JPH05153352A - 記録方法およびレーザ記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体レーザから射出されたレーザービーム
を変調して写真感光材料に照射することにより、該写真
感光材料に画像を記録するレーザ記録装置において、写
真感光材料の露光部分の相対湿度変化による記録画像の
濃度変動を、安価な手段を用いて防止する。 【構成】 半導体レーザ１の光出力を安定させるＡＰＣ
回路８の電圧ー電流変換アンプ３のゲインを、半導体レ
ーザ１の駆動電流対光出力特性が温度に応じて変化する
程度に低く設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、画像信号に基づいて変
調されたレーザビームを写真感光材料上に走査させて、
そこに画像を記録する方法、および記録装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、光ビームを光偏向器により偏
向して感光材料上に走査させ、該感光材料に画像を記録
する光走査記録装置が広く実用に供されている。このよ
うな光走査記録装置において光ビームを発生する手段の
１つとして、半導体レーザが従来から用いられている。
この半導体レーザは、ガスレーザ等に比べれば小型、安
価で消費電力も少なく、また駆動電流を変えることによ
って直接変調が可能である等、数々の長所を有してい
る。

【０００３】その半面この半導体レーザは、図２に示す
ように駆動電流に対する光出力特性が温度等に応じて変
わるので、通常はこの特性を一定に安定させる光出力安
定化回路（以下、ＡＰＣ回路と称する）と組み合わせて
使用される。このＡＰＣ回路は、半導体レーザから発せ
られたレーザビームの光強度を検出し、この検出された
光強度に対応する帰還信号を半導体レーザの発光レベル
指令信号にフィードバックさせるものである。図３はこ
のＡＰＣ回路の一例を示すものであり、以下、この図３
を参照してＡＰＣ回路について説明する。

【０００４】半導体レーザ１の発光強度を指令する発光
レベル指令信号Ｖref は、加算点２を通して電圧ー電流
変換アンプ３に入力され、該アンプ３はこの指令信号Ｖ
refに比例した駆動電流を半導体レーザ１に供給する。
半導体レーザ１から前方に出射された光ビーム４は、図
示しない走査光学系を通して感光材料走査に利用され
る。一方半導体レーザ１の後方側に出射された光ビーム
５の強度は、例えば半導体レーザのケース内に設置され
た光量モニタ用のピンフォトダイオード６によって検出
される。こうして検出される光ビーム５の強度は、実際
に画像記録に利用される上記光ビーム４の強度と比例関
係にある。該光ビーム５の強度、すなわち光ビーム４の
強度を示すフォトダイオード６の出力電流は、電流ー電
圧変換アンプ７によって帰還信号（電圧信号）Ｖpdに変
換され、該帰還信号Ｖpdは前述の加算点２に入力され
る。この加算点２からは、上記発光レベル指令信号Ｖre
f と帰還信号Ｖpdとの偏差を示す偏差信号Ｖe が出力さ
れ、該偏差信号Ｖe は前記電圧ー電流変換アンプ３によ
って電流に変換され、半導体レーザ１を駆動する。

【０００５】一方、写真感光材料にあっては一般に、露
光する部分の雰囲気の相対湿度が高くなると、現像後の
濃度が低下することが分かっている。この相対湿度によ
る画像濃度の変動を防止するため従来より、例えば特開
平3-132639号公報に示されているように、写真感光材料
近傍の湿度を測定し、その測定湿度に応じて画像濃度を
調整するようにしたレーザ記録装置が提案されている。
また例えば特開平3-153371号公報に示されるように、写
真感光材料を露光する室内に乾燥剤を備えて、写真感光
材料近傍の相対湿度変動を抑えるようにしたレーザ記録
装置も提案されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来装置
は、いずれも湿度変化による記録画像濃度の変動を抑え
ることができるるが、その半面、前者の装置にあっては
複雑な制御装置が必要となってコストアップが避けられ
ないという問題があり、また後者の装置にあっては、濃
度変動を抑える効果が比較的低いという問題がある。

【０００７】本発明は上記のような事情に鑑みてなされ
たものであり、写真感光材料周囲の相対湿度変化による
画像濃度の変動を極力抑えることができ、しかも安価な
装置によって実施可能な記録方法を提供することを目的
とするものである。

【０００８】また本発明は、そのような記録方法を実施
することができるレーザ記録装置を提供することを目的
とするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明による記録方法
は、半導体レーザと、該半導体レーザから射出された光
ビームを感光材料上に走査させるビーム走査系と、画像
信号に対応した発光レベル指令信号を生成し、該信号に
基づいて前記半導体レーザの駆動電流を制御してレーザ
ビームを変調するレーザ動作制御回路とを備えたレーザ
記録装置において、上記レーザ動作制御回路に、上記光
ビームの強度を検出し、この検出された光強度に対応す
る帰還信号を上記発光レベル指令信号にフィードバック
させる光出力安定化回路（ＡＰＣ回路）を設け、この光
出力安定化回路の直流利得を、半導体レーザの駆動電流
対光出力特性が温度に応じて変化する程度に低く設定し
て、写真感光材料の相対湿度変化による記録画像濃度の
変動を、半導体レーザの温度変化による光出力変動によ
って補償するようにしたことを特徴とするものである。

【００１０】またこの記録方法を実施する本発明のレー
ザ記録装置は、上述のような半導体レーザと、ビーム走
査系と、レーザ動作制御回路とを備えたレーザ記録装置
において、上記レーザ動作制御回路に、前述したＡＰＣ
回路が設けられるとともに、このＡＰＣ回路の直流利得
が、半導体レーザの駆動電流対光出力特性が温度に応じ
て変化する程度に低く設定されていることを特徴とする
ものである。

【００１１】

【作用および発明の効果】ＡＰＣ回路の直流利得を低く
しておくことにより、半導体レーザの駆動電流対光出力
特性は、温度変化に応じて図２に示すように変化する。
つまり温度が上昇するほど、光出力は低下する。

【００１２】他方、写真感光材料に記録される画像濃度
は、露光部分の相対湿度が高いほど低くなり、また絶対
湿度一定のとき相対湿度と温度との関係は、基本的に図
４に示すようなものとなる。これらのことから、写真感
光材料に記録される画像の濃度は、温度上昇にともなっ
てより高くなることが分かる。

【００１３】そこで、半導体レーザの光出力が上述のよ
うに温度上昇にともなって低下するようにしておけば、
それによる濃度低下分により、写真感光材料の温度上昇
による（つまり相対湿度低下による）濃度増大分が補償
されて、記録画像の濃度変動が抑えられるようになる。

【００１４】なおＡＰＣ回路の直流利得をより低くする
ほど、図２の特性は温度変化に対してより顕著に変化す
ることになる。そこでこの直流利得を経験あるいは実験
に基づいて適切に設定しておけば、記録画像の濃度変動
をほぼ完全に無くすことも可能となる。この直流利得の
最適値は、半導体レーザの特性や写真感光材料の特性に
応じて変わるものであって一概には言えないが、従来の
ＡＰＣ回路が正に図２の特性の温度依存性を無くすよう
に構成されていることを考慮すれば、従来装置における
適正値よりもかなり低くなることは明らかである。

【００１５】以上説明した通り本発明によるレーザ記録
装置は、ＡＰＣ回路の直流利得を適切に設定するだけで
相対湿度変化による画像濃度の変動を防止できるもので
あるから、この濃度変動防止のためのコストアップがな
く、比較的安価に形成可能となる。

【００１６】

【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を
詳細に説明する。図１は本発明の一実施例によるレーザ
記録装置を示すものである。画像信号発生器10は、連続
調画像を担持する画像信号Ｓ１を発生する。この画像信
号Ｓ１は一例として10bitの濃度スケールの連続調画像
を示すデジタル信号である。画像信号発生器10は後述す
るラインクロックＳ２に基づいて１主走査ライン分の信
号を切り換え、また画素クロックＳ３に基づいて各画素
毎の画像信号Ｓ１を出力する。

【００１７】上述の画像信号Ｓ１は、ＲＡＭ等からなる
補正テーブル11により階調補正、逆log 変換等の補正を
受けて、例えば16bit の発光レベル指令信号Ｓ５に変換
される。この発光レベル指令信号Ｓ５はＤ／Ａ変換器12
に入力され、ここでアナログの電圧信号からなる発光レ
ベル指令信号Ｖref に変換される。この発光レベル指令
信号Ｖref は、ＡＰＣ回路８の加算点２に入力される。
ＡＰＣ回路８の電圧ー電流変換アンプ３、半導体レーザ
１、フォトダイオード６、電流ー電圧変換アンプ７はそ
れぞれ、先に説明した図３の回路における電圧ー電流変
換アンプ３、半導体レーザ１、フォトダイオード６、電
流ー電圧変換アンプ７と同様に作動するものであり、し
たがって半導体レーザ１からは発光レベル指令信号Ｖre
f に対応した（つまり画像信号Ｓ１に対応した）強度の
光ビーム４が発せられる。

【００１８】上記光ビーム４はコリメータレンズ17に通
されて平行ビームとされ、次に例えばポリゴンミラー等
の光偏向器18に入射してそこで反射偏向される。こうし
て偏向された光ビーム４は、通常ｆθレンズからなる集
束レンズ19に通されて写真感光材料20上において微小な
スポットに集束し、該写真感光材料20上をＸ方向に走査
（主走査）する。写真感光材料20は図示しない移送手段
により、上記主走査方向Ｘと略直角なＹ方向に移送さ
れ、それによって光ビーム４の副走査がなされる。こう
して写真感光材料20は光ビーム４によって２次元的に走
査され、感光する。前述したように光ビーム４は画像信
号Ｓ１に基づいて強度変調されているので、この写真感
光材料20上には、画像信号Ｓ１が担持する連続調画像が
写真潜像として記録される。次に写真感光材料20は現像
機22に通されて、そこで現像処理を受ける。それにより
写真感光材料20上には、上記連続調画像が可視像として
記録される。

【００１９】なお上記のように光ビーム４が写真感光材
料20上を走査するとき、主走査の始点を該ビーム４が通
過したことが光検出器21によって検出され、該光検出器
21が出力する始点検出信号Ｓ６がクロックジェネレータ
13に入力される。クロックジェネレータ13はこの始点検
出信号Ｓ６の入力タイミングに同期させて、前述のライ
ンクロックＳ２および画素クロックＳを出力する。

【００２０】ここで、ＡＰＣ回路８の電圧ー電流変換ア
ンプ３のゲインは、従来のこの種のＡＰＣ回路における
ものよりもかなり低めに設定されている。そうすること
により、半導体レーザ１の駆動電流対光出力特性は、図
２に示したように温度に応じて変化するようになる。こ
のようになっていれば、温度上昇による光出力低下分に
より、写真感光材料20の露光部分の温度上昇による（つ
まり相対湿度低下による）濃度増大分が補償されて、記
録画像の濃度変動が抑えられるようになる。その理由
は、先に詳しく述べた通りである。

【００２１】以上、記録光としてのレーザビームを強度
変調するように構成した実施例について説明したが、本
発明はその他、強度一定のレーザビームをパルス状に写
真感光材料に照射し、そのパルス数やパルス幅等を変調
することにより連続調画像を記録するレーザ記録装置等
にも同様に適用可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明の一実施例によるレーザ記録装置
を示す概略図

【図２】図２は半導体レーザの駆動電流対光出力特性を
示すグラフ

【図３】図３は半導体レーザ光出力安定化回路の一例を
示すブロック図

【図４】相対湿度と温度との関係を示すグラフ

【符号の説明】

１ 半導体レーザ ２ 加算点 ３ 電圧ー電流変換アンプ ４、５ 光ビーム ６ フォトダイオード ７ 電流ー電圧変換アンプ ８ ＡＰＣ回路 10 画像信号発生器 16 Ｄ／Ａ変換器 17 コリメータレンズ 18 光偏向器 19 集束レンズ 20 感光材料 Ｓ１ 画像信号 Ｓ５、Ｖref 発光レベル指令信号 Ｖpd 帰還信号 Ｖe 偏差信号

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを発する半導体レーザと、 前記光ビームを写真感光材料上に走査させるビーム走査
   系と、 画像信号に対応した発光レベル指令信号を生成し、該信
   号に基づいて前記半導体レーザの駆動電流を制御して前
   記光ビームを変調するレーザ動作制御回路とを有するレ
   ーザ記録装置において、 前記レーザ動作制御回路に、前記光ビームの強度を検出
   し、この検出された光強度に対応する帰還信号を前記発
   光レベル指令信号にフィードバックさせる光出力安定化
   回路を設け、 この光出力安定化回路の直流利得を、半導体レーザの駆
   動電流対光出力特性が温度に応じて変化する程度に低く
   設定して、写真感光材料の相対湿度変化による記録画像
   濃度の変動を、半導体レーザの温度変化による光出力変
   動によって補償するようにしたことを特徴とする記録方
   法。
2. 【請求項２】 光ビームを発する半導体レーザと、 前記光ビームを写真感光材料上に走査させるビーム走査
   系と、 画像信号に対応した発光レベル指令信号を生成し、該信
   号に基づいて前記半導体レーザの駆動電流を制御して前
   記光ビームを変調するレーザ動作制御回路とを有するレ
   ーザ記録装置において、 前記レーザ動作制御回路に、前記光ビームの強度を検出
   し、この検出された光強度に対応する帰還信号を前記発
   光レベル指令信号にフィードバックさせる光出力安定化
   回路が設けられ、 この光出力安定化回路の直流利得が、半導体レーザの駆
   動電流対光出力特性が温度に応じて変化する程度に低く
   設定されていることを特徴とするレーザ記録装置。