更新する。即ち、上限値
記憶部５ａ及び下限値記憶部５ｂでは、計測部１に入力
されて来るデータ値（実測値）に基づいて常に上・下限
値が更新される。
Ｂの値を上限警報値として上限値記憶部５ａに出力さ
せ、またＡ−ｎＢの値を下限警報値として下限値記憶部
５ｂに出力させ、上限警報値を上限値記憶部５ａに下限
警報値を下限値記憶部５ｂに夫々記憶させる。この動作
を繰り返して常に上・下限値を更新する。即ち、上限値
記憶部５ａ及び下限値記憶部５ｂでは、計測部１に入力
されて来るデータ値（実測値）に基づいて常に上・下限
値が更新される。
【０００８】上限値記憶部５ａ及び下限値記憶部５ｂに
記憶された上限警報値及び下限警報値は比較部６ａ，６
ｂに出力されて、この比較部６ａ，６ｂにて前記計測部
１に入力されて来る実測値（データ値）と各々比較さ
れ、比較部６ａ，６ｂからの警報出力信号により警報器
７が動作する。
記憶された上限警報値及び下限警報値は比較部６ａ，６
ｂに出力されて、この比較部６ａ，６ｂにて前記計測部
１に入力されて来る実測値（データ値）と各々比較さ
れ、比較部６ａ，６ｂからの警報出力信号により警報器
７が動作する。
【０００９】
【発明の効果】本発明の警報機能付き計測器は斯様に構
成したので、以下の効果を奏する。 警報に用いる上・下限値の設定の仕方が解らなかっ
たり或いは設定入力を忘れた場合でも、警報に用いる上
・下限値を実際の計測に伴って得られた実測値に基づい
て自動的に設定することが出来る。その結果、取扱いが
容易になると共に、被計測物の異常に早く気付くことが
可能となる。 一度も計測したことのない被計測物であっても、適
切な警報値で自動的に設定することが出来る。
成したので、以下の効果を奏する。 警報に用いる上・下限値の設定の仕方が解らなかっ
たり或いは設定入力を忘れた場合でも、警報に用いる上
・下限値を実際の計測に伴って得られた実測値に基づい
て自動的に設定することが出来る。その結果、取扱いが
容易になると共に、被計測物の異常に早く気付くことが
可能となる。 一度も計測したことのない被計測物であっても、適
切な警報値で自動的に設定することが出来る。
【図１】 本発明実施の一例を示すブロック図である。
【図２】 従来例を示すブロック図である。
１：計測部 ２：センサ等 ３：表示部 ４：演算部 ５ａ：上限値記憶部 ５ｂ：下限値記憶部 ６ａ，６ｂ：比較部 ７：警報器
Claims (1)
- 【請求項１】 計測部に入力されてくる実測値をデータ
値となしそのデータ値に基いて平均値（Ａ）とバラツキ
値（Ｂ）を算出する演算部と、上記Ａ＋ｎＢ（但しｎは
定数をあらわす）の値を上限警報値として記憶する上限
値記憶部と、Ａ−ｎＢの値を下限警報値として記憶する
下限値記憶部と、上記Ａ＋ｎＢの値並びにＡ−ｎＢの値
を前記計測部に入力されて来るデータ値と比較する比較
部とで構成した事を特徴とする警報機能付き計測器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34127491A JP2843698B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 警報機能付き計測器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34127491A JP2843698B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 警報機能付き計測器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172581A true JPH05172581A (ja) | 1993-07-09 |
| JP2843698B2 JP2843698B2 (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=18344785
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34127491A Expired - Fee Related JP2843698B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 警報機能付き計測器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2843698B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7496478B2 (en) * | 2005-07-18 | 2009-02-24 | Dieter Rathei | Method of monitoring a semiconductor manufacturing trend |
| US7524683B2 (en) | 2005-07-18 | 2009-04-28 | Dieter Rathei | Method of monitoring a semiconductor manufacturing trend |
| US7587292B2 (en) | 2005-07-18 | 2009-09-08 | Dieter Rathei | Method of monitoring a semiconductor manufacturing trend |
-
1991
- 1991-12-24 JP JP34127491A patent/JP2843698B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7496478B2 (en) * | 2005-07-18 | 2009-02-24 | Dieter Rathei | Method of monitoring a semiconductor manufacturing trend |
| US7524683B2 (en) | 2005-07-18 | 2009-04-28 | Dieter Rathei | Method of monitoring a semiconductor manufacturing trend |
| US7587292B2 (en) | 2005-07-18 | 2009-09-08 | Dieter Rathei | Method of monitoring a semiconductor manufacturing trend |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2843698B2 (ja) | 1999-01-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |