JPH05158730A - 情報処理装置 - Google Patents
情報処理装置Info
- Publication number
- JPH05158730A JPH05158730A JP3322814A JP32281491A JPH05158730A JP H05158730 A JPH05158730 A JP H05158730A JP 3322814 A JP3322814 A JP 3322814A JP 32281491 A JP32281491 A JP 32281491A JP H05158730 A JPH05158730 A JP H05158730A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shift
- subunit
- out data
- sub
- path
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Hardware Redundancy (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】シフトパスを使った診断機能を有し、同じハー
ドウェアから構成されるサブユニットを複数持つ情報処
理装置の診断を高速化する。 【構成】診断装置は複数のサブユニットを示すように予
め定められたサブユニットアドレスをデータパス７に出
す。サブユニット選択回路１０１はデータパス７のサブ
ユニットアドレスを受けて選択されたサブユニットを制
御回路１０２及び選択回路１０３へ指示する。制御回路
１０２は指示されたサブユニットへ、同時にシフトクロ
ックを供給する。選択回路１０３は指示されたサブユニ
ットのシフトアウトデータをパス２２，パス３２，パス
４２，パス５２の中から選択する。比較器１０４は選択
回路１０３の出力を比較する。比較器１０４の比較結果
が不一致の場合に、エラー検出回路１０５はパス１０を
介してエラーを診断装置に通知する。
ドウェアから構成されるサブユニットを複数持つ情報処
理装置の診断を高速化する。 【構成】診断装置は複数のサブユニットを示すように予
め定められたサブユニットアドレスをデータパス７に出
す。サブユニット選択回路１０１はデータパス７のサブ
ユニットアドレスを受けて選択されたサブユニットを制
御回路１０２及び選択回路１０３へ指示する。制御回路
１０２は指示されたサブユニットへ、同時にシフトクロ
ックを供給する。選択回路１０３は指示されたサブユニ
ットのシフトアウトデータをパス２２，パス３２，パス
４２，パス５２の中から選択する。比較器１０４は選択
回路１０３の出力を比較する。比較器１０４の比較結果
が不一致の場合に、エラー検出回路１０５はパス１０を
介してエラーを診断装置に通知する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はシフトパスを使った診断
機能を有する情報処理装置に関し、特に同じハードウェ
アから構成される複数のサブユニットをもつ情報処理装
置の診断に関する。
機能を有する情報処理装置に関し、特に同じハードウェ
アから構成される複数のサブユニットをもつ情報処理装
置の診断に関する。
【０００２】
【従来の技術】情報処理装置の診断を実行する場合、従
来の情報処理装置は外部診断装置から指定されたサブユ
ニットについてシフトパスを使ってシフト動作を実行
し、シフトアウトデータを外部診断装置へ渡すのみであ
った。そして診断は外部診断装置がデータチェックを行
うことで実行していた。また複数のサブユニットの診断
を実行する際は、各サブユニットの診断を順次実行して
いた。
来の情報処理装置は外部診断装置から指定されたサブユ
ニットについてシフトパスを使ってシフト動作を実行
し、シフトアウトデータを外部診断装置へ渡すのみであ
った。そして診断は外部診断装置がデータチェックを行
うことで実行していた。また複数のサブユニットの診断
を実行する際は、各サブユニットの診断を順次実行して
いた。
【０００３】図３は従来の情報処理装置の一例を示すブ
ロック図で、同じハードウェアから構成されているサブ
ユニットＡ２及びサブユニットＢ３の２つのサブユニッ
トを持つ情報処理装置に対して、図示していない外部診
断装置からの指示でシフト制御部１がサブユニットＡ２
及びサブユニットＢ３の診断を実施する場合を例示して
いる。
ロック図で、同じハードウェアから構成されているサブ
ユニットＡ２及びサブユニットＢ３の２つのサブユニッ
トを持つ情報処理装置に対して、図示していない外部診
断装置からの指示でシフト制御部１がサブユニットＡ２
及びサブユニットＢ３の診断を実施する場合を例示して
いる。
【０００４】図３において、サブユニット選択回路１０
１は外部診断装置から与えられるサブユニットアドレス
をデータパス７で受けてシフト動作を実行するサブユニ
ットを制御回路１０２及びセレクタ１０８へ指示する回
路、制御回路１０２は外部診断装置からのシフトクロッ
クをパス６で受けてサブユニット選択回路１０１から指
示されたサブユニットにパス２１またはパス３１を使っ
てシフトクロックを供給する回路、パス８は外部診断装
置から与えられるシフトインデータをサブユニットＡ２
及びサブユニットＢ３へ書き込むパス、セレクタ１０８
はサブユニット選択回路１０１からの指示によりサブユ
ニットＡ２のシフトアウトデータ２２及びサブユニット
Ｂ３のシフトアウトデータ３２のいずれかを選択してシ
フトアウトのパス１３へ出力するセレクタである。
１は外部診断装置から与えられるサブユニットアドレス
をデータパス７で受けてシフト動作を実行するサブユニ
ットを制御回路１０２及びセレクタ１０８へ指示する回
路、制御回路１０２は外部診断装置からのシフトクロッ
クをパス６で受けてサブユニット選択回路１０１から指
示されたサブユニットにパス２１またはパス３１を使っ
てシフトクロックを供給する回路、パス８は外部診断装
置から与えられるシフトインデータをサブユニットＡ２
及びサブユニットＢ３へ書き込むパス、セレクタ１０８
はサブユニット選択回路１０１からの指示によりサブユ
ニットＡ２のシフトアウトデータ２２及びサブユニット
Ｂ３のシフトアウトデータ３２のいずれかを選択してシ
フトアウトのパス１３へ出力するセレクタである。
【０００５】次に本例の動作について説明する。まず最
初に外部診断装置はサブユニットＡ２を示すサブユニッ
トアドレス（例えばアドレス“０”）をデータパス７上
に乗せ、サブユニットＡ２へ書き込むシフトインデータ
をパス８に乗せる。シフト制御部１において、サブユニ
ット選択回路１０１はデータパス７上のサブユニットア
ドレスを受けて解読し、サブユニットＡ２が選択された
ことを制御回路１０２及びセレクタ１０８へ指示する。
制御回路１０２はサブユニット選択回路１０１の指示を
受けると外部診断装置からのパス６のシフトクロックを
待ち、シフトクロックが来るとパス２１を介してサブユ
ニットＡ２へシフトクロックを出力する。この時、サブ
ユニットＡ２ではパス２１よりシフトクロックを受ける
と、パス８上のシフトインデータをサブユニット内部に
書き込みシフトアウトデータをパス２２に出力する。さ
らにシフト制御部１において、セレクタ１０８はサブユ
ニット選択回路１０１からの指示によりパス２２上のサ
ブユニットＡ２のシフトアウトデータをパス１３へ出力
する。
初に外部診断装置はサブユニットＡ２を示すサブユニッ
トアドレス（例えばアドレス“０”）をデータパス７上
に乗せ、サブユニットＡ２へ書き込むシフトインデータ
をパス８に乗せる。シフト制御部１において、サブユニ
ット選択回路１０１はデータパス７上のサブユニットア
ドレスを受けて解読し、サブユニットＡ２が選択された
ことを制御回路１０２及びセレクタ１０８へ指示する。
制御回路１０２はサブユニット選択回路１０１の指示を
受けると外部診断装置からのパス６のシフトクロックを
待ち、シフトクロックが来るとパス２１を介してサブユ
ニットＡ２へシフトクロックを出力する。この時、サブ
ユニットＡ２ではパス２１よりシフトクロックを受ける
と、パス８上のシフトインデータをサブユニット内部に
書き込みシフトアウトデータをパス２２に出力する。さ
らにシフト制御部１において、セレクタ１０８はサブユ
ニット選択回路１０１からの指示によりパス２２上のサ
ブユニットＡ２のシフトアウトデータをパス１３へ出力
する。
【０００６】パス１３へサブユニットＡ２のシフトアウ
トデータが出力されると、外部診断装置がこれを取り込
み、データパス７上にサブユニットＡ２のサブユニット
アドレス及びパス８に次のシフトインデータを乗せてシ
フトクロックをパス６に出力する。シフト制御部１にお
いて、パス６のシフトクロックを受けると前述の動作と
同様にしてサブユニットＡ２へシフトクロックを出しシ
フトアウトデータをセレクタ１０８からパス１３へ出力
する。
トデータが出力されると、外部診断装置がこれを取り込
み、データパス７上にサブユニットＡ２のサブユニット
アドレス及びパス８に次のシフトインデータを乗せてシ
フトクロックをパス６に出力する。シフト制御部１にお
いて、パス６のシフトクロックを受けると前述の動作と
同様にしてサブユニットＡ２へシフトクロックを出しシ
フトアウトデータをセレクタ１０８からパス１３へ出力
する。
【０００７】以下同様にして外部診断装置はサブユニッ
トＡ２のすべてのハードウェアデータをシフトアウトの
パス１３から読み出すまでシフトクロックを出力する。
そして外部診断装置は読み出したサブユニットＡ２のデ
ータをチェックして診断を行う。さらに、サブユニット
Ａ２の診断が終了すると、サブユニットＢ３のサブユニ
ットアドレスをデータパス７に乗せ、サブユニットＢ３
へ書き込むシフトインデータをパス８へ乗せて前述の動
作を繰り返しサブユニットＢ３のデータを読み出した後
に、サブユニットＢ３の診断を行う。
トＡ２のすべてのハードウェアデータをシフトアウトの
パス１３から読み出すまでシフトクロックを出力する。
そして外部診断装置は読み出したサブユニットＡ２のデ
ータをチェックして診断を行う。さらに、サブユニット
Ａ２の診断が終了すると、サブユニットＢ３のサブユニ
ットアドレスをデータパス７に乗せ、サブユニットＢ３
へ書き込むシフトインデータをパス８へ乗せて前述の動
作を繰り返しサブユニットＢ３のデータを読み出した後
に、サブユニットＢ３の診断を行う。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
情報処理装置では、シフトパスを使ってサブユニット単
位にしかハードウェアのデータの読出し／書込みができ
ないために、シフトパスを使った診断はサブユニット毎
にハードウェアのデータを外部診断装置に読み出して、
外部診断装置自身がデータチェックを行っていた。その
ため情報処理装置内にあるサブユニット数に比例して診
断実行時間が長くなるという問題点があった。
情報処理装置では、シフトパスを使ってサブユニット単
位にしかハードウェアのデータの読出し／書込みができ
ないために、シフトパスを使った診断はサブユニット毎
にハードウェアのデータを外部診断装置に読み出して、
外部診断装置自身がデータチェックを行っていた。その
ため情報処理装置内にあるサブユニット数に比例して診
断実行時間が長くなるという問題点があった。
【０００９】また診断の実行時間が長くなると、限られ
た保守時間の中で診断に要する時間の割合が大きくな
り、情報処理装置の他の保守項目を実施する時間が短く
なるという問題点があった。
た保守時間の中で診断に要する時間の割合が大きくな
り、情報処理装置の他の保守項目を実施する時間が短く
なるという問題点があった。
【００１０】さらに情報処理装置の診断時間が長くなる
と、他の装置との接続確認の時間も短くなり、システム
全体の保守信頼性の低下を招くという問題点があった。
と、他の装置との接続確認の時間も短くなり、システム
全体の保守信頼性の低下を招くという問題点があった。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の情報処理装置
は、装置内に複数のサブユニットを有し、外部診断装置
からサブユニットのアドレスを指定することによりサブ
ユニット単位にシフトパスを使ってハードウェアのデー
タの読出し／書込みが可能であり、前記サブユニットの
いくつかが同じハードウェアから構成されている情報処
理装置において、前記外部診断装置からシフト動作を実
行する単数または複数のサブユニットを示すサブユニッ
トアドレスを受けてシフト動作を実行すべきサブユニッ
トを指示するサブユニット選択手段と、前記外部診断装
置からのシフトクロックを受けて前記サブユニット選択
手段から指示されたサブユニットへシフトクロックを供
給する制御手段と、前記サブユニット選択手段から指示
された複数のサブユニットへ前記外部診断装置から与え
られるシフトインデータを書き込む書込手段と、すべて
の前記サブユニットのシフトアウタデータの中から前記
サブユニット選択手段の指示する複数のサブユニットの
シフトアウトデータを選択するシフトアウトデータ選択
手段と、前記シフトアウトデータ選択手段により選択さ
れたシフトアウトデータを比較する比較手段と、前記比
較手段の比較結果を受けてエラーを前記外部診断装置へ
通知するエラー検出手段とを備え、複数のサブユニット
を示すように予め定められた前記サブユニットアドレス
を受けた際にこの複数のサブユニットを前記サブユニッ
ト選択手段によって選択されたサブユニットへ前記制御
手段が同時にシフトクロックを供給することによりシフ
ト動作を実行しさらに選択されたサブユニットシフトア
ウトデータを前記シフトアウトデータ選択手段で選択し
て前記比較手段で比較したとき不一致があった場合に前
記エラー検出手段を通して前記外部診断装置へ通知する
ことにより装置内の複数のサブユニットの診断を同時に
実行することを特徴とする。
は、装置内に複数のサブユニットを有し、外部診断装置
からサブユニットのアドレスを指定することによりサブ
ユニット単位にシフトパスを使ってハードウェアのデー
タの読出し／書込みが可能であり、前記サブユニットの
いくつかが同じハードウェアから構成されている情報処
理装置において、前記外部診断装置からシフト動作を実
行する単数または複数のサブユニットを示すサブユニッ
トアドレスを受けてシフト動作を実行すべきサブユニッ
トを指示するサブユニット選択手段と、前記外部診断装
置からのシフトクロックを受けて前記サブユニット選択
手段から指示されたサブユニットへシフトクロックを供
給する制御手段と、前記サブユニット選択手段から指示
された複数のサブユニットへ前記外部診断装置から与え
られるシフトインデータを書き込む書込手段と、すべて
の前記サブユニットのシフトアウタデータの中から前記
サブユニット選択手段の指示する複数のサブユニットの
シフトアウトデータを選択するシフトアウトデータ選択
手段と、前記シフトアウトデータ選択手段により選択さ
れたシフトアウトデータを比較する比較手段と、前記比
較手段の比較結果を受けてエラーを前記外部診断装置へ
通知するエラー検出手段とを備え、複数のサブユニット
を示すように予め定められた前記サブユニットアドレス
を受けた際にこの複数のサブユニットを前記サブユニッ
ト選択手段によって選択されたサブユニットへ前記制御
手段が同時にシフトクロックを供給することによりシフ
ト動作を実行しさらに選択されたサブユニットシフトア
ウトデータを前記シフトアウトデータ選択手段で選択し
て前記比較手段で比較したとき不一致があった場合に前
記エラー検出手段を通して前記外部診断装置へ通知する
ことにより装置内の複数のサブユニットの診断を同時に
実行することを特徴とする。
【００１２】そして、前記外部診断装置からの比較結果
のマスク指示を前記エラー検出手段に通知する通知手段
を設け、複数のサブユニットからのシフトアウトデータ
を前記比較手段で比較してその比較結果が不一致であり
前記通知手段によるマスク指示がオフであった場合に前
記エラー検出手段を通して前記外部診断装置へエラーを
通知することによりシフトアウトデータ中に不定な値を
含む場合も装置内の複数のサブユニットの診断を同時に
実行してもよい。
のマスク指示を前記エラー検出手段に通知する通知手段
を設け、複数のサブユニットからのシフトアウトデータ
を前記比較手段で比較してその比較結果が不一致であり
前記通知手段によるマスク指示がオフであった場合に前
記エラー検出手段を通して前記外部診断装置へエラーを
通知することによりシフトアウトデータ中に不定な値を
含む場合も装置内の複数のサブユニットの診断を同時に
実行してもよい。
【００１３】また、前記外部診断装置からシフトアウト
データの期待値を受けて前記シフトアウトデータ選択手
段で選択された複数のサブユニットのシフトアウトデー
タの中から値が前記期待値と異なるサブユニットを検出
する第１のサブユニット検出手段を設け、複数のサブユ
ニットのシフトアウトデータを前記比較手段で比較して
その比較結果が不一致であった場合に前記第１のサブユ
ニット検出手段によってシフトアウトの値が前記期待値
と異なるサブユニットを検出することにより障害サブユ
ニットを特定するようにしてもよい。
データの期待値を受けて前記シフトアウトデータ選択手
段で選択された複数のサブユニットのシフトアウトデー
タの中から値が前記期待値と異なるサブユニットを検出
する第１のサブユニット検出手段を設け、複数のサブユ
ニットのシフトアウトデータを前記比較手段で比較して
その比較結果が不一致であった場合に前記第１のサブユ
ニット検出手段によってシフトアウトの値が前記期待値
と異なるサブユニットを検出することにより障害サブユ
ニットを特定するようにしてもよい。
【００１４】さらに、同じハードウェアから構成される
少なくとも３つのサブユニットを含む前記情報処理装置
において、前記シフトアウトデータ選択手段によって選
択された複数のシフトアウトデータの値を多数決するこ
とによりシフトアウトデータの正解値を生成する多数決
手段と、前記シフトアウトデータ選択手段によって選択
された複数のシフトアウトデータと前記多数決手段のシ
フトアウトデータの正解値とを受けて正解値とシフトア
ウトデータの値の異なるサブユニットを検出する第２の
サブユニット検出手段を設け、複数のサブユニットのシ
フトアウトデータを前記比較手段で比較してその比較結
果が不一致であった場合に前記多数決手段でシフトアウ
トデータの正解値を多数決により求め、前記第２のサブ
ユニット検出手段によってシフトアウトの値が前記多数
決手段からの正解値と異なるサブユニットを検出するこ
とにより障害サブユニットを特定するようにしてもよ
い。
少なくとも３つのサブユニットを含む前記情報処理装置
において、前記シフトアウトデータ選択手段によって選
択された複数のシフトアウトデータの値を多数決するこ
とによりシフトアウトデータの正解値を生成する多数決
手段と、前記シフトアウトデータ選択手段によって選択
された複数のシフトアウトデータと前記多数決手段のシ
フトアウトデータの正解値とを受けて正解値とシフトア
ウトデータの値の異なるサブユニットを検出する第２の
サブユニット検出手段を設け、複数のサブユニットのシ
フトアウトデータを前記比較手段で比較してその比較結
果が不一致であった場合に前記多数決手段でシフトアウ
トデータの正解値を多数決により求め、前記第２のサブ
ユニット検出手段によってシフトアウトの値が前記多数
決手段からの正解値と異なるサブユニットを検出するこ
とにより障害サブユニットを特定するようにしてもよ
い。
【００１５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の情報処理装置の第１の実施例を示す
ブロック図で、サブユニットＡ２，サブユニットＢ３，
サブユニットＣ４，〜サブユニットＮ５のｎ個のサブユ
ニットを持ち、サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及
びサブユニットＮ５の３個のサブユニットが同じハード
ウェアから構成されている情報処理装置に対して、図示
していない外部診断装置からの指示でシフト制御部１が
サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサブユニット
Ｎ５の診断を行う場合を例示している。
る。図１は本発明の情報処理装置の第１の実施例を示す
ブロック図で、サブユニットＡ２，サブユニットＢ３，
サブユニットＣ４，〜サブユニットＮ５のｎ個のサブユ
ニットを持ち、サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及
びサブユニットＮ５の３個のサブユニットが同じハード
ウェアから構成されている情報処理装置に対して、図示
していない外部診断装置からの指示でシフト制御部１が
サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサブユニット
Ｎ５の診断を行う場合を例示している。
【００１６】シフト制御部１は外部診断装置からの指示
でサブユニットＡ２からサブユニットＮ５までのサブユ
ニットのシフト動作を制御する制御部、サブユニットＡ
２，サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５は同じハー
ドウェアから構成されるサブユニット、パス６は外部診
断装置からのシフトクロックをシフト制御部１に通知す
るパス、データパス７は外部診断装置からのサブユニッ
トアドレスをシフト制御部１に通知するデータパス、パ
ス８は外部診断装置からのシフトインデータをシフト制
御部１を介してサブユニットＡ２からサブユニットＮ５
へ書き込むパス、パス９は外部診断装置からのシフトデ
ータのマスク値をシフト制御部１へ通知するパス、パス
１０はシフト制御部１からのエラー検出信号を外部診断
装置へ通知するパス、パス１１はシフト制御部１からの
サブユニット番号を外部診断装置へ通知するパス、パス
１２は外部診断装置からのシフトアウトデータの期待値
をシフト制御部１へ通知するパスである。
でサブユニットＡ２からサブユニットＮ５までのサブユ
ニットのシフト動作を制御する制御部、サブユニットＡ
２，サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５は同じハー
ドウェアから構成されるサブユニット、パス６は外部診
断装置からのシフトクロックをシフト制御部１に通知す
るパス、データパス７は外部診断装置からのサブユニッ
トアドレスをシフト制御部１に通知するデータパス、パ
ス８は外部診断装置からのシフトインデータをシフト制
御部１を介してサブユニットＡ２からサブユニットＮ５
へ書き込むパス、パス９は外部診断装置からのシフトデ
ータのマスク値をシフト制御部１へ通知するパス、パス
１０はシフト制御部１からのエラー検出信号を外部診断
装置へ通知するパス、パス１１はシフト制御部１からの
サブユニット番号を外部診断装置へ通知するパス、パス
１２は外部診断装置からのシフトアウトデータの期待値
をシフト制御部１へ通知するパスである。
【００１７】また、シフト制御部１において、サブユニ
ット選択回路１０１はデータパス７上のサブユニットア
ドレスを受けてシフト動作を実行するサブユニットを制
御回路１０２及び選択回路１０３へ指示する回路、制御
回路１０２はサブユニット選択回路１０１からの指示を
受けてパス６で来るシフトクロックをパス２１，パス３
１，パス４１，〜パス５１を介してサブユニットＡ２，
サブユニットＢ３，サブユニットＣ４，〜サブユニット
Ｎ５へ供給する回路、選択回路１０３はサブユニット選
択回路１０１から指示を受けてパス２２，パス３２，パ
ス４２，〜パス５２の中から複数のパスを選択して比較
器１０４及びサブユニット検出回路１０６へ出力する回
路、比較器１０４は選択回路１０３の出力を比較して比
較結果をエラー検出回路１０５へ出力する比較器、エラ
ー検出回路１０５は比較器１０４の比較結果とパス９の
シフトアウトデータのマスク値を受けてエラーを検出し
てエラー検出信号をパス１０へ出力する回路、サブユニ
ット検出回路１０６は選択回路１０３の出力とパス１２
のシフトアウトデータの期待値を受けて選択回路１０３
の出力の中からパス１２の期待値と異なるサブユニット
の番号をデータパス１１へ出力する回路である。
ット選択回路１０１はデータパス７上のサブユニットア
ドレスを受けてシフト動作を実行するサブユニットを制
御回路１０２及び選択回路１０３へ指示する回路、制御
回路１０２はサブユニット選択回路１０１からの指示を
受けてパス６で来るシフトクロックをパス２１，パス３
１，パス４１，〜パス５１を介してサブユニットＡ２，
サブユニットＢ３，サブユニットＣ４，〜サブユニット
Ｎ５へ供給する回路、選択回路１０３はサブユニット選
択回路１０１から指示を受けてパス２２，パス３２，パ
ス４２，〜パス５２の中から複数のパスを選択して比較
器１０４及びサブユニット検出回路１０６へ出力する回
路、比較器１０４は選択回路１０３の出力を比較して比
較結果をエラー検出回路１０５へ出力する比較器、エラ
ー検出回路１０５は比較器１０４の比較結果とパス９の
シフトアウトデータのマスク値を受けてエラーを検出し
てエラー検出信号をパス１０へ出力する回路、サブユニ
ット検出回路１０６は選択回路１０３の出力とパス１２
のシフトアウトデータの期待値を受けて選択回路１０３
の出力の中からパス１２の期待値と異なるサブユニット
の番号をデータパス１１へ出力する回路である。
【００１８】さらに、パス２１は制御回路１０２の出力
するシフトクロックをサブユニットＡ２へ供給するパ
ス、パス２２はサブユニットＡ２のシフトアウトデータ
を選択回路１０３へ出力するパス、同様にパス３１は制
御回路１０２の出力するシフトクロックをサブユニット
Ｂ３へ供給するパス、パス３２はサブユニットＢ３のシ
フトアウトデータを選択回路１０３へ出力するパス、パ
ス４１は制御回路１０２の出力するシフトクロックをサ
ブユニットＣ４へ供給するパス、パス４２はサブユニッ
トＣ４のシフトアウトデータを選択回路１０３へ出力す
るパス、パス５１は制御回路１０２の出力するシフトク
ロックをサブユニットＮ５へ供給するパス、パス５２は
サブユニットＮ５のシフトアウトデータを選択回路１０
３へ出力するパスである。
するシフトクロックをサブユニットＡ２へ供給するパ
ス、パス２２はサブユニットＡ２のシフトアウトデータ
を選択回路１０３へ出力するパス、同様にパス３１は制
御回路１０２の出力するシフトクロックをサブユニット
Ｂ３へ供給するパス、パス３２はサブユニットＢ３のシ
フトアウトデータを選択回路１０３へ出力するパス、パ
ス４１は制御回路１０２の出力するシフトクロックをサ
ブユニットＣ４へ供給するパス、パス４２はサブユニッ
トＣ４のシフトアウトデータを選択回路１０３へ出力す
るパス、パス５１は制御回路１０２の出力するシフトク
ロックをサブユニットＮ５へ供給するパス、パス５２は
サブユニットＮ５のシフトアウトデータを選択回路１０
３へ出力するパスである。
【００１９】次に、図２は本発明の情報処理装置の第２
の実施例を示すブロック図で、第１の実施例と同様にサ
ブユニットＡ２，サブユニットＢ３，サブユニットＣ
４，〜サブユニットＮ５のｎ個のサブユニットを持ち、
サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサブユニット
Ｎ５の３個のサブユニットが同じハードウェアから構成
されている情報処理装置に対して、図示していない外部
診断装置からの指示でシフト制御部１がサブユニットＡ
２，サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５の診断を行
う場合を例示している。図２において、第１の実施例と
同じ構成要素は図１と同じ参照符号が付されている。
の実施例を示すブロック図で、第１の実施例と同様にサ
ブユニットＡ２，サブユニットＢ３，サブユニットＣ
４，〜サブユニットＮ５のｎ個のサブユニットを持ち、
サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサブユニット
Ｎ５の３個のサブユニットが同じハードウェアから構成
されている情報処理装置に対して、図示していない外部
診断装置からの指示でシフト制御部１がサブユニットＡ
２，サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５の診断を行
う場合を例示している。図２において、第１の実施例と
同じ構成要素は図１と同じ参照符号が付されている。
【００２０】シフト制御部１は外部診断装置からの指示
でサブユニットＡ２からサブユニットＮ５までのサブユ
ニットのシフト動作を制御する制御部、サブユニットＡ
２，サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５は同じハー
ドウェアから構成されるサブユニット、パス６は外部診
断装置からのシフトクロックをシフト制御部１に通知す
るパス、データパス７は外部診断装置からのサブユニッ
トアドレスをシフト制御部１に通知するデータパス、パ
ス８は外部診断装置からのシフトインデータをシフト制
御部１を介してサブユニットＡ２からサブユニットＮ５
へ書き込むパス、パス９は外部診断装置からのシフトデ
ータのマスク値をシフト制御部１へ通知するパス、パス
１０はシフト制御部１からのエラー検出信号を外部診断
装置へ通知するパス、パス１１はシフト制御部１からの
サブユニット番号を外部診断装置へ通知するパスであ
る。
でサブユニットＡ２からサブユニットＮ５までのサブユ
ニットのシフト動作を制御する制御部、サブユニットＡ
２，サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５は同じハー
ドウェアから構成されるサブユニット、パス６は外部診
断装置からのシフトクロックをシフト制御部１に通知す
るパス、データパス７は外部診断装置からのサブユニッ
トアドレスをシフト制御部１に通知するデータパス、パ
ス８は外部診断装置からのシフトインデータをシフト制
御部１を介してサブユニットＡ２からサブユニットＮ５
へ書き込むパス、パス９は外部診断装置からのシフトデ
ータのマスク値をシフト制御部１へ通知するパス、パス
１０はシフト制御部１からのエラー検出信号を外部診断
装置へ通知するパス、パス１１はシフト制御部１からの
サブユニット番号を外部診断装置へ通知するパスであ
る。
【００２１】シフト制御部１において、サブユニット選
択回路１０１はデータパス７上のサブユニットアドレス
を受けてシフト動作を実行するサブユニットを制御回路
１０２及び選択回路１０３へ指示する回路、制御回路１
０２はサブユニット選択回路１０１からの指示を受けて
パス６で来るシフトクロックをパス２１，パス３１，パ
ス４１，〜パス５１を介してサブユニットＡ２，サブユ
ニットＢ３，サブユニットＣ４，〜サブユニットＮ５へ
供給する回路、選択回路１０３はサブユニット選択回路
１０１から指示を受けてパス２２，パス３２，パス４
２，〜パス５２の中から複数のパスを選択して比較器１
０４，サブユニット検出回路１０６及び多数決回路１０
７へ出力する回路、比較器１０４は選択回路１０３の出
力を比較してその比較結果をエラー検出回路１０５へ出
力する比較器、エラー検出回路１０５は比較器１０４に
よる比較結果とパス９のシフトアウトデータのマスク値
を受けて検出したエラー検出信号をパス１０へ出力する
回路、サブユニット検出回路１０９は選択回路１０３の
出力と多数決回路１０７の出力を受けて選択回路１０３
の出力の中から多数決回路１０７の出力値と異なるサブ
ユニットの番号をデータパス１１へ出力する回路、多数
決回路１０７は選択回路１０３の出力を受けて多数決論
理を採りその結果をサブユニット検出回路１０９へ出力
する回路である。
択回路１０１はデータパス７上のサブユニットアドレス
を受けてシフト動作を実行するサブユニットを制御回路
１０２及び選択回路１０３へ指示する回路、制御回路１
０２はサブユニット選択回路１０１からの指示を受けて
パス６で来るシフトクロックをパス２１，パス３１，パ
ス４１，〜パス５１を介してサブユニットＡ２，サブユ
ニットＢ３，サブユニットＣ４，〜サブユニットＮ５へ
供給する回路、選択回路１０３はサブユニット選択回路
１０１から指示を受けてパス２２，パス３２，パス４
２，〜パス５２の中から複数のパスを選択して比較器１
０４，サブユニット検出回路１０６及び多数決回路１０
７へ出力する回路、比較器１０４は選択回路１０３の出
力を比較してその比較結果をエラー検出回路１０５へ出
力する比較器、エラー検出回路１０５は比較器１０４に
よる比較結果とパス９のシフトアウトデータのマスク値
を受けて検出したエラー検出信号をパス１０へ出力する
回路、サブユニット検出回路１０９は選択回路１０３の
出力と多数決回路１０７の出力を受けて選択回路１０３
の出力の中から多数決回路１０７の出力値と異なるサブ
ユニットの番号をデータパス１１へ出力する回路、多数
決回路１０７は選択回路１０３の出力を受けて多数決論
理を採りその結果をサブユニット検出回路１０９へ出力
する回路である。
【００２２】また、パス２１は制御回路１０２の出力す
るシフトクロックをサブユニットＡ２へ供給するパス、
パス２２はサブユニットＡ２のシフトアウトデータを選
択回路１０３へ出力するパス、同様にパス３１は制御回
路１０２の出力するシフトクロックをサブユニットＢ３
へ供給するパス、パス３２はサブユニットＢ３のシフト
アウトデータを選択回路１０３へ出力するパス、パス４
１は制御回路１０２の出力するシフトクロックをサブユ
ニットＣ４へ供給するパス、パス４２はサブユニットＣ
４のシフトアウトデータを選択回路１０３へ出力するパ
ス、パス５１は制御回路１０２の出力するシフトクロッ
クをサブユニットＮ５へ供給するパス、パス５２はサブ
ユニットＮ５のシフトアウトデータを選択回路１０３へ
出力するパスである。
るシフトクロックをサブユニットＡ２へ供給するパス、
パス２２はサブユニットＡ２のシフトアウトデータを選
択回路１０３へ出力するパス、同様にパス３１は制御回
路１０２の出力するシフトクロックをサブユニットＢ３
へ供給するパス、パス３２はサブユニットＢ３のシフト
アウトデータを選択回路１０３へ出力するパス、パス４
１は制御回路１０２の出力するシフトクロックをサブユ
ニットＣ４へ供給するパス、パス４２はサブユニットＣ
４のシフトアウトデータを選択回路１０３へ出力するパ
ス、パス５１は制御回路１０２の出力するシフトクロッ
クをサブユニットＮ５へ供給するパス、パス５２はサブ
ユニットＮ５のシフトアウトデータを選択回路１０３へ
出力するパスである。
【００２３】次に第１の実施例の動作について説明す
る。まず最初に外部診断装置がサブユニットＡ２，サブ
ユニットＢ３及びサブユニットＮ５の３個のサブユニッ
トを指示するように、予め定められたアドレス（例えば
“ＡＬＬ１”）をデータパス７に出力し、パス８上にシ
フトインデータを、パス９上にシフトデータのマスク値
を、パス１２上にシフトデータの期待値をセットした
後、パス６にシフトクロックを出力する。
る。まず最初に外部診断装置がサブユニットＡ２，サブ
ユニットＢ３及びサブユニットＮ５の３個のサブユニッ
トを指示するように、予め定められたアドレス（例えば
“ＡＬＬ１”）をデータパス７に出力し、パス８上にシ
フトインデータを、パス９上にシフトデータのマスク値
を、パス１２上にシフトデータの期待値をセットした
後、パス６にシフトクロックを出力する。
【００２４】シフト制御部１において、サブユニット選
択回路１０１はデータパス７上の“ＡＬＬ１”のデータ
を受けるとサブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサ
ブユニットＮ５の３個のサブユニットが同時に選択され
たことを制御回路１０２及び選択回路１０３へ通知す
る。制御回路１０２はサブユニット選択回路１０１の通
知を受け取ると、パス６で来るシフトクロックをパス２
１，パス３１及びパス５１を介してサブユニットＡ２，
サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５へ供給する。こ
の時サブユニットＡ２ではパス２１により供給されるシ
フトクロックによってシフト動作が行われ、シフトアウ
トデータがパス２２上に現れる。また同様にして、パス
３１に供給されるシフトクロックによってサブユニット
Ｂ３のシフトアウトデータがパス３２上に現れ、パス５
１に供給されるシフトクロックによってサブユニットＮ
５のシフトアウトデータがパス５２上に現れる。選択回
路１０３はサブユニット選択回路１０１の指示を受け
て、パス２２上のシフトアウトデータ，パス３２上のシ
フトアウトデータ及びパス５２上のシフトアウトデータ
を選択し、比較器１０４及びサブユニット検出回路１０
６へ出力する。比較器１０４は選択回路１０３からのサ
ブユニットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニットＢ
３のシフトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシフト
アウトデータを比較して比較結果をエラー検出回路１０
５へ出力する。エラー検出回路１０５はパス９上のマス
ク値がオフであり且つ比較器１０４の比較結果が不一致
ならばエラー検出信号をオンとしてパス１０上に出力す
る。
択回路１０１はデータパス７上の“ＡＬＬ１”のデータ
を受けるとサブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサ
ブユニットＮ５の３個のサブユニットが同時に選択され
たことを制御回路１０２及び選択回路１０３へ通知す
る。制御回路１０２はサブユニット選択回路１０１の通
知を受け取ると、パス６で来るシフトクロックをパス２
１，パス３１及びパス５１を介してサブユニットＡ２，
サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５へ供給する。こ
の時サブユニットＡ２ではパス２１により供給されるシ
フトクロックによってシフト動作が行われ、シフトアウ
トデータがパス２２上に現れる。また同様にして、パス
３１に供給されるシフトクロックによってサブユニット
Ｂ３のシフトアウトデータがパス３２上に現れ、パス５
１に供給されるシフトクロックによってサブユニットＮ
５のシフトアウトデータがパス５２上に現れる。選択回
路１０３はサブユニット選択回路１０１の指示を受け
て、パス２２上のシフトアウトデータ，パス３２上のシ
フトアウトデータ及びパス５２上のシフトアウトデータ
を選択し、比較器１０４及びサブユニット検出回路１０
６へ出力する。比較器１０４は選択回路１０３からのサ
ブユニットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニットＢ
３のシフトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシフト
アウトデータを比較して比較結果をエラー検出回路１０
５へ出力する。エラー検出回路１０５はパス９上のマス
ク値がオフであり且つ比較器１０４の比較結果が不一致
ならばエラー検出信号をオンとしてパス１０上に出力す
る。
【００２５】そして外部診断装置はパス１０のエラー検
出信号のオン／オフにより診断でエラーが発生したか否
かを知り、パス１０がオフの場合にはパス８上に次のシ
フトインデータ，パス９上にシフトアウトデータのマス
ク値，パス１２上にシフトアウトデータの期待値を乗せ
て、シフトクロックをパス６に出力し診断を実行する。
同様にしてサブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサ
ブユニットＮ５のサブユニットのすべてのハードウェア
データを比較器１０４で比較するまでシフトクロックを
出した後に、パス１０のエラー検出信号がオフであれば
診断を終了する。
出信号のオン／オフにより診断でエラーが発生したか否
かを知り、パス１０がオフの場合にはパス８上に次のシ
フトインデータ，パス９上にシフトアウトデータのマス
ク値，パス１２上にシフトアウトデータの期待値を乗せ
て、シフトクロックをパス６に出力し診断を実行する。
同様にしてサブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサ
ブユニットＮ５のサブユニットのすべてのハードウェア
データを比較器１０４で比較するまでシフトクロックを
出した後に、パス１０のエラー検出信号がオフであれば
診断を終了する。
【００２６】また、パス１０のエラー検出信号がオンと
なったとき、シフト制御部１において、サブユニット検
出回路１０６は選択回路１０３から出力されるサブユニ
ットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニットＢ３のシ
フトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシフトアウト
データの中からパス１２上のシフトアウトデータの期待
値と異なるデータ（例えばサブユニットＡ２のシフトア
ウトデータが期待値と異なるとする）を検出し、そのサ
ブユニット番号（＃０）をデータパス１１上に出力す
る。外部診断装置はパス１１上のサブユニット番号（＃
０）を取り込み、サブユニットＡ２でエラーが発生した
ことを知る。
なったとき、シフト制御部１において、サブユニット検
出回路１０６は選択回路１０３から出力されるサブユニ
ットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニットＢ３のシ
フトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシフトアウト
データの中からパス１２上のシフトアウトデータの期待
値と異なるデータ（例えばサブユニットＡ２のシフトア
ウトデータが期待値と異なるとする）を検出し、そのサ
ブユニット番号（＃０）をデータパス１１上に出力す
る。外部診断装置はパス１１上のサブユニット番号（＃
０）を取り込み、サブユニットＡ２でエラーが発生した
ことを知る。
【００２７】次に第２の実施例の動作について説明す
る。まず最初に外部診断装置がサブユニットＡ２，サブ
ユニットＢ３及びサブユニットＮ５の３個のサブユニッ
トを指示するように、予め定められたアドレス（例えば
“ＡＬＬ１”）をデータパス７に出力し、パス８上にシ
フトインデータを、パス９上にシフトデータのマスク値
をセットした後、パス４にシフトクロックを出力する。
る。まず最初に外部診断装置がサブユニットＡ２，サブ
ユニットＢ３及びサブユニットＮ５の３個のサブユニッ
トを指示するように、予め定められたアドレス（例えば
“ＡＬＬ１”）をデータパス７に出力し、パス８上にシ
フトインデータを、パス９上にシフトデータのマスク値
をセットした後、パス４にシフトクロックを出力する。
【００２８】シフト制御部１において、サブユニット選
択回路１０１はデータパス７上の“ＡＬＬ１”のデータ
を受けるとサブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサ
ブユニットＮ５の３個のサブユニットが同時に選択され
たことを制御回路１０２及び選択回路１０３へ通知す
る。制御回路１０２はサブユニット選択回路１０１の通
知を受け取ると、パス６で来るシフトクロックをパス２
１，パス３１及びパス５１を介してサブユニットＡ２，
サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５へ供給する。こ
の時サブユニットＡ２ではパス２１により供給されるシ
フトクロックによってシフト動作が行われ、シフトアウ
トデータがパス２２上に現れる。また同様にして、パス
３１に供給されるシフトクロックによってサブユニット
Ｂ３のシフトアウトデータがパス３２上に現れ、パス５
１に供給されるシフトクロックによってサブユニットＮ
５のシフトアウトデータがパス５２上に現れる。選択回
路１０３はサブユニット選択回路１０１の指示を受け
て、パス２２上のシフトアウトデータ，パス３２上のシ
フトアウトデータ及びパス５２上のシフトアウトデータ
を選択し、比較器１０４及びサブユニット検出回路１０
６へ出力する。比較器１０４は選択回路１０３からのサ
ブユニットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニットＢ
３のシフトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシフト
アウトデータを比較して比較結果をエラー検出回路１０
５へ出力する。エラー検出回路１０５はパス９上のマス
ク値がオフであり且つ比較器１０４の比較結果が不一致
ならばエラー検出信号をオンとしてパス１０上に出力す
る。
択回路１０１はデータパス７上の“ＡＬＬ１”のデータ
を受けるとサブユニットＡ２，サブユニットＢ３及びサ
ブユニットＮ５の３個のサブユニットが同時に選択され
たことを制御回路１０２及び選択回路１０３へ通知す
る。制御回路１０２はサブユニット選択回路１０１の通
知を受け取ると、パス６で来るシフトクロックをパス２
１，パス３１及びパス５１を介してサブユニットＡ２，
サブユニットＢ３及びサブユニットＮ５へ供給する。こ
の時サブユニットＡ２ではパス２１により供給されるシ
フトクロックによってシフト動作が行われ、シフトアウ
トデータがパス２２上に現れる。また同様にして、パス
３１に供給されるシフトクロックによってサブユニット
Ｂ３のシフトアウトデータがパス３２上に現れ、パス５
１に供給されるシフトクロックによってサブユニットＮ
５のシフトアウトデータがパス５２上に現れる。選択回
路１０３はサブユニット選択回路１０１の指示を受け
て、パス２２上のシフトアウトデータ，パス３２上のシ
フトアウトデータ及びパス５２上のシフトアウトデータ
を選択し、比較器１０４及びサブユニット検出回路１０
６へ出力する。比較器１０４は選択回路１０３からのサ
ブユニットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニットＢ
３のシフトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシフト
アウトデータを比較して比較結果をエラー検出回路１０
５へ出力する。エラー検出回路１０５はパス９上のマス
ク値がオフであり且つ比較器１０４の比較結果が不一致
ならばエラー検出信号をオンとしてパス１０上に出力す
る。
【００２９】そして外部診断装置はパス１０のエラー検
出信号のオン／オフにより診断でエラーが発生したか否
かを知り、パス１０がオフの場合にはパス８上に次のシ
フトインデータを、パス９上にシフトアウトデータのマ
スク値を乗せて、シフトクロックをパス６に出力し診断
を実行する。サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及び
サブユニットＮ５のサブユニットのすべてのハードウェ
アデータを比較器１０４で比較するまでシフトクロック
を出した後に、パス１０のエラー検出信号がオフであれ
ば診断を終了する。
出信号のオン／オフにより診断でエラーが発生したか否
かを知り、パス１０がオフの場合にはパス８上に次のシ
フトインデータを、パス９上にシフトアウトデータのマ
スク値を乗せて、シフトクロックをパス６に出力し診断
を実行する。サブユニットＡ２，サブユニットＢ３及び
サブユニットＮ５のサブユニットのすべてのハードウェ
アデータを比較器１０４で比較するまでシフトクロック
を出した後に、パス１０のエラー検出信号がオフであれ
ば診断を終了する。
【００３０】また、パス１０のエラー検出信号がオンと
なったとき、シフト制御部１において、多数決回路１０
７は選択回路１０３から出力されるサブユニットＡ２の
シフトアウトデータ，サブユニットＢ３のシフトアウト
データ及びサブユニットＮ５のシフトアウトデータの値
の多数決論理を採り、結果をシフトアウトデータの正解
値としてサブユニット検出回路１０９へ出力する。サブ
ユニット検出回路１０９は選択回路１０３から出力され
るサブユニットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニッ
トＢ３のシフトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシ
フトアウトデータの中の多数決回路１０７からのシフト
アウトデータの正解値と異なるデータ（例えばサブユニ
ットＡ２のシフトアウトデータが期待値と異なるとす
る）を検出し、そのサブユニット番号（＃０）をデータ
パス１１上に出力する。外部の診断装置はパス１１上の
サブユニット番号＃０を取り込み、サブユニットＡ２で
エラーが発生したことを知る。
なったとき、シフト制御部１において、多数決回路１０
７は選択回路１０３から出力されるサブユニットＡ２の
シフトアウトデータ，サブユニットＢ３のシフトアウト
データ及びサブユニットＮ５のシフトアウトデータの値
の多数決論理を採り、結果をシフトアウトデータの正解
値としてサブユニット検出回路１０９へ出力する。サブ
ユニット検出回路１０９は選択回路１０３から出力され
るサブユニットＡ２のシフトアウトデータ，サブユニッ
トＢ３のシフトアウトデータ及びサブユニットＮ５のシ
フトアウトデータの中の多数決回路１０７からのシフト
アウトデータの正解値と異なるデータ（例えばサブユニ
ットＡ２のシフトアウトデータが期待値と異なるとす
る）を検出し、そのサブユニット番号（＃０）をデータ
パス１１上に出力する。外部の診断装置はパス１１上の
サブユニット番号＃０を取り込み、サブユニットＡ２で
エラーが発生したことを知る。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、予め定め
られたサブユニットアドレスが情報処理装置に与えられ
ると複数のサブユニットに同時にシフトクロックを供給
する制御手段と、すべてのサブユニットのシフトアウト
データの中から複数のサブユニットのシフトアウトデー
タを選択するシフトアウトデータ選択手段と、シフトア
ウトデータ選択手段で選択された複数のシフトアウトデ
ータを比較する比較手段と、比較手段の結果でエラーを
検出して外部診断装置へエラーを通知するエラー検出手
段を設けることにより、情報処理装置内の複数のサブユ
ニットの診断を同時に実行することができ、情報処理装
置の診断を高速化できるという効果を有する。
られたサブユニットアドレスが情報処理装置に与えられ
ると複数のサブユニットに同時にシフトクロックを供給
する制御手段と、すべてのサブユニットのシフトアウト
データの中から複数のサブユニットのシフトアウトデー
タを選択するシフトアウトデータ選択手段と、シフトア
ウトデータ選択手段で選択された複数のシフトアウトデ
ータを比較する比較手段と、比較手段の結果でエラーを
検出して外部診断装置へエラーを通知するエラー検出手
段を設けることにより、情報処理装置内の複数のサブユ
ニットの診断を同時に実行することができ、情報処理装
置の診断を高速化できるという効果を有する。
【００３２】また、比較結果のマスク指示をエラー検出
手段に通知する手段を設けることにより、診断を実行す
るサブユニットのシフトアウトデータの中に他装置が出
すインタフェース信号の状態等の不定な値を含む場合も
不要なエラー検出を抑止して診断を実行できるという効
果を有する。
手段に通知する手段を設けることにより、診断を実行す
るサブユニットのシフトアウトデータの中に他装置が出
すインタフェース信号の状態等の不定な値を含む場合も
不要なエラー検出を抑止して診断を実行できるという効
果を有する。
【００３３】さらに、外部診断装置からシフトアウトデ
ータの期待値を受けて、シフトアウトデータ選択手段で
選択されたシフトアウトデータの中から値が期待値と異
なるサブユニットを検出する第１のサブユニット検出手
段を設けることにより、比較結果が不一致であった場合
に、シフトアウトの値が期待値と異なるサブユニットを
検出することによって障害サブユニットを特定できると
いう効果を有する。
ータの期待値を受けて、シフトアウトデータ選択手段で
選択されたシフトアウトデータの中から値が期待値と異
なるサブユニットを検出する第１のサブユニット検出手
段を設けることにより、比較結果が不一致であった場合
に、シフトアウトの値が期待値と異なるサブユニットを
検出することによって障害サブユニットを特定できると
いう効果を有する。
【００３４】さらにまた、同じハードウェアから構成さ
れるサブユニットを３つ以上含む情報処理装置におい
て、シフトアウトデータ選択手段で選択された複数のシ
フトアウトデータの値を多数決することによってシフト
アウトデータの正解値を生成する多数決手段と、シフト
アウトデータ選択手段で選択された複数のシフトアウト
データと多数決手段のシフトアウトデータの正解値とを
受けて正解値とシフトアウトデータの値の異なるサブユ
ニットを検出する第２のサブユニット検出手段を設ける
ことにより、比較結果が不一致であった場合に、シフト
アウトの値が正解値と異なるサブユニットを検出するこ
とによって外部からシフトアウトデータの期待値を与え
られなくとも障害サブユニットを特定できるという効果
を有する。
れるサブユニットを３つ以上含む情報処理装置におい
て、シフトアウトデータ選択手段で選択された複数のシ
フトアウトデータの値を多数決することによってシフト
アウトデータの正解値を生成する多数決手段と、シフト
アウトデータ選択手段で選択された複数のシフトアウト
データと多数決手段のシフトアウトデータの正解値とを
受けて正解値とシフトアウトデータの値の異なるサブユ
ニットを検出する第２のサブユニット検出手段を設ける
ことにより、比較結果が不一致であった場合に、シフト
アウトの値が正解値と異なるサブユニットを検出するこ
とによって外部からシフトアウトデータの期待値を与え
られなくとも障害サブユニットを特定できるという効果
を有する。
【００３５】また、本発明によれば、情報処理装置の診
断時間が短くなるので、保守時間内に情報処理装置の他
の保守項目を実施する時間や、他の装置との接続確認を
実施する時間が長くなるという効果が生じる。さらに保
守時間に実施する保守項目が増すことにより、システム
の保守信頼性が高まるという効果も生ずる。
断時間が短くなるので、保守時間内に情報処理装置の他
の保守項目を実施する時間や、他の装置との接続確認を
実施する時間が長くなるという効果が生じる。さらに保
守時間に実施する保守項目が増すことにより、システム
の保守信頼性が高まるという効果も生ずる。
【図１】本発明の情報処理装置の第１の実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】本発明の情報処理装置の第２の実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図３】従来の情報処理装置の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
１ シフト制御部 ２ サブユニットＡ ３ サブユニットＢ ４ サブユニットＣ ５ サブユニットＮ ６ パス ７ データパス ８，９，１０ パス １１ データパス １２，１３ パス ２１，２２，３１，３２，４１，４２，５１，５２
パス １０１ サブユニット選択回路 １０２ 制御回路 １０３ 選択回路 １０４ 比較器 １０５ エラー検出回路 １０６，１０９ サブユニット検出回路 １０７ 多数決回路 １０８ セレクタ
パス １０１ サブユニット選択回路 １０２ 制御回路 １０３ 選択回路 １０４ 比較器 １０５ エラー検出回路 １０６，１０９ サブユニット検出回路 １０７ 多数決回路 １０８ セレクタ
Claims (4)
- 【請求項１】 装置内に複数のサブユニットを有し、外
部診断装置からサブユニットのアドレスを指定すること
によりサブユニット単位にシフトパスを使ってハードウ
ェアのデータの読出し／書込みが可能であり、前記サブ
ユニットのいくつかが同じハードウェアから構成されて
いる情報処理装置において、前記外部診断装置からシフ
ト動作を実行する単数または複数のサブユニットを示す
サブユニットアドレスを受けてシフト動作を実行すべき
サブユニットを指示するサブユニット選択手段と、前記
外部診断装置からのシフトクロックを受けて前記サブユ
ニット選択手段から指示されたサブユニットへシフトク
ロックを供給する制御手段と、前記サブユニット選択手
段から指示された複数のサブユニットへ前記外部診断装
置から与えられるシフトインデータを書き込む書込手段
と、すべての前記サブユニットのシフトアウタデータの
中から前記サブユニット選択手段の指示する複数のサブ
ユニットのシフトアウトデータを選択するシフトアウト
データ選択手段と、前記シフトアウトデータ選択手段に
より選択されたシフトアウトデータを比較する比較手段
と、前記比較手段の比較結果を受けてエラーを前記外部
診断装置へ通知するエラー検出手段とを備え、複数のサ
ブユニットを示すように予め定められた前記サブユニッ
トアドレスを受けた際にこの複数のサブユニットを前記
サブユニット選択手段によって選択されたサブユニット
へ前記制御手段が同時にシフトクロックを供給すること
によりシフト動作を実行しさらに選択されたサブユニッ
トシフトアウトデータを前記シフトアウトデータ選択手
段で選択して前記比較手段で比較したとき不一致があっ
た場合に前記エラー検出手段を通して前記外部診断装置
へ通知することにより装置内の複数のサブユニットの診
断を同時に実行することを特徴とする情報処理装置。 - 【請求項２】 前記外部診断装置からの比較結果のマス
ク指示を前記エラー検出手段に通知する通知手段を設
け、複数のサブユニットからのシフトアウトデータを前
記比較手段で比較してその比較結果が不一致であり前記
通知手段によるマスク指示がオフであった場合に前記エ
ラー検出手段を通して前記外部診断装置へエラーを通知
することによりシフトアウトデータ中に不定な値を含む
場合も装置内の複数のサブユニットの診断を同時に実行
することを特徴とする請求項１記載の情報処理装置。 - 【請求項３】 前記外部診断装置からシフトアウトデー
タの期待値を受けて前記シフトアウトデータ選択手段で
選択された複数のサブユニットのシフトアウトデータの
中から値が前記期待値と異なるサブユニットを検出する
第１のサブユニット検出手段を設け、複数のサブユニッ
トのシフトアウトデータを前記比較手段で比較してその
比較結果が不一致であった場合に前記第１のサブユニッ
ト検出手段によってシフトアウトの値が前記期待値と異
なるサブユニットを検出することにより障害サブユニッ
トを特定することを特徴とする請求項１または２記載の
情報処理装置。 - 【請求項４】 同じハードウェアから構成される少なく
とも３つのサブユニットを含む前記情報処理装置におい
て、前記シフトアウトデータ選択手段によって選択され
た複数のシフトアウトデータの値を多数決することによ
りシフトアウトデータの正解値を生成する多数決手段
と、前記シフトアウトデータ選択手段によって選択され
た複数のシフトアウトデータと前記多数決手段のシフト
アウトデータの正解値とを受けて正解値とシフトアウト
データの値の異なるサブユニットを検出する第２のサブ
ユニット検出手段を設け、複数のサブユニットのシフト
アウトデータを前記比較手段で比較してその比較結果が
不一致であった場合に前記多数決手段でシフトアウトデ
ータの正解値を多数決により求め、前記第２のサブユニ
ット検出手段によってシフトアウトの値が前記多数決手
段からの正解値と異なるサブユニットを検出することに
より障害サブユニットを特定することを特徴とする請求
項１または２記載の情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3322814A JPH05158730A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3322814A JPH05158730A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 情報処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05158730A true JPH05158730A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18147914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3322814A Withdrawn JPH05158730A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05158730A (ja) |
-
1991
- 1991-12-06 JP JP3322814A patent/JPH05158730A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4488259A (en) | On chip monitor | |
| US7484153B2 (en) | Systems and methods for LBIST testing using isolatable scan chains | |
| JP6266239B2 (ja) | マイクロコンピュータ | |
| US4620302A (en) | Programmable digital signal testing system | |
| JP2011232031A (ja) | 自己診断システム及び検査回路判定方法 | |
| JPS6226734B2 (ja) | ||
| US4660198A (en) | Data capture logic for VLSI chips | |
| JP2006251895A (ja) | バスインタフェース回路 | |
| JP4953005B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
| JPH05158730A (ja) | 情報処理装置 | |
| JPS60239836A (ja) | 論理回路の故障診断方式 | |
| JPH06208479A (ja) | 情報処理装置の診断方式 | |
| JPH06139094A (ja) | 情報処理装置 | |
| US11619668B2 (en) | Integrated circuit with self-test circuit, method for operating an integrated circuit with self-test circuit, multi-core processor device and method for operating a multi-core processor device | |
| JP6588068B2 (ja) | マイクロコンピュータ | |
| JP2668382B2 (ja) | マイクロプログラムの試験のための擬似障害発生方法 | |
| JPH04229339A (ja) | 情報処理装置及びその診断方法 | |
| JPH04229338A (ja) | 情報処理装置及びその診断方法 | |
| JP2871966B2 (ja) | 障害検出回路検査システム | |
| JPH06161813A (ja) | 情報処理装置 | |
| JPH04263200A (ja) | シフトパス方式 | |
| JPH077345B2 (ja) | 論理回路ブロックの自己診断回路 | |
| JP2636169B2 (ja) | 情報処理装置 | |
| JPS6149243A (ja) | 診断インタフエ−ス方式 | |
| JPS62166442A (ja) | 故障診断方式 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990311 |